本申請(qǐng)為分案申請(qǐng)，其原申請(qǐng)的申請(qǐng)日是2009年11月16日，申請(qǐng)?zhí)枮?00980149297.5，發(fā)明名稱(chēng)為“用作可縮放pet和spect系統(tǒng)構(gòu)建塊的自主探測(cè)器模塊”。

本創(chuàng)新具體應(yīng)用于核成像系統(tǒng)，尤其涉及正電子發(fā)射斷層攝影(pet)成像和/或單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層攝影(spect)成像，但也可以應(yīng)用于其他核成像系統(tǒng)等。然而，應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，所描述的技術(shù)還可以應(yīng)用于其他成像系統(tǒng)、其他成像方案、其他圖像分析技術(shù)等。

用于pet和spect系統(tǒng)的輻射探測(cè)器或者基于閃爍體/光探測(cè)器組合，或者使用直接轉(zhuǎn)換材料。在這兩種情況下，都必須執(zhí)行對(duì)所記錄能量沉積的基本處理，以便導(dǎo)出閃爍事件的能量和時(shí)間戳(timestamp)。例如，許多伽馬射線(xiàn)會(huì)經(jīng)受康普頓(compton)散射并在多個(gè)探測(cè)元件上分布其能量。由讀出電子線(xiàn)路收集獨(dú)立的能量沉積以形成所得的事件，并且在pet中，將時(shí)間戳關(guān)聯(lián)到這種所謂的“單次”事件(例如，能量分群和加時(shí)間戳)。在能量分群和能量選通之后，可以將事件分配到探測(cè)元件，作為交互的最可能的第一元件。對(duì)于spect探測(cè)器而言，可以將這種事件直接用于重建，而對(duì)于pet，在將事件對(duì)用于重建之前找到兩個(gè)事件之間的符合(coincidence)。

在經(jīng)典pet和spect掃描器中，以集中的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。由執(zhí)行能量區(qū)分、事件分群、能量選通、像素識(shí)別和加時(shí)間戳的電子線(xiàn)路箱(例如，容納處理電子線(xiàn)路的柜子)處理閃爍體/光探測(cè)器組合的輸出。使用固態(tài)光探測(cè)器或直接轉(zhuǎn)換器的探測(cè)器采用了更多的讀出電子線(xiàn)路，通過(guò)利用專(zhuān)用的前端電子線(xiàn)路(例如asic，諸如前置放大器和模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器)而集中在探測(cè)器附近。

然而，經(jīng)典解決方案未向一個(gè)探測(cè)器模塊中集成足夠的電子線(xiàn)路，以便能夠?qū)⑵渥鳛橥暾到y(tǒng)的自主、可縮放構(gòu)建塊加以操作。通常，這導(dǎo)致了針對(duì)被研究的pet或spect系統(tǒng)的確切幾何結(jié)構(gòu)調(diào)整的讀出電子線(xiàn)路。因此，在不改變讀出電子線(xiàn)路的大的部分的情況下，即使是對(duì)幾何結(jié)構(gòu)的微小改變也可能難以實(shí)施。此外，之后對(duì)獨(dú)立事件的分群導(dǎo)致必須由讀出電子線(xiàn)路處理高數(shù)據(jù)率，因?yàn)閮H能在處理鏈路的下游遠(yuǎn)處應(yīng)用能量選通。

本申請(qǐng)?zhí)峁┝诵碌慕?jīng)改進(jìn)的系統(tǒng)和方法，用于在核探測(cè)器模塊中包括處理電子線(xiàn)路，以提供可縮放的核探測(cè)器架構(gòu)，其克服了上述問(wèn)題和其他問(wèn)題。

根據(jù)一個(gè)方面，一種核掃描探測(cè)器系統(tǒng)，包括核掃描器，所述核掃描器包括多個(gè)核探測(cè)器和多個(gè)可移除地耦合到每個(gè)探測(cè)器的自主探測(cè)器模塊(adm)。每個(gè)adm包括：閃爍晶體陣列，其包括一個(gè)或多個(gè)閃爍晶體；一個(gè)或多個(gè)光探測(cè)器，其用于探測(cè)閃爍晶體陣列中的閃爍事件；以及處理模塊，其對(duì)每個(gè)探測(cè)到的閃爍事件加時(shí)間戳，執(zhí)行能量選通協(xié)議以區(qū)分經(jīng)受過(guò)康普頓散射的伽馬射線(xiàn)，并輸出帶時(shí)間戳的、經(jīng)能量選通的閃爍事件信息。

