本發(fā)明涉及天線，具體涉及的是一種移動終端天線測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

隨著現(xiàn)代社會的發(fā)展，電子設(shè)備不斷的更新。人們對手機的外觀功能要求新穎，同時對手機的通話質(zhì)量提出了更高要求，手機天線的性能對人們的通話使用有著至關(guān)的作用。

天線生產(chǎn)商對天線的檢測是不可忽視的重要步驟，生產(chǎn)對天線的性能檢測直接影響用戶的體驗滿意度，因此手機天線的生產(chǎn)性能檢測尤為重要。天線制造商對檢測天線的生產(chǎn)檢測為s11(s11表示回波損耗特性，一般通過網(wǎng)絡(luò)分析儀來看其損耗的db值和阻抗特性，此參數(shù)表示天線的發(fā)射效率好不好，值越大，表示天線本身反射回來的能量越大，這樣天線的效率就越差)的反射系數(shù)檢測和阻抗測試。而目前對于天線的檢測主要采用兩種測試設(shè)備和兩種測試治具，其極大降低了測試效率，浪費人力物力，降低了生產(chǎn)競爭力。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為此，本發(fā)明的目的在于提供一種測試效率高、測試成本低的移動終端天線測試系統(tǒng)。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的。

一種移動終端天線測試系統(tǒng)，用于測試待測天線產(chǎn)品，包括：

一測試治具，用于固定待測天線產(chǎn)品；

一網(wǎng)絡(luò)分析儀，與所述測試治具連接，用于對待測天線產(chǎn)品進行s11參數(shù)和阻抗參數(shù)測試。

優(yōu)選地，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀上設(shè)置有高頻頻段的第一接口和低頻頻段的第二接口。

優(yōu)選地，所述測試治具包括底板、位于底板上方的上模板和位于底板側(cè)面的側(cè)壓板；

所述底板上設(shè)置有一用于放置待測天線產(chǎn)品的凹槽，該凹槽底部設(shè)置有一測試端口，所述測試端口中設(shè)置有第一探針；

所述上模板與底板之間通過第一彈簧連接，且上模板通過氣缸控制下壓固定待測天線產(chǎn)品在凹槽中時，第一探針與待測天線產(chǎn)品的天線饋點對應(yīng)接觸，測試天線s11參數(shù)；

所述側(cè)壓板與底板之間通過第二彈簧連接，側(cè)壓板上設(shè)置有第二探針，且側(cè)壓板通過氣缸控制推動接觸底板側(cè)面時，所述第二探針對應(yīng)接觸待測天線產(chǎn)品的天線首尾端測試天線阻抗參數(shù)。

優(yōu)選地，所述第一接口通過一cable線連接第一探針，用于測試天線的s11參數(shù)；所述第二端口通過一同軸線連接第二探針，用于測試天線的阻抗參數(shù)。

優(yōu)選地，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的掃頻范圍為10khz～8.5ghz。

另外，本發(fā)明的目的還在于提供一種測試效率高、測試方式簡單的移動終端天線測試方法。

一種移動終端天線測試方法，包括：

步驟一、將網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一接口通過一cable線連接第一探針，第二端口通過一同軸線連接第二探針；

步驟二、通過氣缸控制上模板下壓，使第一探針與天線饋點接觸，進行天線s11參數(shù)測試，測試完畢后，上模板在第一彈簧作用下復(fù)位；

步驟三、通過氣缸控制側(cè)壓板靠近底板側(cè)面，使第二探針與天線接觸，進行天線阻抗參數(shù)測試，測試完畢后，側(cè)壓板在第二彈簧作用下復(fù)位。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明有益效果在于：本發(fā)明通過對測試治具的改進，并結(jié)合網(wǎng)絡(luò)分析儀，實現(xiàn)了一次作業(yè)即可完成天線s11參數(shù)和天線阻抗參數(shù)的測試，其有效提高了設(shè)備的利用率，降低了測試成本，減少測試工序，節(jié)約生產(chǎn)測試時間，提高測試效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明將s11測試和阻抗測試結(jié)合測試的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖一；

圖3為本發(fā)明測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖二。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

