本技術涉及檢測領域，尤其涉及一種平面度檢具。

背景技術：

1、檢具是一種用來測量和評價零件尺寸、形狀、位置特性質(zhì)量的專用檢測設備。如專利號為zl201220286990.6(授權公告號為cn202734699u)的實用新型專利《新型側圍檢具》公開了一種檢具，該檢具通過底板上相應的定位、安裝孔將夾緊裝置和活動的卡板組件用銷孔定位螺栓固定組成一個側圍檢具，把要檢測的零件根據(jù)定位面和定位銷固定在檢具上，閉合夾緊裝置，然后使用千分尺、游標卡尺等檢測工具進行檢測。

2、這種檢具通常適用于測量零件的各種尺寸屬性，例如長度、平面度等。而對于某些特定形狀的零件，具體如圖1所示，其上表面中部凹陷形成凹槽1′，凹槽1′側壁的上表面為測量平面度的待測表面2′。這種待測表面2′繞凹槽1′外周一圈，厚度較薄，且寬度較窄。若是使用上述裝置對該零件進行平面度測量，容易產(chǎn)生如下問題：第一，由于待測表面2′較薄，若使用千分尺或是游標卡尺對該待測表面2′進行夾持或卡設測量時，容易對該待測表面2′造成損壞，進而影響零件質(zhì)量；第二，整個測量過程需要人工對待測表面2′的多個檢測點分別用千分尺或是游標卡尺進行測量，其勞動強度大，使得測量方法的生產(chǎn)效率較低，而且由于手工測量的測量精度因人而異，其測量準確度不高。

技術實現(xiàn)思路

1、本實用新型所要解決的第一個技術問題是針對上述現(xiàn)有技術現(xiàn)狀而提供一種不容易對零件待測表面造成損壞的平面度檢具，尤其是針對待測表面較薄的零件。

2、本實用新型所要解決的第二個技術問題是針對上述現(xiàn)有技術現(xiàn)狀而提供一種穩(wěn)定并避免因人工讀數(shù)帶來可能的準確度不高問題的平面度檢具。

3、本實用新型解決上述第一個技術問題所采用的技術方案為：該平面度檢具，包括測量平臺；

4、定位機構，設于所述測量平臺上，用于定位待測工件，以使待測工件與所述測量平臺保持有預設的平面高度；以及

5、壓緊組件，同樣設于所述測量平臺上，用于壓緊待測工件；

6、其特征在于：還包括有檢測件，所述檢測件包括有平行于所述測量平臺以作為基準面的測量部、沿著所述測量平臺移動的基部以及連接所述測量部和基部的連接部，所述測量部設有與待測工件的待測表面貼合的至少兩個平行的測量面，在待測表面與任一測量面能貼合的狀態(tài)下，則待測工件的待測表面的平面度符合要求。

7、為解決第二個技術問題，進一步地，所述檢測件的基部以沿著所述測量平臺的x軸或是y軸的前后方向進行移動，而所述連接部為沿著垂直于所述測量平臺的z軸方向延伸設置。由于該檢測件能沿著測量平臺于x軸或是y軸移動，進而對待測工件的待測表面進行檢測，可以根據(jù)不同待測工件的公差范圍要求不同，可以設置多個測量面，即可以直接檢測出待測表面的平面度是否符合要求，不需要如千分尺或是游標卡尺測量時需人工讀數(shù)，其檢測的穩(wěn)定性高。

8、進一步地，所述測量面具有兩個且相鄰設置，從而在兩個測量面之間形成臺階，該臺階為預設的待測工件最大平面度變形量值。設置兩個測量面是為了使平面度變形量保持在最大的公差范圍即最大平面度的變形量值，如±0.3mm。

9、為了使定位機構能對待測工件進行定位，進一步地，所述定位機構包括與待測工件的凹槽相匹配的定位凸起和/或與待測工件的凸起相匹配的定位凹槽。其中定位凸起和定位凹槽的數(shù)量以及設定高度可以根據(jù)待測工件進行選擇性的組合。