根據(jù)另一方面，一種減少核成像系統(tǒng)中下游數(shù)據(jù)處理需求的方法，包括在一個(gè)或多個(gè)自主探測(cè)器模塊(adm)中探測(cè)閃爍事件，對(duì)每個(gè)adm在模塊水平上對(duì)閃爍事件加時(shí)間戳，并在模塊水平上對(duì)閃爍事件執(zhí)行能量選通技術(shù)；輸出帶時(shí)間戳的、經(jīng)能量選通的閃爍事件信息。該方法還包括處理事件信息并將其重建成3d圖像體積。

根據(jù)另一方面，一種自主探測(cè)器模塊(adm)，包括閃爍晶體陣列；至少一個(gè)光探測(cè)器，其探測(cè)全部或一部分閃爍晶體陣列中的閃爍事件；以及處理模塊，其對(duì)探測(cè)到的閃爍事件加時(shí)間戳，對(duì)探測(cè)到的閃爍事件執(zhí)行能量選通技術(shù)，并輸出帶時(shí)間戳的、經(jīng)能量選通的閃爍事件信息。所述至少一個(gè)光探測(cè)器在第一側(cè)耦合到所有或一部分閃爍晶體陣列，并在第二側(cè)耦合到連接器。所述連接器可移除地將所述至少一個(gè)光探測(cè)器耦合到印刷電路板(pcb)，所述印刷電路板耦合到所述處理模塊。

一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于減少了下游的數(shù)據(jù)處理開(kāi)銷(xiāo)。

另一優(yōu)點(diǎn)在于，使用可替換和可互換探測(cè)器模塊的探測(cè)器架構(gòu)的縮放能力。

在閱讀并理解了下文詳細(xì)說(shuō)明的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到本創(chuàng)新的進(jìn)一步優(yōu)點(diǎn)。

本創(chuàng)新可以具體化為各種部件和部件布置，以及各種步驟和步驟安排。附圖僅用于圖示說(shuō)明各個(gè)方面，而不應(yīng)認(rèn)為其對(duì)本發(fā)明構(gòu)成限制。

圖1圖示了一種核成像系統(tǒng)，其包括具有多個(gè)探測(cè)器的核掃描器(例如，pet或spect掃描器)，每個(gè)探測(cè)器都包括自主探測(cè)器模塊(adm)的陣列，其結(jié)合了產(chǎn)生或探測(cè)經(jīng)能量選通的單次閃爍事件所需的所有處理電子線(xiàn)路。

圖2是根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面的adm及其各部件的圖示。

圖3圖示了曲線(xiàn)圖，其示出了探測(cè)到的單次事件對(duì)模塊尺寸的依賴(lài)性。

圖4圖示了根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面利用adm促成的可能pet系統(tǒng)架構(gòu)。

圖5圖示了根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面，在探測(cè)器模塊水平執(zhí)行閃爍事件加時(shí)間戳和能量選通，而非在下游處理探測(cè)到的閃爍事件的方法，以便減少下游的數(shù)據(jù)處理需求。

圖1圖示了一種核成像系統(tǒng)10，其包括具有多個(gè)機(jī)械探測(cè)器夾具(例如，探測(cè)器頭)13的核掃描器12(例如，pet或spect掃描器)，每個(gè)探測(cè)器都包括自主探測(cè)器模塊(adm)14的陣列，其結(jié)合了產(chǎn)生或探測(cè)經(jīng)能量選通的單次閃爍事件所需的所有處理電子線(xiàn)路。adm便于提供完全可縮放的核掃描器架構(gòu)，該架構(gòu)簡(jiǎn)化了系統(tǒng)設(shè)計(jì)并便于容易地實(shí)施不同的核掃描器幾何結(jié)構(gòu)。此外，adm便于降低下游處理電子線(xiàn)路中的數(shù)據(jù)率，使其尤其適用于高計(jì)數(shù)率應(yīng)用。

