同的規(guī)定 值，具體為本技術(shù)領(lǐng)域人員所熟知，此處不再贅述。
[0059] 本發(fā)明工業(yè)計算機1在獲得待測數(shù)顯電測量儀表8的外觀、上電全顯以及基本誤 差測試的檢測結(jié)果后，工業(yè)計算機1將相應(yīng)的結(jié)果進(jìn)行存儲，并通過報表等形式將待測數(shù) 顯電測量儀表8的檢測結(jié)果進(jìn)行輸出。
【主權(quán)項】
1. 一種基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是；包括工業(yè)計算機 (1) ，所述工業(yè)計算機（1)與用于掃描待測數(shù)顯電測量儀表（8)上條碼信息的條碼掃描儀 (2) 、用于獲取待測數(shù)顯電測量儀表（8)圖像信息的工業(yè)相機（6)W及用于向待測數(shù)顯電測 量儀表（8)加載測試信號的程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)連接，工業(yè)相機（6)與待測數(shù)顯電測量儀表巧） 一一對應(yīng)，程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)通過分配繼電器（5)與若干待測數(shù)顯電測量儀表（8)連接，所有 的待測數(shù)顯電測量儀表（8)通過分配繼電器巧）的觸點與儀表供電電源（9)連接，分配繼 電器（5)還與工業(yè)計算機（1)連接，工業(yè)計算機（1)能控制分配繼電器巧）內(nèi)相應(yīng)觸點的 開關(guān)狀態(tài)，W控制待測數(shù)顯電測量儀表（8)與程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)W及儀表供電電源巧）的連 接狀態(tài)； 條碼掃描儀（2)掃描待測數(shù)顯電測量儀表巧）的條碼信息并將掃描的條碼信息傳輸 至工業(yè)計算機（1)內(nèi)，在收到待測數(shù)顯電測量儀表（8)的條碼信息后，工業(yè)計算機（1)通過 與所述進(jìn)行條碼掃描的待測數(shù)顯電測量儀表（8)對應(yīng)的工業(yè)相機（6)獲取待測數(shù)顯電測量 儀表（8)未供電的外觀圖像W及供電后的上電全顯圖像，且工業(yè)計算機（1)根據(jù)條碼信息 提取預(yù)先存儲在工業(yè)計算機（1)內(nèi)并與所述條碼信息匹配的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯電測量儀表外觀圖 像模板W及標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯電測量儀表上電全顯圖像模板，工業(yè)計算機（1)采用模板匹配法將待 測數(shù)顯電測量儀表巧）的外觀圖像、上電全顯圖像分別與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯電測量儀表外觀圖像模 板、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯電測量儀表上電全顯圖像模板進(jìn)行比較匹配，W確定并輸出所述待測數(shù)顯電 測量儀表巧）的外觀質(zhì)量W及顯示質(zhì)量； 工業(yè)計算機（1)能控制分配繼電器巧）W及程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)向所述進(jìn)行條碼掃描后的 待測數(shù)顯電測量儀表（8)加載所需的基本誤差測試信號，并通過對應(yīng)的工業(yè)相機（6)獲取 所述待測數(shù)顯電測量儀表（8)在加載基本誤差測試信號后的基本誤差測試圖像，工業(yè)計算 機（1)根據(jù)獲取的基本誤差測試圖像確定與基本誤差測試信號相對應(yīng)的儀表讀數(shù)，工業(yè)計 算機（1)根據(jù)確定的儀表讀數(shù)確定所述待測數(shù)顯電測量儀表（8)在基本誤差測試時的基本 誤差，并根據(jù)所述基本誤差判定所述待測數(shù)顯電測量儀表巧）的精度。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 所述程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)、分配繼電器（5)通過232/485轉(zhuǎn)換器（3)與工業(yè)計算機（1)連接，工 業(yè)相機（6)通過PCIExpressxl6總線接口（7)與工業(yè)計算機（1)連接。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 所述待測數(shù)顯電測量儀表（8)包括電流表、電壓表、功率表、無功功率表、功率因數(shù)表或頻 率表，所述待測數(shù)顯電測量儀表巧）的顯示形式包括液晶顯示或數(shù)碼管顯示。