針對目前天線檢測效率低，成本高的問題，本發(fā)明提供了一種移動終端天線測試系統(tǒng)。

請參閱圖1所示，圖1為本發(fā)明將s11測試和阻抗測試結(jié)合測試的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明提供了一種移動終端天線測試系統(tǒng)，用于測試待測天線產(chǎn)品，包括：測試治具及網(wǎng)絡(luò)分析儀。

其中，測試治具用于固定待測天線產(chǎn)品，以實現(xiàn)可以通過氣缸控制完成天線s11參數(shù)和阻抗參數(shù)的測試。

網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對待測天線產(chǎn)品進行s11參數(shù)和阻抗參數(shù)測試。網(wǎng)絡(luò)分析儀時一種能在寬頻帶內(nèi)進行掃描測量以確定網(wǎng)絡(luò)參量的綜合性微波測量儀器。全稱是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。網(wǎng)絡(luò)分析儀是測量網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一種新型儀器，可直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù)，并以掃頻方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。自動網(wǎng)絡(luò)分析儀能對測量結(jié)果逐點進行誤差修正，并換算出其他幾十種網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗(或?qū)Ъ{)、衰減(或增益)、相移和群延時等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。

本實施例網(wǎng)絡(luò)分析儀掃頻范圍為10khz～8.5ghz，其設(shè)置有兩個接口(第一接口和第二接口)，第一接口通過一根cable線連接測試治具，cable線一端為單口，另一端為兩個測試卡口，其中單口連接網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一接口，兩個測試卡口則連接到測試治具。

網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二接口通過一根同軸線連接測試治具，同軸線一端連接網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二接口，另一端對應(yīng)連接測試治具。

如圖2、圖3所示，圖2為本發(fā)明測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖一；圖3為本發(fā)明測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖二。

本實施例中的測試治具包括底板13，底板13上設(shè)置有一個用于放置待測天線產(chǎn)品的凹槽，該凹槽的底部設(shè)置有一個測試端口7，所述測試端口7中設(shè)置有第一探針。

其中所述待測天線產(chǎn)品上形成有天線6。

底板13上方設(shè)置有上模板8，所述上模板8與底板13之間通過第一彈簧12連接，且上模板8通過氣缸控制下壓固定待測天線產(chǎn)品在凹槽中時，第一探針12可以與待測天線產(chǎn)品的天線饋點對應(yīng)接觸，測試天線s11參數(shù)。

底板13的側(cè)面設(shè)置有側(cè)壓板9，所述側(cè)壓板9與底板13之間通過第二彈簧連接，側(cè)壓板上設(shè)置有第二探針(②’和③’)，且側(cè)壓板9通過氣缸控制推動接觸底板13側(cè)面時，所述第二探針對應(yīng)接觸待測天線產(chǎn)品的天線首尾端(⑩和)測試天線阻抗參數(shù)。

其中第一接口通過cable線連接第一探針，用于測試天線的s11參數(shù)；所述第二端口通過同軸線連接第二探針，用于測試天線的阻抗參數(shù)。

針對目前天線檢測效率低，測試繁瑣的問題，本發(fā)明還提供了一種移動終端天線測試方法，其具體包括步驟：

步驟一、將網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一接口通過一cable線連接第一探針，第二端口通過一同軸線連接第二探針；

步驟二、啟動網(wǎng)絡(luò)分析儀和氣缸，并通過氣缸控制上模板下壓，使第一探針與天線饋點接觸，進行天線s11參數(shù)測試，測試完畢后，上模板在第一彈簧作用下復(fù)位；

步驟三、通過氣缸控制側(cè)壓板靠近底板側(cè)面，使第二探針與天線接觸，進行天線阻抗參數(shù)測試，測試完畢后，側(cè)壓板在第二彈簧作用下復(fù)位。

綜上所述，本發(fā)明一次作業(yè)即可完成對天線的s11測試和天線阻抗的測試，其通過將s11和阻抗測試結(jié)合用網(wǎng)絡(luò)分析儀測試，不但提高設(shè)備利用率，降低測試成本；而且能夠一次性測試s11和阻抗，減少測試工序，節(jié)約生產(chǎn)測試時間，提高測試效率；另外，通過將兩種測試設(shè)備和測試治具合成一種，還能有效降低空間的占有，便于產(chǎn)品的運輸。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。