一種電磁斷路器調(diào)試檢測設(shè)備系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電子測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及到一種電磁斷路器調(diào)試檢測設(shè)備系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]斷路器是指能夠關(guān)合、承載和開斷正常回路條件下的電流并能關(guān)合、在規(guī)定的時間內(nèi)承載和開斷異?；芈窏l件下的電流的開關(guān)裝置。電磁斷路器是為航天、航空、兵器、船舶、電子系統(tǒng)重點型號工程武器配套的專用產(chǎn)品。該系列產(chǎn)品采用國軍標(biāo)GJB1932《密封電磁斷路器總規(guī)范》，等同美軍標(biāo)MIL-39019，能完全等同Airpax公司的APL系列產(chǎn)品。該產(chǎn)品分為不延時、短延時、長延時三種類型，適用于400Hz、50Hz交流及直流電源。我公司從2005年開始承接了總裝下達(dá)的五種規(guī)格的KDL系列電磁斷路器的研制任務(wù)，至2008年4月完成了該系列產(chǎn)品的設(shè)計定型鑒定。由于我廠在國內(nèi)是獨家開發(fā)該系列產(chǎn)品，產(chǎn)品的調(diào)試和檢測技術(shù)和裝置在國內(nèi)也是空白，因此為了保證和提高電磁斷路器的質(zhì)量和生產(chǎn)效率，需盡快完善該系列產(chǎn)品的調(diào)試和檢測技術(shù)。
[0003]通過專利檢索，存在以下已知的現(xiàn)有技術(shù)方案:
專利1:
申請?zhí)?201310631057.7，申請日:2013.11.29，申請公布日:2014.02.26，本發(fā)明公開了一種小型斷路器裝配檢測系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括通過傳動帶依次連接的裝配臺、自動噴碼單元、自動鉚合單元、通斷檢測單元、延時調(diào)節(jié)單元、瞬時檢測單元、耐壓檢測單元、自動移印單元、包裝裝配臺。本發(fā)明提供的小型斷路器裝配檢測系統(tǒng)，與現(xiàn)有技術(shù)相比，采用了自動化生產(chǎn)檢測方式，使得斷路器生產(chǎn)的工作效率大幅度提高，滿足了用戶的需求，對斷路器生產(chǎn)具備重大的意義。
[0004]專利2:
申請?zhí)?201180069900.6，申請日:2011.04.04，申請公布日:2014.02.19，提供了一種用于直流(DC)電路斷路器(200)的斷路器故障檢測裝置。所述斷路器包括并聯(lián)連接的斷路元件(204)和非線性電阻，例如，電涌放電器(205)。所述斷路器故障檢測裝置包括用于測量從斷路元件(204)換向的電流的電流傳感器(212，213，214，215)，以及斷路器故障檢測單元(211)。斷路器故障檢測單元(211)被配置用于比較所測量電流與期望值，以及當(dāng)所測量電流偏離期望值時判定斷路器(200)的內(nèi)部換向過程沒有按照期望進(jìn)行。本發(fā)明運用如下認(rèn)識:改進(jìn)的斷路器故障檢測可通過監(jiān)測斷路器的內(nèi)部換向過程實現(xiàn)。此外，提供了一種斷路器故障檢測的方法。
[0005]通過以上的檢索發(fā)現(xiàn)，以上技術(shù)方案不能影響本發(fā)明的新穎性；并且以上專利文件的相互組合不能破壞本發(fā)明的創(chuàng)造性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明目的為提供一種電磁斷路器調(diào)試檢測設(shè)備系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以對多種電流、多種電源、多種延時的電磁斷路器進(jìn)行延時校準(zhǔn)試驗檢測，壽命檢測，高低溫動作檢測，且檢測效率高，檢測度精準(zhǔn)，使用方便可靠。
[0007]為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種電磁斷路器調(diào)試檢測設(shè)備系統(tǒng)，它包括測試夾具，所述測試夾具連接有電源系統(tǒng)、負(fù)載系統(tǒng)(21);所述負(fù)載系統(tǒng)(21)包括負(fù)載箱(11);所述負(fù)載箱(11)連接有負(fù)載開關(guān)柜(5);所述測試夾具包括壽命測試夾具、延時動作測試夾具(10)，高低溫動作測試夾具；所述壽命測試夾具與壽命試驗臺(7)連接構(gòu)成壽命測試系統(tǒng)(23);所述延時動作測試夾具(10)與時間測試儀(8)連接構(gòu)成延時動作校準(zhǔn)系統(tǒng)(22);所述高低溫動作測試夾具設(shè)置在高低溫試驗箱(6)內(nèi)構(gòu)成高低溫動作測試系統(tǒng)
