本發(fā)明屬于檢測技術(shù)領(lǐng)域。具體涉及一種新型架構(gòu)的光強度檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

LED作為21世紀綠色照明新光源，具有亮度高、壽命長、節(jié)能環(huán)保等優(yōu)點；目前國內(nèi)已形成7個國家半導(dǎo)體照明工程產(chǎn)業(yè)化基地，成為世界照明電器的生產(chǎn)大國和出口大國，如何對半導(dǎo)體照明產(chǎn)品進行檢測成為檢測實驗室建設(shè)中的一個重要方面。

光強是光源的一個基本屬性，它考慮了人的視覺因素和光學(xué)特點，同時也是光源的屬性；光源光強探測是光電企業(yè)重點研究的項目之一；在我國能源壓力日趨嚴峻的形勢下，加快新光源產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，促進節(jié)能減排，保障新光源產(chǎn)品的質(zhì)量，是可持續(xù)發(fā)展的必然選擇。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

技術(shù)問題：針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明提供一種新型架構(gòu)的光強度檢測系統(tǒng)。

技術(shù)方案：本發(fā)明涉及一種新型架構(gòu)的光強度檢測系統(tǒng)，包括主機模塊、光強采集模塊、從機核心控制器和顯示模塊；系統(tǒng)主機應(yīng)用C#編程語言實現(xiàn)程序?qū)Τ炭仉娫?、PLC、光強板的控制和數(shù)據(jù)接收、處理，并進行光強標定和二次校準，實現(xiàn)數(shù)據(jù)在極坐標、直角坐標和數(shù)據(jù)列表中顯示。

一種新型架構(gòu)的光強度檢測系統(tǒng)，其特征是：

所述光強采集模塊由信號調(diào)理電路、A/D轉(zhuǎn)換器、MCU、復(fù)位電路和PSU電源模塊組成。

所述從機核心控制器采用以ARM CortexM3為內(nèi)核的STM32F107芯片。

本發(fā)明具有以下有益效果：

1、本發(fā)明系統(tǒng)采用主從式光強度檢測系統(tǒng)測試結(jié)果精確，可廣泛應(yīng)用于光源與照明的檢測領(lǐng)域。

2、本發(fā)明系統(tǒng)對接收到的數(shù)據(jù)做優(yōu)化處理并轉(zhuǎn)換為需要的格式，樣品測試的曲線分別在極坐標、直角坐標和數(shù)據(jù)列表中顯示，便于數(shù)據(jù)分析。

附圖說明

圖1為本發(fā)明系統(tǒng)整體結(jié)構(gòu)框圖。

圖2為本發(fā)明中光強采集電路框圖。

圖3為本發(fā)明中數(shù)據(jù)處理流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖及實施例進一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。

如圖1所示，一種新型架構(gòu)的光強度檢測系統(tǒng)，包括主機模塊、光強采集模塊、從機核心控制器和顯示模塊；系統(tǒng)主機應(yīng)用C#編程語言實現(xiàn)程序?qū)Τ炭仉娫?、PLC、光強板的控制和數(shù)據(jù)接收、處理，并進行光強標定和二次校準，實現(xiàn)數(shù)據(jù)在極坐標、直角坐標和數(shù)據(jù)列表中顯示。

如圖2所示，所述光強采集模塊由信號調(diào)理電路、A/D轉(zhuǎn)換器、MCU、復(fù)位電路和PSU電源模塊組成；模數(shù)轉(zhuǎn)換電路采用AD7356芯片，由于模數(shù)轉(zhuǎn)換的工作特性，會出現(xiàn)混疊現(xiàn)象，而AD7356芯片本身自帶抗混疊濾波器，有利于電路的設(shè)計；此外，轉(zhuǎn)換器芯片內(nèi)置的輸入鉗位保護電路可以承受高達±16.5V的電壓，是具有高輸入阻抗和片內(nèi)濾波功能的單電源，因此不需要外加雙極性電源以及驅(qū)動運算放大器。

如圖3所示，光強板通電時，電路中有暗電流和噪聲等干擾信號，如果測試的環(huán)境并不是全黑暗的條件，外界也會出現(xiàn)干擾信號，把干擾信號過濾，需要進行包括暗電流與噪聲的背景檢測；背景檢測的條件與常規(guī)檢測的條件應(yīng)保持一致，但光源應(yīng)處于關(guān)閉狀態(tài)，將讀取的背景信號保存至配置文件中；常規(guī)測試讀取到的信號減去背景信號得到光源的光強信號，這時得到的光強信號只是相對值，與實際光強值存在一定函數(shù)關(guān)系，因此需要通過光強板測量標準燈的數(shù)據(jù)，再與標準燈的真實數(shù)據(jù)進行匹配，計算出光強標定系數(shù)，利用光強標定系數(shù)標定待測光源的光強值。