本發(fā)明涉及建筑施工測(cè)量，具體為一種建筑施工測(cè)量方法。

背景技術(shù)：

1、建筑施工測(cè)量是確保工程質(zhì)量、安全和效率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，通過(guò)精確的測(cè)量，能夠確保建筑物的位置、高度、形狀和尺寸符合設(shè)計(jì)要求，從而保障建筑物的穩(wěn)定性和使用壽命，同時(shí)，測(cè)量工作還能為施工過(guò)程中的質(zhì)量控制、進(jìn)度管理和成本控制提供重要依據(jù)。

2、然而，傳統(tǒng)測(cè)量方法受人為操作、設(shè)備精度因素的限制，其測(cè)量精度往往難以達(dá)到建筑施工的高標(biāo)準(zhǔn)要求，在面對(duì)大面積以及復(fù)雜結(jié)構(gòu)時(shí)，傳統(tǒng)測(cè)量方法需要耗費(fèi)大量時(shí)間和人力，導(dǎo)致測(cè)量效率低下，且傳統(tǒng)測(cè)量方法往往只能針對(duì)特定形狀以及尺寸的物體進(jìn)行測(cè)量，對(duì)于不規(guī)則表面或復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測(cè)量效果不佳，而在測(cè)量過(guò)程中，一旦參數(shù)設(shè)置不當(dāng)以及設(shè)備位置發(fā)生偏移，就需要重新進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn)，增加了測(cè)量難度和成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種建筑施工測(cè)量方法，解決了上述背景技術(shù)中所提出的問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案，具體實(shí)現(xiàn)方法步驟如下：

3、步驟i、利用測(cè)量設(shè)備模塊，并采用光學(xué)方法，對(duì)建筑施工所需測(cè)量的物體進(jìn)行實(shí)地測(cè)量；

4、步驟ii、利用數(shù)據(jù)處理模塊，根據(jù)物體的實(shí)地測(cè)量情況，依次計(jì)算輸出測(cè)量長(zhǎng)度lh、需要測(cè)量角度α、不規(guī)則表面面積k；

5、步驟iii、基于不規(guī)則表面面積k，并將不規(guī)則表面面積k與設(shè)計(jì)要求的預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk進(jìn)行對(duì)比，且根據(jù)對(duì)比結(jié)果對(duì)測(cè)量設(shè)備模塊進(jìn)行調(diào)整；

6、其中，所述數(shù)據(jù)處理模塊包括有利用光學(xué)手段測(cè)量物體長(zhǎng)度單元，長(zhǎng)度與角度計(jì)量關(guān)聯(lián)單元以及精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元；

7、所述測(cè)量設(shè)備模塊所使用到的設(shè)備包括有激光測(cè)距儀、光學(xué)傳感器、光學(xué)掃描設(shè)備、測(cè)量輔助設(shè)備；

8、所述數(shù)據(jù)處理模塊所使用到的設(shè)備包括有數(shù)據(jù)處理設(shè)備。

9、可選的，所述利用光學(xué)手段測(cè)量物體長(zhǎng)度單元的計(jì)算公式如下：

10、lh=[l×(m1-m2)]/[d×tan(θ)]；

11、其中：

12、lh為測(cè)量長(zhǎng)度；

13、l為間距，l反映光學(xué)測(cè)量設(shè)備模塊到被測(cè)物體之間的距離；

14、m1為前表面反射時(shí)脈沖數(shù)；

15、m2為后表面反射時(shí)脈沖數(shù)；

16、前表面反射時(shí)脈沖數(shù)m1和后表面反射時(shí)脈沖數(shù)m2分別表示光線在被測(cè)物體前后表面反射時(shí)的脈沖數(shù)；

