本發(fā)明屬于紗線測試領(lǐng)域，涉及一種紗線粗細不勻的分析方法及裝置。

背景技術(shù)：

在紡紗過程中，由于原料不勻，紡紗環(huán)境變化以及紗線設(shè)備故障、紡紗工藝不當(dāng)?shù)榷伎梢栽斐杉喚€粗細不勻。紗線的粗細不勻特別是一定范圍內(nèi)粗細不勻?qū)Σ济娈a(chǎn)生很大影響。條干均勻度測試儀能夠測試紗線線密度分布圖(即紗線粗細分布圖)，但沒有科學(xué)的分析方法。幾十年來該分布圖一直不能有效監(jiān)控和分析紗線粗細不勻，不能夠指導(dǎo)紗線生產(chǎn)和織布。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明提出了一種紗線粗細不勻的分析方法及裝置，該方法是一種定量分析紗線粗細不勻方法。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)手段：

一種紗線粗細不勻的分析方法，包括：獲取紗線實際線密度分布圖，并與其理想線密度分布圖比較，得出紗線的線密度偏移率，并根據(jù)線密度偏移率監(jiān)控和分析紗線粗細不勻情況。

具體包括以下步驟：

1)紗線經(jīng)過條干均勻度測試儀的測試，輸出紗線變異系數(shù)CV_m、紗線平均線密度x和實際線密度分布圖；

2)根據(jù)以下公式計算理想線密度分布圖：

其中，x為紗線線密度，為紗線平均線密度，CV_m為紗線變異系數(shù)，α為偏移平均線密度變化率，s為紗線標準偏差；

3)在條干均勻度測試儀實測的線密度分布圖上繪制對應(yīng)紗線的理想線密度分布圖；

4)在實際線密度分布圖上標注超出理想線密度分布圖部分；

5)得到超出理想線密度分布圖部分的線密度偏移率；

6)根據(jù)線密度偏移率監(jiān)控和分析紗線粗細不勻情況。

所述的線密度偏移率為理想線密度分布圖與實測線密度分布圖面積之差；實測線密度分布圖計算公式為：

其中，為N總的采樣點數(shù)，n_i為電壓值為i時的采樣點數(shù)，A_i為該電壓下的線密度頻率。

實際線密度分布圖曲線、理想線密度分布圖曲線及超出理想線密度分布圖部分的面積采用不同的顏色進行顯示。

一種紗線粗細不勻的分析裝置，包括：

獲取單元，用于讀取紗線經(jīng)過條干均勻度測試儀測試的數(shù)據(jù)，輸出紗線變異系數(shù)CV_m、紗線線密度和實際線密度分布圖；

理想線密度分布圖計算單元，用于根據(jù)紗線變異系數(shù)CV_m、紗線線密度計算紗線的理想線密度分布圖數(shù)據(jù)；

繪圖單元，用于在條干均勻度測試儀實測的線密度分布圖上繪制對應(yīng)紗線的理想線密度分布圖；

計算單元，用于積分計算實際線密度分布圖上超出理想線密度分布圖部分的面積，并計算超出理想線密度分布圖部分的線密度偏移率。

還包括顯示單元，用于將繪圖單元的圖表數(shù)據(jù)及計算單元的線密度偏移率進行顯示。

理想線密度分布圖的計算公式如下：

其中，x為紗線線密度，為紗線平均線密度，CV_m為紗線變異系數(shù)，α為偏移平均線密度變化率，s為紗線標準偏差。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明方法提出了一個理想分布圖的新概念，并以此得出了一種新的定量分析紗線粗細不勻方法，先獲取紗線實際線密度分布圖，并與其理想線密度分布圖比較，得出紗線的線密度偏移率，并根據(jù)線密度偏移率監(jiān)控和分析紗線粗細不勻情況。該方法處理速度快，得到的線密度偏移率及圖像對比結(jié)果，可以直觀的判斷紗線的粗細不勻情況，并以此指導(dǎo)生產(chǎn)、預(yù)測布面。特別是該方法可以精準、定量的進行分析紗線的粗細不勻情況。

本發(fā)明的裝置通過獲取單元調(diào)用紗線經(jīng)過條干均勻度測試儀測試的數(shù)據(jù)進行理論線密度分布圖計算，并在同一個圖上繪制圖表，可以直觀的讀取線密度偏移率的情況，并計算得到線密度偏移率的具體數(shù)據(jù)，進行分析紗線的生產(chǎn)情況。

