本發(fā)明涉及調(diào)試領(lǐng)域，特別涉及一種調(diào)試微波器件的方法和設(shè)備。

背景技術(shù)：

現(xiàn)在隨著微波通信技術(shù)的發(fā)展，雙工器、濾波器、合路器等微波器件的需求量以及使用量也越來越大。

而現(xiàn)階段許多微波器件都是無法直接使用，二是需要實現(xiàn)進行調(diào)試的，但目前的調(diào)試過程都是人工完成，這樣導(dǎo)致費時費力，效率低下，且很大程度提高了人力成本。

有鑒于此，現(xiàn)在拯待一種高效率的方式來對微波器件進行調(diào)試，以降低人力成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

以此，本發(fā)明提出了一種調(diào)試微波器件的方法和設(shè)備，用以提高調(diào)試的效率。

具體的，本發(fā)明提出了以下具體的實施例：

本發(fā)明實施例提出了一種調(diào)試微波器件的方法，包括：

確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；

選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；

選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，所述“確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域”包括：

通過網(wǎng)絡(luò)分析儀器對待調(diào)試微波器件進行測試，以獲取待調(diào)試微波器的性能曲線；

根據(jù)需求信息確定對應(yīng)待調(diào)試微波器的標準性能曲線；其中不同的需求信息對應(yīng)不同的標準性能曲線；

基于所獲取的標準性能曲線確定性能曲線的通帶區(qū)域。

在一個具體的實施例中，所述“選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)”包括：

選取性能曲線中待調(diào)試的頻段區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試之前各取樣點與此次調(diào)試之后各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第一標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第二標識；

根據(jù)各取樣點的第一標識與第二標識的移動方向確定諧振點的移動方向；

選取移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

在一個具體的實施例中，所述“選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試”包括：

針對通帶區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試后各取樣點與預(yù)先獲取的標準性能曲線中相同的各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第三標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第四標識；

通過選取第三標識的數(shù)量逐漸變多的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到所有取樣點對應(yīng)的都是第三標識以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，待調(diào)試微波器件的調(diào)試是基于調(diào)諧桿來進行的，該方法還包括：

記錄多個待調(diào)試微波器件的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域時對應(yīng)的各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)量；

基于所記錄的調(diào)節(jié)量確定各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)均值；

基于所述調(diào)節(jié)均值對下一個待調(diào)試微波器件進行調(diào)節(jié)，以使得該待調(diào)試微波器的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

本發(fā)明實施例還提出了一種調(diào)試微波器件的設(shè)備，包括：

確定模塊，用于確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；

第一調(diào)試模塊，用于選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；

第二調(diào)試模塊，用于選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，所述確定模塊用于：

通過網(wǎng)絡(luò)分析儀器對待調(diào)試微波器件進行測試，以獲取待調(diào)試微波器的性能曲線；

根據(jù)需求信息確定對應(yīng)待調(diào)試微波器的標準性能曲線；其中不同的需求信息對應(yīng)不同的標準性能曲線；

基于所獲取的標準性能曲線確定性能曲線的通帶區(qū)域。

在一個具體的實施例中，所述第一調(diào)試模塊用于：

選取性能曲線中待調(diào)試的頻段區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試之前各取樣點與此次調(diào)試之后各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第一標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第二標識；

根據(jù)各取樣點的第一標識與第二標識的移動方向確定諧振點的移動方向；

選取移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

在一個具體的實施例中，所述第二調(diào)試模塊用于：

針對通帶區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試后各取樣點與預(yù)先獲取的標準性能曲線中相同的各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第三標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第四標識；

通過選取第三標識的數(shù)量逐漸變多的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到所有取樣點對應(yīng)的都是第三標識以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，待調(diào)試微波器件的調(diào)試是基于調(diào)諧桿來進行的，該設(shè)備還包括：

記錄多個待調(diào)試微波器件的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域時對應(yīng)的各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)量；

基于所記錄的調(diào)節(jié)量確定各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)均值；

基于所述調(diào)節(jié)均值對下一個待調(diào)試微波器件進行調(diào)節(jié)，以使得該待調(diào)試微波器的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

以此，本發(fā)明實施例提出了一種調(diào)試微波器件的方法和設(shè)備，其中該方法包括：確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。以此實現(xiàn)了一種自動化調(diào)試的方法，提高了調(diào)試的效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應(yīng)當(dāng)理解，以下附圖僅示出了本發(fā)明的某些實施例，因此不應(yīng)被看作是對范圍的限定，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例提出的一種調(diào)試微波器件的方法的流程示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提出的一種調(diào)試微波器件的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提出的一種待微波器件的性能曲線的示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例提出的一種待微波器件的性能曲線的示意圖；

圖5為本發(fā)明實施例提出的一種待微波器件的標準性能曲線的示意圖；

圖6為本發(fā)明實施例提出的一種調(diào)試微波器件時性能曲線的變化趨勢示意圖；

圖7為本發(fā)明實施例提出的一種調(diào)試微波器件的設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

在下文中，將更全面地描述本公開的各種實施例。本公開可具有各種實施例，并且可在其中做出調(diào)整和改變。然而，應(yīng)理解：不存在將本公開的各種實施例限于在此公開的特定實施例的意圖，而是應(yīng)將本公開理解為涵蓋落入本公開的各種實施例的精神和范圍內(nèi)的所有調(diào)整、等同物和/或可選方案。

在下文中，可在本公開的各種實施例中使用的術(shù)語“包括”或“可包括”指示所公開的功能、操作或元件的存在，并且不限制一個或更多個功能、操作或元件的增加。此外，如在本公開的各種實施例中所使用，術(shù)語“包括”、“具有”及其同源詞僅意在表示特定特征、數(shù)字、步驟、操作、元件、組件或前述項的組合，并且不應(yīng)被理解為首先排除一個或更多個其它特征、數(shù)字、步驟、操作、元件、組件或前述項的組合的存在或增加一個或更多個特征、數(shù)字、步驟、操作、元件、組件或前述項的組合的可能性。

在本公開的各種實施例中，表述“或”或“a或/和b中的至少一個”包括同時列出的文字的任何組合或所有組合。例如，表述“a或b”或“a或/和b中的至少一個”可包括a、可包括b或可包括a和b二者。

在本公開的各種實施例中使用的表述(諸如“第一”、“第二”等)可修飾在各種實施例中的各種組成元件，不過可不限制相應(yīng)組成元件。例如，以上表述并不限制所述元件的順序和/或重要性。以上表述僅用于將一個元件與其它元件區(qū)別開的目的。例如，第一用戶裝置和第二用戶裝置指示不同用戶裝置，盡管二者都是用戶裝置。例如，在不脫離本公開的各種實施例的范圍的情況下，第一元件可被稱為第二元件，同樣地，第二元件也可被稱為第一元件。

應(yīng)注意到：如果描述將一個組成元件“連接”到另一組成元件，則可將第一組成元件直接連接到第二組成元件，并且可在第一組成元件和第二組成元件之間“連接”第三組成元件。相反地，當(dāng)將一個組成元件“直接連接”到另一組成元件時，可理解為在第一組成元件和第二組成元件之間不存在第三組成元件。

在本公開的各種實施例中使用的術(shù)語“用戶”可指示使用電子裝置的人或使用電子裝置的裝置(例如，人工智能電子裝置)。

在本公開的各種實施例中使用的術(shù)語僅用于描述特定實施例的目的并且并非意在限制本公開的各種實施例。如在此所使用，單數(shù)形式意在也包括復(fù)數(shù)形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否則在這里使用的所有術(shù)語(包括技術(shù)術(shù)語和科學(xué)術(shù)語)具有與本公開的各種實施例所屬領(lǐng)域普通技術(shù)人員通常理解的含義相同的含義。所述術(shù)語(諸如在一般使用的詞典中限定的術(shù)語)將被解釋為具有與在相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域中的語境含義相同的含義并且將不被解釋為具有理想化的含義或過于正式的含義，除非在本公開的各種實施例中被清楚地限定。

實施例1

本發(fā)明實施例提出了一種調(diào)試微波器件的方法，如圖1所示，該方法包括以下步驟：

步驟101、確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；

步驟102、選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；

步驟103、選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

具體的，本方案中的方法涉及到一套具體的調(diào)試系統(tǒng)，該調(diào)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如圖2所示，包括：調(diào)試設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)分析儀、pc(personalcomputer，個人計算機)端；其中，待調(diào)試微波器件分別與調(diào)試設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接；調(diào)試設(shè)備與pc端連接；網(wǎng)絡(luò)分析儀與pc端連接；