10、壓緊組件具有多種結構，從結構簡單的角度考慮，優(yōu)選地，所述壓緊組件包括夾緊頭，各個夾緊頭與其自身的連桿機構連接，所述連桿機構的末端連接有扳手。

11、進一步地，所述測量平臺上還設置有支承件，所述支承件位于所述壓緊組件的夾緊頭之下，并與夾緊頭之間形成有用于夾持待測工件的夾持空間。在組裝時，將支承件的支點與夾緊頭的壓點之間保持較高的重合度，能避免壓壞工件，尤其是較薄的工件。

12、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的優(yōu)點在于：1、該平面度檢具中檢測件的測量部設有與待測工件的待測表面貼合的至少兩個平行的測量面，檢測件基部沿著測量平臺移動，在待測表面與任一測量面能貼合的狀態(tài)下，則待測工件的待測表面的平面度符合要求，則只需要看待測表面與測量面是否貼合即可，就算待測表面厚度較薄、寬度較窄，也不會對該待測表面造成破壞，保證了工件的質(zhì)量；

13、2、該平面度檢具中使用檢測件代替千分尺或是游標卡尺進行測量，在容許的誤差范圍內(nèi)測量待測工件的待測表面的平面度是否符合要求，避免因人工讀數(shù)帶來的可能的準確度不高的問題，整個測量過程省時省力、效率高且精度高；

14、3、該平面度檢具由于定位機構及夾緊組件的設置，整個檢測過程具有穩(wěn)定且準確的定位基準，能保證最大的重復性和再現(xiàn)性。

技術特征：

1.一種平面度檢具，包括

2.根據(jù)權利要求1所述的平面度檢具，其特征在于：所述檢測件(5)的基部(52)以沿著所述測量平臺(1)的x軸或是y軸的前后方向進行移動，而所述連接部(53)為沿著垂直于所述測量平臺(1)的z軸方向延伸設置。

3.根據(jù)權利要求2所述的平面度檢具，其特征在于：所述測量面(511)具有兩個且相鄰設置，從而在兩個測量面(511)之間形成臺階，該臺階為預設的待測工件(2)最大平面度變形量值。

4.根據(jù)權利要求1～3任一項所述的平面度檢具，其特征在于：所述定位機構(3)包括與待測工件(2)的凹槽相匹配的定位凸起(31)和/或與待測工件(2)的凸起相匹配的定位凹槽(32)。

5.根據(jù)權利要求4所述的平面度檢具，其特征在于：所述壓緊組件(4)包括夾緊頭(41)，各個夾緊頭(41)與其自身的連桿機構(42)連接，所述連桿機構(42)的末端連接有扳手(43)。

6.根據(jù)權利要求5所述的平面度檢具，其特征在于：所述測量平臺(1)上還設置有支承件(11)，所述支承件(11)位于所述壓緊組件(4)的夾緊頭(41)之下，并與夾緊頭(41)之間形成有用于夾持待測工件(2)的夾持空間。

技術總結
本技術涉及一種平面度檢具，包括測量平臺；定位機構，設于所述測量平臺上，用于定位待測工件，以使待測工件與所述測量平臺保持有預設的平面高度；以及壓緊組件，同樣設于所述測量平臺上，用于壓緊待測工件；其特征在于：還包括有檢測件，所述檢測件包括有平行于所述測量平臺以作為基準面的測量部、沿著所述測量平臺移動的基部以及連接所述測量部和基部的連接部，所述測量部設有與待測工件的待測表面貼合的至少兩個平行的測量面，在待測表面與任一測量面能貼合的狀態(tài)下，則待測工件的待測表面的平面度符合要求。本技術的優(yōu)點在于：整個測量過程省時省力、效率高且精度高就算待測表面厚度較薄、寬度較窄，也不會對該待測表面造成破壞。

技術研發(fā)人員：柯成磊,張?zhí)旖?賈林,柯凱慧,王晟斌,蔡定平,傅立功
受保護的技術使用者：寧波旭升集團股份有限公司
技術研發(fā)日：20231229
技術公布日：2025/1/2