部分放電傳感器評價方法以及部分放電傳感器評價裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及在檢測例如GIS (gas insulated switchgear;氣體絕緣開關(guān)設(shè)備）等 高功率設(shè)備的裝置所產(chǎn)生的高頻來檢測部分放電現(xiàn)象時使用的部分放電傳感器評價方法 W及部分放電傳感器評價裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 圖16是示出W下的非專利文獻(xiàn)1所公開的部分放電傳感器評價裝置的結(jié)構(gòu)圖。
[000引 G-TEM室佑-TEMcell) 102在接收到從信號源101產(chǎn)生的高頻時，將該高頻大致轉(zhuǎn) 換為平面波，并傳輸該平面波。
[0004] 由此，對設(shè)置有部分放電傳感器103的金屬面照射垂直的偏振波。
[0005] 數(shù)字轉(zhuǎn)換器（digitizer) 104通過對由部分放電傳感器103接收到的電波的強(qiáng)度 與從信號源101產(chǎn)生的高頻的強(qiáng)度進(jìn)行比較，來測定從信號源101到部分放電傳感器103 的傳遞特性。
[0006] 另外，通過設(shè)置已知天線有效高度的參照天線而取代部分放電傳感器103,數(shù)字轉(zhuǎn) 換器104測定從信號源101到參照天線的傳遞特性。
[0007] 通過對從信號源101到部分放電傳感器103的傳遞特性與從信號源101到參照天 線的傳遞特性進(jìn)行比較，能夠求出部分放電傳感器103的天線有效高度。
[0008] 另外，通過一邊變更信號源101的頻率一邊進(jìn)行同樣的測定，可求出天線有效高 度的頻率特性，通常采用W規(guī)定的頻率對該些頻率特性進(jìn)行平均后的值作為部分放電傳感 器103的指標(biāo)。
[0009] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0010] 非專利文獻(xiàn)
[0011]非專利文獻(xiàn) 1 ;M.D.Judd,'UHFCouplersforGIS-SensitivityandSpecificat ion，'Proc. 10thInt.Symp.onHighVoltageEngineering，vol. 6,Aug. 1997

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012] 發(fā)明要解決的課題
[0013] 因?yàn)槿鏦上該樣構(gòu)成現(xiàn)有的部分放電傳感器評價裝置，所W，能夠求出部分放電 傳感器103的天線有效高度。但是，因?yàn)镚-TEM室102的尺寸是超過3m的大尺寸，所從整 體裝置大型化，存在受設(shè)置場所等的制約的課題。
[0014] 本發(fā)明是為了解決上述該樣的課題而完成的，其目的是得到可實(shí)現(xiàn)整個裝置的小 型化的部分放電傳感器評價方法W及部分放電傳感器評價裝置。
[001引解決問題的手段
[0016] 本發(fā)明的部分放電傳感器評價方法具備W下的步驟：第1頻率特性測定步驟，在 將測定用天線和有效高度的頻率特性為已知的參照天線W分開規(guī)定距離的方式設(shè)置到平 板狀的地上的狀態(tài)下，傳遞特性測定器測定參照天線與測定用天線之間的傳遞特性的頻率 特性；第2頻率特性測定步驟，在圓筒地的內(nèi)部設(shè)置有被測定用天線的狀態(tài)下，傳遞特性測 定器測定被測定用天線與測定用天線之間的傳遞特性的頻率特性，該圓筒地填設(shè)于圓形開 口內(nèi)，該圓形開口是在原來設(shè)置有該參照天線的位置施加的；W及運(yùn)算步驟，根據(jù)在第1頻 率特性測定步驟中測定的傳遞特性的頻率特性和在第2頻率特性測定步驟中測定的傳遞 特性的頻率特性，運(yùn)算被測定用天線的有效高度的頻率特性。
[0017] 發(fā)明效果
[0018] 根據(jù)本發(fā)明，沒有采用大的G-TEM室，就能夠運(yùn)算被測定用天線的有效高度的頻 率特性，具有可實(shí)現(xiàn)整個裝置的小型化的效果。
【附圖說明】
[0019] 圖1是示出本發(fā)明實(shí)施方式1的部分放電傳感器評價方法的流程圖。
[0020] 圖2是示出在平板狀的地1上設(shè)置有測定用天線2和參照天線3的狀態(tài)的說明圖。
[0021] 圖3是示出圓形開口 5中填設(shè)有設(shè)置被測定用天線9的圓筒地6的狀態(tài)的說明圖。
[0022] 圖4是示出在圓筒地6的內(nèi)部設(shè)置的被測定用天線9的說明圖。
[0023] 圖5是示出在平板狀的地1上設(shè)置有被測定用天線9的狀態(tài)的說明圖。
[0024] 圖6是示出本發(fā)明實(shí)施方式2的部分放電傳感器評價方法的流程圖。
[0025] 圖7是示出在平板狀的地1上設(shè)置有多個測定用天線2和參照天線3的狀態(tài)的說 明圖。
[0026] 圖8是示出在平板狀的地1上設(shè)置有多個測定用天線2和被測定用天線9的狀態(tài) 的說明圖。
[0027] 圖9是示出本發(fā)明實(shí)施方式3的部分放電傳感器評價方法的流程圖。
[0028] 圖10是示出設(shè)置有測定用天線2的一側(cè)的狀態(tài)、設(shè)置有被測定天線16的一側(cè)的 狀態(tài)的說明圖。
[0029] 圖11是示出在GIS上設(shè)置的高壓電線路的立體圖。
[0030] 圖12是示出本發(fā)明實(shí)施方式4的部分放電傳感器評價裝置的立體圖。
[0031] 圖13是示出本發(fā)明實(shí)施方式4的其它部分放電傳感器評價裝置的立體圖。
[0032] 圖14是示出本發(fā)明實(shí)施方式4的其它部分放電傳感器評價裝置的立體圖。
[0033] 圖15是示出本發(fā)明實(shí)施方式4的其它部分放電傳感器評價裝置的立體圖。
[0034] 圖16是示出非專利文獻(xiàn)1公開的部分放電傳感器評價裝置的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】[00巧]實(shí)施方式1.