其中，具體的，網(wǎng)絡(luò)分析儀用于對待調(diào)試微波器件進行測試，獲取到待調(diào)試微波器件的性能微波曲線；調(diào)試設(shè)備用于對待調(diào)試微波器件進行調(diào)試，具體是通過對待調(diào)試微波器件上的螺桿進行調(diào)試來實現(xiàn)的；而pc端用于對所連接的網(wǎng)絡(luò)分析儀所獲取到的性能微波曲線進行分析以及數(shù)據(jù)處理和存儲，并基于分析結(jié)果對調(diào)試設(shè)備進行控制，實現(xiàn)對待調(diào)試微波器件的自動化調(diào)試。

在一個具體的實施例中，步驟101中，所述“確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域”，包括：

通過網(wǎng)絡(luò)分析儀器對待調(diào)試微波器件進行測試，以獲取待調(diào)試微波器的性能曲線；

根據(jù)需求信息確定對應(yīng)待調(diào)試微波器的標準性能曲線；其中不同的需求信息對應(yīng)不同的標準性能曲線；

基于所獲取的標準性能曲線確定性能曲線的通帶區(qū)域。

在此，以一個具體的實施例來進行說明，例如針對待調(diào)試微波器件a，其針對不同的需要(例如在不同的應(yīng)用場景中使用)，會對應(yīng)有不同的標準性能曲線，而不同的標準性能曲線中的通帶區(qū)域是不同的，以一個具體的例子來進行說明，例如一個器件對應(yīng)于850mhz到950mhz之間，在應(yīng)用場景1下其通帶區(qū)域為880mhz到910mhz；而在應(yīng)用場景2下，其通帶區(qū)域則可能為890mhz到900mhz，至于其他的場景，則各自對應(yīng)有各自的通帶區(qū)域，在此不再進行贅敘。

在一個具體的實施例中，步驟102，也即所述“選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)”包括：

選取性能曲線中待調(diào)試的頻段區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試之前各取樣點與此次調(diào)試之后各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第一標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第二標識；

根據(jù)各取樣點的第一標識與第二標識的移動方向確定諧振點的移動方向；

選取移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

通常一個新裝配完成的待調(diào)試微波器件(例如為腔體微波器件)的電氣性能是不符合標準要求的，需要機器或者人為地去調(diào)試，調(diào)試到要求的標準時才能成為合格的成品，通常一個新裝配的待調(diào)試微波器件的電氣性能的圖像顯示是雜亂的，如圖3所示的性能曲線，需要將其的電氣性能調(diào)試至所需標準，如圖5所示(也即對應(yīng)標準性能曲線)。

具體的調(diào)節(jié)方式大體是先調(diào)節(jié)好大致的通帶，然后微調(diào)各種指標來完成整體調(diào)試過程。

該過程具體為：在電腦pc端預(yù)存一個標準性能曲線(如圖5所示)，測試待調(diào)試濾波器的性能曲線，由于不同的待調(diào)試微波器件對應(yīng)的頻段也不相同。

以腔體濾波器為例，當(dāng)對一個腔體濾波器進行調(diào)試時，在其對應(yīng)調(diào)試的頻段區(qū)域進行取點，例如腔體濾波器對應(yīng)于850mhz到950mhz之間，它的通帶區(qū)域為880mhz到910mhz，在具體的操作過程中，對850mhz到950mhz之間進行取點，每隔1mhz取點(不同濾波器可以有不同取點頻率，0.5mhz或1.5mhz等，可按具體器件劃分)，于是就有100個點，腔體濾波器的調(diào)試過程中，不同的諧振點可以通過幾根調(diào)諧螺桿來調(diào)節(jié)，在調(diào)試螺桿的過程中，相應(yīng)的性能曲線上的諧振點會發(fā)生左右移動，此時pc端要執(zhí)行的操作為，紀錄調(diào)試螺桿前后的性能曲線，相比較取樣點后系統(tǒng)即可分析得知諧振點是相應(yīng)的往左還是往右移動，此時還可得知發(fā)生移動的諧振點對應(yīng)的是哪些調(diào)諧螺桿，此時即可通過控制這些調(diào)諧螺桿使諧振點移動到通帶內(nèi)，也即調(diào)整后的性能曲線如圖4所示。

