本發(fā)明涉及線纜測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地涉及一種線纜測試儀及其測試方法。

背景技術(shù)：

線纜測試儀，是一種檢測線纜通斷狀態(tài)的儀器，通過該線纜測試儀可以幫助工作人員及時查找故障。目前，現(xiàn)有的線纜測試儀的工作電流一般在5mA以上，而其本身所配備的電池規(guī)格為9V 300mAH。鑒于此，現(xiàn)有的電池只能保證線纜測試儀的工作時間為60小時左右。因此，線纜測試儀中增設(shè)了一開關(guān)，用于在待機狀態(tài)下切斷電源，從而延長工作時間。

但由于開關(guān)的增設(shè)，必然加大了線纜測試儀的制造成本，同時需要為開關(guān)預(yù)留一安裝空間，這樣也會增大整個線纜測試儀的體積。另外，目前的線纜測試儀一般都具有RJ45和RJ11兩個線纜接口，使得測試儀不具備通用性，且兩個線纜接口的設(shè)置也加大了制作成本。

此外，現(xiàn)有的線纜測試儀在進行線纜測試時，不管芯線是否通斷，都會進行延時等待。具體地，如線纜測試儀中有8個LED顯示燈，測試時，線纜測試儀會按照1、2、3、4、5、6、7、8的順序依次點亮LED燈，若某個LED燈對應(yīng)的芯線處于斷開狀態(tài)，那么該LED燈不會被點亮，但仍然需要延時等待后才繼續(xù)檢測下一條芯線的通斷狀態(tài)，若某個LED燈對應(yīng)的芯線處于接通狀態(tài)，那么該LED燈會被點亮并進行延時等待后才繼續(xù)檢測下一條芯線的通斷狀態(tài)。該測試方法，極大地降低了測試效率及工作人員的工作效率。

因此，有必要提供一種新型的線纜測試儀及其測試方法來克服上述缺陷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種線纜測試儀，以降低制作成本及延長工作時間。

本發(fā)明的另一目的是提供一種線纜測試方法，以提高測試效率及工作人員的工作效率。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種線纜測試儀，包括與被測線纜連接的主機和子機。其中，主機包括主電路板、降壓芯片、微控制芯片、主LED陣列、電池及一線纜接口，降壓芯片、微控制芯片、主LED陣列及線纜接口均設(shè)置于主電路板，降壓芯片及主LED陣列均與微控制芯片連接，電池與主電路板連接，子機包括子電路板、子LED陣列及一線纜接口，子LED陣列及線纜接口均設(shè)置于子電路板，子LED陣列與微控制芯片連接，線纜測試儀的靜態(tài)工作電流小于10微安。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，使用本發(fā)明的線纜測試儀時，先將被測線纜插入主機和子機的線纜接口中，微控制芯片會判斷被測線纜的芯線的通斷狀態(tài)，并根據(jù)通斷狀態(tài)是否點亮芯線對應(yīng)的主LED陣列及子LED陣列中的LED燈。由于該線纜測試儀的靜態(tài)工作電流小于10微安，因此線纜測試儀通用的9V 300mAH可持續(xù)使用12500天，約34年，極大地延長了工作時間。且取消了開關(guān)，節(jié)約了制造成本。此外，由于線纜測試儀的主機及子機上均只有一個線纜接口，使得該線纜測試儀具有很強的通用性，也極大地降低了制作成本。

具體地，主機還包括第一半殼及第二半殼，第一半殼及第二半殼相扣合以形成主機的第一外殼，主電路板、降壓芯片、微控制芯片、主LED陣列及電池均位于第一外殼內(nèi)，線纜接口位于第一外殼的一側(cè)壁。

具體地，第一半殼的一側(cè)壁上開設(shè)有第一半槽，第二半殼的一側(cè)壁上開設(shè)有第二半槽，第一半殼及第二半殼扣合后，第一半槽及第二半槽形成一滑槽，且滑槽與線纜接口位于第一外殼不同的側(cè)壁上。

具體地，子機還包括第三半殼及第四半殼，第三半殼及第四半殼相扣合以形成子機的第二外殼，子電路板及子LED陣列位于第二外殼內(nèi)，線纜接口位于第二外殼的一側(cè)壁。

較佳地，第三半殼的一側(cè)壁上形成有第一突出部，第四半殼的一側(cè)壁上形成有第二突出部，第三半殼及第四半殼扣合后，第一突出部及第二突出部形成一插入部，且插入部與線纜接口位于第二外殼不同的側(cè)壁上，插入部插入主機的滑槽內(nèi)。

