本發(fā)明涉及鎳網生產技術領域，尤其是涉及一種鎳網開孔率檢測及均勻度檢測裝置。

背景技術：

印花鎳網(又稱圓網)是紡織機械重要配件，由純金屬鎳通過電鑄的方法加工而成，是圓網印花機的精密核心部件，也是極其精密的紡織機械配件。鎳網的開孔率及開孔均勻度是印花鎳網的重要技術指標，直接關系印花質量，體現鎳網的技術水平。

目前對鎳網開孔率及均勻度的檢測沒有比較科學的檢測儀器，有的使用讀數顯微鏡來推算開孔率的大小，使用這種儀器必須將鎳網破壞后抽樣測量，所以浪費大，孔徑均勻度是用杠桿千分表通過測量鎳網的厚度推斷孔徑均勻度的好壞，因而，精度差，效率低，很不科學。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的在于克服上述技術不足，提出一種鎳網開孔率檢測及均勻度檢測裝置，旨在解決現有鎳網開孔率及均勻度的檢測沒有比較科學的檢測儀器，檢測精度差，效率低的技術問題。

為達到上述技術目的，本發(fā)明的技術方案提供一種鎳網開孔率及均勻度檢測裝置，包括凵字形機架，所述凵字形機架包括一底板，所述底板上設有兩立臂，一所述立臂頂部設有安裝座，所述安裝座頂部設有接收并處理檢測數據的檢測儀主機，所述檢測儀主機設有顯示檢測數據處理結果的顯示屏，所述安裝座的內側面上設有與立臂垂直的圓筒形驗網臺，所述圓筒形驗網臺內設有光源，所述圓筒形驗網臺的頂部設有一沿軸向延伸的條形孔，所述圓筒形驗網臺遠離所述安裝座的一端頂部內壁設有內檢測頭，所述內檢測頭沿所述圓筒形驗網臺的徑向設置，所述內檢測頭與檢測儀主機連接，所述圓筒形驗網臺與內檢測頭對應的位置設有通孔；

所述凵字形機架的另一立臂上安裝有橫板，所述橫板靠近所述立臂的一端設有通孔，所述立臂穿過所述通孔，所述立臂上設有抵緊所述立臂的抵緊螺栓，所述橫板另一端設有外檢測頭，所述外檢測頭與檢測儀主機連接，所述外檢測頭與內檢測頭的位置相對應。

作為一種改進，所述光源為激光二極管光源，所述外檢測頭為硅光電二極管探頭，所述硅光電二極管探頭設有4個硅光電二極管。

作為一種改進，所述圓筒形驗網臺內設有固定板，所述光源設置在所述固定板上。

作為進一步地改進，所述內檢測頭通過稀土磁鐵吸附在所述圓筒形驗網臺上。

作為進一步地改進，安裝所述安裝座的立臂的橫截面為矩形，安裝所述橫板的立臂的橫截面為圓形。

作為進一步地改進，所述橫板的寬度從橫板靠近所述立臂的一端向另一端逐漸變小，所述橫板的兩端均設置弧形部，所述立臂和外檢測頭分別穿過兩所述弧形部的圓心。

與現有技術相比，本發(fā)明提供的鎳網開孔率及均勻度檢測裝置，使用時將鎳網套在圓筒形驗網臺上，在不破壞鎳網的前提下，由內檢測頭和外檢測頭通過光通量原理，將電壓信號傳入檢測儀主機中，檢測儀主機將電壓信號A/D轉化并通過間隙補償法算出鎳網的開孔率均勻度，并隨即在顯示屏上顯示出來，檢測速度快，精度高，提供了極大方便。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例的俯視圖；

圖2是本發(fā)明實施例的內部結構示意圖；

附圖中，1-凵字形機架，11-底板，12-立臂，2-安裝座，3-檢測儀主機，31-顯示屏，4-圓筒形驗網臺，41-條形孔，5-光源，6-內檢測頭，7-鎳網，8-橫板，81-抵緊螺栓，9-外檢測頭，10-固定板。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

如圖1和圖2共同所示，本發(fā)明提供了一種鎳網開孔率及均勻度檢測裝置，包括凵字形機架1，凵字形機架1包括一底板11，底板11上設有兩立臂12，一立臂12頂部設有安裝座2，安裝座2頂部設有接收并處理檢測數據的檢測儀主機3，檢測儀主機3設有顯示檢測數據處理結果的顯示屏31，安裝座2上設有與立臂12垂直的圓筒形驗網臺4，圓筒形驗網臺4內設有光源5，圓筒形驗網臺4的頂部設有一沿軸向延伸的條形孔41，圓筒形驗網臺4遠離安裝座2的一端頂部內壁設有內檢測頭6，內檢測頭6沿圓筒形驗網臺4的徑向設置，內檢測頭6與檢測儀主機3連接，圓筒形驗網臺4與內檢測頭6對應的位置設有通孔，使用時將鎳網7套裝在圓筒形驗網臺4上；

凵字形機架1的另一立臂12上安裝有橫板8，橫板8靠近立臂12的一端設有通孔，立臂12穿過通孔，立臂12上設有抵緊立臂12的抵緊螺栓81，橫板8另一端設有外檢測頭9，外檢測頭9與檢測儀主機3連接，外檢測頭9與內檢測頭6的位置相對應，方便轉動及滑動橫板8從而調節(jié)外檢測頭9的位置以與內檢測頭6位置對應。

其中，上述光源5優(yōu)選激光二極管光源，保證穩(wěn)定的光源5，且壽命較長，外檢測頭9為硅光電二極管探頭，光電二極管接收光源透過鎳網7的光信號，可迅速將開孔率的大小轉換為電信號，實現快速精確測量，具體地，硅光電二極管探頭設有4個硅光電二極管，由微機讀入后由大到小排序，取中間兩個值的平均值作為開孔率的采樣值，解決硅光電二極管不穩(wěn)定的問題。

作為本發(fā)明的具體實施例，圓筒形驗網臺4內設有固定板10，光源5設置在固定板10上，便于固定光源5位置，內檢測頭6通過稀土磁鐵吸附在圓筒形驗網臺4上，提供足夠的吸力，達到合理的吸力定位。

本實施例中，安裝有安裝座2的立臂12的橫截面為矩形，安裝橫板8的立臂12的橫截面為圓形，橫板8的寬度從橫板8靠近立臂12的一端向另一端逐漸變小，橫板8的兩端均設置弧形部，立臂12和外檢測頭9分別穿過兩弧形部的圓心，方便調整外檢測頭9的位置使其與內檢測頭6位置對應。

本發(fā)明提供的鎳網開孔率及均勻度檢測裝置，結構合理，檢測快速方便，不需破壞鎳網結構，精度高，穩(wěn)定性好，而且抗干擾性強，可靠性高，提供了極大方便。

以上所述本發(fā)明的具體實施方式，并不構成對本發(fā)明保護范圍的限定。任何根據本發(fā)明的技術構思所做出的各種其他相應的改變與變形，均應包含在本發(fā)明權利要求的保護范圍內。