17、d為光脈沖波長(zhǎng)；

18、θ為光線入射角。

19、可選的，所述長(zhǎng)度與角度計(jì)量關(guān)聯(lián)單元的計(jì)算公式如下：

20、α=arcsin{[lh×sin(β)]/[x+lh×cos(β)]}；

21、其中：

22、α為需要測(cè)量角度；

23、β為預(yù)設(shè)角度，β反映物體設(shè)計(jì)之初所需達(dá)到以及施工要求相關(guān)的預(yù)設(shè)且已知的角度，并作為光線入射角θ的一個(gè)修正值引入計(jì)算；

24、x為垂直距離，x反映物體設(shè)計(jì)之初進(jìn)行設(shè)定以及施工要求相關(guān)的標(biāo)記參考點(diǎn)到需要測(cè)量角度α所在平面垂直的距離。

25、可選的，所述精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元的計(jì)算公式如下：

26、；

27、其中：

28、k為不規(guī)則表面面積；

29、n為測(cè)量總點(diǎn)數(shù)；

30、lhi為第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度；

31、lhi-1為第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度；

32、第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi和第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1反映物體不規(guī)則表面的兩段相鄰線段長(zhǎng)度；

33、xi為第i點(diǎn)x坐標(biāo)；

34、yi為第i點(diǎn)y坐標(biāo)；

35、第i點(diǎn)x坐標(biāo)xi和第i點(diǎn)y坐標(biāo)yi反映第i點(diǎn)坐標(biāo)，即(xi，yi)；

36、xi+1為第i+1點(diǎn)x坐標(biāo)；

37、yi+1為第i+1點(diǎn)y坐標(biāo)；

38、第i+1點(diǎn)x坐標(biāo)xi+1和第i+1點(diǎn)y坐標(biāo)yi+1反映第i點(diǎn)坐標(biāo)，即(xi+1，yi+1)。

39、可選的，基于所述不規(guī)則表面面積k與物體設(shè)計(jì)之初所需達(dá)到以及施工要求相關(guān)的預(yù)設(shè)且已知的預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk的調(diào)整方法如下：

40、若不規(guī)則表面面積k與預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk保持一致，則認(rèn)為測(cè)量過(guò)程具有高準(zhǔn)確度，當(dāng)保持當(dāng)前的測(cè)量方法；

41、若不規(guī)則表面面積k與預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk無(wú)法保持一致，則認(rèn)為測(cè)量過(guò)程存在誤差，具體調(diào)整如下：

42、不規(guī)則表面面積k比預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk小，則增大光線入射角θ，以增加光線在物體內(nèi)部的傳播距離和反射次數(shù)；

43、不規(guī)則表面面積k比預(yù)設(shè)不規(guī)則表面面積yk大，則減小光線入射角θ，以減小光線在物體內(nèi)部的傳播距離和反射次數(shù)。

44、可選的，基于所述精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元的計(jì)算公式；

45、其中，第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi和第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1分別是通過(guò)相鄰點(diǎn)的坐標(biāo)計(jì)算得到，且為了避免重復(fù)計(jì)算，(xi，yi)和(xi+1，yi+1)坐標(biāo)并不是第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi和第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1用于計(jì)算的對(duì)應(yīng)坐標(biāo)；

46、所述精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元將每個(gè)線段長(zhǎng)度和坐標(biāo)差進(jìn)行引入計(jì)算，即引入第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi和第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1，第i點(diǎn)x坐標(biāo)xi和第i點(diǎn)y坐標(biāo)yi以及第i+1點(diǎn)x坐標(biāo)xi+1和第i+1點(diǎn)y坐標(biāo)yi+1進(jìn)行計(jì)算；

47、此外，第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi是通過(guò)(xi-1，yi-1)和(xi，yi)計(jì)算得到，第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1是通過(guò)(xi-1，yi-1)和(xi-2，yi-2)計(jì)算得到；

48、第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi是通過(guò)(xi-1，yi-1)和(xi，yi)計(jì)算得到，第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1是通過(guò)(xi-1，yi-1)和(xi-2，yi-2)計(jì)算得到。

