一種單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及散射點(diǎn)位置識別方法。更具體地，涉及一種單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著隱身反隱身技術(shù)的發(fā)展，對雷達(dá)目標(biāo)特性的測量精度要求越來越高。為了滿足經(jīng)典的雷達(dá)目標(biāo)特性測量遠(yuǎn)場條件，通常在微波暗室內(nèi)進(jìn)行測量。室內(nèi)單站遠(yuǎn)場雷達(dá)目標(biāo)特性測量示意圖如圖1所示，單站測量即發(fā)射天線與接收天線位于同一個位置或?yàn)橥粋€天線，待測目標(biāo)位于測試區(qū)中，通常測試區(qū)為一個橫躺的圓柱形，待測目標(biāo)與發(fā)射接收天線之間距離滿足遠(yuǎn)場條件，發(fā)射天線照射電磁波到待測目標(biāo)，待測目標(biāo)散射電磁波被接收天線接收。
[0003]當(dāng)前在微波暗室內(nèi)測量雷達(dá)目標(biāo)單站遠(yuǎn)場特性時，多采用掃頻測量模式，然后將掃頻結(jié)果變換到時域，通過加時域窗，剔除其它時間返回到接收天線的散射信號。如圖2所示，圖2中圖a表示當(dāng)測試區(qū)中不存在待測目標(biāo)時的時域信號，圖b表示測試區(qū)中存在待測目標(biāo)時的時域信號，觀察圖b矩形框中的峰值信號(見峰值4)即代表待測目標(biāo)散射信號，對圖b測試信號加合適的時域窗函數(shù)，就可以把不需要的其它散射信號(如峰值1、峰值2、峰值3、峰值5等)剔除，這些較大的峰值1、2、3、5信號均具有明確的物理含義，如代表電纜反射信號、天線直漏信號、暗室內(nèi)支架散射信號、暗室后墻散射信號等，由于這些信號與待測目標(biāo)散射信號到達(dá)接收天線的時間不同，所以均可以通過時間門剔除，僅得到矩形框內(nèi)的待測目標(biāo)信號。但這種處理方式無法剔除暗室內(nèi)與待測目標(biāo)散射信號同時到達(dá)接收天線的散射信號，如果暗室各墻或暗室內(nèi)存在某些物體，這些散射部位與發(fā)射接收天線的距離與待測目標(biāo)與發(fā)射接收天線之間的距離相等，則這些不需要的散射信號也將落入圖b中的矩形框內(nèi)，與待測目標(biāo)信號同時到達(dá)，則通過上述加時域門的方式將難以剔除。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別方法；以快速找到暗室內(nèi)與待測目標(biāo)的散射信號同時到達(dá)發(fā)射接收天線的同步散射點(diǎn)位置。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用下述技術(shù)方案:
[0006]一種單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別方法，該方法的步驟包括:
[0007]在暗室中建立三維直角坐標(biāo)系；
[0008]在所述三維直角坐標(biāo)系中確定發(fā)射接收天線所在位置T ;
[0009]以所述發(fā)射接收天線所在位置T為圓心，以測試區(qū)內(nèi)待測目標(biāo)所在位置A與所述發(fā)射接收天線所在位置T的距離為半徑，在所述暗室中構(gòu)建一個圓球面；
[0010]所述圓球面與所述暗室各面及暗室內(nèi)物體的交匯處即為所述單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置。
[0011]優(yōu)選地，所述三維直角坐標(biāo)系以所述發(fā)射接收天線后方的暗室前墻的任意一墻角為坐標(biāo)系原點(diǎn)O，以長度方向?yàn)閄軸，以寬度方向?yàn)閅軸，以高度方向?yàn)閆軸。
[0012]所述在所述三維直角坐標(biāo)系中確定發(fā)射接收天線所在位置T包括:
[0013]確定所述發(fā)射接收天線所在位置T在三維直角坐標(biāo)系中的三維坐標(biāo)，所述發(fā)射接收天線所在位置T的三維坐標(biāo)為(XT，YT, Zt)。
[0014]所述以所述發(fā)射接收天線所在位置T為圓心，以待測目標(biāo)所在位置A與所述發(fā)射接收天線所在位置T的距離為半徑，在所述暗室中構(gòu)建一個圓球面包括:
[0015]確定所述待測目標(biāo)所在位置A的三維坐標(biāo)，所述待測目標(biāo)所在位置A的三維坐標(biāo)為(ΧΑ，\，Za);
[0016]計(jì)算所述發(fā)射接收天線所在位置T與待測目標(biāo)所在位置A的距離TA ;
[0017]以所述發(fā)射接收天線所在位置T為圓心，以所述發(fā)射接收天線所在位置T與所述待測目標(biāo)所在位置A的距離TA為半徑，在所述暗室中構(gòu)建一個圓球面。
[0018]優(yōu)選地，計(jì)算所述圓球面與所述暗室內(nèi)各面及暗室內(nèi)部空間物體相交的所有交匯點(diǎn)的坐標(biāo)，依據(jù)坐標(biāo)確定所述單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置。
