本技術(shù)涉及光學(xué)測(cè)試的，特別涉及一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具。

背景技術(shù)：

1、現(xiàn)有光學(xué)指紋模組測(cè)試工具內(nèi)的指紋模組放置槽與chart圖之間的p值間距都是固定的，不能進(jìn)行調(diào)整，因此該光學(xué)指紋模組測(cè)試工具只能對(duì)同一個(gè)型號(hào)的指紋模組進(jìn)行測(cè)試。如果使用者需要對(duì)不同的指紋模組進(jìn)行測(cè)試，因?yàn)椴煌闹讣y模組要求指紋模組放置槽與chart圖之間的間距不同，所以使用者需要頻繁更換光學(xué)指紋模組測(cè)試工具以測(cè)試不同型號(hào)的指紋模組，導(dǎo)致該光學(xué)指紋模組測(cè)試工具通用性差；因此市面上急需一種能調(diào)整指紋模組放置槽與chart圖之間的p值間距的光學(xué)指紋模組測(cè)試工具。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷，提供一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，用于解決現(xiàn)有光學(xué)指紋模組測(cè)試工具內(nèi)的指紋模組放置槽與chart圖之間的p值間距固定不能調(diào)整，導(dǎo)致光學(xué)指紋模組測(cè)試工具通用性差的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，包括測(cè)試底座，還包括裝設(shè)在所述測(cè)試底座一端的第一扭環(huán)，裝設(shè)在所述測(cè)試底座另一端與第一扭環(huán)相對(duì)應(yīng)的第二扭環(huán)，所述第一扭環(huán)和第二扭環(huán)之間設(shè)有均光板，所述均光板與第一扭環(huán)和第二扭環(huán)之間連接有調(diào)節(jié)桿，可拆卸裝設(shè)在所述均光板頂端的chart圖，固定裝設(shè)在所述測(cè)試底座上且位于均光板正上方的測(cè)試載快，裝設(shè)在所述測(cè)試載快內(nèi)且用于放置指紋模組的可更換限位塊，裝設(shè)在所述測(cè)試載快內(nèi)的pcb轉(zhuǎn)接板，所述pcb轉(zhuǎn)接板一端通過探針連接指紋模組，另一端通過排針連接主板，所述第一扭環(huán)和第二扭環(huán)驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)桿上下移動(dòng)，從而帶動(dòng)均光板同時(shí)移動(dòng)。

3、作為優(yōu)選的，還包括開設(shè)在所述均光板兩端且與調(diào)節(jié)桿相匹配的通孔，所述調(diào)節(jié)桿均穿過均光板兩端的通孔將均光板連接至第一扭環(huán)和第二扭環(huán)。

4、作為優(yōu)選的，所述測(cè)試載快呈合頁狀，所述測(cè)試載快包括載快底板和鉸接在所述載快底板上端的載快壓板。

5、作為優(yōu)選的，還包括裝設(shè)在所述載快壓板一端的壓合扣，所述載快壓板與載快底板之間通過壓合扣開合連接。

6、作為優(yōu)選的，所述可更換限位塊位于載快底板內(nèi)，開設(shè)在所述可更換限位塊內(nèi)用于放置指紋模組的限位凹槽。

7、作為優(yōu)選的，還包括裝設(shè)在所述載快壓板上且位于限位凹槽正上方的壓頭。

8、作為優(yōu)選的，所述測(cè)試底座、測(cè)試載快及均光板均為長(zhǎng)方形結(jié)構(gòu)。

9、作為優(yōu)選的，所述測(cè)試載快與測(cè)試底座之間通過螺絲固定連接。

10、作為優(yōu)選的，所述chart圖通過螺絲固定在均光板上。

11、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果在于：

12、本實(shí)用新型提供的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，使用者在對(duì)指紋模組進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通過轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試底座兩邊的第一扭環(huán)和第二扭環(huán)驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)桿上下移動(dòng)，從而均光板同時(shí)移動(dòng)，可調(diào)整均光板與指紋模組之間的p值間距，使得指紋模組的焦點(diǎn)更準(zhǔn)確散落至chart圖上，更精準(zhǔn)地完成光學(xué)指紋模組的測(cè)試，本實(shí)用新型可滿足在測(cè)試時(shí)不同型號(hào)指紋模組與chart圖之間不同間距的要求，提高了整個(gè)測(cè)試工具的通用性，可適用于不同型號(hào)的指紋模組的測(cè)試，通用性高。