49、可選的，所述第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi的計(jì)算公式如下：

50、；

51、xi-1為i-1點(diǎn)x坐標(biāo)；

52、yi-1為第i-1點(diǎn)y坐標(biāo)；

53、第i-1點(diǎn)x坐標(biāo)xi-1和第i-1點(diǎn)y坐標(biāo)yi-1反映第i-1點(diǎn)坐標(biāo)，即(xi-1，yi-1)；

54、所述第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1的計(jì)算公式如下：

55、；

56、xi-2為i-2點(diǎn)x坐標(biāo)；

57、yi-2為第i-2點(diǎn)y坐標(biāo)；

58、第i-2點(diǎn)x坐標(biāo)xi-2和第i-2點(diǎn)y坐標(biāo)yi-2反映第i-2點(diǎn)坐標(biāo)，即(xi-2，yi-2)。

59、可選的，所述激光測(cè)距儀用于測(cè)量間距l(xiāng)；

60、所述光學(xué)傳感器用于記錄前表面反射時(shí)脈沖數(shù)m1和后表面反射時(shí)脈沖數(shù)m2；

61、所述光學(xué)掃描設(shè)備用于獲取被測(cè)表面的坐標(biāo)點(diǎn)(xi，yi)、(xi+1，yi+1)、(xi-1，yi-1)、(xi-2，yi-2)；

62、所述測(cè)量輔助設(shè)備包括有三腳架、校準(zhǔn)工具，用于輔助激光測(cè)距儀、光學(xué)傳感器、光學(xué)掃描設(shè)備的安裝和校準(zhǔn)；

63、所述數(shù)據(jù)處理設(shè)備包括有計(jì)算機(jī)以及專用數(shù)據(jù)處理單元，用于接收測(cè)量數(shù)據(jù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和計(jì)算。

64、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果如下：

65、一、本發(fā)明通過(guò)高精度光學(xué)測(cè)量設(shè)備和利用光學(xué)手段測(cè)量物體長(zhǎng)度單元，長(zhǎng)度與角度計(jì)量關(guān)聯(lián)單元以及精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元計(jì)算，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)測(cè)量長(zhǎng)度lh、需要測(cè)量角度α、不規(guī)則表面面積k的精確測(cè)量，進(jìn)而大大提高了測(cè)量精度，光學(xué)測(cè)量方法能夠快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù)，并通過(guò)公式計(jì)算得出結(jié)果，由此也大大提升了測(cè)量效率，同時(shí)，測(cè)量設(shè)備能夠自動(dòng)化操作，減少了人力成本。

66、二、本發(fā)明的光學(xué)測(cè)量方法能夠適用于各種形狀和尺寸的物體，特別是對(duì)于不規(guī)則表面和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測(cè)量，具有顯著優(yōu)勢(shì)，還能根據(jù)不規(guī)則表面的第i點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi和第i-1點(diǎn)微小線段長(zhǎng)度lhi-1，進(jìn)行全面的引入和細(xì)化計(jì)算，且光學(xué)測(cè)量方法不受測(cè)量環(huán)境光線、溫度因素的限制，能夠在各種施工場(chǎng)景下應(yīng)用，進(jìn)而提高了測(cè)量的靈活性和適應(yīng)性。

67、三、本發(fā)明通過(guò)利用光學(xué)手段測(cè)量物體長(zhǎng)度單元，長(zhǎng)度與角度計(jì)量關(guān)聯(lián)單元以及精確測(cè)量不規(guī)則表面面積單元的相互關(guān)聯(lián)和循環(huán)影響，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)測(cè)量參數(shù)的實(shí)時(shí)調(diào)整和優(yōu)化，降低了測(cè)量難度和成本，同時(shí)，測(cè)量設(shè)備具有自我校準(zhǔn)功能，能夠自動(dòng)調(diào)整設(shè)備位置和角度，確保測(cè)量準(zhǔn)確性。