技術(shù)特征：

1.便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置，其特征在于，包括光源(1)、反射式準(zhǔn)直鏡(22)、反射鏡(3)、以及反饋成像系統(tǒng)(6)，所述反射鏡(3)上設(shè)置有角度調(diào)整測(cè)量裝置(4)；光源(1)出射的光束，經(jīng)過反射式準(zhǔn)直鏡(22)準(zhǔn)直成平行光束后，再由反射鏡(3)反射，入射到被測(cè)物(5)的表面；從被測(cè)物(5)表面反射的光束，再經(jīng)過反射鏡(3)反射后，由反饋成像系統(tǒng)(6)采集成像；

所述反饋成像系統(tǒng)(6)為以下兩種形式中的：

第一、設(shè)置在光源(1)與反射式準(zhǔn)直鏡(22)之間，包括第一反饋分光鏡(61)、以及設(shè)置在反射式準(zhǔn)直鏡(22)焦面的四象限探測(cè)器(66)和多個(gè)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)，所述單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)成陣列分布，四象限探測(cè)器(66)既位于陣列中心、又位于反饋成像系統(tǒng)(6)光軸上；從被測(cè)物(5)表面反射的光束，再經(jīng)過反射鏡(3)反射后，先后經(jīng)過反射式準(zhǔn)直鏡(22)透射、第一反饋分光鏡(61)反射、由四象限探測(cè)器(66)或單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)采集成像；

第二、設(shè)置在反射式準(zhǔn)直鏡(22)與反射鏡(3)之間，包括第一反饋分光鏡(61)、第一反饋物鏡(63)和設(shè)置在反射式準(zhǔn)直鏡(22)焦面的四象限探測(cè)器(66)和多個(gè)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)，所述單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)成陣列分布，四象限探測(cè)器(66)既位于陣列中心、又位于反饋成像系統(tǒng)(6)光軸上；從被測(cè)物(5)表面反射的光束，再經(jīng)過反射鏡(3)反射后，先后經(jīng)過第一反饋分光鏡(61)反射、第一反饋物鏡(63)透射、由四象限探測(cè)器(66)或單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)采集成像；

所述角度調(diào)整測(cè)量裝置(4)包括設(shè)置在反射鏡(3)上的角度調(diào)整裝置、角度偏轉(zhuǎn)測(cè)量裝置、以及萬向軸(43)，角度調(diào)整裝置包括第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)；角度偏轉(zhuǎn)測(cè)量裝置包括第一金屬片(421)、第二金屬片(422)、對(duì)應(yīng)第一金屬片(421)位置的第一電容傳感器(423)、以及對(duì)應(yīng)第二金屬片(422)位置的第二電容傳感器(424)；第一驅(qū)動(dòng)器(411)、第一金屬片(421)、以及萬向軸(43)在一條直線上，第二驅(qū)動(dòng)器(412)、第二金屬片(422)、以及萬向軸(43)在一條直線上，并且第一驅(qū)動(dòng)器(411)與萬向軸(43)的連線垂直第二驅(qū)動(dòng)器(412)與萬向軸(43)的連線。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置，其特征在于，還包括波前探測(cè)系統(tǒng)(7)和波前補(bǔ)償系統(tǒng)(8)；

所述波前探測(cè)系統(tǒng)(7)包括波前探測(cè)分光鏡(71)、以及空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)和反射鏡形變波前探測(cè)器(73)中的至少一個(gè)；所述波前探測(cè)分光鏡(71)設(shè)置在反射鏡(3)與被測(cè)物(5)之間，空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)設(shè)置在波前探測(cè)分光鏡(71)的反射光路上，反射鏡形變波前探測(cè)器(73)設(shè)置在反射鏡(3)的二次反射光路上；

所述波前補(bǔ)償系統(tǒng)(8)包括補(bǔ)償光源(81)、補(bǔ)償準(zhǔn)直鏡(82)、以及透射式液晶空間光調(diào)制器(83)；補(bǔ)償光源(81)出射的光束，經(jīng)過補(bǔ)償準(zhǔn)直鏡(82)準(zhǔn)直成平行光束后，再由透射式液晶空間光調(diào)制器(83)調(diào)制，入射到波前探測(cè)分光鏡(71)上。

