本技術(shù)涉及產(chǎn)品測試，特別是涉及沖擊試驗(yàn)裝置。

背景技術(shù)：

1、單體擺錘沖擊試驗(yàn)是一種常用的材料力學(xué)試驗(yàn)方法，用于評估材料的抗沖擊性能。該試驗(yàn)通常使用一個(gè)重量較大的擺錘，通過釋放其潛在能量，使擺錘以一定速度沖擊待測試材料。

2、目前的單體沖擊試驗(yàn)裝置不能直接測試不同溫度下的試樣的沖擊韌性，需要經(jīng)過預(yù)處理才能針對不同溫度進(jìn)行測試。

3、但是，預(yù)處理之后到測試過程中不能進(jìn)行很好的保溫處理，導(dǎo)致測試時(shí)溫度與預(yù)估溫度有一定的偏差，導(dǎo)致試驗(yàn)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對擺錘沖擊實(shí)驗(yàn)中無法對特定溫度的試樣進(jìn)行沖擊測試問題，提供一種沖擊試驗(yàn)裝置。

2、本申請?zhí)峁┮环N沖擊試驗(yàn)裝置，所述沖擊試驗(yàn)裝置包括：支承件；沖擊件，設(shè)置于所述支承件一側(cè)，與所述支承件轉(zhuǎn)動(dòng)連接；基座，用于支承待測試樣，所述基座設(shè)置于與所述沖擊件相同的一側(cè)且位于所述沖擊件下方，以使所述待測試樣位于所述沖擊件的轉(zhuǎn)動(dòng)路徑；以及溫度控制模塊，包括半導(dǎo)體制冷片，用于通過所述半導(dǎo)體制冷片調(diào)節(jié)所述基座的溫度。

3、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元，所述半導(dǎo)體制冷片與所述基座鄰接，所述溫度控制單元與所述半導(dǎo)體制冷片電連接，用于控制輸入至所述半導(dǎo)體制冷片的電流方向。半導(dǎo)體制冷片具有制冷和加熱兩種功能，其工作原理是基于熱電效應(yīng)。當(dāng)直流電流通過這兩片半導(dǎo)體材料時(shí)，電流由n型元件流向p型元件的接頭吸收熱量，成為冷端；由p型元件流向n型元件的接頭釋放熱量，成為熱端，通過改變直流電流的極性，可以決定在同一制冷片上實(shí)現(xiàn)制冷或加熱。從而能夠通過半導(dǎo)體制冷片對基座的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)，以調(diào)節(jié)待測試樣的溫度。

4、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述半導(dǎo)體制冷片和所述基座之間填充有導(dǎo)熱材料。以導(dǎo)熱材料作為填充物能夠提高溫度傳輸利用率，使得半導(dǎo)體制冷片能夠?qū)崟r(shí)控制基座的溫度。

5、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述沖擊件包括擺臂和擺錘，所述擺臂的第一端與所述支承件轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述擺錘與所述擺臂的第二端連接，所述擺臂轉(zhuǎn)動(dòng)到預(yù)設(shè)位置時(shí)，所述擺錘沖擊所述待測試樣。增設(shè)控制系統(tǒng)，通過擺臂和擺錘形成擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)，并根據(jù)試驗(yàn)要求設(shè)置好試驗(yàn)參數(shù)，如擺錘質(zhì)量、下落高度、沖擊速度等。然后，通過控制系統(tǒng)釋放擺錘，使其自由下落并撞擊待測試樣。撞擊后，可以觀察并記錄材料的變形情況，如裂紋、破裂等。

6、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括指示器，所述指示器用于顯示所述待測試樣的沖擊試驗(yàn)信息。通過指示器可以使沖擊試驗(yàn)信息可視化，通過配備相應(yīng)的測量、控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，可以測量撞擊力、殘余變形、斷裂模式等參數(shù)，并對試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理。根據(jù)實(shí)際需求，擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)可能具有不同的工作原理和設(shè)計(jì)，以適應(yīng)不同材料和試驗(yàn)要求。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括溫度檢測模塊和顯示模塊，所述溫度檢測模塊用于檢測所述待測試樣的溫度，所述顯示模塊用于顯示所述溫度檢測模塊檢測得到的溫度。通過這樣的方式，能夠在半導(dǎo)體制冷片調(diào)節(jié)待測試樣的溫度后，使待測試樣的溫度可視化，便于使用者觀察試樣的溫度，以使試驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確。

8、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述溫度檢測模塊包括紅外測溫探頭，所述紅外測溫探頭朝向所述待測試樣，用于檢測所述待測試樣的溫度。紅外測溫探頭是一種用于非接觸式測量物體表面溫度的設(shè)備，利用紅外輻射的原理，通過探頭接收待測試樣發(fā)出的紅外輻射，并將其轉(zhuǎn)換為溫度值。通過紅外測溫探頭實(shí)現(xiàn)不接觸測溫，避免影響試樣溫度。

9、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括保溫罩，所述保溫罩與所述基座可拆卸連接，能夠?qū)⑺龃郎y試樣容納在罩體內(nèi)。保溫罩能夠減少待測試樣和環(huán)境的熱交換，使其快速達(dá)到指定溫度。