較佳地，第一半殼及第三半殼上均設(shè)有通孔，主LED陣列及子LED陣列分別與通孔對正。

較佳地，主LED陣列貼裝于主電路板，子LED陣列貼裝于子電路板。在現(xiàn)有的線纜測試儀機型中，均是使用插件的LED。而本發(fā)明中是在線纜測試儀中首次使用貼片式元件，降低了制作成本，同時提高了工作效率。

較佳地，線纜接口為RJ45接口。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種線纜測試方法，包括：

(1)進入待機省電模式以等待外部觸發(fā)喚醒線纜測試儀，其中，線纜測試儀包括主機與子機，主機包括主電路板、降壓芯片、微控制芯片、主LED陣列、電池及一線纜接口，降壓芯片、微控制芯片、主LED陣列及線纜接口均設(shè)置于主電路板，降壓芯片及主LED陣列均與微控制芯片連接，電池與主電路板連接，子機包括子電路板、子LED陣列及一線纜接口，子LED陣列及線纜接口均設(shè)置于子電路板，子LED陣列與微控制芯片連接；

(2)微控制芯片檢測主機與子機的線纜接口是否均有被測線纜插入；

(3)當(dāng)有被測線纜插入時，微控制芯片判斷被測線纜的第一芯線的通斷狀態(tài)，反之則進入待機省電模式；

(4)當(dāng)?shù)谝恍揪€處于接通狀態(tài)時，點亮主LED陣列及子LED陣列中的第一顆LED燈并進行延時后執(zhí)行步驟(5)，反之，執(zhí)行步驟(5)；

(5)微控制芯片判斷被測線纜的第二芯線的通斷狀態(tài)，根據(jù)第二芯線的通斷狀態(tài)，點亮主LED陣列及子LED陣列中的LED燈、進行延時后判斷下一條芯線的通斷狀態(tài)，或直接判斷下一條芯線的通斷狀態(tài)；

(6)重復(fù)步驟(5)直至被測線纜的最后一條芯線的通斷狀態(tài)被檢測。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測試方法先進入待機省電模式，微控制芯片檢測主機與子機的線纜接口是否均有被測線纜插入，當(dāng)有時，微控制芯片判斷第一芯線的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，則點亮主LED陣列及子LED陣列中的第一顆LED燈并進行一定延時后開始繼續(xù)檢測下一條芯線的通斷狀態(tài)，當(dāng)?shù)谝恍揪€處于斷開狀態(tài)時，則不需延時等待，直接開始檢測下一條芯線的通斷狀態(tài)，重復(fù)上述步驟，直至被測線纜中的最后一條芯線被檢測。即，本發(fā)明的測試方法只有在檢測出芯線處于接通狀態(tài)時才點亮LED燈并進行延時等待，而在檢測出芯線處于斷開狀態(tài)時不需要延時等待，而是直接繼續(xù)檢測下一條芯線。因此，通過該測試方法極大地提高了測試效率以及工作人員的工作效率。

可選地，被測線纜為兩芯線、四芯線、六芯線或八芯線。

通過以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實施例。

附圖說明

圖1為本發(fā)明線纜測試儀的立體圖。

圖2為圖1中主機和子機分開后的立體圖。

圖3為圖2另一角度的結(jié)構(gòu)圖。

圖4為圖2中主機的分解圖。

圖5為圖2中子機的分解圖。

圖6為本發(fā)明線纜測試儀的使用狀態(tài)圖。

圖7為線纜測試儀的電路圖。

圖8為本發(fā)明線纜測試方法的流程圖。

圖9為本發(fā)明測試八芯線時的流程圖。

圖10為現(xiàn)有測試方法流程圖。

具體實施方式

現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實施例，附圖中類似的元件標號代表類似的元件。

請參考圖1，本發(fā)明的線纜測試儀包括與被測線纜連接的主機100和子機200。其中，該線纜測試儀的靜態(tài)工作電流小于10微安。

具體地，請參考圖4，主機100包括第一外殼10、主電路板11、電池12及一線纜接口13，主電路板11及電池12均位于第一外殼10內(nèi)，線纜接口13位于第一外殼10的一側(cè)壁并與主電路板12連接。進一步地，主電路板11上安裝有如圖7所示的降壓芯片U1、微控制芯片U2及主LED陣列。

