本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，尤其是一種高速USB接口電路多功能測(cè)試系統(tǒng)，屬于USB接口電路測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

隨著USB接口在便攜式電子產(chǎn)品中的廣泛應(yīng)用，客戶對(duì)USB接口芯片出廠的測(cè)試覆蓋率、穩(wěn)定性要求越來越高。

對(duì)于部分USB高速通信功能項(xiàng)的測(cè)試，由于ATE(Automatic Test Equipment，自動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備)測(cè)試設(shè)備自身限制不可測(cè)。通常本身測(cè)試硬件環(huán)境變化以及較多的人為操作，都可能引起測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差，例如接口/儀器之間或與連線的連接和斷連。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種高速USB接口電路多功能測(cè)試系統(tǒng)，其結(jié)構(gòu)緊湊，能有效實(shí)現(xiàn)所需的測(cè)試需求，提高測(cè)試覆蓋率，安裝方便，極大縮短測(cè)試時(shí)間，避免過多人為操作可能引起的測(cè)試偏差。

按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案，所述高速USB接口電路多功能測(cè)試系統(tǒng)，包括用于連接待測(cè)電路的功能測(cè)試模塊以及用于控制對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行所需功能測(cè)試的測(cè)試控制模塊，所述測(cè)試控制模塊通過USB接口與功能測(cè)試模塊連接；

功能測(cè)試模塊內(nèi)存儲(chǔ)有對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行測(cè)試所需的測(cè)試配置程序以及相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試控制模塊能調(diào)度功能測(cè)試模塊內(nèi)的測(cè)試配置程序，以使得功能測(cè)試模塊對(duì)連接待測(cè)電路進(jìn)行所需的功能測(cè)試過程，且功能測(cè)試模塊將采集功能測(cè)試時(shí)的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)傳輸至測(cè)試控制模塊內(nèi)，測(cè)試控制模塊根據(jù)調(diào)度的測(cè)試配置程序以及接收的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)輸出功能測(cè)試結(jié)果。

還包括用于對(duì)待測(cè)電路供電的電源模塊，所述電源模塊通過電流監(jiān)測(cè)模塊與待測(cè)電路構(gòu)成供電監(jiān)測(cè)回路，通過電流監(jiān)測(cè)模塊監(jiān)測(cè)待測(cè)電路在進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)的電流值。

所述測(cè)試控制模塊調(diào)度功能測(cè)試模塊內(nèi)待測(cè)電路的功能測(cè)試包括串口/定時(shí)器功能測(cè)試、片內(nèi)SRAM讀寫測(cè)試、USB端點(diǎn)讀寫測(cè)試、GPIF的單讀寫及FIFO讀寫測(cè)試、從FIFO異步/同步讀寫測(cè)試、以及USB喚醒測(cè)試。

所述功能測(cè)試模塊包括用于與待測(cè)電路連接的模塊控制單元、包含測(cè)試配置程序的配置單元以及用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)緩存單元，所述配置單元、數(shù)據(jù)緩存單元均與模塊控制單元連接，模塊控制單元還與第一USB接口連接，模塊控制單元通過第一USB接口與測(cè)試控制模塊連接。

所述模塊控制單元上還連接有JTAG接口以及AS接口。

還包括用于對(duì)模塊控制單元、配置單元、數(shù)據(jù)緩存單元、第一USB接口供電的功能測(cè)試電源模塊。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)：將待測(cè)電路與功能測(cè)試模塊內(nèi)的模塊控制單元連接，測(cè)試控制模塊通過USB接口與模塊控制單元連接，測(cè)試控制模塊能調(diào)度功能測(cè)試模塊內(nèi)的測(cè)試配置程序，以使得功能測(cè)試模塊對(duì)連接待測(cè)電路進(jìn)行所需的功能測(cè)試過程，并將采集功能測(cè)試時(shí)的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)傳輸至測(cè)試控制模塊內(nèi)，測(cè)試控制模塊根據(jù)調(diào)度的測(cè)試配置程序以及接收的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)輸出功能測(cè)試結(jié)果，提高測(cè)試覆蓋率，方便安裝，極大地縮短測(cè)試時(shí)間，避免過多人為操作引起的測(cè)試偏差，安全可靠。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)框圖。

圖2為本發(fā)明功能測(cè)試模塊的結(jié)構(gòu)框圖。

附圖標(biāo)記說明：1-測(cè)試控制模塊、2-功能測(cè)試模塊、3-電源模塊、4-電流監(jiān)測(cè)模塊、5-AS接口、6-第一USB接口、7-功能測(cè)試電源模塊、8-第二USB接口、9-待測(cè)試電路、10-配置單元、11-模塊控制單元、12-時(shí)鐘模塊、13-數(shù)據(jù)緩存單元、14-重啟按鍵、15-JTAG接口以。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。

如圖1所示：為了能有效實(shí)現(xiàn)所需的測(cè)試需求，提高測(cè)試覆蓋率，極大縮短測(cè)試時(shí)間，避免過多人為操作可能引起的測(cè)試偏差，本發(fā)明包括用于連接待測(cè)電路9的功能測(cè)試模塊2以及用于控制對(duì)待測(cè)電路9進(jìn)行所需功能測(cè)試的測(cè)試控制模塊1，所述測(cè)試控制模塊1通過USB接口與功能測(cè)試模塊2連接；

功能測(cè)試模塊2內(nèi)存儲(chǔ)有對(duì)待測(cè)電路9進(jìn)行測(cè)試所需的測(cè)試配置程序以及相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試控制模塊1能調(diào)度功能測(cè)試模塊2內(nèi)的測(cè)試配置程序，以使得功能測(cè)試模塊2對(duì)連接待測(cè)電路9進(jìn)行所需的功能測(cè)試過程，且功能測(cè)試模塊2將采集功能測(cè)試時(shí)的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)傳輸至測(cè)試控制模塊1內(nèi)，測(cè)試控制模塊1根據(jù)調(diào)度的測(cè)試配置程序以及接收的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)輸出功能測(cè)試結(jié)果。