進一步詳細的說明如何通過比較判斷調(diào)試過程中電氣性能變好即往符合標準的方向變化或者符合標準，如圖6中(a)與(b)所示，示例為取12個點，先記錄圖6中(a)的各點數(shù)據(jù)，調(diào)節(jié)螺桿后，電氣性能發(fā)生變化，變化為圖6中(b),此時再記錄圖6中(b)的各點數(shù)據(jù)，通過比較數(shù)值大小，如示例所示，圖6(a)的3、4、5點數(shù)值比圖6(b)的大，8、9、10點比圖6(b)的小，其它點相差大小不大，各點比較時可以設(shè)置公式為時得數(shù)值1，反之即為0，即變化后的數(shù)值減去變化前的數(shù)值再減去一定的xdb數(shù)值，這里x可以為任意數(shù)值，根據(jù)具體腔體而定，由于螺桿變化后，諧振點的位置發(fā)生了一定的變化，除了3、4、5和8、9、10點發(fā)生的變化較大外，其它點的變化較小，有一定的上下波動，此時x的作用即為排除這些小的波動，由公式即可得數(shù)據(jù)000000011100，而由公式，即可得數(shù)據(jù)001110000000，由兩組數(shù)據(jù)即可直觀比較的得出諧振點的移動方向了，即依此方式即可將所有諧振點調(diào)至通帶內(nèi)，最終可調(diào)節(jié)個大概的通帶位置，即如圖4所示。

在一個具體的實施例中，步驟103，也即所述“選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試”包括：

針對通帶區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試后各取樣點與預(yù)先獲取的標準性能曲線中相同的各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第三標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第四標識；

通過選取第三標識的數(shù)量逐漸變多的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到所有取樣點對應(yīng)的都是第三標識以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

通過上述方式即可調(diào)節(jié)濾波器的大體通帶，在此進一步的說明自動調(diào)試具體插損值，抑制點，回波等等詳細指標值，如之前的示例30m的濾波器其通帶位置只需監(jiān)控其區(qū)間及附近一共30至40個點，當(dāng)全部諧振點被調(diào)至通帶內(nèi)，此時的調(diào)試即為微調(diào)范圍，通過比較此時的通帶數(shù)據(jù)大于對應(yīng)的一個標準的合格數(shù)據(jù)，即可得一個數(shù)據(jù)1，示例如圖4與圖5比較，當(dāng)所在區(qū)域所有的點得到的值都為1時，即得到數(shù)值“111···1111”時，即符合標準，此時也要通過來確定調(diào)節(jié)的方向，即是通過比較螺桿調(diào)節(jié)后電氣性能變化的好壞，即是可以通過1與0的數(shù)字多少來判斷是否往好的方向發(fā)展，通過此種方式即可完成濾波器的自動微調(diào)功能。最終調(diào)試好的性能曲線的形狀與圖5中的形狀類似，具體的為在通帶區(qū)域內(nèi)的各取樣點的值越多大于標準值越好，最好是全部大于，而通帶區(qū)域與其他區(qū)域的連接處的曲線越陡越好。

進一步的在微調(diào)過程中，還可以設(shè)置通帶內(nèi)比較的點的優(yōu)先級，不僅是比較點內(nèi)符合標準的多少，還有某些點的優(yōu)先級大小。例如即比較時，1點符合標準后，而2、3點不符合標準，此時也屬變好的范疇，即1點優(yōu)先級比2、3都高；在此情況下，認為1點對應(yīng)的數(shù)量會大于2點與3點的數(shù)據(jù)的和，也即1點的權(quán)重比較高。

在一個具體的實施例中，待調(diào)試微波器件的調(diào)試是基于調(diào)諧桿來進行的，該方法還包括：

記錄多個待調(diào)試微波器件的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域時對應(yīng)的各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)量；

基于所記錄的調(diào)節(jié)量確定各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)均值；

基于所述調(diào)節(jié)均值對下一個待調(diào)試微波器件進行調(diào)節(jié)，以使得該待調(diào)試微波器的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