【附圖說明】

圖1為本發(fā)明紗線粗細不勻的分析方法流程圖；

圖2為本發(fā)明紗線粗細不勻的分析裝置框圖；

圖3為本發(fā)明在條干均勻度測試儀實測的線密度分布及對應(yīng)紗線的理想線密度分布圖。

【具體實施方式】

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作詳細描述：

1、理想分布圖

理論上紗線線密度x是一個服從正態(tài)分布的聯(lián)系隨機過程。母體平均值為u，母體標準方差為σ，其正態(tài)分布概率密度函數(shù)f(x)為：

對于某一段紗線，如果紗線無周期不勻和其他嚴重缺障，紗線上疵點分布呈正態(tài)分布，該紗線的理想線密度分布圖為：

其中，x為紗線線密度(tex)；

為紗線平均線密度(tex)；

CV_m為紗線變異系數(shù)；

故上述公式經(jīng)變換，得到：

其中，α為偏移平均線密度變化率(％)；

s為紗線標準偏差。

據(jù)此可以在條干均勻度測試儀上繪出被測紗線的理想線密度分布圖。

2、分析方法如圖1所示，具體包括以下步驟：

1)紗線經(jīng)過條干均勻度測試儀的測試，輸出CV_m、和實際線密度分布圖。

2)計算理想線密度分布圖

3)在條干均勻度測試儀實測的線密度分布圖上繪制理論線密度分布圖。

4)在實測的線密度分布圖上標注超出理想線密度分布圖部分。

5)讀出超出部分的線密度偏移率。

線密度偏移率即：理想線密度分布圖與實測線密度分布圖面積之差。

實測線密度分布圖：其中為N總的采樣點數(shù)，n_i為電壓值為i時的采樣點數(shù)，A_i為該電壓下的線密度頻率。

利用積分公式即可得出超出理論線密度分布圖部分面積。通過該面積即可用與指導(dǎo)生產(chǎn)。

如下例中超出部分主要集中在-20％～-8％之間，故而可以預(yù)測出該部分的細節(jié)對于生產(chǎn)影響比較大。

6)應(yīng)用該結(jié)果指導(dǎo)生產(chǎn)、預(yù)測布面。

一種紗線粗細不勻的分析裝置，如圖2所示，包括：

獲取單元，用于讀取紗線經(jīng)過條干均勻度測試儀測試的數(shù)據(jù)，輸出紗線變異系數(shù)CV_m、紗線線密度和實際線密度分布圖；

理論線密度分布圖計算單元，用于根據(jù)紗線變異系數(shù)CV_m、紗線線密度計算紗線的理論線密度分布圖數(shù)據(jù)；

繪圖單元，用于在條干均勻度測試儀實測的線密度分布圖上繪制對應(yīng)紗線的理論線密度分布圖；

計算單元，用于比較實際線密度分布圖上超出理想線密度分布圖部分的面積，并計算超出理想線密度分布圖部分的線密度偏移率。實際線密度分布圖曲線、理論線密度分布圖曲線及超出理想線密度分布圖部分的面積采用不同的顯示進行顯示。

顯示單元，用于將繪圖單元的圖表數(shù)據(jù)及計算單元的線密度偏移率進行顯示。

其中，理論線密度分布圖的計算公式如下：

其中，x為紗線線密度，為紗線平均線密度，CV_m為紗線變異系數(shù)，α為偏移平均線密度變化率，s為紗線標準偏差。

實施例

如圖2所示，根據(jù)《電容式條干儀在紗線質(zhì)量控制中的應(yīng)用》中所述，電壓值0V為-100％，電壓值6V為+100％，0％即為3V，可將公式得到：

可得到i＝(α+1)*3，即公式可轉(zhuǎn)換為f((α+1)×3)，通過積分公式可得到

通過積分計算，可以得出，偏移率包括兩部分：

1)分布范圍：34.38％～41.25％，對應(yīng)的面積為22；

2)分布范圍：-20.00％～-3.75％，對應(yīng)的面積為364；

從圖2和計算結(jié)果中可以看出，偏移率主要集中在-20.00％～-3.75％之間。故而可以預(yù)測出該部分的細節(jié)對于生產(chǎn)影響比較大。

以上所述僅為本發(fā)明的一種實施方式，不是全部或唯一的實施方式，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員通過閱讀本發(fā)明說明書而對本發(fā)明技術(shù)方案采取的任何等效的變換，均為本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。