在掃描器12的檢查區(qū)域周?chē)ㄎ欢鄠€(gè)探測(cè)器夾具13，以對(duì)置于受檢者支撐物18上的受檢者或患者16成像。每個(gè)adm14包括多個(gè)輸入/輸出(i/o)管腳或連接器，包括用于向adm提供電能的電源連接20、輔助時(shí)間戳產(chǎn)生的時(shí)鐘連接22、經(jīng)由其配置adm的配置連接24以及經(jīng)由其輸出閃爍事件數(shù)據(jù)的輸出連接26。在一個(gè)實(shí)施例中，將i/o連接器捆扎到單個(gè)連接器或總線(xiàn)中。于是，adm在探測(cè)器外殼之內(nèi)包括用于產(chǎn)生或探測(cè)單次閃爍事件的一整套處理電子線(xiàn)路。這便于提供由電源饋電的自主模塊，包括系統(tǒng)時(shí)鐘和配置端口，且其輸出經(jīng)能量選通的單次閃爍事件。通過(guò)這種方式，adm為pet和spect探測(cè)器13提供了可縮放的構(gòu)建塊。

在spect成像中，由在探測(cè)器上每個(gè)坐標(biāo)處接收的輻射數(shù)據(jù)定義投影圖像表示。在spect成像中，準(zhǔn)直器界定沿其接收輻射的射線(xiàn)。在pet成像中，監(jiān)測(cè)探測(cè)器輸出以發(fā)現(xiàn)兩個(gè)探測(cè)器上的符合(coincidence)輻射事件。根據(jù)探測(cè)器的位置和取向以及探測(cè)器面上接收符合輻射的位置，計(jì)算符合事件探測(cè)點(diǎn)之間的射線(xiàn)或響應(yīng)線(xiàn)(lor)。這條射線(xiàn)界定了發(fā)生輻射事件的線(xiàn)。在pet和spec兩者t中，將來(lái)自多種角取向的探測(cè)器的輻射數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器30，由重建處理器32將輻射數(shù)據(jù)重建為感興趣區(qū)域的體積圖像表示，所述體積圖像表示存儲(chǔ)于體積圖像存儲(chǔ)器中。

在pet中，對(duì)adm14探測(cè)到的閃爍事件(例如，伽馬射線(xiàn)與一個(gè)或多個(gè)閃爍晶體的交互作用)加時(shí)間戳并進(jìn)行能量選通(例如，以與在被檢查受檢者體內(nèi)經(jīng)受過(guò)康普頓散射的伽馬射線(xiàn)區(qū)分，等等)，并輸出到符合探測(cè)部件28，符合探測(cè)部件28分析帶時(shí)間戳的閃爍事件信息以識(shí)別在核掃描期間與受檢者16體內(nèi)的公共湮滅事件對(duì)應(yīng)的閃爍事件對(duì)。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器30存儲(chǔ)原始閃爍事件信息、時(shí)間戳信息和/或其他采集的核掃描數(shù)據(jù)以及符合探測(cè)信息等。重建處理器32將核掃描數(shù)據(jù)重建成一幅或多幅核圖像，所述圖像被存儲(chǔ)到圖像存儲(chǔ)器34中并在用戶(hù)界面36上呈現(xiàn)。用戶(hù)界面包括一個(gè)或多個(gè)處理器38(例如，數(shù)據(jù)處理器、視頻處理器、圖形處理器等)和存儲(chǔ)器40，存儲(chǔ)器40便于在顯示器42上向用戶(hù)輸出核圖像數(shù)據(jù)以及接收和/或處理用戶(hù)輸入。

每個(gè)adm14包括閃爍器和光探測(cè)器的陣列(圖1中未示出)，連同適當(dāng)?shù)碾娐?，以?zhí)行信息處理的一部分。具體而言，在每個(gè)adm中針對(duì)探測(cè)到的閃爍事件執(zhí)行能量窗選通和加時(shí)間戳功能。這具有淘汰掉在被檢查對(duì)象內(nèi)經(jīng)受過(guò)一次或多次康普頓散射的伽馬射線(xiàn)事件的優(yōu)點(diǎn)。由于這種淘汰是在模塊水平上進(jìn)行的，所以大大減少了沿總線(xiàn)發(fā)送以進(jìn)一步處理的帶時(shí)間戳事件的數(shù)目。這一特征顯著減輕了下游部件上的處理負(fù)荷。具體而言，可以精簡(jiǎn)下游部件以包括符合探測(cè)和重建，而無(wú)需下游加時(shí)間戳和/或選通處理。

