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觸控顯示面板的檢測電路及檢測方法與流程

文檔序號(hào):11913721閱讀:225來源:國知局
觸控顯示面板的檢測電路及檢測方法與流程

本發(fā)明涉及觸摸控制技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及觸控顯示面板的檢測電路及檢測方法。



背景技術(shù):

液晶顯示裝置已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于諸如手機(jī)的移動(dòng)終端和諸如平板電視的大尺寸顯示面板中。液晶顯示裝置包括兩層玻璃基板以及夾在中間的液晶層(Liquid Crystal Layer)。在玻璃基板上形成像素電極和公共電極,通過在二者之間施加驅(qū)動(dòng)電壓來控制液晶層的液晶分子的旋轉(zhuǎn),從而改變透光率。

圖1示出根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示裝置的等效電路圖。像素電極和公共電極之間包含液晶層,可以等效為像素電容CLC。經(jīng)由柵極掃描線選通薄膜晶體管T,以及經(jīng)由源極數(shù)據(jù)線將與灰階相對應(yīng)的電壓施加至像素電容CLC,從而改變液晶分子的取向以實(shí)現(xiàn)相應(yīng)灰階的亮度。為了在像素的更新周期之間保持電壓,像素電容CLC可以并聯(lián)存儲(chǔ)電容Cs以獲得更長的保持時(shí)間。柵極驅(qū)動(dòng)器1100連接至多條柵極掃描線,用于提供柵極電壓G1至Gm。所述源極驅(qū)動(dòng)器1200連接至多條源極數(shù)據(jù)線,用于提供灰階電壓S1至Sn。其中,m和n是自然數(shù)。

在液晶顯示裝置中嵌入觸控面板,可以進(jìn)一步形成觸控顯示面板。觸控顯示面板不僅可以提供顯示功能,還可以提供用戶交互功能。二者的集成可以降低電子產(chǎn)品的總成本。根據(jù)液晶顯示裝置中集成觸控面板的集成技術(shù)不同,觸控顯示面板可以分為OGS面板、onCell面板和inCell面板。onCell面板和inCell面板分別包括在上玻璃基板上方和下方形成的感應(yīng)電極,并采用觸控感應(yīng)電路檢測感應(yīng)電極的電容變化,從而檢測用戶的觸摸動(dòng)作和觸摸位置。與其他類型的面板相比,inCell面板可以減小厚度和改善顯示效果,從而有利于觸控顯示面板的更輕薄化。目前,inCell面板已經(jīng)成為未來觸控技術(shù)的主要發(fā)展方向。

然而,觸控感應(yīng)電路獲得的檢測信號(hào)受到觸控顯示面板中電極和布線的寄生電容的影響。如果感應(yīng)線、源極數(shù)據(jù)線、柵極掃描線的寄生電容與設(shè)計(jì)值偏差過大,則會(huì)影響觸控性能。因此,檢測觸控顯示面板的寄生電容是生產(chǎn)工藝中的重要步驟。通過檢測可以篩分不同品質(zhì)面板,并且輔助改變制造工藝和提高良率。

現(xiàn)有的觸控顯示面板的檢測方法需要采用專用的檢測儀器,檢測容易受到信號(hào)接入的影響且操作不便,導(dǎo)致檢測效率低。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明提供一種觸控顯示面板的檢測電路及檢測方法,其中,通過檢測電路獲得電極和布線的寄生電容,從而根據(jù)寄生電容的大小篩選觸控顯示面板。

根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種觸控顯示面板的檢測電路,其中,所述觸控顯示面板包括:用于提供柵極電壓的多條柵極掃描線,用于提供灰階電壓的多條源極數(shù)據(jù)線,用于提供感應(yīng)信號(hào)的多個(gè)感應(yīng)電極,以及分別與所述多個(gè)感應(yīng)電極相連接的多條感應(yīng)線,

所述檢測電路包括信號(hào)發(fā)生電路、積分電路,還包括多個(gè)第一開關(guān)S1、多個(gè)第二開關(guān)S2和多個(gè)第二開關(guān)S2中的至少一個(gè),

