1.一種觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針，包括同軸雙通道光纖，其特征是：所述同軸雙通道光纖通過研磨在端面形成旋轉(zhuǎn)對稱反射光學(xué)結(jié)構(gòu)，同軸雙通道光纖的環(huán)形芯用于傳輸激發(fā)光，激發(fā)光傳輸至同軸雙通道光纖的端面被旋轉(zhuǎn)對稱反射光學(xué)結(jié)構(gòu)全反射，匯聚于光纖端面的中心處，形成一個微米尺度的激發(fā)光斑，激發(fā)光斑能與同軸雙通道光纖端面觸點(diǎn)處的物質(zhì)相互作用產(chǎn)生熒光或拉曼信號光，所產(chǎn)生的后向熒光或拉曼信號光經(jīng)由同軸的中間芯收集，傳輸回到光譜儀中分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針，其特征是：同軸雙通道光纖通過與普通的單模光纖熔融拉錐將激發(fā)光耦合至環(huán)形芯中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針，其特征是：所述同軸雙通道光纖包括一個環(huán)形波導(dǎo)纖芯和一個圓形波導(dǎo)纖芯，圓形波導(dǎo)纖芯位于光纖中心，環(huán)形芯波導(dǎo)纖芯位于圓形波導(dǎo)纖芯外側(cè)，兩波導(dǎo)同軸分布。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針，其特征是：所述旋轉(zhuǎn)對稱反射光學(xué)結(jié)構(gòu)是先對同軸雙通道光纖的光纖端進(jìn)行研磨，形成旋轉(zhuǎn)對稱的錐臺結(jié)構(gòu)，然后對所述錐臺結(jié)構(gòu)進(jìn)行弧面優(yōu)化研磨，形成旋轉(zhuǎn)對稱弧形錐臺結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針，其特征是：所述旋轉(zhuǎn)對稱反射光學(xué)結(jié)構(gòu)是先對同軸雙通道光纖的光纖端進(jìn)行研磨，形成旋轉(zhuǎn)對稱的錐臺結(jié)構(gòu)，然后對所述錐臺結(jié)構(gòu)進(jìn)行弧面優(yōu)化研磨，形成旋轉(zhuǎn)對稱弧形錐臺結(jié)構(gòu)。
6.一種觸點(diǎn)式在體光纖光譜探針的制作方法，其特征是：
步驟一：錐體粗磨
將同軸雙通道光纖放置于光纖端研磨臺的光纖夾具10上，調(diào)整同軸雙通道光纖與研磨臺的夾角，進(jìn)行光纖端平面旋轉(zhuǎn)對稱錐臺結(jié)構(gòu)的研磨；
步驟二：錐體優(yōu)化精磨
在步驟一粗磨的基礎(chǔ)上，在研磨的同時調(diào)節(jié)光纖的俯仰角，對步驟一中粗磨的旋轉(zhuǎn)對稱錐臺結(jié)構(gòu)進(jìn)行弧面優(yōu)化，使其研磨至具有弧度的旋轉(zhuǎn)對稱弧面反射聚焦結(jié)構(gòu)；
步驟三：錐體拋光
將研磨好的錐體進(jìn)行拋光，放在超聲清洗槽中清洗、烘干；
步驟四：通光檢測
往同軸雙通道光纖的環(huán)形芯中注光，在顯微鏡下觀察聚焦光斑是否位于光纖的端面處。