在一個(gè)實(shí)施例中，adm處理線(xiàn)路包括針對(duì)閃爍體陣列內(nèi)的康普頓散射的校正電路。由于閃爍體材料對(duì)伽馬輻射具有有限的阻止能力，所以伽馬射線(xiàn)有時(shí)在多個(gè)閃爍體晶體中沉積其能量。如果模塊過(guò)小，康普頓散射的輻射的很大部分可能部分沉積在兩個(gè)或更多不同模塊中，并可能由于在模塊水平上進(jìn)行能量選通而丟失。因此，模塊的尺寸在模塊尺寸和模塊能夠損耗得起的事件比例之間構(gòu)成一種折衷。尺寸取決于其中采用的閃爍體的密度或輻射阻止能力。在具有镥釔原硅酸鹽(lyso)或镥原硅酸鹽(lso)的7×7cm²的模塊或其變體(例如，摻鈰的變體等)中可以恢復(fù)大約97％的康普頓散射的輻射。可以在更大的模塊，諸如在10×10cm²的模塊中采用較低密度的閃爍體，諸如溴化鑭(labr)。更高密度的閃爍體，例如鍺酸鉍(bgo)閃爍體可以采用更小的元件陣列，例如4×4cm²的模塊。通常，模塊越小，每個(gè)模塊需要的處理能力越小，但可能丟失的數(shù)據(jù)越多。

在一個(gè)實(shí)施例中，adm14可以被劃分成更小的有效模塊，例如2×2或4×4模塊。閃爍體/探測(cè)器組合可以包括anger-邏輯配置，包括閃爍體和探測(cè)器之間的光導(dǎo)或一對(duì)一耦合。在另一實(shí)施例中，每個(gè)adm包括閃爍體和二極管布置以及板上處理電路，以測(cè)量交互作用的深度。在又一實(shí)施例中，模塊上電路包括閃速存儲(chǔ)器，其可以存儲(chǔ)數(shù)據(jù)校正表、緩存數(shù)據(jù)等。在又一實(shí)施例中，探測(cè)器元件和處理電子線(xiàn)路共享同一pcb的兩側(cè)。

使用標(biāo)準(zhǔn)化的adm使得能夠利用預(yù)先校準(zhǔn)的adm替換探測(cè)器模塊，這減輕了重新校準(zhǔn)掃描器的需求。例如，如果判定adm是不合格的(例如，基于來(lái)自adm的信號(hào)不良或缺失等)，那么發(fā)送故障信號(hào)以提示技術(shù)人員等adm有故障，然后技術(shù)人員利用新的預(yù)先校準(zhǔn)的adm替換。此外，使用標(biāo)準(zhǔn)化的adm便于掃描器的設(shè)計(jì)。這樣也便于開(kāi)發(fā)具有不同尺寸的閃爍體和探測(cè)器的模塊，用于實(shí)現(xiàn)不同的靈敏度和空間分辨率。標(biāo)準(zhǔn)化的模塊方法使得能夠在同一掃描器中使用不同尺寸的模塊。類(lèi)似地，可以更換出掃描器內(nèi)的模塊以改變其分辨率，而無(wú)需重新校準(zhǔn)。

圖2是根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面的adm14及其各部件的圖示。adm包括印刷電路板(pcb)62上的處理模塊60(例如，一個(gè)或多個(gè)處理器和關(guān)聯(lián)的存儲(chǔ)器)。處理模塊60上存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(fpga)等，用于對(duì)探測(cè)到的閃爍事件加時(shí)間戳和選通。此外或備選地，處理模塊具有一個(gè)或多個(gè)專(zhuān)用集成電路(asic)，用于對(duì)探測(cè)到的閃爍事件加時(shí)間戳和選通。此外或備選地，時(shí)間戳電路被集成到光探測(cè)器中，輸出針對(duì)時(shí)間戳的數(shù)字值和命中處理電路的伽馬射線(xiàn)能量。

