本實(shí)用新型涉及探頭領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)量探頭及測(cè)量設(shè)備。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的，對(duì)于使用測(cè)量探頭進(jìn)行測(cè)量的測(cè)量設(shè)備，一般是將測(cè)量探頭點(diǎn)在相關(guān)觸點(diǎn)的接觸表面進(jìn)行測(cè)量。在測(cè)量過程中,由于手的抖動(dòng)可能導(dǎo)致接觸面積發(fā)生變化,導(dǎo)致量測(cè)的數(shù)值誤差較大,當(dāng)接觸表面存在氧化時(shí)誤差尤其明顯。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，本實(shí)用新型在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種檢測(cè)誤差小的測(cè)量探頭及測(cè)量設(shè)備。

其技術(shù)方案如下：

一種測(cè)量探頭，用于與信號(hào)分析本體電性連接，所述測(cè)量探頭包括探頭本體，所述探頭本體包括用于與受測(cè)設(shè)備的接觸表面接觸的測(cè)量探針，所述探頭本體上設(shè)有電加熱體以及用于控制所述電加熱體的控制開關(guān)，所述電加熱體與所述測(cè)量探針連接用于加熱所述測(cè)量探針。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述探頭本體還包括連接導(dǎo)線，所述連接導(dǎo)線的一端與所述測(cè)量探針電性連接，所述連接導(dǎo)線的另一端用于與所述信號(hào)分析本體電性連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述探頭本體還包括絕緣外殼，所述絕緣外殼設(shè)置在所述測(cè)量探針與所述連接導(dǎo)線的交接處外側(cè)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電加熱體設(shè)置在所述絕緣外殼內(nèi)部。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述絕緣外殼的外側(cè)設(shè)有用于控制所述控制開關(guān)的開關(guān)按鍵。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電加熱體包括加熱本體、導(dǎo)熱絲以及電源輸入導(dǎo)線，所述導(dǎo)熱絲連接所述加熱本體與所述測(cè)量探針，所述電源輸入導(dǎo)線的一端與所述加熱本體連接，所述電源輸入導(dǎo)線的另一端用于與信號(hào)分析本體的電源連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述加熱本體為高頻加熱體、電阻式加熱體、發(fā)熱絲或電熱片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測(cè)量探針為金屬探針。

一種測(cè)量設(shè)備，包括信號(hào)分析本體以及所述的測(cè)量探頭。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，該測(cè)量設(shè)備為萬用表或示波器。

本實(shí)用新型的有益效果在于：

所述測(cè)量探頭，探頭本體的測(cè)量探針用于點(diǎn)在受測(cè)設(shè)備的接觸表面上的測(cè)試點(diǎn)處,進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可先判斷接觸表面的測(cè)試點(diǎn)處是否為可熔表面，若不是，可直接采用測(cè)量探針進(jìn)行測(cè)量讀數(shù)，若是，可打開所述控制開關(guān),使得電加熱體對(duì)測(cè)量探針進(jìn)行加熱，測(cè)量探針點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)上時(shí)，測(cè)試點(diǎn)處的可熔表面會(huì)有少量熔掉，此時(shí)，將測(cè)量探頭少許插入測(cè)試點(diǎn)處的可熔表面內(nèi)，停止加熱使得可熔表面固化后讀取測(cè)量數(shù)值，讀取完成后再對(duì)測(cè)量探針進(jìn)行加熱,使得測(cè)量探針從可熔表面取出，完成測(cè)試動(dòng)作。所述測(cè)量探頭進(jìn)行測(cè)量時(shí)，能夠?qū)κ軠y(cè)設(shè)備的接觸表面進(jìn)行加熱，進(jìn)而使得測(cè)量探針能夠與接觸表面充分接觸，測(cè)量時(shí)測(cè)量探針為固定狀態(tài)，接觸面積不易發(fā)生變化，檢測(cè)誤差小。

所述測(cè)量設(shè)備，包括上述所述的測(cè)量探頭，具備所述測(cè)量探頭的技術(shù)效果，檢測(cè)誤差小。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的測(cè)量探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的測(cè)量設(shè)備的測(cè)量結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標(biāo)記說明：

100、測(cè)量設(shè)備，110、探頭本體，111、測(cè)量探針，112、電加熱體，1121、加熱本體，1122、導(dǎo)熱絲，1123、電源輸入導(dǎo)線，113、控制開關(guān)，114、連接導(dǎo)線，115、絕緣外殼，116、開關(guān)按鍵，120、信號(hào)分析本體，200、受測(cè)設(shè)備，210、接觸表面。

具體實(shí)施方式

下面對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明：

如圖1、圖2所示，一種測(cè)量探頭，用于與信號(hào)分析本體120電性連接。所述測(cè)量探頭包括探頭本體110，所述探頭本體110包括用于與受測(cè)設(shè)備200的接觸表面210接觸的測(cè)量探針111，所述探頭本體110上設(shè)有電加熱體112以及用于控制所述電加熱體112的控制開關(guān)113，所述電加熱體112與所述測(cè)量探針111連接用于加熱所述測(cè)量探針111。本實(shí)施例中，所述測(cè)量探針111為金屬探針，電加熱體112能夠?qū)y(cè)量探針111進(jìn)行有效的、快速的加熱。

