測(cè)試電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測(cè)試電路，尤其涉及一種快速啟動(dòng)的測(cè)試電路。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著社會(huì)的發(fā)展，智能手機(jī)越來(lái)越普及，制造商在生產(chǎn)智能手機(jī)時(shí)都需要進(jìn)行產(chǎn) 品質(zhì)量檢測(cè)，然而由于智能手機(jī)在開(kāi)機(jī)時(shí)需要加載系統(tǒng)軟件導(dǎo)致開(kāi)機(jī)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，從而導(dǎo)致 產(chǎn)品檢測(cè)時(shí)間耗費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間，嚴(yán)重影響產(chǎn)能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，有必要提供一種可快速進(jìn)入啟動(dòng)的測(cè)試電路。
[0004] -種測(cè)試電路，其包括USB接口、USB功能模塊及測(cè)試功能模塊，該USB接口包括 電源引腳和識(shí)別引腳，該USB功能模塊及測(cè)試功能模塊均電性連接至USB接口的識(shí)別引腳， 該USB功能模塊用于根據(jù)識(shí)別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入OTG功能，該測(cè)試功能模 塊用于根據(jù)識(shí)別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入測(cè)試模式。
[0005] 上述的測(cè)試電路通過(guò)USB接口的識(shí)別引腳的高電平或低電平的電位信號(hào)，以控制 電子裝置進(jìn)入測(cè)試模式或OTG功能。該測(cè)試電路可快速地進(jìn)入測(cè)試模式，提高生產(chǎn)效率，且 設(shè)計(jì)成本低。
【附圖說(shuō)明】
[0006] 圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的測(cè)試電路的電路圖。
[0007] 圖2為圖1所述測(cè)試電路在進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)的電路圖。
[0008] 圖3為圖1所述測(cè)試電路在進(jìn)入OTG功能時(shí)的電路圖。
[0009] 主要元件符號(hào)說(shuō)明
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種測(cè)試電路，其包括通用串行總線（Universal Serial Bus，USB)接口，該USB接 口包括電源引腳和識(shí)別引腳，其特征在于：該測(cè)試電路還包括USB功能模塊及測(cè)試功能模 塊，該USB功能模塊及測(cè)試功能模塊均電性連接至USB接口的識(shí)別引腳，該USB功能模塊根 據(jù)識(shí)別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入OTG (On-The-Go)功能，該測(cè)試功能模塊根據(jù)識(shí) 別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入測(cè)試模式。
2. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述測(cè)試功能模塊包括測(cè)試芯片、場(chǎng)效 應(yīng)管、第一電阻、第二電阻及第三電阻，該場(chǎng)效應(yīng)管包括柵極，源極及漏極，該柵極通過(guò)第一 電阻與USB接口的識(shí)別引腳電性連接，該柵極通過(guò)第二電阻接地，該源極接地處理，該漏極 通過(guò)第三電阻連接至一電源，該測(cè)試芯片電性連接至場(chǎng)效應(yīng)管與第三電阻之間的節(jié)點(diǎn)。
3. 如權(quán)利要求2所述的測(cè)試電路，其特征在于：當(dāng)所述USB接口的識(shí)別引腳為高電平 時(shí)，所述場(chǎng)效應(yīng)管導(dǎo)通，所述測(cè)試芯片工作。
4. 如權(quán)利要求2所述的測(cè)試電路，其特征在于：當(dāng)所述USB接口的識(shí)別引腳為低電平 時(shí)，所述場(chǎng)效應(yīng)管截止，所述測(cè)試芯片不工作。
5. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述USB功能模塊包括USB芯片和二 極管，該二極管的陰極與USB接口的識(shí)別引腳電性連接，該二極管的陽(yáng)極電性連接于USB芯 片。
6. 如權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述USB芯片設(shè)有偵測(cè)引腳，該偵測(cè)引 腳初始為高電平，此時(shí)該USB芯片不工作，當(dāng)該偵測(cè)引腳的電位拉低為低電平時(shí)，該USB芯 片進(jìn)入0TG功能。
7. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述USB接口的識(shí)別引腳接地時(shí)，電子 裝置進(jìn)入0TG功能。
8. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述USB接口的識(shí)別引腳和電源引腳 電性連接，電子裝置進(jìn)入測(cè)試模式。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測(cè)試電路，其包括USB接口、USB功能模塊及測(cè)試功能模塊，該USB接口包括電源引腳和識(shí)別引腳，該USB功能模塊及測(cè)試功能模塊均電性連接至USB接口的識(shí)別引腳，該USB功能模塊及測(cè)試功能模塊均電性連接至USB接口的識(shí)別引腳，該USB功能模塊用于根據(jù)識(shí)別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入OTG功能，該測(cè)試功能模塊用于根據(jù)識(shí)別引腳的電位控制電子裝置是否進(jìn)入測(cè)試模式。該測(cè)試電路可快速地進(jìn)入測(cè)試模式，提高生產(chǎn)效率，且設(shè)計(jì)成本低。
【IPC分類】G01R31-00
【公開(kāi)號(hào)】CN104678197
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310624328
【發(fā)明人】吳凡, 李盈政
【申請(qǐng)人】深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司, 群邁通訊股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2013年11月29日