所述多個(gè)第一開關(guān),分別包括固定端和兩個(gè)活動(dòng)端,所述多個(gè)第一開關(guān)的固定端分別連接至所述多條感應(yīng)線;所述多個(gè)第二開關(guān),分別包括固定端和兩個(gè)活動(dòng)端,所述多個(gè)第二開關(guān)的固定端分別連接至所述多條柵極掃描線;所述多個(gè)第三開關(guān),分別包括固定端和兩個(gè)活動(dòng)端,所述多個(gè)第三開關(guān)的固定端分別連接至所述多條源極數(shù)據(jù)線;所述信號(hào)發(fā)生電路,用于產(chǎn)生脈沖信號(hào);以及所述積分電路,包括連接至所述多條感應(yīng)線中的選定感應(yīng)線的第一輸入端、連接至所述信號(hào)發(fā)生電路以接收所述脈沖信號(hào)的第二輸入端,以及用于提供檢測信號(hào)的輸出端,所述選定感應(yīng)線與選定感應(yīng)電極相連接,其中,所述多個(gè)第一開關(guān)、所述多個(gè)第二開關(guān)和所述多個(gè)第三開關(guān)的兩個(gè)活動(dòng)端之一接收所述脈沖信號(hào),另一端接地。

優(yōu)選地,所述檢測電路在所述多個(gè)第一開關(guān)、所述多個(gè)第二開關(guān)和所述多個(gè)第三開關(guān)的不同開關(guān)狀態(tài)下,根據(jù)所述積分電路提供的多個(gè)檢測信號(hào)判斷電極和布線的寄生電容。

優(yōu)選地,所述多個(gè)第一開關(guān)將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至接收所述脈沖信號(hào),所述多個(gè)第二開關(guān)和所述多個(gè)第三開關(guān)連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第一檢測信號(hào),用于表征所述選定感應(yīng)電極的對地電容。

優(yōu)選地,所述多個(gè)第一開關(guān)將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線接地,所述多個(gè)第二開關(guān)和所述多個(gè)第三開關(guān)連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第二檢測信號(hào),根據(jù)所述第二檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述其余感應(yīng)線與所述選定感應(yīng)電極之間的第一寄生電容。

優(yōu)選地,所述多個(gè)第一開關(guān)將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至所述脈沖信號(hào),所述多個(gè)第二開關(guān)接地,所述多個(gè)第三開關(guān)連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第三檢測信號(hào),根據(jù)所述第三檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述多條柵極掃描線與所述選定感應(yīng)電極之間的第二寄生電容。

優(yōu)選地,所述多個(gè)第一開關(guān)將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至所述脈沖信號(hào),所述多個(gè)第二開關(guān)連接至接收所述脈沖信號(hào),所述多個(gè)第三開關(guān)接地,從而獲得第四檢測信號(hào),根據(jù)所述第四檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述多條源極數(shù)據(jù)線與所述選定感應(yīng)電極之間的第三寄生電容。

優(yōu)選地,所述脈沖信號(hào)為占空比為50%的方波信號(hào)。

優(yōu)選地,所述多個(gè)第一開關(guān)、所述多個(gè)第二開關(guān)和所述多個(gè)第三開關(guān)分別包括兩個(gè)互補(bǔ)導(dǎo)通的晶體管。

優(yōu)選地,所述積分電路包括:運(yùn)算放大器,所述第一輸入端和所述第二輸入端分別為所述運(yùn)算放大器的反相輸入端和同相輸入端;以及第一電容,連接在所述運(yùn)算放大器的反相輸入端和輸出端之間。

