技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種使用太赫茲脈沖測(cè)量材料參數(shù)和材料厚度的方法。該方法包括：測(cè)量得到參考信號(hào)和樣品信號(hào)；從樣品信號(hào)中提取第p次回波信號(hào)并獲取對(duì)應(yīng)的透射系數(shù)的實(shí)驗(yàn)值；測(cè)量得到樣品厚度L的測(cè)量值；建立主峰/回波透射模型；計(jì)算第p次回波對(duì)應(yīng)的透射系數(shù)計(jì)算值；計(jì)算第一材料電磁參數(shù)和第二材料電磁參數(shù)；計(jì)算材料參數(shù)總差值函數(shù)；如材料參數(shù)總差值函數(shù)滿足預(yù)設(shè)條件，則將材料參數(shù)總差值函數(shù)所對(duì)應(yīng)的樣品厚度作為樣品精確厚度，得到對(duì)應(yīng)于樣品厚度L的主峰對(duì)應(yīng)的透射系數(shù)的計(jì)算值；計(jì)算得到對(duì)應(yīng)的樣品復(fù)折射率的實(shí)部和虛部。通過(guò)使用上述方法，可精確地確定光學(xué)厚樣品的材料參數(shù)，還可同時(shí)測(cè)量太赫茲脈沖段的材料參數(shù)和厚度。

技術(shù)研發(fā)人員：張景;李糧生;殷紅成;肖志河
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京環(huán)境特性研究所
文檔號(hào)碼：201710005046
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.04
技術(shù)公布日：2017.06.13