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 工業(yè)計算機（1)通過工業(yè)相機（6)獲取待測數(shù)顯電測量儀表（8)未上電的外觀圖像后，將 待測數(shù)顯電測量儀表（8)未上電的外觀圖像進(jìn)行切割分離，W得到待測字符區(qū)域、待測圖 標(biāo)區(qū)域W及待測標(biāo)簽區(qū)域； 工業(yè)計算機（1)將得到的待測字符區(qū)域、待測圖標(biāo)區(qū)域W及待測標(biāo)簽區(qū)域與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯 電測量儀表外觀區(qū)域相對應(yīng)的區(qū)域模板直接進(jìn)行匹配對比，且工業(yè)計算機（1)進(jìn)行匹配對 比的方法為：其中，d為相似性度量函數(shù)的匹配度量值，S為M*N大小的待測區(qū)域圖像，T為同樣大小 的模板圖像，（i，j)為圖像上像素點的坐標(biāo)。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 工業(yè)計算機（1)通過分配繼電器巧）W及儀表供電電源（9)統(tǒng)一為所有的待測數(shù)顯電測量 儀表做供電，待測數(shù)顯電測量儀表做由儀表供電電源（9)供電后，待測數(shù)顯電測量儀表 (8)進(jìn)行上電自檢； 工業(yè)計算機（1)通過工業(yè)相機（6)獲取對應(yīng)待測數(shù)顯電測量儀表巧）的上電自檢視 頻，并在工業(yè)相機（6)獲取的上電自檢視頻中得到所述待測數(shù)顯電測量儀表巧）的上電全 顯圖像。6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 所述工業(yè)計算機（1)根據(jù)條碼掃描儀（2)傳輸?shù)臈l碼信息自適應(yīng)判斷與所述條碼信息相對 應(yīng)的待測數(shù)顯電測量儀表（8)的儀表類型；根據(jù)判斷待測數(shù)顯電測量儀表（8)的類型，工業(yè) 計算機（1)控制分配繼電器巧）W及程控標(biāo)準(zhǔn)源（4)向所述進(jìn)行條碼掃描的待測數(shù)顯電測 量儀表（8)加載所需的基本誤差測試信號。7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 工業(yè)計算機（1)對待測數(shù)顯電測量儀表（8)加載基本誤差測試信號進(jìn)行基本誤差測試時， 在等待當(dāng)前基本誤差測試信號對應(yīng)的待測數(shù)顯電測量儀表巧）的輸出顯示穩(wěn)定期間，工業(yè) 計算機（1)利用GPU加速對上一基本誤差測試信號對應(yīng)的基本誤差測試圖像進(jìn)行并行處 理，W確定基本誤差測試圖像對應(yīng)的儀表讀數(shù)。8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其特征是： 工業(yè)計算機（1)利用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)識別基本誤差測試圖像對應(yīng)的儀表讀數(shù)，并計算所述基 本誤差測試信號下儀表讀數(shù)的引用誤差，所述引用誤差為：其中，X。為標(biāo)準(zhǔn)數(shù)顯電測量儀表的標(biāo)準(zhǔn)示數(shù)值，X。為待測數(shù)顯電測量儀表（8)在基本 誤差測試信號下的儀表讀數(shù)，為待測數(shù)顯電測量儀表巧）的儀表量程； 在對待測量數(shù)顯電測量儀表（8)加載完基本誤差測試信號，工業(yè)計算機（1)取引用誤 差的最大值為基本誤差R;若基本誤差R大于規(guī)定值，則所述待測數(shù)顯電測量儀表巧）的精 度不合格，否則，所述待測量數(shù)顯電測量儀表巧）的精度合格。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于機器視覺的數(shù)顯電測量儀表質(zhì)量群檢系統(tǒng)，其包括工業(yè)計算機，所述工業(yè)計算機與條碼掃描儀、工業(yè)相機以及程控標(biāo)準(zhǔn)源連接，工業(yè)相機與待測數(shù)顯電測量儀表一一對應(yīng)，程控標(biāo)準(zhǔn)源通過分配繼電器與若干待測數(shù)顯電測量儀表連接，所有的待測數(shù)顯電測量儀表通過分配繼電器的觸點與儀表供電電源連接，分配繼電器還與工業(yè)計算機連接，工業(yè)計算機能控制分配繼電器內(nèi)相應(yīng)觸點的開關(guān)狀態(tài)，以控制待測數(shù)顯電測量儀表與程控標(biāo)準(zhǔn)源以及儀表供電電源的連接狀態(tài)；本發(fā)明智能化程度高，適宜于中小型儀表生產(chǎn)企業(yè)的低附加值數(shù)顯產(chǎn)品，特別是無通信接口數(shù)顯電測量儀表的出廠檢測，檢測效率高，適應(yīng)范圍廣，安全可靠。
【IPC分類】G01R35/00
【公開號】CN104931907
【申請?zhí)枴緾N201510242542
【發(fā)明人】朱美強, 李明, 王洪棟, 葉景東, 賈文其, 朱文祥, 孔旭
【申請人】中國礦業(yè)大學(xué)
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年5月13日