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紅外氣體傳感系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):11284000閱讀:262來源:國知局
紅外氣體傳感系統(tǒng)的制造方法與工藝

本發(fā)明涉及一種長程復(fù)合光路非色散紅外氣體傳感系統(tǒng)(ndir)的設(shè)計(jì),屬于紅外氣體檢測領(lǐng)域。



背景技術(shù):

非色散紅外氣體傳感(ndir)技術(shù)是一種精度高、穩(wěn)定性好、壽命長的氣體傳感技術(shù),其原理是利用特定波長的紅外光經(jīng)過待測氣體時(shí)被吸收發(fā)生衰減,根據(jù)衰減前后的光強(qiáng)對(duì)比計(jì)算出氣體的濃度,及比爾-朗伯定律:i=i0·exp(-μcl)。其中,i為有氣體吸收時(shí)到達(dá)探測器的紅外光強(qiáng),i0為沒有氣體吸收時(shí)的光強(qiáng),c為腔室內(nèi)氣體濃度,l為腔室長度或紅外光光程,μ為氣體的吸收系數(shù)。

傳統(tǒng)的ndir系統(tǒng)采用單光路結(jié)構(gòu),即紅外光經(jīng)光路到達(dá)信號(hào)探測器和參考探測器所經(jīng)過的光程相同(即l相同),信號(hào)探測器前裝備透射波長為待測氣體吸收波長的濾光鏡,而參考探測器前裝備透射波長為非待測氣體吸收波長的濾光鏡。例如,對(duì)于co2氣體的ndir模塊,信號(hào)探測器常采用中心透射波長為4.26微米的濾光鏡,而參考探測器采用中心透射波長為3.91微米的濾光鏡。這樣,由于4.26微米波長的紅外光經(jīng)過腔室中的co2氣體后被吸收而發(fā)生衰減,而3.91微米波長的紅外光則對(duì)co2濃度不敏感,對(duì)兩路信號(hào)測量結(jié)果做除法后得到其中,ur為腔室中氣體對(duì)3.91微米紅外光的吸收系數(shù),cr為腔室中吸收波長為3.91微米的氣體濃度,這兩項(xiàng)的 乘積可忽略不計(jì),因此待測氣體(co2)的濃度可簡化為,其中,ir為參考探測器測量的光強(qiáng),一般為固定值,is為信號(hào)探測器測量的光強(qiáng),一般用電流或電壓信號(hào)來表征,us為待測氣體的吸收系數(shù),通常為常數(shù)。事實(shí)上,由于外界環(huán)境變化,主要是溫度波動(dòng)導(dǎo)致光源輻射溫度發(fā)生變化,對(duì)ir和is間的影響為非線性的,從而導(dǎo)致傳感器零點(diǎn)漂移,測量精度下降,穩(wěn)定性變差等。

目前有研究解決外部環(huán)境變化導(dǎo)致的信號(hào)漂移一種可行方法是采用長度不同的直管雙光路,信號(hào)探測器和參考探測器前的濾光鏡的透射波長均為待測氣體吸收波長,這樣待測氣體的濃度為采用該結(jié)構(gòu)時(shí),當(dāng)外界環(huán)境發(fā)生變化,環(huán)境因素對(duì)于ir和is的影響為線性的,因此可以通過除法實(shí)現(xiàn)過濾掉這些影響因素,提高傳感器的性能。然而,實(shí)際情況是這種直管雙光路由于光路一長一短,會(huì)造成兩個(gè)探測器模組溫度無法保持一致,當(dāng)光源端的溫度發(fā)生變化時(shí),熱量傳遞到長光路末端的探測器模組和到短光路末端的探測器模組所需要的時(shí)間不一致,并且熱損耗差異也較大,從而導(dǎo)致產(chǎn)生非線性溫漂,使這種結(jié)構(gòu)失去了作用。

另一方面,當(dāng)ndir氣體傳感器測量ch4等吸收系數(shù)較小的氣體,并且分辨率需要達(dá)到50ppm以下時(shí),結(jié)構(gòu)上需要較長的吸收光程l,一般的做法是采用是光源和探測模塊位于直氣管室的同一端,而在直管氣室的另一端放置反射鏡,使光程增大到原來的兩倍左右,但這種結(jié)構(gòu)光源發(fā)熱導(dǎo)致探測器測量結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重的溫漂,而且由于信號(hào)光路和參考光路具有相同的光程,無法采用上述雙光路技術(shù)降低環(huán)境影響因素。