如圖7所示，降壓芯片U1的1端為輸入端，其外接+9V電壓，3端為接地端，其接地，2端為輸出端，其輸出+5V電壓并接入微控制芯片U2的引腳4。即降壓芯片U1將9V的電壓進行降壓處理后作為微控制芯片U1的工作電壓。具體地，微控制芯片U1的引腳5和6分別通過電阻R18和R19接地，引腳7和11作為接地端，且引腳1、5、6、14、13、12、10、9和8分別對應(yīng)輸出端X0、X8、X7、X1、X2、X3、X4、X5和X6。進一步地，X0～X8分別對應(yīng)地與LED D30～D23連接，且連接后的一端均經(jīng)過電阻R15后接入微控制芯片U2的PUBLIC公共端(即微控制芯片14的引腳2)。需要說明的是，圖7中的D23～D30構(gòu)成了本發(fā)明的主LED陣列。

再請參考圖4，第一外殼10包括第一半殼101及第二半殼102，兩者相扣合以形成第一外殼10。具體地，第一半殼101的一側(cè)壁上開設(shè)有第一半槽1011，第二半殼102的一側(cè)壁上開設(shè)有第二半槽1021，第一半殼101與第二半殼102扣合后，第一半槽1011與第二半槽1021形成一滑槽103(如圖2及圖3所示)，且該滑槽103與線纜接口13位于第一外殼10不同的側(cè)壁上。

再請參考圖5，子機200包括第二外殼20、子電路板21及線纜接口13，子電路板21位于第二外殼20內(nèi)，線纜接口13與子電路板21連接并位于第二外殼20的一側(cè)壁。進一步地，子電路板21上安裝有如圖7所示的子LED陣列。

如圖7所示，子LED陣列22與主機100的微控制芯片15連接。需要說明的是，在圖7中，D1～D18構(gòu)成了本發(fā)明的主LED陣列。具體地，X0還經(jīng)過電阻R1連接并聯(lián)后的D1、D2，X1還經(jīng)過電阻R7連接并聯(lián)后的D3、D4，X2還經(jīng)過電阻R8連接并聯(lián)后的D5、D6，X3還經(jīng)過電阻R9連接并聯(lián)后的D7、D8，X4還經(jīng)過電阻R10連接并聯(lián)后的D9、D10，X5還經(jīng)過電阻R11連接并聯(lián)后的D11、D12，X6還經(jīng)過電阻R12連接并聯(lián)后的D13、D14，X7還經(jīng)過電阻R13連接并聯(lián)后的D15、D6，X8還經(jīng)過電阻R14連接并聯(lián)后的D17、D18。

再請參考圖5，第二外殼20包括第三半殼201及第四半殼202，兩者相扣合以形成第二外殼20。具體地，第三半殼201的一側(cè)壁上形成有第一突出部2011，第四半殼202的一側(cè)壁上形成有第二突出部2021，第三半殼201與第四半殼202扣合后，第一突出部2011與第二突出部2021形成一插入部203(如圖3所示)，且該插入部203與線纜接口13位于第二外殼20不同的側(cè)壁上。且，該插入部203插入滑槽103以實現(xiàn)子機200與主機100之間的組裝。

進一步地，請參考圖4及圖5，主機100的第一半殼101及子機200的第二半殼201上均設(shè)有多個通孔30。每一通孔30分別與主LED陣列及子LED陣列22中的LED相對應(yīng)，以方便用戶通過該通孔30觀察LED燈的亮滅狀態(tài)。

進一步地，本發(fā)明中主LED陣列及子LED陣列中的LED燈都是采用貼片元件，即采用貼片工藝將LED燈安裝于電路板上。與現(xiàn)有技術(shù)中采用插件式LED燈相比，該種貼片式組裝降低了制作成本，同時提高了工作效率。

較佳地，在本實施例中，線纜接口13為RJ45接口。

再請參考圖6，使用本發(fā)明的線纜測試儀時，先將被測線纜40的兩端分別連接主機100及子機200的線纜接口13中，微控制芯片U2會判斷被測線纜40的芯線的通斷狀態(tài)，并根據(jù)通斷狀態(tài)是否點亮芯線對應(yīng)的主LED陣列及子LED陣列中的LED燈。也就是說，用戶通過通孔30便可觀察主機100及子機200的LED陣列中的LED燈的亮滅，從而知曉對應(yīng)的芯線處于接通還是斷開狀態(tài)。由于該線纜測試儀的靜態(tài)工作電流小于10微安，因此線纜測試儀通用的9V300mAH可持續(xù)使用12500天，約34年，極大地延長了工作時間。且取消了開關(guān)，節(jié)約了制造成本。此外，由于線纜測試儀的主機100及子機200上均只有一個線纜接口13，使得該線纜測試儀具有很強的通用性，也極大地降低了制作成本。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種線纜測試方法。如圖8所示，該測試方法的主流程包括：