進一步說明自動調(diào)試系統(tǒng)的自動記憶及學(xué)習(xí)功能，當(dāng)調(diào)試一個諧振點至通帶內(nèi)時，pc端可以記錄下每個調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)量，還能記錄在微調(diào)階段對應(yīng)于不同的狀況，之后每個調(diào)節(jié)螺桿的調(diào)諧量，記錄每個調(diào)諧桿的調(diào)諧量及其調(diào)諧量對應(yīng)的電氣性能變化，由于同款濾波器腔體不可能每個都相同，因此可以通過記錄多組數(shù)據(jù)，最終通過pc端的記錄取優(yōu)化后的均值，即每個螺桿的調(diào)節(jié)量的均值，通過這個步驟可以大幅的減少調(diào)節(jié)時間，增加效率。對于優(yōu)化過的濾波器，初始每臺腔體的各個相對的螺桿進深保持相同，即可通過之前調(diào)試過多臺腔體并記錄優(yōu)化的數(shù)據(jù)，可以直接算出每根螺桿的大概進深，即可快速的進螺桿使腔體的電氣性能達到通帶大致升好的階段，快速的通過粗調(diào)試階段，直接進入微調(diào)試階段，節(jié)約大量時間。

實施例2

本發(fā)明實施例還公開了一種調(diào)試微波器件的設(shè)備，如圖7所示，包括：

確定模塊201，用于確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；

第一調(diào)試模塊202，用于選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；

第二調(diào)試模塊203，用于選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，所述確定模塊201用于：

通過網(wǎng)絡(luò)分析儀器對待調(diào)試微波器件進行測試，以獲取待調(diào)試微波器的性能曲線；

根據(jù)需求信息確定對應(yīng)待調(diào)試微波器的標準性能曲線；其中不同的需求信息對應(yīng)不同的標準性能曲線；

基于所獲取的標準性能曲線確定性能曲線的通帶區(qū)域。

在一個具體的實施例中，所述第一調(diào)試模塊202用于：

選取性能曲線中待調(diào)試的頻段區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試之前各取樣點與此次調(diào)試之后各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第一標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第二標識；

根據(jù)各取樣點的第一標識與第二標識的移動方向確定諧振點的移動方向；

選取移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

在一個具體的實施例中，所述第二調(diào)試模塊203用于：

針對通帶區(qū)域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調(diào)試微波器件的調(diào)試，確定此次調(diào)試后各取樣點與預(yù)先獲取的標準性能曲線中相同的各取樣點的數(shù)值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第三標識；

若所述差值不大于預(yù)設(shè)值，則對該取樣點進行第四標識；

通過選取第三標識的數(shù)量逐漸變多的調(diào)試方式進行調(diào)試，直到所有取樣點對應(yīng)的都是第三標識以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。

在一個具體的實施例中，待調(diào)試微波器件的調(diào)試是基于調(diào)諧桿來進行的，該設(shè)備還包括：

記錄多個待調(diào)試微波器件的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域時對應(yīng)的各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)量；

基于所記錄的調(diào)節(jié)量確定各調(diào)諧桿的調(diào)節(jié)均值；

基于所述調(diào)節(jié)均值對下一個待調(diào)試微波器件進行調(diào)節(jié)，以使得該待調(diào)試微波器的性能曲線中諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)。

本發(fā)明實施例提出了一種調(diào)試微波器件的方法和設(shè)備，其中該方法包括：確定待調(diào)試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區(qū)域；選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區(qū)域所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，以使諧振點全部處于通帶區(qū)域內(nèi)；選取通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值大于對應(yīng)標準值的數(shù)量越來多的趨勢所對應(yīng)的調(diào)試方式進行調(diào)試，直至通帶區(qū)域內(nèi)各取樣點的值都大于對應(yīng)標準值以完成對待調(diào)試微波器件的調(diào)試。以此實現(xiàn)了一種自動化調(diào)試的方法，提高了調(diào)試的效率。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解附圖只是一個優(yōu)選實施場景的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實施本發(fā)明所必須的。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實施場景中的裝置中的模塊可以按照實施場景描述進行分布于實施場景的裝置中，也可以進行相應(yīng)變化位于不同于本實施場景的一個或多個裝置中。上述實施場景的模塊可以合并為一個模塊，也可以進一步拆分成多個子模塊。

上述本發(fā)明序號僅僅為了描述，不代表實施場景的優(yōu)劣。

以上公開的僅為本發(fā)明的幾個具體實施場景，但是，本發(fā)明并非局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本發(fā)明的保護范圍。