多個(gè)固態(tài)光探測(cè)器64，例如硅光電倍增器(sipm)、雪崩光電二極管(apd)等的陣列或瓦塊(tile)，耦合到閃爍晶體陣列66的相應(yīng)部分。在圖2中，每個(gè)光探測(cè)器耦合到8×8區(qū)段的晶體，并且四個(gè)圖示的瓦塊組合形成16×16晶體陣列66。每個(gè)光探測(cè)器64還耦合到連接器68，連接器68將光探測(cè)器64連接到pcb62，從而連接到包含一個(gè)或多個(gè)asic和/或fpga的處理模塊60。備選地，探測(cè)器元件和處理電子線(xiàn)路共享同一pcb的兩側(cè)。盡可能接近邊緣地利用sipm和apd填充面對(duì)每個(gè)瓦塊的面的閃爍體。通過(guò)這種方式，可以密集地堆積瓦塊，同時(shí)在瓦塊上維持一致的像素尺寸和周期性。盡管以矩形網(wǎng)格示出，但瓦塊可以是偏移的，例如偏移的排或列。

由于是在模塊水平上進(jìn)行的能量分群(例如，從單個(gè)伽馬光子探測(cè)和聚集多個(gè)閃爍事件)，所以也在模塊水平上進(jìn)行能量選通。根據(jù)患者或受檢者的大小，這便于將下游電子線(xiàn)路要處理的數(shù)據(jù)率減小5到10倍。模塊的數(shù)據(jù)輸出提供完整信息以表征事件，包括交互晶體身份(例如，探測(cè)到閃爍事件的一個(gè)或多個(gè)晶體的身份或坐標(biāo))、能量和時(shí)間戳信息。因此，可以將所有個(gè)體adm的輸出插入到單個(gè)符合探測(cè)電路(例如用于pet)中，或直接用于重建(例如，用于spect)。

在一個(gè)實(shí)施例中，可以在adm14中逐一更換個(gè)體光探測(cè)器64(以及它們關(guān)聯(lián)的模塊的晶體陣列66的區(qū)段)。例如，連接器68既能夠通過(guò)pcb62向處理模塊60提供電連接，又能夠?yàn)閜cb提供機(jī)械連接，以便能夠在探測(cè)器64故障時(shí)可以移除光探測(cè)器64進(jìn)行更換。此外，或備選地，每個(gè)adm14可移除地耦合到其探測(cè)器13(圖1)上，使得可以移除并更換特定的adm，以確保探測(cè)器上的adm陣列中的所有adm都可以工作。

在另一實(shí)施例中，在給定的探測(cè)器上采用不同尺寸的adm，以便于生成改變了幾何結(jié)構(gòu)和/或靈敏度的探測(cè)器表面。

在另一實(shí)施例中，將來(lái)自獨(dú)立模塊的讀出數(shù)據(jù)提供給符合探測(cè)電子線(xiàn)路(未示出)。在模塊足夠小(例如，8×8晶體陣列或一些其他較小陣列尺寸)，使得可以在兩個(gè)或更多相鄰模塊探測(cè)到康普頓事件時(shí)，相鄰adm的處理模塊能夠采用最近鄰類(lèi)型的通信協(xié)議來(lái)決定哪個(gè)處理模塊處理康普頓型的數(shù)據(jù)。

在又一實(shí)施例中，每個(gè)處理模塊60包括閃速存儲(chǔ)器(未示出)，閃速存儲(chǔ)器上存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)校正表，用于處理閃爍事件數(shù)據(jù)。校正表便于解釋康普頓散射等。

圖3圖示了曲線(xiàn)圖80，其示出了探測(cè)到的單次事件對(duì)陣列尺寸的依賴(lài)性。該曲線(xiàn)圖示出了根據(jù)間距為4.1mm的4×4mm²像素的lyso閃爍體晶體陣列的像素讀出面積繪制的每像素探測(cè)到的閃爍事件百分比。對(duì)于更小的模塊，進(jìn)入相鄰模塊的康普頓散射導(dǎo)致單次事件探測(cè)靈敏度的損失。對(duì)于16×16晶體的模塊陣列尺寸，由于進(jìn)入相鄰模塊的康普頓散射，所有單次事件中少到僅3％會(huì)損失，構(gòu)成大約7×7cm²的適當(dāng)模塊大小。

由于能量選通是在adm中執(zhí)行的，所以希望確保進(jìn)入相鄰模塊的康普頓散射不會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)靈敏度的損失。系統(tǒng)模擬曲線(xiàn)圖80示出，對(duì)于16×16晶體的模塊大小(例如，每個(gè)4×4mm²)而言，由于進(jìn)入相鄰模塊中的康普頓散射，僅損失所有單次事件中的大約3％。這幅圖示出，7×7cm²的模塊大小構(gòu)成適當(dāng)?shù)哪K大小。