S101，進入待機省電模式以等待外部觸發(fā)喚醒線纜測試儀，其中，線纜測試儀的結(jié)構(gòu)及其工作原理如上所述，故在此不再贅述。

S102，微控制芯片檢測主機與子機的線纜接口是否均有被測線纜插入，若有，則執(zhí)行步驟S103，反之，執(zhí)行步驟S101。

S103，微控制芯片判斷被測線纜的第一芯線的通斷狀態(tài)，即判斷第一芯線是否被接通，當(dāng)被接通時，執(zhí)行步驟S104，反之，直接執(zhí)行步驟S105。

S104，當(dāng)?shù)谝恍揪€處于接通狀態(tài)時，點亮主LED陣列及子LED陣列中的第一顆LED燈并進行延時后執(zhí)行步驟S105，反之，直接執(zhí)行步驟S105。

S105，微控制芯片判斷被測線纜的第二芯線的通斷狀態(tài)，根據(jù)第二芯線的通斷狀態(tài)，點亮主LED陣列及子LED陣列中的LED燈、進行延時后判斷下一條芯線的通斷狀態(tài)，或直接判斷下一條芯線的通斷狀態(tài)。

S106，重復(fù)步驟S105直至被測線纜的最后一條芯線的通斷狀態(tài)被檢測。

需要說明的是，本發(fā)明的被測線纜為兩芯線、四芯線、六芯線或八芯線。

下面以八芯線為例，詳述該測試方法。請參考圖9，該測試方法具體包括：

S201，初始化系統(tǒng)寄存器。

S202，進入待機省電模式，等待外部觸發(fā)喚醒。

S203，判斷是否有線纜插入，若有，則進入步驟S204，反之，進入步驟S202。

S204，檢查線纜芯線狀態(tài)。

S205，查對被測線纜中芯線1的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S206，反之，則進入步驟S207。

S206，點亮芯線1對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S207，查對被測線纜中芯線2的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S208，反之，則進入步驟S209。

S208，點亮芯線2對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S209，查對被測線纜中芯線3的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S210，反之，則進入步驟S211。

S210，點亮芯線3對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S211，查對被測線纜中芯線4的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S212，反之，則進入步驟S213。

S212，點亮芯線4對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S213，查對被測線纜中芯線5的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S214，反之，則進入步驟S215。

S214，點亮芯線5對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S215，查對被測線纜中芯線6的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S216，反之，則進入步驟S217。

S216，點亮芯線6對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S217，查對被測線纜中芯線,7的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S218，反之，則進入步驟S219。

S218，點亮芯線7對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S219，查對被測線纜中芯線8的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S220，反之，則進入步驟S221。

S220，點亮芯線8對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

S221，查對被測線纜中芯線9的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，進入步驟S222，反之，則進入步驟S202。

S222，點亮芯線9對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。

從該流程圖可以看出，只有的芯線處于接通狀態(tài)時，才需要延時等待。而當(dāng)芯線處于斷開狀態(tài)時，則是直接進行下一條芯線狀態(tài)的檢測。

進一步地，為了使得本發(fā)明無需延時等待的測試方法更加清楚，請參考圖10，其描述了現(xiàn)有的測試方法流程。在圖10中，查對芯線1的通斷狀態(tài)，當(dāng)處于接通狀態(tài)時，點亮芯線1對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒，當(dāng)處于斷開狀態(tài)時，則不點亮芯線1對應(yīng)的LED燈并延時0.3秒。在延時之后，再檢測芯線2的通斷狀態(tài)，以此重復(fù)，直至所有的芯線都被檢查完。也就是說，現(xiàn)有測試方法中，不論通斷狀態(tài)如何，都必須進行延時等待，這樣將會極大地降低工作效率。

因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測試方法只有在檢測出芯線處于接通狀態(tài)時才點亮LED燈并進行延時等待，而在檢測出芯線處于斷開狀態(tài)時不需要延時等待，而是直接繼續(xù)檢測下一條芯線。因此，通過該測試方法極大地提高了測試效率以及工作人員的工作效率。

以上結(jié)合最佳實施例對本發(fā)明進行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進行的修改、等效組合。