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半導(dǎo)體器件測(cè)試環(huán)境中的調(diào)試的制作方法_5

文檔序號(hào):8476601閱讀:來源:國(guó)知局
有專利法領(lǐng)域中所用的通常含義。
[0097]如說明書和權(quán)利要求書中所用,短語“至少一個(gè)”在與一個(gè)或多個(gè)元件的列表有關(guān)時(shí),應(yīng)被理解為意指選自元件列表中的任何一個(gè)或多個(gè)元件中的至少一個(gè)元件,但不一定包括元件列表內(nèi)具體列出的每個(gè)元件中的至少一個(gè)并且不排除元件列表中元件的任何組合。該定義還允許,可以可選地存在除元件列表內(nèi)具體確定的短語“至少一個(gè)”所指的元件之外的元件,這些元件無論與具體確定的那些元件相關(guān)還是不相關(guān)都可以。因此,作為非限制性例子,“A和B中的至少一個(gè)”(或換句話講,“A或B中的至少一個(gè)”,或換句話講,“A和/或B中的至少一個(gè)”)在一個(gè)實(shí)施例中可指代至少一個(gè)(任選地包括不止一個(gè))A,不存在B (并任選地包括除B之外的元件);在另一個(gè)實(shí)施例中,指代至少一個(gè)(任選地包括不止一個(gè))B,不存在A (并任選地包括除A之外的元件);在又一個(gè)實(shí)施例中,指代至少一個(gè)(任選地包括不止一個(gè))A,和至少一個(gè)(任選地包括不止一個(gè))B (并任選地包括其他元件);等等。
[0098]在權(quán)利要求書中,以及在上文說明書中,所有過渡短語,如“包括”、“在內(nèi)的”、“攜帶”、“具有”、“包含”、“含有”、“持有”等被理解為是開放式的,即,是指包括但不限于。只有過渡短語“由…組成”和“基本上由…組成”分別是封閉或半封閉的過渡短語,如專利審查程序美國(guó)專利局手冊(cè)第2111.03章所述。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.至少一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),包含計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令當(dāng)在計(jì)算裝置的至少一個(gè)處理器上執(zhí)行時(shí)實(shí)施調(diào)試方法,所述調(diào)試方法包括: 交互式地從所述計(jì)算裝置的用戶接收調(diào)試輸入; 存取測(cè)試程序,所述測(cè)試程序包括多個(gè)測(cè)試程序命令; 根據(jù)所述調(diào)試輸入和所述測(cè)試程序命令生成儀器命令,所述儀器命令被配置成控制測(cè)試儀的儀器,以激發(fā)被測(cè)器件(DUT)并且接收來自所述DUT的響應(yīng);以及將所述儀器命令施加到所述測(cè)試儀中的儀器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 交互式地接收調(diào)試輸入的步驟包括: 從所述用戶接收第一調(diào)試輸入和第二調(diào)試輸入; 根據(jù)所述第一調(diào)試輸入生成第一調(diào)試命令; 將所述第一調(diào)試命令施加到所述測(cè)試儀;以及 響應(yīng)于將所述第一調(diào)試命令施加到所述測(cè)試儀的結(jié)果,根據(jù)所述第二調(diào)試輸入生成第二調(diào)試命令。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 交互式地接收調(diào)試輸入的步驟包括在接收所述調(diào)試輸入之后實(shí)時(shí)生成所述調(diào)試命令。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 激發(fā)DUT并且接收來自所述DUT的響應(yīng)的步驟被配置成根據(jù)所述DUT的功能正確的工作環(huán)境來進(jìn)行。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 所述生成儀器命令的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令包括計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,以用于將所述調(diào)試輸入和所述測(cè)試程序命令轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制測(cè)試模式。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 所述調(diào)試輸入包括至少一個(gè)命令,以在所述測(cè)試程序內(nèi)的預(yù)定位置處暫停所述測(cè)試程序的執(zhí)行; 根據(jù)所述調(diào)試輸入和所述測(cè)試程序命令生成被配置成控制儀器的儀器命令的步驟包括生成儀器命令,所述儀器命令被配置成控制儀器,以執(zhí)行所述測(cè)試程序中的測(cè)試程序命令直到所述預(yù)定位置為止。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中所述調(diào)試方法還包括: 向所述用戶呈現(xiàn)對(duì)已執(zhí)行所述測(cè)試程序中的測(cè)試程序命令直到所述預(yù)定位置為止的指示。