技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種熱電檢測(cè)系統(tǒng)與熱電檢測(cè)方法。所述熱電檢測(cè)系統(tǒng)用于檢測(cè)材料納米尺度的熱電性能，所述熱電檢測(cè)系統(tǒng)包括激光激勵(lì)模塊、掃描探針、樣品臺(tái)、檢測(cè)電路及控制器，所述樣品臺(tái)用于承載樣品，所述激光激勵(lì)模塊用于在激光激勵(lì)模式下發(fā)出激光加熱樣品，所述掃描探針用于對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)，所述檢測(cè)電路用于偵測(cè)所述掃描探針的電信號(hào)變化以輸出檢測(cè)信號(hào)，所述控制器用于對(duì)信號(hào)的輸出與輸入等進(jìn)行控制及接收所述檢測(cè)電路輸出的檢測(cè)信號(hào)并基于所述檢測(cè)信號(hào)分析所述樣品的熱電性能。

技術(shù)研發(fā)人員：歐云;謝淑紅;鄒代峰;趙晉津;付比;劉正浩
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院
文檔號(hào)碼：201710034731
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.18
技術(shù)公布日：2017.05.31