3.在權(quán)利要求1所述便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置上實(shí)現(xiàn)的便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟a、點(diǎn)亮光源(1)，反饋成像系統(tǒng)(6)成像，如果：

第一、得到的點(diǎn)像位于單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)所在區(qū)域，根據(jù)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)坐標(biāo)，得到點(diǎn)像偏離像面中心方向，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，進(jìn)入步驟b；

第二、得到的點(diǎn)像位于四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，直接進(jìn)入步驟b；

步驟b、四象限探測(cè)器(66)成像，得到步驟a結(jié)束后點(diǎn)像偏離四象限探測(cè)器(66)像面中心位置Δx和Δy，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)像面中心位置；

步驟c、讀取第一電容傳感器(423)的電容變化ΔC1，以及第二電容傳感器(424)的電容變化ΔC2，再轉(zhuǎn)換為反射鏡(3)的角度變化Δθ和進(jìn)而得到被測(cè)物(5)表面的角度變化Δα和Δβ；其中，Δθ＝f1(ΔC1,ΔC2)，和f1、f2、f3、f4表示4個(gè)函數(shù)。

4.在權(quán)利要求2所述便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置上實(shí)現(xiàn)的便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直方法，要求波前探測(cè)系統(tǒng)(7)僅包括波前探測(cè)分光鏡(71)和空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)；

其特征在于，包括以下步驟：

步驟a、選取表面垂直于光軸方向的參考物；

步驟b、點(diǎn)亮光源(1)，將步驟a所選擇的參考物分別放置在工作位置A和近工作位置B，空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)分別得到GA和GB兩組數(shù)據(jù)；

步驟c、G1＝GA-GB，得到空氣擾動(dòng)造成的波前變化；

步驟d、按照f5(G1)調(diào)整透射式液晶空間光調(diào)制器(83)參數(shù)，點(diǎn)亮補(bǔ)償光源(81)，補(bǔ)償空氣擾動(dòng)；

步驟e、點(diǎn)亮光源(1)，反饋成像系統(tǒng)(6)成像，如果：

第一、得到的點(diǎn)像位于單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)所在區(qū)域，根據(jù)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)坐標(biāo)，得到點(diǎn)像偏離像面中心方向，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，進(jìn)入步驟f；

第二、得到的點(diǎn)像位于四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，直接進(jìn)入步驟f；

步驟f、四象限探測(cè)器(66)成像，得到步驟a結(jié)束后點(diǎn)像偏離四象限探測(cè)器(66)像面中心位置Δx和Δy，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)像面中心位置；

步驟g、讀取第一電容傳感器(423)的電容變化ΔC1，以及第二電容傳感器(424)的電容變化ΔC2，再轉(zhuǎn)換為反射鏡(3)的角度變化Δθ和進(jìn)而得到被測(cè)物(5)表面的角度變化Δα和Δβ；其中，Δθ＝f1(ΔC1,ΔC2)，和f1、f2、f3、f4表示4個(gè)函數(shù)。

5.在權(quán)利要求2所述便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置上實(shí)現(xiàn)的便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直方法，要求波前探測(cè)系統(tǒng)(7)僅包括波前探測(cè)分光鏡(71)和反射鏡形變波前探測(cè)器(73)；

其特征在于，包括以下步驟：

步驟a、選取表面垂直于光軸方向的參考物；

步驟b、點(diǎn)亮光源(1)，將步驟a所選擇的參考物分別放置在工作位置A和近工作位置B，反射鏡形變波前探測(cè)器(73)分別得到GC和GD兩組數(shù)據(jù)；

步驟c、G2＝GC-GD，得到空氣擾動(dòng)和反射鏡形變共同造成的波前變化；

步驟d、按照f5(G2)調(diào)整透射式液晶空間光調(diào)制器(83)參數(shù)，點(diǎn)亮補(bǔ)償光源(81)，補(bǔ)償空氣擾動(dòng)和反射鏡形變；