通常，模塊大小是閃爍材料密度的函數(shù)。例如，當(dāng)使用lyso或lso閃爍材料時(shí)，可以采用16×16晶體陣列。在使用labr閃爍材料時(shí)，可以采用24×24晶體陣列。在另一范例中，當(dāng)使用bgo閃爍材料時(shí)，采用8×8晶體陣列。應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，晶體陣列尺寸的以上范例本質(zhì)上是例示性的，意在例示隨著閃爍密度增加，所選的模塊大小可能減小。

圖4圖示了根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面利用adm14促成的可能pet系統(tǒng)架構(gòu)100。符合探測(cè)電路28從多個(gè)探測(cè)器模塊14接收經(jīng)能量選通的單次事件數(shù)據(jù)。由于能量選通是在模塊水平上進(jìn)行的，所以與經(jīng)典架構(gòu)相比，將輸入到符合探測(cè)電路中的數(shù)據(jù)率降低了5到10倍(取決于患者大小)。一旦進(jìn)行了符合探測(cè)，就向重建處理器32提供成對(duì)的經(jīng)能量選通的閃爍事件數(shù)據(jù)，重建處理器重建解剖學(xué)圖像以向用戶(hù)顯示。

圖5圖示了根據(jù)本文所述的一個(gè)或多個(gè)方面，在探測(cè)器模塊水平上執(zhí)行閃爍事件加時(shí)間戳和能量選通而非在下游處理探測(cè)到的閃爍事件的方法，以便減少下游的數(shù)據(jù)處理需求。在90，在adm14中探測(cè)閃爍事件。在92，在模塊水平上，例如通過(guò)adm中處理器模塊中包括的加時(shí)間戳電路對(duì)閃爍事件信息加時(shí)間戳。在94，在模塊水平上對(duì)閃爍事件(例如，通過(guò)在其中探測(cè)到閃爍事件的adm)進(jìn)行能量選通。在96，輸出加了時(shí)間戳、經(jīng)能量選通的閃爍事件信息用于進(jìn)行處理和/或重建。通過(guò)在adm處對(duì)閃爍事件信息加時(shí)間戳和進(jìn)行能量選通，從下游處理流程中消除了這些處理動(dòng)作，由此提高了重建速度。在98，將帶時(shí)間戳并經(jīng)能量選通的閃爍事件信息重建成3d圖像體積。

在一個(gè)實(shí)施例中，該方法還包括對(duì)輸出的閃爍事件信息執(zhí)行符合探測(cè)算法，以在重建3d圖像體積之前識(shí)別對(duì)應(yīng)的閃爍事件對(duì)。

在另一實(shí)施例中，該方法包括判定adm發(fā)生故障(例如，通過(guò)探測(cè)沒(méi)有來(lái)自那里的信號(hào)，或通過(guò)任何其他適當(dāng)方式)，并發(fā)送故障信號(hào)，提示技術(shù)人員一個(gè)或多個(gè)adm發(fā)生故障。然后，技術(shù)人員能夠利用新的預(yù)先校準(zhǔn)的adm更換故障的adm。

可以將所述系統(tǒng)和方法應(yīng)用于pet和spect探測(cè)器。完整的可縮放架構(gòu)實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)化的系統(tǒng)設(shè)計(jì)并促進(jìn)了掃描器的幾何設(shè)計(jì)自由度。這又導(dǎo)致下游電子線(xiàn)路必須處理的數(shù)據(jù)率顯著降低。尤其對(duì)于高計(jì)數(shù)率應(yīng)用而言，所述系統(tǒng)和方法減輕了對(duì)高帶寬處理電子線(xiàn)路的需求。

此外，可以在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)上將所述的方法作為由一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令。

已經(jīng)參考若干實(shí)施例描述了本創(chuàng)新。在閱讀并理解了前述詳細(xì)說(shuō)明的同時(shí)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到修改和變化。這意味著，應(yīng)當(dāng)將本創(chuàng)新推斷為包括所有此類(lèi)落在權(quán)利要求及其等同要件的范圍內(nèi)的修改和變化。