本實用新型涉及一種觀察晶體內部消光狀態(tài)的裝置，更具體地說，它涉及一種用于觀察TGG晶體內部消光狀態(tài)的裝置。

背景技術：

鋱鎵石榴石晶體簡稱為TGG晶體，具有大的磁光常數(shù)、低的光損失、高熱導性和高激光損傷閾值，是用于制作法拉第旋光器與隔離器的最佳磁光材料。由于TGG是隔離器的核心部件，對于其內部消光比要求較高達到30dB以上，否則會影響到其整個器件的輸出效率，因此企業(yè)在加工過程中需要對TGG晶體進行消光比的測試。

目前加工企業(yè)檢測TGG消光比主要是通過消光比測試儀進行，如美國HINDS的高精度消光比測試儀，或者企業(yè)自行搭建的消光儀等。企業(yè)在加工過程中數(shù)量較多，測試一片需要好幾分鐘，無法做到每片進行測試，因此會先用正交偏光系統(tǒng)進行篩選，挑選出消光比很好的產品，如用偏振片（檢偏器）對準液晶顯示器（液晶顯示器相當于起偏器加上光源），將顯示器背景調成白色，旋轉檢偏器使其處于正交狀態(tài)，TGG晶體放入檢偏 器和顯示器的中間，肉眼從檢偏器前方看向晶體，并轉動晶體 ，轉動范圍在200度以內，轉動過程中可以看到晶體消光現(xiàn)象，全黑表示消光比很好，至少大于40dB以上，局部有白光透出表示消光比不大好，需用消光比測試儀再進行檢驗。此種方法在觀察過程中有一定的缺陷，如小樣品，拿在手上觀察時容易碰到通光表面，導致產品損壞；細長樣品或大樣品拿在手上也不易轉動；肉眼、手等在長時間的觀察過程中容易產生疲勞，利用本發(fā)明所提出的一種用于觀察TGG晶體內部消光比狀態(tài)的裝置，則可以很好的解決此問題及提高效率。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種用于觀察TGG晶體內部消光狀態(tài)的裝置。

本實用新型的用于觀察TGG晶體內部消光狀態(tài)的裝置，包括底板，兩個座體，搖桿支架，光源、起偏 器，檢偏器，樣品支架，CCD，所述的兩個座體固定在底板上，所述的搖桿支架由手柄、套筒、兩根連接桿、端蓋四部分通過螺絲鎖緊構成一個整體，所述的搖桿支架通過兩個軸承、分別固定在左座體和右座體上，所述的光源固定在手柄右側端面上，所述的起偏 器固定在搖桿支架的套筒上，所述的檢偏器固定在旋轉支架上后，安裝在搖桿支架的端蓋上，所述的樣品支架位于起偏器和檢偏器的中間，所述的CCD位于檢偏器后方固定在底板上。

所述的手柄為一十字形結構;所述的連接桿為鋁制圓棒;所述的光源為LED白光光源;所述的LED白光光源功率為0.5W;所述的樣品支架底部是一平面，頂部為5個緊靠的V形槽;所述的CCD為黑白攝像機。

本實用新型的優(yōu)點在于：通過將光源、起偏器、檢偏器固定在一搖桿支架上，通過轉動搖桿支架對于觀察TGG晶體內部消光具有調節(jié)方便，無需手持進行觀察，且能多片樣品置于V形樣品架上同時進行觀察，效率高等特點，同時通過CCD采集可將數(shù)據(jù)進行保存分析。

【附圖說明】

圖1是本實用新型的觀察裝置結構示意圖；

圖2是本實用新型的觀察裝置剖面圖。

【具體實施方式】

下面參照附圖結合實施例對本實用新型作進一步的描述。

如圖2所示，觀察TGG晶體內部消光狀態(tài)的裝置，包括底板1，兩個座體5、14，搖桿支架，光源6、起偏 器8，檢偏器10，樣品支架2，CCD15等構成。

所述的兩個座體5、14固定在底板1上，所述的搖桿支架由手柄3、套筒7、兩根連接桿9、端蓋12四部分通過螺絲鎖緊構成一個整體，所述的搖桿支架通過兩個軸承4、13分別固定在左座體5和右座體14上，所述的光源6固定在手柄3右側端面上，所述的起偏 器8固定在搖桿支架的套筒7上，所述的檢偏器10固定在旋轉支架11上后，安裝在搖桿支架的端蓋12上，所述的樣品支架2位于起偏器8和檢偏器10的中間，所述的CCD15位于檢偏器后方固定在底板1上。

所述的手柄3為一十字形結構，便于手握緊。所述的連接桿9為鋁制圓棒，其它形狀在轉動搖桿支架時容易碰到底板1或者樣品支架2。所述的光源6為LED白光光源，功率為0.5W，LED功率如果過高會導致CCD采集圖像失真。所述的樣品支架2底部是一平面，頂部為5個緊靠的V形槽，做成V形槽便于放置圓形產品，否則滾動掉落地板會導致產品損傷，V形槽對于其它形狀產品同樣適用。所述的CCD15為黑白攝像機，如果使用彩色攝像機樣品內部缺陷不容易分辨出。

采用以上觀察裝置進行觀察TGG晶體內部消光狀態(tài)，當LED白光光源6通過 起偏 器8后調節(jié)旋轉支架11上的檢偏器10，使其處于正交偏光狀態(tài)，這時通過CCD15所觀察到的背景為黑色。將待檢樣品放入樣品支架2后，手握緊手柄3轉動整個搖桿支架，此時通過CCD可以清晰的觀察出樣品的消光狀態(tài)。