1.一種接觸器的檢測系統(tǒng)，其特征在于，檢測系統(tǒng)包括輸入模塊、第一采樣模塊、第二采樣模塊和控制模塊，其中：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊用于：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述相鄰三個采樣時間包括第一采樣時間、第二采樣時間和第三采樣時間，所述第一采樣時間早于所述第二采樣時間，所述第二采樣時間早于所述第三采樣時間；
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一采樣模塊包括第一采樣電路，所述第一采樣電路連接于所述輸入模塊與所述控制模塊之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一采樣電路為分壓器采樣電路，所述第一采樣電路包括第一運算放大器、以及與所述輸入模塊連接的分壓子電路；
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一采樣電路為放大器采樣電路，所述第一采樣電路包括第一運算放大器；
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第二采樣模塊包括第一降壓電路、第二降壓電路、驅(qū)動電路、線圈電路和第二采樣電路；
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第二采樣電路為低側(cè)分流采樣電路，所述線圈電路包括線圈和采樣電阻，所述第二采樣電路包括第二運算放大器；
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第二采樣電路為高側(cè)分流采樣電路，所述線圈電路包括線圈和采樣電阻，所述第二采樣電路包括第二運算放大器；
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊包括單片機和模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的第一端連接所述第一采樣模塊和所述第二采樣模塊連接，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的第二端連接所述單片機。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊用于：
12.一種接觸器的檢測方法，其特征在于，該檢測方法包括：
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測方法，其特征在于，所述相鄰三個采樣時間包括第一采樣時間、第二采樣時間和第三采樣時間，所述第一采樣時間早于所述第二采樣時間，所述第二采樣時間早于所述第三采樣時間；
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測方法，其特征在于，所述按設定的采樣頻率獲取對接觸器的電源信號進行采樣得到的第一采樣信號以及對接觸器的線圈信號進行采樣得到的第二采樣信號，包括：