所述測(cè)量探頭，探頭本體110的測(cè)量探針111用于點(diǎn)在受測(cè)設(shè)備200的接觸表面210上的測(cè)試點(diǎn)處,進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可先判斷接觸表面210的測(cè)試點(diǎn)處是否為可熔表面，若不是，可直接采用測(cè)量探針111進(jìn)行測(cè)量讀數(shù)，若是，可打開所述控制開關(guān)113，使得電加熱體112對(duì)測(cè)量探針111進(jìn)行加熱，測(cè)量探針111點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)上時(shí)，測(cè)試點(diǎn)處的可熔表面會(huì)有少量熔掉，此時(shí)，將測(cè)量探頭少許插入測(cè)試點(diǎn)處的可熔表面內(nèi)，停止加熱使得可熔表面固化后讀取測(cè)量數(shù)值,讀取完成后再對(duì)測(cè)量探針111進(jìn)行加熱,使得測(cè)量探針111從可熔表面取出，完成測(cè)試動(dòng)作。所述測(cè)量探頭進(jìn)行測(cè)量時(shí)，能夠?qū)κ軠y(cè)設(shè)備200的接觸表面210進(jìn)行加熱，進(jìn)而使得測(cè)量探針111能夠與接觸表面210充分接觸，測(cè)量時(shí)測(cè)量探針111為固定狀態(tài)，接觸面積不易發(fā)生變化，檢測(cè)誤差小。本實(shí)施例中，所述可熔表面可以為錫盤表面或其他導(dǎo)電表面。

本實(shí)施例中，所述電加熱體112包括加熱本體1121、導(dǎo)熱絲1122以及電源輸入導(dǎo)線1123，所述導(dǎo)熱絲1122連接所述加熱本體1121與所述測(cè)量探針111，所述電源輸入導(dǎo)線1123的一端與所述加熱本體1121連接，所述電源輸入導(dǎo)線1123的另一端用于與信號(hào)分析本體120的電源連接。采用上述結(jié)構(gòu)，導(dǎo)熱絲1122能夠?qū)⒓訜岜倔w1121上產(chǎn)生的熱量傳導(dǎo)至測(cè)量探針111上，進(jìn)而對(duì)測(cè)量探針111進(jìn)行加熱；而加熱本體1121的電源則由信號(hào)分析本體120直接提供，無需額外提供電源，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。進(jìn)一步的，所述加熱本體1121可以為高頻加熱體、電阻式加熱體、發(fā)熱絲或電熱片等電加熱裝置。本實(shí)施例中，所述加熱本體1121優(yōu)選為高頻加熱體，加熱速度快、效率高，能夠?qū)y(cè)量探針111進(jìn)行快速加熱，使得測(cè)量探頭快速達(dá)到預(yù)設(shè)的溫度，進(jìn)而快速進(jìn)行測(cè)量，提高測(cè)量效率。

進(jìn)一步的，所述探頭本體110還包括連接導(dǎo)線114，所述連接導(dǎo)線114的一端與所述測(cè)量探針111電性連接，所述連接導(dǎo)線114的另一端用于與所述信號(hào)分析本體120電性連接。采用上述結(jié)構(gòu)，連接導(dǎo)線114能夠?qū)y(cè)量探針111測(cè)量得到的信號(hào)傳輸至信號(hào)分析本體120上。所述探頭本體110還包括絕緣外殼115，所述絕緣外殼115設(shè)置在所述測(cè)量探針111與所述連接導(dǎo)線114的交接處外側(cè)。通過設(shè)置絕緣外殼115，便于操作人員手持進(jìn)行測(cè)量操作。本實(shí)施例中，所述電加熱體112設(shè)置在所述絕緣外殼115內(nèi)部，使用安全，且所述測(cè)量探頭的整體性好。所述絕緣外殼115的外側(cè)設(shè)有用于控制所述控制開關(guān)113的開關(guān)按鍵116，操作人員可以通過按動(dòng)開關(guān)按鍵116來控制所述控制開關(guān)113的開閉，操作方便。

本實(shí)施例所述的測(cè)量探頭進(jìn)行測(cè)量時(shí)，首先判斷測(cè)量探針111需要接觸的測(cè)試點(diǎn)處是否為可熔表面，如果不是，測(cè)量探針111直接接觸測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行量測(cè)讀數(shù)即可；如果是，打開測(cè)量探針111的控制開關(guān)113，電加熱體112快速對(duì)測(cè)量探針111進(jìn)行加熱，測(cè)量探針111到達(dá)設(shè)定的溫度時(shí)讓測(cè)量探針111接觸測(cè)試點(diǎn),測(cè)試點(diǎn)處的可熔表面會(huì)有少量熔掉，這時(shí)將測(cè)量探針111少許插入可熔表面內(nèi)，停止加熱，可熔表面會(huì)很快固化，此時(shí)可馬上讀取測(cè)量數(shù)值，讀取完成后再快速對(duì)測(cè)量探針111進(jìn)行加熱，將測(cè)量探針111從可熔表面中取出，完成測(cè)試動(dòng)作。所述測(cè)量探頭，通過采用電加熱原理，使得測(cè)量探針111能夠快速的介入可熔表面的內(nèi)部與測(cè)試點(diǎn)充分接觸,可大幅度降低由于接觸問題導(dǎo)致的測(cè)量誤差，尤其適用于對(duì)錫盤、焊盤或其他導(dǎo)電表面的測(cè)量，可降低測(cè)量誤差，提高測(cè)量精度。

所述測(cè)量設(shè)備100，包括信號(hào)分析本體120以及所述的測(cè)量探頭，具備所述測(cè)量探頭的技術(shù)效果，檢測(cè)誤差小。本實(shí)施例的測(cè)量設(shè)備100可以為萬用表、示波器等需要對(duì)受測(cè)設(shè)備的接觸表面210進(jìn)行測(cè)量的設(shè)備，不僅能起到測(cè)量的功能，還具備加熱功能，功能多樣，檢測(cè)誤差小。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。