(24);所述電源系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置有中頻電源、交流電源、直流電源；所述負(fù)載系統(tǒng)(11)內(nèi)設(shè)置有感性負(fù)載與阻性負(fù)載。
[0008]進(jìn)一步的，所述電源系統(tǒng)中額定電流大于200A。
[0009]進(jìn)一步的，所述電源系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置有以下四種電源:400Hz、250V、100A三相中頻電源(4 ) ；400Hz、150V、200A 單相中頻電源(3) ； 50Hz、380V、100A 及 220V、200A 交流電源(I)；65V.200A直流電源(2)。
[0010]進(jìn)一步的，所述感性負(fù)載設(shè)置有六路，其中三路為:400Hz、0-200A、功率因素
0.75-0.8 ;另三路為50Hz、0-200A、功率因素0.75-0.8 ;所述阻性負(fù)載設(shè)置有一路，其電流值為 0-200A。
[0011]進(jìn)一步的，所述負(fù)載系統(tǒng)(11)中選取電流值100A、70A、40A、20A、10A、5A、2.5A、
1.25A、1A、0.5A、0.25A 作為負(fù)載電流。
[0012]進(jìn)一步的，所述壽命測試系統(tǒng)(23)中的負(fù)載電路采用星形連接。
[0013]進(jìn)一步的，所述壽命測試系統(tǒng)(23)測試斷路器時，斷路器的接通斷開速度小于每分鐘六次，接通斷開時間比小于1:5。
[0014]進(jìn)一步的，所述延時動作校準(zhǔn)系統(tǒng)(22)中設(shè)置有信號取樣電路；所述信號取樣電路對中頻電源與交流電源取樣時，先通過電流互感器將主線路中的電壓感應(yīng)出來，再通過整流濾波成直流信號；所述信號取樣電路對直流電源取樣時，通過分壓電路將直流信號取出。
[0015]進(jìn)一步的，所述延時動作校準(zhǔn)系統(tǒng)(22)中負(fù)載電路采用串聯(lián)連接。
[0016]進(jìn)一步的，所述高低溫動作測試系統(tǒng)(24)中，最低測試溫度不高于一 40°C，最高測試溫度不低于85°C。
[0017]本發(fā)明的有益效果:
1、本發(fā)明能實現(xiàn)各類電磁斷路器的中頻負(fù)荷測試、中頻壽命試驗、交流負(fù)荷測試、交流壽命試驗、直流負(fù)荷測試、直流壽命試驗、高低溫動作校準(zhǔn)，功能齊全，測試精準(zhǔn)，使用可靠。
[0018]2、本發(fā)明覆蓋三類電源、測試電流達(dá)200A，可以對多種電流、多種電源、多種延時的產(chǎn)品進(jìn)行延時校準(zhǔn)試驗檢測，方便可靠。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明的整體框架示意圖。
[0020]圖2為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)布局示意圖。
[0021]圖3為本發(fā)明的整體電路布局示意圖。
[0022]圖4為本發(fā)明中壽命測試系統(tǒng)的電路連接示意圖一。
[0023]圖5為本發(fā)明中壽命測試系統(tǒng)的電路連接示意圖二。
[0024]圖6為本發(fā)明中延時動作校準(zhǔn)系統(tǒng)及高低溫動作測試系統(tǒng)電路連接示意圖。
[0025]圖中所示數(shù)字標(biāo)注表示為:1、交流電源，2、直流電源，3、單相中頻電源，4、三相中頻電源，5、負(fù)載開關(guān)柜，6、高低溫動作試驗裝置，7、壽命試驗裝置，8、時間測試儀，9、測試開關(guān)，10、測試夾具，11、負(fù)載箱，12、400HZ交流負(fù)載箱，13、抽風(fēng)機(jī)，14、測試實驗室，15、負(fù)載實驗室，16、斷路器單刀調(diào)試測試，17、直流斷路器壽命測試，18、交流三刀斷路器壽命測試，19、斷路器單刀調(diào)試及直流壽命負(fù)載，20、交流三刀斷路器壽命測試負(fù)載，21、負(fù)載系統(tǒng)，22、延時動作校準(zhǔn)系統(tǒng)，23、壽命測試系統(tǒng)，24、高低溫動作測試系統(tǒng)。
【具體實施方式】
[0026]為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，本部分的描述僅是示范性和解釋性，不應(yīng)對本發(fā)明的保護(hù)范圍有任何的限制作用。
[0027]如圖1-6所示，本發(fā)明的結(jié)構(gòu)關(guān)系為:一種電磁斷路器調(diào)試檢測設(shè)備系統(tǒng)，它包括測試夾具，所述測試夾具連接有電源系統(tǒng)、負(fù)載系統(tǒng)(21);所述負(fù)載系統(tǒng)(21)包括負(fù)載箱
(11);所述負(fù)載箱(11)連接有負(fù)載開關(guān)柜(5);所述測試夾具包括壽命測試夾具、延時動作測試夾具(10)，高低溫動作測試夾具；所述壽命測試夾具與壽命試驗臺(7)連接構(gòu)成壽命測試系統(tǒng)(