技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種檢測(cè)器和具有該檢測(cè)器的發(fā)射成像設(shè)備。所述檢測(cè)器包括閃爍晶體陣列、第一光傳感器陣列以及第二光傳感器陣列。閃爍晶體陣列包括多個(gè)閃爍晶體。第一光傳感器陣列耦合至閃爍晶體陣列的第一端面，第一光傳感器陣列的多個(gè)光傳感器中的至少一個(gè)分別耦合有多個(gè)閃爍晶體。第二光傳感器陣列耦合至閃爍晶體陣列的第二端面，第二光傳感器陣列的多個(gè)光傳感器中的至少一個(gè)分別耦合有多個(gè)閃爍晶體。其中，第一光傳感器陣列與第二光傳感器陣列錯(cuò)位排列。該檢測(cè)器具備較高的DOI解碼精度及位置解碼能力。

技術(shù)研發(fā)人員：謝思維;楊明明;翁鳳花;趙指向;黃秋;許劍鋒;彭旗宇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中派科技（深圳）有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.05
技術(shù)公布日：2017.09.01