優(yōu)選地,所述積分電路還包括:反饋電阻,連接在所述運(yùn)算放大器的反相輸入端和輸出端之間。

優(yōu)選地,所述多個(gè)感應(yīng)電極還作為所述觸控顯示面板的公共電極。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供一種觸控顯示面板的檢測方法,其中,所述觸控顯示面板包括:用于提供柵極電壓的多條柵極掃描線,用于提供灰階電壓的多條源極數(shù)據(jù)線,用于提供感應(yīng)信號(hào)的多個(gè)感應(yīng)電極,以及分別與所述多個(gè)感應(yīng)電極相連接的多條感應(yīng)線,所述檢測方法包括:將所述多條感應(yīng)線選擇性地連接至脈沖信號(hào)和接地;將所述多條柵極掃描線選擇性地連接至所述脈沖信號(hào)和接地;將所述多條源極數(shù)據(jù)線選擇性地連接至所述脈沖信號(hào)和接地;在所述多條感應(yīng)線、所述多條柵極掃描線和所述多條源極數(shù)據(jù)線的不同連接狀態(tài)下,根據(jù)所述多條感應(yīng)線中的選定感應(yīng)線上的第一信號(hào)獲得多個(gè)檢測信號(hào);以及根據(jù)所述多個(gè)檢測信號(hào)判斷電極和布線的寄生電容。

優(yōu)選地,將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至接收所述脈沖信號(hào),所述多條柵極掃描線和所述多條源極數(shù)據(jù)線連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第一檢測信號(hào),用于表征所述選定感應(yīng)電極的對地電容。

優(yōu)選地,將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線接地,所述多條柵極掃描線和所述多條源極數(shù)據(jù)線連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第二檢測信號(hào),根據(jù)所述第二檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述其余感應(yīng)線與所述選定感應(yīng)電極之間的第一寄生電容。

優(yōu)選地,將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至所述脈沖信號(hào),所述多條柵極掃描線接地,所述多條源極數(shù)據(jù)線連接至接收所述脈沖信號(hào),從而獲得第三檢測信號(hào),根據(jù)所述第三檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述多條柵極掃描線與所述選定感應(yīng)電極之間的第二寄生電容。

優(yōu)選地,將所述選定感應(yīng)線以外的其余感應(yīng)線連接至所述脈沖信號(hào),所述多條柵極掃描線連接至接收所述脈沖信號(hào),所述多條源極數(shù)據(jù)線接地,從而獲得第四檢測信號(hào),根據(jù)所述第四檢測信號(hào)與所述第一檢測信號(hào)的差值,獲得所述多條源極數(shù)據(jù)線與所述選定感應(yīng)電極之間的第三寄生電容。

優(yōu)選地,所述脈沖信號(hào)為占空比為50%的方波信號(hào)。

優(yōu)選地,根據(jù)所述多條感應(yīng)線中的選定感應(yīng)線上的第一信號(hào)獲得多個(gè)檢測信號(hào)的步驟包括對所述第一信號(hào)進(jìn)行積分。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的檢測電路和檢測方法,采用多個(gè)開關(guān)將多條感應(yīng)線、多條柵極掃描線和多條源極數(shù)據(jù)線選擇性地連接至脈沖信號(hào)或接地,在不同連接狀態(tài)下根據(jù)所述多條感應(yīng)線中的選定感應(yīng)線上的信號(hào)獲得多個(gè)檢測信號(hào),以及根據(jù)所述多個(gè)檢測信號(hào)判斷電極和布線的寄生電容。該檢測方法可以檢測面板的品質(zhì),并且輔助改變制造工藝和提高良率。進(jìn)一步地,該檢測方法可以簡化檢測電路的結(jié)構(gòu),甚至可以復(fù)用已有的觸控檢測電路用于寄生電容的檢測,從而降低了檢測電路成本以及提高了檢測效率。

附圖說明

通過以下參照附圖對本發(fā)明實(shí)施例的描述,本發(fā)明的上述以及其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將更為清楚。

圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示裝置的等效電路圖。

圖2示出本發(fā)明實(shí)施例的觸控顯示面板的立體結(jié)構(gòu)圖。

圖3是圖2所示的觸控顯示面板和檢測電路的物理連接示意圖。

圖4是圖2所示的觸控顯示面板和檢測電路的邏輯示意圖。

具體實(shí)施方式

以下將參照附圖更詳細(xì)地描述本發(fā)明。在各個(gè)附圖中,相同的元件采用類似的附圖標(biāo)記來表示。為了清楚起見,附圖中的各個(gè)部分沒有按比例繪制。此外,在圖中沒有畫出除了對應(yīng)驅(qū)動(dòng)電極與感應(yīng)電極之外的布線,并且可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本發(fā)明的許多特定的細(xì)節(jié),例如器件的結(jié)構(gòu)、材料、尺寸、處理工藝和技術(shù),以便更清楚地理解本發(fā)明。但正如本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠理解的那樣,可以不按照這些特定的細(xì)節(jié)來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。

下面,參照附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。

圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的觸控顯示面板的立體結(jié)構(gòu)圖。

如圖2所示,該觸控顯示面板200包括:彩色濾光片基板110和陣列基板210,以及配置于彩色濾光片基板110與陣列基板210之間的液晶層。彩色濾光片基板110與陣列基板210之間,還設(shè)置有多條沿水平方向間隔設(shè)置的柵極掃描線211、多條沿豎直方向間隔設(shè)置的源極數(shù)據(jù)線212、呈矩陣式排列的多個(gè)公共電極(圖上未示出)、與每一公共電極相對設(shè)置的像素電極214、以及對應(yīng)每一像素電極214設(shè)置的選擇薄膜晶體管213。其中,柵極掃描線211用于提供柵極電壓,源極數(shù)據(jù)線212用于提供灰階電壓。柵極掃描線211與源極數(shù)據(jù)線212相互絕緣隔開。每個(gè)像素單元包括與相應(yīng)的一條柵極掃描線211和一條源極數(shù)據(jù)線212相連接的一個(gè)薄膜晶體管213。薄膜晶體管213在柵極電壓的控制下導(dǎo)通,從而將源極數(shù)據(jù)線212與像素電極214連通,將灰階電壓施加至像素電極214上。

在該實(shí)施例中,公共電極215包括多個(gè)彼此隔開的電極部分,并且兼用作觸控的多個(gè)感應(yīng)電極。所述多個(gè)感應(yīng)電極分別與多條感應(yīng)線216中相應(yīng)的一條感應(yīng)線相連接。公共電極215兼用作感應(yīng)電極可以減少金屬層的層數(shù),從而減少工藝環(huán)節(jié),并且降低面板的開口率。在替代的實(shí)施例中,可以采用不同的金屬層形成公共電極和感應(yīng)電極。

基于上述的觸控顯示面板,本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測電路,用于檢測電路中的寄生電容。針對每個(gè)感應(yīng)電極設(shè)置一個(gè)檢測電路,從而檢測該感應(yīng)電極和其他感應(yīng)電極、源極數(shù)據(jù)線、柵極掃描線之間的寄生電容。多個(gè)感應(yīng)單元可以設(shè)置多個(gè)檢測電路,同步檢測或者分別檢測每個(gè)感應(yīng)單元內(nèi)的寄生電容。

圖3是圖2所示的觸控顯示面板和檢測電路的物理連接示意圖。圖4是圖2所示的觸控顯示面板和檢測電路的邏輯示意圖。

參考圖3,標(biāo)記300表示觸控顯示面板的一個(gè)待檢測的感測單元,標(biāo)記310表示對應(yīng)的檢測電路。檢測電路310包括三個(gè)開關(guān)S1-S3,每個(gè)開關(guān)包括一個(gè)固定端和兩個(gè)活動(dòng)端,開關(guān)S1的固定端連接到感測單元300的源極數(shù)據(jù)線212,開關(guān)S2的固定端連接到感測單元300的柵極掃描線211,S3的固定端連接到感測單元300的感應(yīng)電極的感應(yīng)線216上。開關(guān)S1-S3的一個(gè)活動(dòng)端連接至地,另一活動(dòng)端連接至信號(hào)發(fā)生電路312,信號(hào)發(fā)生電路312用于產(chǎn)生輸入電壓信號(hào),和積分電路的一輸入端相連。積分電路的另一輸入端和另一個(gè)感應(yīng)電極的感應(yīng)線相連。在本實(shí)施例中,積分電路包括運(yùn)算放大器311以及和并聯(lián)連接在運(yùn)算放大器311的反相輸入端和輸出端之間的電容CFB和電阻RFB。