有鑒于此,有必要提供一種改進(jìn)的紅外氣體傳感系統(tǒng)以解決上述問題。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明的目的在于提供一種長程復(fù)合光路的非色散紅外氣體傳感系統(tǒng)(ndir)的設(shè)計(jì),形成光程足夠長但不相等的兩個(gè)光路,并且兩個(gè)探測器模組具有相同結(jié)構(gòu)和規(guī)格,使得外界環(huán)境對(duì)探測器的影響呈線性關(guān)系,兩個(gè)探測器模組間進(jìn)行了熱學(xué)優(yōu)化從而保持溫度一致。

為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供了一種紅外氣體傳感系統(tǒng),包括紅外光源;

基座,所述基座具有設(shè)于內(nèi)部的折形通道、設(shè)置在所述折形通道內(nèi)的反射鏡、以及與所述折形通道相連通的進(jìn)氣口和出氣口,所述折形通道具有相鄰所述紅外光源設(shè)置的第一端口、沿所述折形通道延伸方向遠(yuǎn)離所述第一端口的第二端口,以及位于所述第一端口和第二端口之間的若干通道轉(zhuǎn)角,所述反射鏡包括設(shè)置在其中一個(gè)通道轉(zhuǎn)角的半透半反射鏡,以及設(shè)置在其余通道轉(zhuǎn)角的全反射鏡;

探測模塊,所述探測模塊包括導(dǎo)熱底板、設(shè)置在所述導(dǎo)熱底板同側(cè)且規(guī)格相同的兩個(gè)探測器模組,所述半透半反射鏡和第二端口設(shè)置在所述基座的同側(cè),兩個(gè)所述探測器模組分別對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述半透半反射鏡和第二端口的外側(cè)。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述折形通道包括相互平行的至少三個(gè)第一通道,以及連接相鄰兩個(gè)所述第一通道的至少兩個(gè)第二通道,在高度方向上相鄰的兩個(gè)所述第二通道交錯(cuò)設(shè)置,所述通道轉(zhuǎn)角形成在每一所述第一通道和每一第二通道的連接處。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述基座包括基板,以及與所述基板相配合的至少兩個(gè)安裝座,所述第一通道形成在所述基板上且橫向貫穿所述基板,第二通道形成在所述基板和所述安裝座之間,所述反射鏡設(shè)置于所述基板和安裝座之間的所述通道轉(zhuǎn)角處,且向外貼靠所述安裝座。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),每個(gè)所述安裝座具有相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)斜 面,及自所述斜面朝內(nèi)設(shè)置的安裝槽,當(dāng)所述基板與所述安裝座相配合時(shí),所述斜面為所述通道轉(zhuǎn)角的外切面,所述反射鏡配合安裝在所述安裝槽內(nèi),其中用于安裝所述半透半反射鏡的安裝槽沿與之相對(duì)的第一通道的延伸方向向外貫通形成一探測孔,所述探測孔的外端口和所述第二端口分別形成為供所述紅外氣體傳感系統(tǒng)探測所述折形通道內(nèi)紅外光光強(qiáng)的第一探測口、第二探測口。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述反射鏡為平面鏡或弧面鏡,當(dāng)所述反射鏡為平面鏡時(shí),所述反射鏡的鏡面與所述紅外光源照射的光線形成的夾角范圍為0~90度,當(dāng)所述反射鏡為弧面鏡時(shí),所述反射鏡鏡面中心的外切面與所述紅外光源照射的光線形成的夾角范圍為0~90度。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述折形通道的內(nèi)壁上鍍有金屬層,以提高光的反射率。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述探測模塊還包括設(shè)置在所述導(dǎo)熱底板上且與所述基座相連的絕熱連接殼,所述絕熱連接殼包括兩個(gè)殼側(cè)壁以及連接兩個(gè)所述殼側(cè)壁的殼端壁,所述殼端壁設(shè)有兩個(gè)開口,兩個(gè)所述開口分別與所述半透半反射鏡、所述第二端口對(duì)應(yīng)設(shè)置。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),每個(gè)所述探測器模組包括探測芯片組、封裝在所述探測芯片組外側(cè)的管殼,以及嵌設(shè)在所述管殼上的濾光鏡,所述探測模組的兩個(gè)濾光鏡分別與兩個(gè)所述開口對(duì)應(yīng)設(shè)置。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述紅外氣體傳感系統(tǒng)還包括與所述探測模塊電性連接的控制模塊,所述導(dǎo)熱底板上設(shè)有若干引線孔,以使所述探測芯片組通過導(dǎo)線與所述控制模塊電性連接。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述絕熱連接殼的殼端壁和殼側(cè)壁由不透光材質(zhì)制成,或者所述絕熱連接殼的殼端壁和殼側(cè)壁上設(shè)置有不透光材質(zhì)。