10、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括冷卻機(jī)構(gòu)，所述冷卻機(jī)構(gòu)用于冷卻所述半導(dǎo)體制冷片遠(yuǎn)離所述待測試樣的一端。當(dāng)半導(dǎo)體制冷片用于冷卻待測試樣時(shí)，控制電流方向使半導(dǎo)體制冷片靠近待測試樣的一端為制冷，則遠(yuǎn)離待測試樣的一端為制熱。通過冷卻機(jī)構(gòu)對制熱端進(jìn)行冷卻，帶走半導(dǎo)體制冷片向下一面的熱量，提高降溫效率和極限。

11、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述冷卻機(jī)構(gòu)包括風(fēng)冷散熱器或液冷散熱器。能夠通過風(fēng)冷散熱器對半導(dǎo)體制冷片吹冷風(fēng)降溫，或通過液冷散熱器通過冷卻液介質(zhì)降溫。

12、上述沖擊試驗(yàn)裝置中，先將待測試樣放置于基座上，由溫度控制模塊對基座進(jìn)行溫度控制，從而調(diào)節(jié)待測試樣的溫度。在待測試樣的溫度達(dá)到溫度要求時(shí)，通過釋放沖擊件使其擺動(dòng)，由于待測試樣位于沖擊件的轉(zhuǎn)動(dòng)路徑上，沖擊件會(huì)撞擊待測試樣對其產(chǎn)生沖擊力，進(jìn)而得到待測試樣在指定溫度下的沖擊試驗(yàn)數(shù)據(jù)。通過上述沖擊試驗(yàn)裝置，減少了對待測試樣的預(yù)處理步驟，省去了多個(gè)設(shè)備（如烘箱等），同時(shí)還減少了冷卻劑的使用，既能節(jié)能環(huán)保，又降低了成本。同時(shí)，本實(shí)用新型提供的沖擊試驗(yàn)裝置易上手，試樣在基座上進(jìn)行溫度控制，避免了轉(zhuǎn)移試樣導(dǎo)致的溫度變化，使獲得的沖擊韌性值更準(zhǔn)確。

技術(shù)特征：

1.一種沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊試驗(yàn)裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元，所述半導(dǎo)體制冷片與所述基座鄰接，所述溫度控制單元與所述半導(dǎo)體制冷片電連接，用于控制輸入至所述半導(dǎo)體制冷片的電流方向。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述半導(dǎo)體制冷片和所述基座之間填充有導(dǎo)熱材料。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊件包括擺臂和擺錘，所述擺臂的第一端與所述支承件轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述擺錘與所述擺臂的第二端連接，所述擺臂轉(zhuǎn)動(dòng)到預(yù)設(shè)位置時(shí)，所述擺錘沖擊所述待測試樣。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括指示器，所述指示器用于顯示所述待測試樣的沖擊試驗(yàn)信息。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括溫度檢測模塊和顯示模塊，所述溫度檢測模塊用于檢測所述待測試樣的溫度，所述顯示模塊用于顯示所述溫度檢測模塊檢測得到的溫度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述溫度檢測模塊包括紅外測溫探頭，所述紅外測溫探頭朝向所述待測試樣，用于檢測所述待測試樣的溫度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括保溫罩，所述保溫罩與所述基座可拆卸連接，能夠?qū)⑺龃郎y試樣容納在罩體內(nèi)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述沖擊試驗(yàn)裝置還包括冷卻機(jī)構(gòu)，所述冷卻機(jī)構(gòu)用于冷卻所述半導(dǎo)體制冷片遠(yuǎn)離所述待測試樣的一端。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述冷卻機(jī)構(gòu)包括風(fēng)冷散熱器或液冷散熱器。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)涉及一種沖擊試驗(yàn)裝置。該沖擊試驗(yàn)裝置包括：支承件；沖擊件，設(shè)置于支承件一側(cè)，與支承件轉(zhuǎn)動(dòng)連接；基座，用于支承待測試樣，基座設(shè)置于與沖擊件相同的一側(cè)且位于沖擊件下方，以使待測試樣位于沖擊件的轉(zhuǎn)動(dòng)路徑；以及溫度控制模塊，包括半導(dǎo)體制冷片，用于通過半導(dǎo)體制冷片調(diào)節(jié)基座的溫度。通過上述沖擊試驗(yàn)裝置，減少了對待測試樣的預(yù)處理步驟，省去了多個(gè)設(shè)備，如烘箱等，同時(shí)還減少了冷卻劑的使用，既能節(jié)能環(huán)保，又降低了成本。同時(shí)，待測試樣在基座上進(jìn)行溫度控制，避免了轉(zhuǎn)移試樣導(dǎo)致的溫度變化，使獲得的沖擊試驗(yàn)結(jié)果更準(zhǔn)確。

技術(shù)研發(fā)人員：馮瀚,呂穎,尚書賢,夏廣明,王鵬,鄧飛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國第一汽車股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240227
技術(shù)公布日：2025/1/2