步驟e、反饋成像系統(tǒng)(6)成像，如果：

第一、得到的點(diǎn)像位于單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)所在區(qū)域，根據(jù)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)坐標(biāo)，得到點(diǎn)像偏離像面中心方向，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，進(jìn)入步驟f；

第二、得到的點(diǎn)像位于四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，直接進(jìn)入步驟f；

步驟f、四象限探測(cè)器(66)成像，得到步驟a結(jié)束后點(diǎn)像偏離四象限探測(cè)器(66)像面中心位置Δx和Δy，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)像面中心位置；

步驟g、讀取第一電容傳感器(423)的電容變化ΔC1，以及第二電容傳感器(424)的電容變化ΔC2，再轉(zhuǎn)換為反射鏡(3)的角度變化Δθ和進(jìn)而得到被測(cè)物(5)表面的角度變化Δα和Δβ；其中，Δθ＝f1(ΔC1,ΔC2)，和f1、f2、f3、f4表示4個(gè)函數(shù)。

6.在權(quán)利要求2所述便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直裝置上實(shí)現(xiàn)的便攜式便攜式陣列調(diào)零高精度大工作距自準(zhǔn)直方法，要求波前探測(cè)系統(tǒng)(7)同時(shí)包括波前探測(cè)分光鏡(71)、空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)和反射鏡形變波前探測(cè)器(73)；

其特征在于，包括以下步驟：

步驟a、選取表面垂直于光軸方向的參考物；

步驟b、點(diǎn)亮光源(1)，將步驟a所選擇的參考物分別放置在工作位置A和近工作位置B，空氣擾動(dòng)波前探測(cè)器(72)分別得到GA和GB兩組數(shù)據(jù)，反射鏡形變波前探測(cè)器(73)分別得到GC和GD兩組數(shù)據(jù)；

步驟c、G1＝GA-GB，得到空氣擾動(dòng)造成的波前變化；G2＝GC-GD，得到空氣擾動(dòng)和反射鏡形變共同造成的波前變化；G＝G2-G1，得到反射鏡形變?cè)斐傻牟ㄇ白兓?/p>

步驟d、

按照f5(G1)調(diào)整透射式液晶空間光調(diào)制器(83)參數(shù)，點(diǎn)亮補(bǔ)償光源(81)，補(bǔ)償空氣擾動(dòng)；

或

按照f5(G2)調(diào)整透射式液晶空間光調(diào)制器(83)參數(shù)，點(diǎn)亮補(bǔ)償光源(81)，補(bǔ)償空氣擾動(dòng)和反射鏡形變；

或

按照f5(G)調(diào)整透射式液晶空間光調(diào)制器(83)參數(shù)，點(diǎn)亮補(bǔ)償光源(81)，補(bǔ)償反射鏡形變；

步驟e、反饋成像系統(tǒng)(6)成像，如果：

第一、得到的點(diǎn)像位于單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)所在區(qū)域，根據(jù)單像素光電轉(zhuǎn)換器(67)坐標(biāo)，得到點(diǎn)像偏離像面中心方向，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，進(jìn)入步驟f；

第二、得到的點(diǎn)像位于四象限探測(cè)器(66)所在區(qū)域，直接進(jìn)入步驟f；

步驟f、四象限探測(cè)器(66)成像，得到步驟a結(jié)束后點(diǎn)像偏離四象限探測(cè)器(66)像面中心位置Δx和Δy，利用第一驅(qū)動(dòng)器(411)和第二驅(qū)動(dòng)器(412)調(diào)整反射鏡(3)角度，使點(diǎn)像回到四象限探測(cè)器(66)像面中心位置；

步驟g、讀取第一電容傳感器(423)的電容變化ΔC1，以及第二電容傳感器(424)的電容變化ΔC2，再轉(zhuǎn)換為反射鏡(3)的角度變化Δθ和進(jìn)而得到被測(cè)物(5)表面的角度變化Δα和Δβ；其中，Δθ＝f1(ΔC1,ΔC2)，和f1、f2、f3、f4表示4個(gè)函數(shù)。