本發(fā)明的有益效果是:(1)本發(fā)明涉及一種紅外氣體傳感系統(tǒng),通 過在基座內(nèi)設(shè)計(jì)一個(gè)折形通道,在折形通道的若干通道轉(zhuǎn)角設(shè)置半透半反射鏡和全反射鏡,通過相鄰所述半透半反射鏡和折形通道的第二端口設(shè)置兩個(gè)規(guī)格相同的探測器模組,用于探測所述折形通道內(nèi)的紅外光的光強(qiáng),此結(jié)構(gòu)使得測出的光強(qiáng)參數(shù)因外界環(huán)境變化的影響呈線性關(guān)系,便于通過后期運(yùn)算進(jìn)行消除,大大提高系統(tǒng)對(duì)外界環(huán)境變化的抗干擾性,具有廣闊的應(yīng)用前景。

(2)本發(fā)明提供的紅外氣體傳感系統(tǒng),通過在兩探測器模組端設(shè)置一導(dǎo)熱底板對(duì)兩探測器模組進(jìn)行熱學(xué)優(yōu)化,使兩個(gè)探測器模組的溫度保持一致,能夠避免因探測器模組溫度誤差造成測量不準(zhǔn)確,減小溫度對(duì)所述探測器模組的測量結(jié)果造成的影響。

(3)本發(fā)明提供的紅外氣體傳感系統(tǒng),通過在折形通道內(nèi)設(shè)置反射鏡,增加紅外光傳播的光程,能夠?qū)ξ障禂?shù)較小的氣體進(jìn)行檢測,具有檢測范圍廣的優(yōu)點(diǎn)。

附圖說明

圖1是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原理圖。

圖3是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的基座立體分解圖。

圖4是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的基板沿a-a的剖視圖。

圖5是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的安裝座的立體圖。

圖6是本發(fā)明紅外傳感系統(tǒng)的探測模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下將結(jié)合附圖所示的各實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。

請(qǐng)參見圖1~圖6所示,本發(fā)明涉及一種紅外氣體傳感系統(tǒng)100包括具有折線通道13的基座10、與所述基座10相鄰設(shè)置的紅外光源20、與所述基座10相鄰設(shè)置的探測模塊30,以及與所述紅外光源20和探測模塊 30電性連接的控制模塊40。

所述基座10包括基板11、與所述基板11相配合的至少兩個(gè)安裝座12、設(shè)置在所述基板11和所述安裝座12之間的反射鏡14、以及設(shè)置在所述基板11上的進(jìn)氣口15和出氣口16,在本實(shí)施中,所述安裝座12的個(gè)數(shù)為兩個(gè),且分別位于所述基板11的兩側(cè)。

所述基板11的兩側(cè)壁上設(shè)有朝所述安裝座12延伸的兩個(gè)平行擋板111,所述安裝座12具有與所述擋板111外緣相配合的凹槽112,以當(dāng)所述基板11與所述安裝座12相配合時(shí),所述基板11和所述安裝座12凹凸配合,并通過螺栓進(jìn)行緊固連接。