技術(shù)特征：

1.一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，包括測(cè)試底座(1)，其特征在于，還包括裝設(shè)在所述測(cè)試底座(1)一端的第一扭環(huán)(2)，裝設(shè)在所述測(cè)試底座(1)另一端與第一扭環(huán)(2)相對(duì)應(yīng)的第二扭環(huán)(12)，所述第一扭環(huán)(2)和第二扭環(huán)(12)之間設(shè)有均光板(4)，所述均光板(4)與第一扭環(huán)(2)和第二扭環(huán)(12)之間連接有調(diào)節(jié)桿(3)，可拆卸裝設(shè)在所述均光板(4)頂端的chart圖(5)，固定裝設(shè)在所述測(cè)試底座(1)上且位于均光板(4)正上方的測(cè)試載快(6)，裝設(shè)在所述測(cè)試載快(6)內(nèi)且用于放置指紋模組(7)的可更換限位塊(63)，裝設(shè)在所述測(cè)試載快(6)內(nèi)的pcb轉(zhuǎn)接板(8)，所述pcb轉(zhuǎn)接板(8)一端通過探針(81)連接指紋模組(7)，另一端通過排針(82)連接主板，所述第一扭環(huán)(2)和第二扭環(huán)(12)驅(qū)動(dòng)調(diào)節(jié)桿(3)上下移動(dòng)，從而帶動(dòng)均光板(4)同時(shí)移動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，還包括開設(shè)在所述均光板(4)兩端且與調(diào)節(jié)桿(3)相匹配的通孔，所述調(diào)節(jié)桿(3)均穿過均光板(4)兩端的通孔將均光板(4)連接至第一扭環(huán)(2)和第二扭環(huán)(12)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，所述測(cè)試載快(6)呈合頁狀，所述測(cè)試載快(6)包括載快底板(61)和鉸接在所述載快底板(61)上端的載快壓板(62)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，還包括裝設(shè)在所述載快壓板(62)一端的壓合扣(621)，所述載快壓板(62)與載快底板(61)之間通過壓合扣(621)開合連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，所述可更換限位塊(63)位于載快底板(61)內(nèi)，開設(shè)在所述可更換限位塊(63)內(nèi)用于放置指紋模組(7)的限位凹槽(611)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，還包括裝設(shè)在所述載快壓板(62)上且位于限位凹槽(611)正上方的壓頭(622)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，所述測(cè)試底座(1)、測(cè)試載快(6)及均光板(4)均為長(zhǎng)方形結(jié)構(gòu)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，所述測(cè)試載快(6)與測(cè)試底座(1)之間通過螺絲固定連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，其特征在于，所述chart圖(5)通過螺絲固定在均光板(4)上。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)的一種適用于光學(xué)指紋模組測(cè)試工具，包括測(cè)試底座，還包括裝設(shè)在測(cè)試底座一端的第一扭環(huán)，裝設(shè)在測(cè)試底座另一端與第一扭環(huán)相對(duì)應(yīng)的第二扭環(huán)，第一扭環(huán)和第二扭環(huán)之間設(shè)有均光板，均光板與第一扭環(huán)和第二扭環(huán)之間連接有調(diào)節(jié)桿，可拆卸裝設(shè)在均光板頂端的Chart圖，固定裝設(shè)在測(cè)試底座上且位于均光板正上方的測(cè)試載快，裝設(shè)在測(cè)試載快內(nèi)且用于放置指紋模組的可更換限位塊，裝設(shè)在測(cè)試載快內(nèi)的PCB轉(zhuǎn)接板，PCB轉(zhuǎn)接板一端通過探針連接指紋模組，另一端通過排針連接主板。本實(shí)用可滿足在測(cè)試時(shí)不同型號(hào)指紋模組與chart圖之間不同間距的要求，提高了整個(gè)測(cè)試工具的通用性，可適用于不同型號(hào)的指紋模組的測(cè)試，通用性高。

技術(shù)研發(fā)人員：鐘海,郝明友,金道為
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東紫文星電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240517
技術(shù)公布日：2025/1/9