具體地，待測(cè)電路9為具有USB接口的芯片，測(cè)試控制模塊1、USB數(shù)據(jù)采集單元3通過USB接口與功能測(cè)試模塊2連接，以實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)電路9的連接，通過測(cè)試控制模塊1與功能測(cè)試模塊2的連接配合，能實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)電路9進(jìn)行所需的功能測(cè)試。測(cè)試控制模塊1可以采用現(xiàn)有常用的上位機(jī)，具體為本技術(shù)領(lǐng)域人員所熟知，此處不再贅述。在功能測(cè)試模塊2內(nèi)存儲(chǔ)測(cè)試配置程序后，測(cè)試控制模塊1采用本技術(shù)領(lǐng)域常用技術(shù)手段可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試配置程序的調(diào)度，具體的調(diào)度過程為本技術(shù)領(lǐng)域所熟知，此處不再贅述。

本發(fā)明實(shí)施例中，所述測(cè)試控制模塊1調(diào)度功能測(cè)試模塊2內(nèi)待測(cè)電路9的功能測(cè)試包括串口/定時(shí)器功能測(cè)試、片內(nèi)SRAM讀寫測(cè)試、USB端點(diǎn)讀寫測(cè)試、GPIF的單讀寫及FIFO讀寫測(cè)試、從FIFO異步/同步讀寫測(cè)試、以及USB喚醒測(cè)試。

此外，還包括用于對(duì)待測(cè)電路9供電的電源模塊3，所述電源模塊3通過電流監(jiān)測(cè)模塊4與待測(cè)電路9構(gòu)成供電監(jiān)測(cè)回路，通過電流監(jiān)測(cè)模塊4監(jiān)測(cè)待測(cè)電路9在進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)的電流值。

本發(fā)明實(shí)施例中，通過電流監(jiān)測(cè)模塊4能獲取待測(cè)電路9在進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)的電流值，電流監(jiān)測(cè)模塊4可以采用常用的電流傳感器或電流表等形式，具體可以根據(jù)需要進(jìn)行選擇，此處不再贅述。

如圖2所示，所述功能測(cè)試模塊2包括用于與待測(cè)電路9連接的模塊控制單元11、包含測(cè)試配置程序的配置單元10以及用于存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)緩存單元13，所述配置單元10、數(shù)據(jù)緩存單元13均與模塊控制單元11連接，模塊控制單元11還與第一USB接口6以及第二USB接口8連接，測(cè)試控制單元11通過第一USB接口6與測(cè)試控制模塊1連接。

本發(fā)明實(shí)施例中，所述模塊控制單元11上還連接有重啟按鍵14、JTAG接口15以及AS接口5。還包括用于對(duì)模塊控制單元11、配置單元10、數(shù)據(jù)緩存單元13、第一USB接口6以及第二USB接口8供電的功能測(cè)試電源模塊7。

本發(fā)明實(shí)施例中，模塊控制單元11控制整個(gè)功能測(cè)試模塊2的工作狀態(tài)，模塊控制單元11可以選用本技術(shù)領(lǐng)域常用的微處理芯片或相應(yīng)的電路形式，具體為本技術(shù)領(lǐng)域人員根據(jù)需要進(jìn)行選擇，此處不再贅述。配置單元10內(nèi)具有不同功能測(cè)試固件，通過功能測(cè)試固件能進(jìn)行相應(yīng)功能調(diào)試，測(cè)試控制模塊1發(fā)出數(shù)據(jù)到待測(cè)電路9，由模塊控制單元10將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)緩存單元13后，寫入到待測(cè)電路9中，模塊控制單元11再將待測(cè)電路9中的數(shù)據(jù)讀回，由USB數(shù)據(jù)采集單元3反饋至測(cè)試控制模塊1，測(cè)試控制模塊1對(duì)比發(fā)出數(shù)據(jù)與讀回?cái)?shù)據(jù)后，并輸出測(cè)試結(jié)果。

具體實(shí)施時(shí)，按需求可選擇JTAG接口15或AS接口5下載主控程序，USB接口通過USB線連接測(cè)試控制模塊1為整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)供電，時(shí)鐘模塊12用于提供24MHz時(shí)鐘信號(hào)，同時(shí)系統(tǒng)時(shí)鐘也可以通過SMA接口接入。此外，模塊控制單元11上還連接重啟按鍵14，通過重啟按鍵14能實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)功能測(cè)試模塊2的重啟。

本發(fā)明將待測(cè)電路9與功能測(cè)試模塊2內(nèi)的模塊控制單元11連接，測(cè)試控制模塊1通過USB接口與模塊控制單元11連接，測(cè)試控制模塊1能調(diào)度功能測(cè)試模塊2內(nèi)的測(cè)試配置程序，以使得功能測(cè)試模塊2對(duì)連接待測(cè)電路9進(jìn)行所需的功能測(cè)試過程，模塊控制單元11能將采集功能測(cè)試時(shí)的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)傳輸至測(cè)試控制模塊1內(nèi)，測(cè)試控制模塊1根據(jù)調(diào)度的測(cè)試配置程序以及接收的測(cè)試輸出數(shù)據(jù)輸出功能測(cè)試結(jié)果，提高測(cè)試覆蓋率，方便安裝，極大地縮短測(cè)試時(shí)間，避免過多人為操作引起的測(cè)試偏差，安全可靠。