每個(gè)所述安裝座12具有相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)斜面121,及自所述斜面121朝內(nèi)設(shè)置的安裝槽122,所述反射鏡14配合安裝在所述安裝槽122內(nèi)。其中用于安裝所述半透半反射鏡141的安裝槽122沿與之相對(duì)的第一通道131的延伸方向向外貫通形成一探測孔123,其中用于安裝所述全反射鏡142的安裝槽122的內(nèi)側(cè)為實(shí)心結(jié)構(gòu)。所述探測孔123和所述第二端口134分別位于所述基座10的同側(cè),所述探測孔123的外端口、所述第二端口134分別形成為所述紅外氣體傳感系統(tǒng)100探測所述折形通道13內(nèi)紅外光光強(qiáng)的第一探測口、第二探測口。

所述折形通道13具有相互平行且橫向貫穿所述基板11的至少三個(gè)第一通道131,以及連接相鄰兩個(gè)所述第一通道131的至少兩個(gè)第二通道132,所述第二通道132形成在所述基板11和安裝座12之間,所述反射鏡14位于所述基板11和安裝座12之間,且向外貼靠所述安裝座12設(shè)置,在高度方向上相鄰的兩個(gè)所述第二通道132交錯(cuò)設(shè)置,以使所述折形通道13形成來回往復(fù)的結(jié)構(gòu)。

所述折形通道13還具有相鄰所述紅外光源20設(shè)置的第一端口133,以及沿所述折形通道13延伸方向遠(yuǎn)離所述第一端口133的第二端口134,以及位于所述第一端口133和第二端口134之間的通道轉(zhuǎn)角135。當(dāng)所述 基板11與所述安裝座12相配合時(shí),所述斜面121為所述通道轉(zhuǎn)角133的外切面。

所述通道轉(zhuǎn)角135形成在每一所述第一通道131和每一第二通道132的連接處,所述反射鏡14設(shè)置在所述通道轉(zhuǎn)角135處。所述通道轉(zhuǎn)角135可以呈直角形、任意角度的折角、或者為弧角,在本實(shí)施方式中,所述通道轉(zhuǎn)角135為直角形,每一所述第一通道131和每一第二通道132的連接處形成一個(gè)所述通道轉(zhuǎn)角135。但是在其他實(shí)施方式中,所述每個(gè)通道轉(zhuǎn)角135也可以為若干個(gè)所述第一通道131和第二通道132的連接處組成。

所述折形通道13的內(nèi)壁上鍍有金屬層,以提高光的反射率,減小紅外光在內(nèi)壁反射時(shí)產(chǎn)生的損耗。在本實(shí)施方式中,所述第一通道131的個(gè)數(shù)為三個(gè),且平行貫通設(shè)置在所述基板11內(nèi)。

所述反射鏡14為平面鏡或弧面鏡,所述反射鏡14包括設(shè)置在其中一個(gè)所述通道轉(zhuǎn)角133的半透半反射鏡141,以及設(shè)置在其余所述通道轉(zhuǎn)角133的全反射鏡142。當(dāng)所述反射鏡14為平面鏡且安裝在所述安裝槽122內(nèi)時(shí),所述反射鏡14與所述紅外光源20照射的光線形成的夾角a范圍為0~90度。當(dāng)所述反射鏡14為弧面鏡且安裝在所述安裝槽122內(nèi)時(shí),所述反射鏡14鏡面中心的外切面與所述紅外光源20照射的光線形成的夾角范圍為0~90度。在本實(shí)施方式中,所述半透半反射鏡141或全反射鏡142與所述通道13形成的夾角a為45度,即所述半透半反射鏡141或全反射鏡142的鏡面法向在所述通道轉(zhuǎn)角135的角平分線上。

所述進(jìn)氣口15和出氣口16與所述折形通道13相連通,所述進(jìn)氣口15靠近所述第一端口133設(shè)置,所述出氣口16靠近所述第二端口134設(shè)置,所述進(jìn)氣口15的末端、出氣口16的末端分別設(shè)置有進(jìn)氣管151、出氣管152,外界氣體通過所述進(jìn)氣管151和出氣管152,采用擴(kuò)散或泵吸的方法流入和流出所述折形通道13。

所述紅外光源20與所述第一端口133對(duì)應(yīng)相鄰設(shè)置,并通過導(dǎo)線與 所述控制模塊40相連,并由所述控制模塊40控制所述紅外光源20發(fā)光。