參考圖4,標(biāo)記300'表示感測單元300的邏輯電路,其中,RIN是線路中的等效電阻,Cg是線路中的等效電容,Cpd是感應(yīng)電極和源極數(shù)據(jù)線212之間的等效寄生電容,Cpg是感應(yīng)電極和柵極掃描線211之間的等效寄生電容,Cpl是感應(yīng)電極和感測單元的感應(yīng)線之間的等效寄生電容。

當(dāng)檢測電路310工作時(shí),首先S1、S2和S3的固定端和積分電路的導(dǎo)通,從信號(hào)發(fā)生電路312接收輸入的電壓信號(hào)VSTIM(例如方波信號(hào)),此時(shí),Cpd,Cpg,Cpl電容兩端電壓變化都是VSTIM,從而積分電路檢測到只是Cg(對地電容)。此時(shí)檢測值標(biāo)記為D0。

S1連接至地,S2,S3切到VSTIM,此時(shí)Cpl,Cpg兩端波形相同,沒有電荷傳輸?shù)?10,此時(shí)檢測到的電容為Cg+Cpd。檢測值標(biāo)記為D1,則D1-D0對應(yīng)的為Cpd的檢測量。即可計(jì)算源極數(shù)據(jù)線和感應(yīng)電極之間的寄生電容。

S2連接至地,S1,S3切到VSTIM,此時(shí)Cpl,Cpd兩端波形相同,沒有電荷傳輸?shù)?10,此時(shí)檢測到的電容為Cg+Cpg。檢測值標(biāo)記為D2,則D2-D0對應(yīng)的為Cpg的檢測量。即可計(jì)算柵極掃描線和感應(yīng)電極之間的寄生電容。

S3切到地,S1,S2切到VSTIM,此時(shí)Cpg,Cpd兩端波形相同,沒有電荷傳輸?shù)?10,此時(shí)檢測到的電容為Cg+Cpl。檢測值標(biāo)記為D2,則D2-D0對應(yīng)的為Cpl的檢測量。即可計(jì)算待檢測感應(yīng)電極和其他感應(yīng)電極之間的寄生電容。

從而,根據(jù)D1-D0,D2-D0,D3-D0的值就可以將寄生電容不良的模組篩出來。

在上述檢測電路中,開關(guān)S1、S2和S3為單刀雙擲開關(guān),實(shí)現(xiàn)觸控顯示面板和積分電路或地的連接。再進(jìn)一步,開關(guān)S1、S2和S3各通過兩個(gè)薄膜晶體管實(shí)現(xiàn)。具體地,兩個(gè)薄膜晶體管的柵極分別接收控制信號(hào),兩個(gè)薄膜晶體管的源極和觸控顯示面板連接,一個(gè)薄膜晶體管的漏極和地連接,一個(gè)薄膜晶體管的漏極和積分電路連接。當(dāng)開關(guān)工作時(shí),分別向兩個(gè)薄膜晶體管的柵極發(fā)送相反的信號(hào),從而使連接到地的線路導(dǎo)通或連接到積分電路的線路導(dǎo)通。

在本說明書中,“下”指的是在列方向上更靠近布線引出感應(yīng)層外的方向的相對概念,“上”指的是在列方向上更遠(yuǎn)離布線引出感應(yīng)層外方向的相對概念。

應(yīng)當(dāng)說明的是,在本文中,諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開來,而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且,術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語句“包括一個(gè)……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

依照本發(fā)明的實(shí)施例如上文所述,這些實(shí)施例并沒有詳盡敘述所有的細(xì)節(jié),也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實(shí)施例。顯然,根據(jù)以上描述,可作很多的修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實(shí)施例,是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實(shí)際應(yīng)用,從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地利用本發(fā)明以及在本發(fā)明基礎(chǔ)上的修改使用。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書及其全部范圍和等效物的限制。

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