[0019]優(yōu)選地，所述單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)為發(fā)射信號到該區(qū)域再被接收天線接收到干擾散射信號的時間與發(fā)射信號到所述測試區(qū)待測目標(biāo)再被接收天線接收到所述待測目標(biāo)散射信號的時間相同的散射點(diǎn)。
[0020]優(yōu)選地，所述單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)源自所述圓球面與所述暗室的側(cè)墻、暗室的地面、暗室的屋頂、暗室的如后墻或在暗室內(nèi)部空間存在的物體的交匯處。
[0021]優(yōu)選地，該方法的步驟進(jìn)一步包括在所述單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置放置吸波材料或移除產(chǎn)生散射的物體。
[0022]在本發(fā)明中，單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置簡稱為同步散射點(diǎn)位置。
[0023]本發(fā)明的有益效果如下:
[0024]現(xiàn)有單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量信號處理方式無法剔除暗室內(nèi)與待測目標(biāo)散射信號同時到達(dá)發(fā)射接收天線的散射信號，如果暗室各壁或暗室內(nèi)存在某些物體，這些散射部位與發(fā)射接收天線的距離與待測目標(biāo)與發(fā)射接收天線之間的距離相等，則其散射的信號將與待測目標(biāo)的散射信號同時到達(dá)發(fā)射接收天線，通過簡單加時域門的方式將難以剔除。本發(fā)明方法可有效地解決以上不足，通過本發(fā)明方法可快速找到暗室內(nèi)與待測目標(biāo)的散射信號同時到達(dá)發(fā)射接收天線的同步散射點(diǎn)位置，通過對這些位置添加高性能的吸波材料，可以大幅度的降低這些部位的散射信號強(qiáng)度，減小這些部位散射對待測目標(biāo)散射信號測量精度的影響；如果暗室內(nèi)部空間存在某些物體，則可以把這些散射部位挪動，剔除這些散射源；在實(shí)際測試結(jié)果分析時，也可以通過上述辦法，根據(jù)待測目標(biāo)的具體位置，具體識別暗室內(nèi)相應(yīng)的同步散射點(diǎn)位置，起到提高分析測量結(jié)果測量精度的目的。
【附圖說明】
[0025]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0026]圖1示出室內(nèi)單站遠(yuǎn)場雷達(dá)目標(biāo)特性測量示意圖；
[0027]圖2a示出當(dāng)測試區(qū)中不存在待測目標(biāo)時的現(xiàn)有室內(nèi)單站遠(yuǎn)場雷達(dá)目標(biāo)特性測量時域處理示意圖；
[0028]圖2b示出當(dāng)測試區(qū)中存在待測目標(biāo)時的現(xiàn)有室內(nèi)單站遠(yuǎn)場雷達(dá)目標(biāo)特性測量時域處理示意圖；
[0029]圖3示出室內(nèi)單站遠(yuǎn)場雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別示意圖；
[0030]圖4示出暗室中的三維直角坐標(biāo)系；
[0031]圖5示出暗室的地面的同步散射點(diǎn)位置；
[0032]圖6示出暗室的屋頂?shù)耐缴⑸潼c(diǎn)位置；
[0033]圖7示出暗室的兩側(cè)墻的同步散射點(diǎn)位置。
【具體實(shí)施方式】
[0034]為了更清楚地說明本發(fā)明，下面結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例和附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步的說明。附圖中相似的部件以相同的附圖標(biāo)記進(jìn)行表示。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，下面所具體描述的內(nèi)容是說明性的而非限制性的，不應(yīng)以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0035]本發(fā)明公開一種同步散射點(diǎn)位置識別方法，特別是公開一種單站雷達(dá)目標(biāo)特性測量同步散射點(diǎn)位置識別方法，該方法的步驟包括:
[0036]在暗室中建立三維直角坐標(biāo)系；三維直角坐標(biāo)系以發(fā)射接收天線I后方的暗室前墻的任意一墻角為坐標(biāo)系原點(diǎn)O，以長度方向?yàn)閄軸，以寬度方向?yàn)閅軸，以高度方向?yàn)閆軸；確定發(fā)射接收天線I所在位置T在三維直角坐標(biāo)系中的三維坐標(biāo)；發(fā)射接收天線I所在位置T的三維坐標(biāo)為(XT，YT，Zt);確定待測目標(biāo)3所在位置A的三維坐標(biāo)；待測目標(biāo)3所在位置A的三維坐標(biāo)為(ΧΑ，\，Za);計(jì)算發(fā)射接收天線I所在位置T與待測目標(biāo)3所在位置A的距離TA ;以發(fā)射接收天線I所在位置T為