專利名稱：窄高棱鏡型珠寶折射儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型主要用于測(cè)試寶石折射率，尤其方便測(cè)試已鑲嵌寶石的折射率。
現(xiàn)有寶石折射儀可以方便測(cè)試寶石折射率，如“一種寶石折射儀”(專利號(hào)91218187，申請(qǐng)日1991年7月9日)?，F(xiàn)有寶石折射儀其測(cè)試?yán)忡R采用高折射率玻璃或立方氧化鋯做成，其工作臺(tái)面較寬，其寬度為4mm～6mm，而且棱鏡工作臺(tái)面僅比圍板面稍微突出，突出距離小于1mm，因此使用現(xiàn)有折射儀測(cè)試已鑲嵌寶石時(shí)比較困難，因?yàn)殍偳秾毷慕饘僮Ψ恋K測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面和寶石面直接接觸，從而妨礙測(cè)量。
本實(shí)用新型對(duì)現(xiàn)有寶石折射儀中測(cè)試?yán)忡R改進(jìn)，提供一種具窄高測(cè)試?yán)忡R的珠寶折射儀，使之能方便地測(cè)量已鑲嵌在首飾上的寶石的折射率。
本實(shí)用新型中測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面做成窄形，安裝測(cè)試?yán)忡R時(shí)，使測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面相對(duì)圍板面突出，從而避開(kāi)鑲嵌寶石的金屬爪。
本實(shí)用新型的測(cè)試?yán)忡R在現(xiàn)有寶石折射儀測(cè)試?yán)忡R基礎(chǔ)上改進(jìn)，把測(cè)試?yán)忡R的工作臺(tái)面做成寬度為2mm～3mm，安裝時(shí)使工作臺(tái)面相對(duì)于圍板面突出1mm～1.5mm。這樣在測(cè)量已鑲嵌寶石時(shí)，消除了金屬爪的妨礙，使寶石面能和工作臺(tái)面直接接觸，從而能方便地測(cè)量到寶石的折射率。
測(cè)試?yán)忡R可以用高折光率玻璃、立方氧化鋯或釔鋁榴石等材料做成。


圖1本實(shí)用新型中測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的正視圖圖2本實(shí)用新型中測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的側(cè)視圖圖3本實(shí)用新型實(shí)施例2的測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的正視圖圖4本實(shí)用新型實(shí)施例2的測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的側(cè)視圖圖5本實(shí)用新型實(shí)施例3的測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的正視圖圖6本實(shí)用新型實(shí)施例3的測(cè)試?yán)忡R和圍板裝配的側(cè)視圖1.測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面，2.圍板根據(jù)現(xiàn)有的寶石折射儀的測(cè)試?yán)忡R不同，本實(shí)用新型可以做成1.現(xiàn)有寶石折射儀的測(cè)試?yán)忡R上底面就是測(cè)試工作臺(tái)面，那么測(cè)試?yán)忡R上底面長(zhǎng)度不變，可為15mm～25mm，寬度做成2mm～2.5mm，測(cè)試?yán)忡R安裝時(shí)，使測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面相對(duì)圍板面突出1.1mm～1.4mm。
2.現(xiàn)有測(cè)試?yán)忡R上底面為凸起狀，凸起面為工作臺(tái)面，則保持測(cè)試?yán)忡R上底面長(zhǎng)度不變，為15mm～25mm，而上底面寬度為4mm～5mm，凸起面寬2.2mm～2.8mm、長(zhǎng)15mm～25mm，安裝圍板后，凸起面比圍板面突出1.3mm。
3.測(cè)試?yán)忡R長(zhǎng)度不變，寬做成為2.2mm～2.7mm，而且圍板做成凹形狀，凹底面長(zhǎng)12mm～18mm，凹深1mm～1.2mm，測(cè)試?yán)忡R對(duì)應(yīng)凹部安裝，使測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面在長(zhǎng)度方向的兩頭比圍板面稍微突出(約0.1mm～0.3mm)，而比凹面突出1.3mm～1.5mm。
本實(shí)用新型可以采用釔鋁榴石材料做成。根據(jù)需要可以做成其它形狀，只要保證測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面窄而且高出圍板面。
本實(shí)用新型主要用于測(cè)量已鑲嵌寶石折射率，也可以測(cè)試未鑲嵌寶石折射率。
權(quán)利要求1.一種窄高棱鏡型珠寶折射儀，由測(cè)試?yán)忡R、圍板等組成，其特征是測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面寬2mm～2.5mm，工作臺(tái)面相對(duì)圍板面突出1.1mm～1.4mm。
2.如權(quán)利要求1所述的一種窄高棱鏡型珠寶折射儀，其特征是測(cè)試?yán)忡R上底面為凸起面，凸起面寬2mm～2.5mm，安裝圍板后，凸起面相對(duì)于圍板面突出1.3mm。
3.如權(quán)利1所述的一種窄高棱鏡型珠寶折射儀，其特征是測(cè)試?yán)忡R寬2.2mm～2.7mm，圍板為凹形狀，凹深1mm～1.2mm，安裝圍板后，測(cè)試?yán)忡R工作臺(tái)面比凹面突出1.2mm～1.4mm。
4.如權(quán)利要求1或2或3所述的一種窄高棱鏡型折射儀，其特征是測(cè)試?yán)忡R采用釔鋁榴石材料做成。
專利摘要一種窄高棱鏡型珠寶折射儀，在現(xiàn)有寶石折射儀基礎(chǔ)上改進(jìn)、測(cè)試?yán)忡R的寬度做成為2mm～3mm，測(cè)試?yán)忡R安裝后，使工作臺(tái)面比圍板面突出1mm～1.5mm，這樣，使用本實(shí)用新型可以更方便測(cè)試已鑲嵌寶石的折射率。
文檔編號(hào)G01N21/41GK2200181SQ93247150
公開(kāi)日1995年6月7日 申請(qǐng)日期1993年12月8日 優(yōu)先權(quán)日1993年12月8日
發(fā)明者袁心強(qiáng) 申請(qǐng)人:中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢)