技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種利用葉綠素熒光技術(shù)篩選耐高溫玉米品種的方法，以PI(abs)作為檢測指標，對離體葉片進行高溫黑暗處理，獲得高溫黑暗處理前后待測玉米品種葉片的PI(abs)；或在白天日最高溫度35℃及以上，待天黑暗1小時后，測定田間待測玉米品種活體葉片的PI(abs)；PI(abs)高于對照品種的待測玉米品種為耐高溫玉米品種；或在玉米生育期內(nèi)每7天測定1次田間待測玉米品種PI(abs)值，當待測玉米品種的PI(abs)全生育期的平均值高于或等于對照品種全生育期的PI(abs)的平均值時，該待測玉米品種為耐高溫玉米品種。本發(fā)明具有測量快速、損傷小、節(jié)約勞力和財力等特點，適合從大量品種選育優(yōu)良品種。

技術(shù)研發(fā)人員：唐燦明;季浩;胡啟瑞;吳穎靜;許小明
受保護的技術(shù)使用者：南京農(nóng)業(yè)大學(xué)淮安研究院
文檔號碼：201611029168
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.21
技術(shù)公布日：2017.05.24