技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種將紅外熱像儀刻度函數(shù)應(yīng)用于實際測量環(huán)境的自適應(yīng)修正方法，該方法采用可控溫度的黑體近距離標(biāo)定刻度函數(shù)，計算刻度函數(shù)表達(dá)式的系數(shù)，然后計算實驗室參數(shù)與實際測溫環(huán)境參數(shù)的比值，根據(jù)比值計算修正后的刻度函數(shù)。根據(jù)實際測量環(huán)境參數(shù)（目標(biāo)距離、視窗、量程）等，修正紅外探測儀的刻度函數(shù)，克服了現(xiàn)有刻度函數(shù)僅適應(yīng)實驗室環(huán)境的缺陷，同時算法簡單、易實現(xiàn)、不額外增加硬件模塊、不增加功耗。

技術(shù)研發(fā)人員：路璐
受保護(hù)的技術(shù)使用者：成都市晶林科技有限公司
文檔號碼：201610907034
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.18
技術(shù)公布日：2017.03.15