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),還包括: 計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令在執(zhí)行時(shí)從所述計(jì)算裝置的所述用戶接收程序修改命令并且基于所述所接收的程序修改命令來修改所述測(cè)試程序。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中: 所述調(diào)試輸入包括至少一個(gè)命令,以從所述DUT讀取數(shù)據(jù); 所述調(diào)試輸入獨(dú)立于用于從所述DUT讀取數(shù)據(jù)的協(xié)議。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),還包括所述測(cè)試程序,其中: 所述測(cè)試程序包括指令,所述指令用于在所述DUT內(nèi)的處理器上執(zhí)行,以控制所述處理器與所述DUT上的核心交互,以生成和/或測(cè)量與所述核心相關(guān)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
11.一種操作測(cè)試系統(tǒng)的方法,所述方法包括: 使用至少一個(gè)調(diào)試工具來接收用戶輸入,并且響應(yīng)于所述用戶輸入來生成多個(gè)調(diào)試命令; 在接口處接收所述多個(gè)調(diào)試命令; 在所述接口內(nèi),實(shí)時(shí)格式化所述多個(gè)調(diào)試命令以供施加到測(cè)試系統(tǒng); 將所述所格式化的命令施加到所述測(cè)試系統(tǒng);以及 在所述測(cè)試系統(tǒng)內(nèi),根據(jù)所述多個(gè)調(diào)試命令和與被測(cè)器件相關(guān)聯(lián)的協(xié)議信息來控制一個(gè)或多個(gè)儀器,以激發(fā)被測(cè)器件并且測(cè)量所述被測(cè)器件的響應(yīng)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 激發(fā)被測(cè)器件并且測(cè)量所述被測(cè)器件的響應(yīng)的步驟被配置成根據(jù)所述DUT的功能正確的工作環(huán)境來進(jìn)行。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 格式化所述多個(gè)調(diào)試命令的步驟包括生成多個(gè)高級(jí)儀器命令。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 控制一個(gè)或多個(gè)儀器的步驟包括至少部分地基于所述高級(jí)儀器命令和所述協(xié)議信息來生成二進(jìn)制測(cè)試模式。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 控制所述測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)的所述一個(gè)或多個(gè)儀器的步驟包括操作所述測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)的協(xié)議感知引擎或ATE儀器引擎,以生成信號(hào),以在由來自所述被測(cè)器件的響應(yīng)確定的時(shí)間激發(fā)所述被測(cè)器件。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,還包括: 基于與所述被測(cè)器件相關(guān)聯(lián)的協(xié)議信息來配置所述協(xié)議感知引擎或ATE儀器引擎,使得所述調(diào)試命令獨(dú)立于由所述被測(cè)器件使用的協(xié)議。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,還包括: 在所述接口處接收對(duì)第一格式化調(diào)試命令已完成的指示。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法,其中所述第一格式化調(diào)試命令包括指定由所述被測(cè)器件進(jìn)行的非確定性操作的指令。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 所述格式化命令是以較高級(jí)編程語言來格式化的;并且 控制所述一個(gè)或多個(gè)儀器的步驟包括以較低級(jí)語言生成命令。
20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中: 所述被測(cè)器件包括處理器核心;并且 所述多個(gè)調(diào)試命令包括用于通過JTAG接口或其他控制接口將測(cè)試程序加載到所述被測(cè)器件中的命令,所述測(cè)試程序被格式化以供由所述處理器核心執(zhí)行,以控制所述處理器核心,以執(zhí)行包含與所述被測(cè)器件中的一個(gè)或多個(gè)其他子系統(tǒng)的交互在內(nèi)的測(cè)試功能。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法,其中: 控制所述測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)的所述一個(gè)或多個(gè)儀器的步驟包括控制所述一個(gè)或多個(gè)儀器: 生成信號(hào),所述信號(hào)控制所述處理器核心對(duì)所述測(cè)試程序的一部分的執(zhí)行;并且 在與所述測(cè)試程序的所述部分的執(zhí)行同步的時(shí)間測(cè)量所述被測(cè)器件所輸出的信號(hào)。
