本發(fā)明涉及磁吸充電，尤其涉及一種磁吸充電異常檢測方法。

背景技術(shù)：

1、目前電子設(shè)備的充電接口種類繁多，充電接口線路連接復(fù)雜多樣，磁吸充電接口在防水要求高的設(shè)備上尤為常見，比如穿戴手表、耳機(jī)等。需要注意的是，由用戶使用導(dǎo)致的磁吸充電接口臟污或者磁吸充電接口偏位會(huì)造成充電回路阻抗變大，從而導(dǎo)致線路上的壓降過大，造成無法充電或者磁吸充電接口發(fā)熱等異常。而現(xiàn)有的磁吸充電異常檢測方案多是針對電池異常情況的檢測，普遍忽略充電回路，存在檢測效果較差的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁吸充電異常檢測方法，該方法包括：

2、磁吸充電器的mcu對磁吸充電器的磁吸輸出接口進(jìn)行檢測，若檢測到磁吸輸出接口與電子設(shè)備的磁吸充電接口連接且為充電狀態(tài)，則檢測磁吸充電器的檢流模塊兩端的電壓，檢流模塊串聯(lián)在磁吸充電器的ac/dc模塊的輸出端和磁吸輸出接口的電源線之間；根據(jù)檢流模塊兩端的電壓以及檢流模塊的電阻，計(jì)算檢流模塊的電流，將其作為充電電流；通過磁吸輸出接口與磁吸充電接口的數(shù)據(jù)信號線向電子設(shè)備的cpu發(fā)送磁吸充電器對外輸出電壓以及充電電流，磁吸充電器對外輸出電壓為檢流模塊兩端的電壓中檢流模塊與磁吸輸出接口的電源線連接的一端的電壓；

3、電子設(shè)備的cpu接收磁吸充電器對外輸出電壓以及充電電流，并檢測電子設(shè)備的充電芯片的輸入電壓；根據(jù)磁吸充電器對外輸出電壓、充電芯片的輸入電壓以及充電電流，計(jì)算充電回路阻抗，根據(jù)磁吸充電器對外輸出電壓、充電芯片要求的最低輸入電壓以及充電電流，計(jì)算充電回路最大阻抗；根據(jù)充電芯片的輸入電壓、充電芯片要求的最低輸入電壓、充電回路阻抗以及充電回路最大阻抗確定磁吸充電是否異常。

4、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，磁吸輸出接口與磁吸充電接口均為磁吸usb接口。

5、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，檢流模塊為檢流電阻。

6、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，檢測磁吸充電器的檢流模塊兩端的電壓，包括：

7、mcu通過磁吸充電器的2路模數(shù)轉(zhuǎn)換器檢測檢流模塊兩端的電壓，2路模數(shù)轉(zhuǎn)換器的兩個(gè)輸入端與檢流模塊的兩端對應(yīng)連接，2路模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端與mcu連接。

8、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，檢測電子設(shè)備的充電芯片的輸入電壓，包括：

9、cpu通過電子設(shè)備的單路模數(shù)轉(zhuǎn)換器檢測充電芯片的輸入電壓，單路模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端與充電芯片的輸入端連接，單路模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端與cpu連接。

10、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)充電芯片的輸入電壓、充電芯片要求的最低輸入電壓、充電回路阻抗以及充電回路最大阻抗確定磁吸充電是否異常，包括：

11、cpu將充電芯片的輸入電壓與充電芯片要求的最低輸入電壓進(jìn)行比較，將充電回路阻抗與充電回路最大阻抗進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定磁吸充電是否異常。

12、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)比較結(jié)果確定磁吸充電是否異常，包括：

13、若充電芯片的輸入電壓小于充電芯片要求的最低輸入電壓和/或充電回路阻抗大于充電回路最大阻抗，則cpu確定磁吸充電異常。

14、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，該方法還包括：

15、cpu通過磁吸充電接口與磁吸輸出接口的數(shù)據(jù)信號線周期性地向mcu發(fā)送讀取磁吸充電器對外輸出電壓以及充電電流的請求；

16、若mcu持續(xù)多個(gè)周期未應(yīng)答，則cpu控制電子設(shè)備停止充電；

17、若mcu持續(xù)多個(gè)周期未接收到請求，則mcu控制磁吸充電器停止供電。

18、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，該方法還包括：

19、若確定磁吸充電異常，則cpu檢測電子設(shè)備所處狀態(tài)，根據(jù)電子設(shè)備所處狀態(tài)輸出對應(yīng)的提示信息。

20、在一些可實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)電子設(shè)備所處狀態(tài)輸出對應(yīng)的提示信息，包括：

21、若電子設(shè)備所處狀態(tài)為生產(chǎn)測試，則cpu輸出第一提示信息，提示工作人員檢查電子設(shè)備的組裝；

22、若電子設(shè)備所處狀態(tài)為出廠使用，則cpu輸出第二提示信息，提示用戶擦拭磁吸輸出接口以及磁吸充電接口或者磁吸充電器欠壓。

23、在本發(fā)明實(shí)施例中，可以通過獲取的充電芯片的輸入電壓、充電芯片要求的最低輸入電壓、充電回路阻抗以及充電回路最大阻抗來準(zhǔn)確確定磁吸充電是否異常，進(jìn)而有效提高磁吸充電異常檢測效果。

24、應(yīng)當(dāng)理解，
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
部分中所描述的內(nèi)容并非旨在限定本發(fā)明實(shí)施例的關(guān)鍵或重要特征，亦非用于限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的其它特征將通過以下的描述變得容易理解。

技術(shù)特征：

1.一種磁吸充電異常檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁吸輸出接口與所述磁吸充電接口均為磁吸usb接口。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢流模塊為檢流電阻。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測磁吸充電器的檢流模塊兩端的電壓，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測所述電子設(shè)備的充電芯片的輸入電壓，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述充電芯片的輸入電壓、所述充電芯片要求的最低輸入電壓、所述充電回路阻抗以及所述充電回路最大阻抗確定磁吸充電是否異常，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)比較結(jié)果確定磁吸充電是否異常，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述電子設(shè)備所處狀態(tài)輸出對應(yīng)的提示信息，包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁吸充電異常檢測方法，包括：若磁吸充電器的磁吸輸出接口與電子設(shè)備的磁吸充電接口連接且為充電狀態(tài)，則磁吸充電器的MCU檢測磁吸充電器的檢流模塊兩端的電壓；根據(jù)檢流模塊兩端的電壓以及檢流模塊的電阻，計(jì)算檢流模塊的電流，將其作為充電電流；通過兩個(gè)接口的數(shù)據(jù)信號線向電子設(shè)備的CPU發(fā)送磁吸充電器對外輸出電壓以及充電電流；電子設(shè)備的CPU檢測電子設(shè)備的充電芯片的輸入電壓；根據(jù)磁吸充電器對外輸出電壓、充電芯片的輸入電壓、充電芯片要求的最低輸入電壓以及充電電流，計(jì)算充電回路阻抗以及充電回路最大阻抗；根據(jù)充電芯片的輸入電壓以及最低輸入電壓，充電回路阻抗以及充電回路最大阻抗確定磁吸充電是否異常。

技術(shù)研發(fā)人員：方文強(qiáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海探尋信息技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/30