[0036] 圖1是示出本發(fā)明實(shí)施方式1的部分放電傳感器評價方法的流程圖。
[0037] 圖2是示出在平板狀的地1上設(shè)置有測定用天線2和參照天線3的狀態(tài)的說明圖。
[0038] 在圖2中，平板狀的地1是用于設(shè)置測定用天線2和參照天線3的金屬板。
[0039] 測定用天線2例如由單極天線構(gòu)成，配置在平板狀的地1上。
[0040] 單極天線在長度是1/2波長W下的情況下，向與單極天線的長度方向垂直的面內(nèi) (側(cè)面方向）照射高頻。后述的被測定用天線9(參照圖5)設(shè)置在作為單極天線的測定用 天線2的側(cè)面方向，所W，單極天線的長度為待測定的最大頻率的1/2波長W下。
[0041] 參照天線3是天線有效高度heff_ref(f)的頻率特性為已知的天線，設(shè)置為與測 定用天線2分開規(guī)定的距離。此外，如果天線有效高度heff_ref(f)是已知的，則參照天線 3可W采用任意天線，但一般如非專利文獻(xiàn)1所記載的那樣，采用25mm的單極天線。
[0042] 規(guī)定的距離（測定用天線2與參照天線3之間的距離）越大，則測定精度越高。
[0043] 例如，如果假定后述的被測定用天線9在平板狀地1上的圓形開口直徑5是D，則 在規(guī)定的距離為值XD/波長）W上時，能夠獲得與使得測定用天線2和參照天線3分離足 夠遠(yuǎn)的情況相同的測定精度。
[0044] 網(wǎng)絡(luò)分析器4實(shí)施該樣的處理；對參照天線3與測定用天線2之間的傳遞特性的 頻率特性E_ref(f)進(jìn)行測定，并且對后述的被測定用天線9與測定用天線2之間的傳遞特 性的頻率特性E_^t(f)進(jìn)行測定。此外，網(wǎng)絡(luò)分析器4構(gòu)成傳遞特性測定器。
[0045] 運(yùn)算裝置4a例如由個人計算機(jī)等構(gòu)成，實(shí)施該樣的處理；根據(jù)由網(wǎng)絡(luò)分析器4測 定的參照天線3與測定用天線2之間的傳遞特性的頻率特性E_ref(f)、W及被測定用天線 9與測定用天線2之間的傳遞特性的頻率特性E_^t(f)，運(yùn)算被測定用天線9的有效高度 的頻率特性heff(f)，并且運(yùn)算有效高度的頻率平均值heff_average。此外，運(yùn)算裝置4a 構(gòu)成有效高度頻率特性運(yùn)算單元。
[0046] 圖3是示出在圓形開口 5上填設(shè)有設(shè)置被測定用天線9的圓筒地6的狀態(tài)的說明 圖，圖4是示出在圓筒地6的內(nèi)部設(shè)置的被測定用天線9的說明圖。
[0047] 另外，圖5是示出在平板狀的地1上設(shè)置有被測定用天線9的狀態(tài)的說明圖。
[0048] 在圖3至圖5中，圓形開口 5是在設(shè)置有參照天線3的位置施加的圓形開口部。
[0049] 圓筒地6是在圓形開口 5中填設(shè)的圓筒狀的金屬部件，在下部連接有凸緣7。另 夕F，凸緣7與天線地8連接。
[0050] 在圓筒地6內(nèi)，在天線地8上設(shè)置有被測定用天線9。
[0051] 接著，對動作進(jìn)行說明。
[0052] 最先，說明步驟ST1~ST3的第1頻率特性測定步驟。
[0053] 首先，為了測定參照天線3與測定用天線2之間的傳遞特性的頻率特性E_ref(f)， 如圖2所示，在平板狀的地1上設(shè)置作為單極天線的測定用天線2(圖1的步驟ST1)。
[0054] 接著，將天線有效高度heff_ref訊的頻率特性為已知的參照天線3W與測定用 天線2分開規(guī)定距離的方式設(shè)置在平板狀的地1上（步驟ST2)。
[00巧]該里，如上所述，如果設(shè)圓形開口直徑5為D，則規(guī)定的距離是為值XD/波長）W上的距離。
[0056] 當(dāng)在平板狀的地1上設(shè)置參照天線3與測定用天線2后，網(wǎng)絡(luò)分析器4測定參照 天線3與測定用天線2之間的傳遞特性的頻率特性E_ref(f)(步驟ST3)。
[0057] 其次，說明步驟ST4~ST6的第2頻率特性測定步驟。
[0058] 首先，在從平板狀的地1撤去參照天線3之