22.一種測(cè)試設(shè)備,包括: 設(shè)置在測(cè)試儀內(nèi)的多個(gè)儀器,所述儀器中的每一個(gè)被配置成生成和/或測(cè)量至少一個(gè)信號(hào),以供施加到被測(cè)器件;以及 至少一個(gè)處理器,所述處理器被配置成實(shí)施: 調(diào)試器模塊,所述調(diào)試器模塊包括接口,其中所述調(diào)試器模塊被配置成響應(yīng)于通過所述接口接收的信息來執(zhí)行至少一個(gè)調(diào)試工具,以生成調(diào)試命令; 測(cè)試儀控制模塊,所述測(cè)試儀控制模塊包括輸入,其中所述測(cè)試儀控制模塊被配置成基于通過所述輸入接收的儀器命令來實(shí)時(shí)生成控制信號(hào),所述控制信號(hào)控制所述多個(gè)儀器,以生成和/或測(cè)量信號(hào),以供施加到所述被測(cè)器件;以及 轉(zhuǎn)換模塊,所述轉(zhuǎn)換模塊耦接在所述調(diào)試器模塊與所述測(cè)試儀控制模塊之間,其中所述轉(zhuǎn)換模塊被配置成: 從所述調(diào)試器模塊接收第一組調(diào)試命令; 基于所述第一組調(diào)試命令來生成第二組儀器命令;并且 相對(duì)于所述第一組調(diào)試命令的接收,實(shí)時(shí)地將所述第二組儀器命令施加到所述測(cè)試儀控制模塊的所述輸入。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測(cè)試設(shè)備,其中: 所述測(cè)試儀控制模塊還被配置成根據(jù)所述被測(cè)器件的功能正確的工作環(huán)境實(shí)時(shí)生成控制信號(hào)。
24.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測(cè)試設(shè)備,其中: 所述至少一個(gè)處理器包括至少第一處理器和第二處理器; 所述第一處理器被配置成實(shí)施所述調(diào)試器模塊; 所述第二處理器設(shè)置在所述測(cè)試儀內(nèi);并且 所述第二處理器被配置成實(shí)施所述測(cè)試儀控制模塊。
25.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測(cè)試設(shè)備,其中: 所述測(cè)試儀控制模塊包括至少一個(gè)協(xié)議感知引擎或ATE儀器引擎。
26.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測(cè)試設(shè)備,其中: 所述測(cè)試儀控制模塊還被配置成: 在多個(gè)協(xié)議中從通過所述輸入接收的所述儀器命令來生成所述控制信號(hào);并且 接收選擇所述多個(gè)協(xié)議中的一個(gè)協(xié)議的控制信號(hào)。
27.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測(cè)試設(shè)備,其中: 所述調(diào)試器模塊被配置成以獨(dú)立于所述儀器命令格式的格式生成調(diào)試命令。
【專利摘要】本發(fā)明公開了測(cè)試系統(tǒng),所述測(cè)試系統(tǒng)使得能夠使用本機(jī)客戶代碼對(duì)被測(cè)器件(DUT)進(jìn)行實(shí)時(shí)交互式調(diào)試。轉(zhuǎn)換模塊可將對(duì)應(yīng)于用戶輸入的調(diào)試命令實(shí)時(shí)格式化為能夠由測(cè)試儀中的儀器識(shí)別的格式。所述用戶輸入可為以高級(jí)編程語言編寫的測(cè)試程序或測(cè)試指令。所述轉(zhuǎn)換模塊可將所述用戶的調(diào)試命令轉(zhuǎn)換為較低級(jí)測(cè)試儀器命令,所述測(cè)試儀可基于所述較低級(jí)測(cè)試儀器命令來將控制信號(hào)施加到所述DUT中的處理器,以測(cè)試所述DUT的子系統(tǒng)。所述測(cè)試的結(jié)果可被提供到所述轉(zhuǎn)換模塊,所述轉(zhuǎn)換模塊可實(shí)時(shí)格式化另一個(gè)調(diào)試命令或?qū)⑺鼋Y(jié)果的指示提供給所述用戶。所述轉(zhuǎn)換模塊可因此使得用戶能夠以交互方式進(jìn)行單步調(diào)試并且修改本機(jī)客戶代碼,以調(diào)試DUT。
【IPC分類】G06F9-455, G01R31-28
【公開號(hào)】CN104797948
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201380060064
【發(fā)明人】馬克·魯本·哈特納, 約翰·F·羅
【申請(qǐng)人】泰拉丁公司
【公開日】2015年7月22日
【申請(qǐng)日】2013年11月8日
【公告號(hào)】US20140143600, WO2014078196A1
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