本公開涉及觸控，尤其涉及一種觸控組件檢測方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、內(nèi)嵌式觸控裝置中的觸控電極呈二維陣列排布，每個觸控電極獨立配置，并通過金屬接線連接至控制器。然而，在制造過程中，由于工藝的復(fù)雜性，可能出現(xiàn)觸控電極與其對應(yīng)的金屬接線發(fā)生斷路或接觸不良的情況，會因此導(dǎo)致觸控電極脫離控制器的管理。

2、目前，針對上述情況的檢測方法為，首先向每一個觸控電極發(fā)送檢測信號。然后檢測各個觸控電極的響應(yīng)電壓狀態(tài)?；谶@些電壓數(shù)據(jù)，可以判斷每個觸控電極的工作狀態(tài)。但該種方法，僅能提供整體的檢測結(jié)果，而無法迅速且準確地定位到出現(xiàn)故障的觸控電極的具體物理位置。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本公開提供一種觸控組件檢測方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的以上技術(shù)問題。

2、根據(jù)本公開的第一方面，提供了一種觸控組件檢測方法，所述檢測方法應(yīng)用于觸控組件檢測裝置，所述檢測裝置包括多個檢測單元，所述檢測單元與所述觸控組件中的觸控電極一一對應(yīng)；所述檢測方法包括：

3、基于所述觸控電極的激勵信號，獲取檢測電壓；

4、將所述檢測電壓與參考電壓進行比較，得到比較結(jié)果；

5、根據(jù)所述比較結(jié)果，確定所述檢測單元是否為異常檢測單元；

6、若是，表征所述異常檢測單元對應(yīng)的觸控電極為異常觸控電極。

7、在一可實施方式中，所述檢測單元包括檢測電極；

8、所述基于所述觸控電極的激勵信號，獲取檢測電壓，包括：

9、基于所述觸控電極的激勵信號，確定所述觸控電極與所述檢測電極之間的電場變化；

10、基于所述電場變化，獲得檢測電壓。

11、在一可實施方式中，所述根據(jù)所述比較結(jié)果，確定所述檢測單元是否為異常檢測單元，包括：

12、若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于參考電壓，確定所述檢測單元為正常檢測單元；

13、若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述檢測單元為異常檢測單元。

14、在一可實施方式中，所述檢測單元還包括顯示模塊；

15、所述若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于參考電壓，確定所述檢測單元為正常檢測單元，包括：

16、若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第一顯示狀態(tài)，所述第一顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為正常檢測單元；

17、所述若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述檢測單元為異常檢測單元，包括：

18、若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第二顯示狀態(tài)，所述第二顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為異常檢測單元。

19、根據(jù)本公開的第二方面，提供一種觸控組件檢測裝置，所述檢測裝置包括多個檢測單元，所述檢測單元與所述觸控組件中的觸控電極一一對應(yīng)；所述檢測單元，用于：

20、基于所述觸控電極的激勵信號，獲取檢測電壓；

21、將所述檢測電壓與參考電壓進行比較，得到比較結(jié)果；

22、根據(jù)所述比較結(jié)果，確定所述檢測單元是否為異常檢測單元；

23、若是，表征所述異常檢測單元對應(yīng)的觸控電極為異常觸控電極。

24、在一可實施方式中，所述檢測單元包括檢測電極，所述檢測電極用于：

25、基于所述觸控電極的激勵信號，確定所述觸控電極與所述檢測電極之間的電場變化；基于所述電場變化，獲得檢測電壓。

26、在一可實施方式中，所述檢測單元還包括比較模塊，用于若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于參考電壓，確定所述檢測單元為正常檢測單元；若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述檢測單元為異常檢測單元。

27、在一可實施方式中，所述檢測單元還包括包括顯示模塊，用于若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第一顯示狀態(tài)，所述第一顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為正常檢測單元；若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第二顯示狀態(tài)，所述第二顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為異常檢測單元。

28、根據(jù)本公開的第三方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：

29、至少一個處理器；以及

30、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

31、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行本公開所述的方法。

32、根據(jù)本公開的第四方面，提供了一種存儲有計算機指令的非瞬時計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機指令用于使所述計算機執(zhí)行本公開所述的方法。

33、本公開的一種觸控組件檢測方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，檢測方法應(yīng)用于檢測裝置，該檢測裝置包括多個檢測單元，檢測單元與觸控組件中的觸控電極之間為一一對應(yīng)關(guān)系，通過該檢測方法能夠直接、準確地定位到具體存在問題的觸控電極。節(jié)省了人工逐一排查的繁瑣過程，大大提高了觸控電極故障定位的準確性和效率，為后續(xù)的維修工作提供了極大的便利。

34、應(yīng)當理解，本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標識本公開的實施例的關(guān)鍵或重要特征，也不用于限制本公開的范圍。本公開的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。

技術(shù)特征：

1.一種觸控組件檢測方法，其特征在于，所述檢測方法應(yīng)用于觸控組件檢測裝置，所述檢測裝置包括多個檢測單元，所述檢測單元與所述觸控組件中的觸控電極一一對應(yīng)；所述檢測方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測單元包括檢測電極；

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述比較結(jié)果，確定所述檢測單元是否為異常檢測單元，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述檢測單元還包括顯示模塊；

5.一種觸控組件檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括多個檢測單元，所述檢測單元與所述觸控組件中的觸控電極一一對應(yīng)；所述檢測單元用于：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測單元包括檢測電極，用于基于所述觸控電極的激勵信號，確定所述觸控電極與所述檢測電極之間的電場變化；基于所述電場變化，獲得檢測電壓。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測單元還包括比較模塊，用于若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于參考電壓，確定所述檢測單元為正常檢測單元；若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述檢測單元為異常檢測單元。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測單元還包括顯示模塊，用于若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第一顯示狀態(tài)，所述第一顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為正常檢測單元；若所述比較結(jié)果為所述檢測電壓不大于所述參考電壓，確定所述顯示模塊為第二顯示狀態(tài)，所述第二顯示狀態(tài)表征所述檢測單元為異常檢測單元。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種存儲有計算機指令的非瞬時計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機指令用于使計算機執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本公開提供了一種觸控組件檢測方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，所述檢測方法應(yīng)用于觸控組件檢測裝置，所述檢測裝置包括多個檢測單元，所述檢測單元與所述觸控組件中的觸控電極一一對應(yīng)；所述檢測方法包括：基于所述觸控電極的激勵信號，獲取檢測電壓；將所述檢測電壓與參考電壓進行比較，得到比較結(jié)果；根據(jù)所述比較結(jié)果，確定所述檢測單元是否為異常檢測單元；若是，表征所述異常檢測單元對應(yīng)的觸控電極為異常觸控電極。應(yīng)用本公開的檢測方法，可以直觀、快速地定位到發(fā)生故障的觸控電極，提高了檢測效率。

技術(shù)研發(fā)人員：化磊
受保護的技術(shù)使用者：合肥聯(lián)寶信息技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/23