所述探測模塊30包括導(dǎo)熱底板31、設(shè)置在所述導(dǎo)熱底板31上規(guī)格相同的兩個(gè)探測器模組32、設(shè)置在所述導(dǎo)熱底板31上且與所述基座10相連的絕熱連接殼33,以及形成在所述導(dǎo)熱底板31和絕熱連接殼33之間的腔室34,所述導(dǎo)熱底板31上設(shè)有若干引線孔311,所述導(dǎo)熱底板31為導(dǎo)熱材質(zhì)制成,兩個(gè)所述探測器模組32設(shè)置在所述腔室34內(nèi)并與所述導(dǎo)熱底板31的內(nèi)側(cè)壁相接觸。所述半透半反射鏡141和第二端口134設(shè)置在所述基座10的同側(cè),兩個(gè)所述探測器模組32分別對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述半透半反射鏡141和第二端口134的外側(cè),且兩個(gè)所述探測器模組32分別自兩個(gè)所述開口333與所述半透半反射鏡141和所述第二端口134對(duì)應(yīng)設(shè)置。

兩個(gè)所述探測器模組32中的其中之一為信號(hào)探測器,其中另一為參考探測器,并且所述紅外光源20的紅外光到達(dá)信號(hào)探測器和參考探測器的光程不同。由于兩個(gè)所述探測器模組32的規(guī)格相同,此結(jié)構(gòu)使得測出的光強(qiáng)參數(shù)因外界環(huán)境變化的影響呈線性關(guān)系,便于通過后期運(yùn)算進(jìn)行消除,大大提高系統(tǒng)對(duì)外界環(huán)境變化的抗干擾性,具有廣闊的應(yīng)用前景。

每個(gè)所述探測器模組32包括探測芯片組321、封裝在所述探測芯片組321外側(cè)的管殼322,以及嵌設(shè)在所述管殼322上的濾光鏡323,所述探測模組30的兩個(gè)濾光鏡323分別與所述第一探測口和所述第二探測口相鄰設(shè)置。使得所述紅外光源20與該探測器模組32之間形成參考通道;其中另一所述探測器模組32與所述第二端口134相鄰設(shè)置,使得所述紅外光源20與該探測器模組32之間形成探測通道。

每個(gè)探測芯片組321包括襯底層3211、及覆蓋在所述襯底層3212上的光敏層3213,兩個(gè)所述光敏層3213上均設(shè)有導(dǎo)線,所述導(dǎo)線自所述引線孔311與所述控制模塊40電性連接,并由所述控制模塊40控制所述探測模塊30啟動(dòng)測量。

所述絕熱連接殼33包括兩殼側(cè)壁331以及位于所述殼側(cè)壁331前端 的殼端壁332,所述殼端壁332設(shè)有兩個(gè)開口333,所述絕熱連接殼33的殼端壁332和殼側(cè)壁331由不透光材質(zhì)制成,或者在所述殼端壁332和殼側(cè)壁331上涂有不透光的材料,防止環(huán)境光干擾紅外探測器測量結(jié)果。在本實(shí)施方式中,所述絕熱連接殼33由pe塑料制作。由于所述絕熱連接殼33為絕熱結(jié)構(gòu),且所述導(dǎo)熱底板31為導(dǎo)熱結(jié)構(gòu),因此當(dāng)所述紅外光源20的光源溫度發(fā)生變化時(shí),兩個(gè)所述探測器模組32的溫度始終保持一致,減小溫度對(duì)所述探測器模組32的測量結(jié)果造成干擾。

當(dāng)所述控制模塊40控制所述紅外光源20發(fā)出紅外光時(shí),紅外光經(jīng)過所述半透半反射鏡141后,一部分光透射到所述半透半射反鏡141后側(cè)所述探測模組30的濾光鏡323上,形成較短的光路通道,即所述參考通道;另一部分紅外光被所述半透半反射鏡141反射繼續(xù)傳播,通過所述折形通道13的第二端口134到達(dá)所述探測模塊30的另一濾光鏡323上,形成較長的光路通道,即所述探測通道。所述探測通道和參考通道的光程差可達(dá)到2倍以上,以適應(yīng)對(duì)吸收系數(shù)較小的氣體進(jìn)行檢測。

所述紅外傳感系統(tǒng)100對(duì)待測氣體的測量過程為:

(1)校準(zhǔn):自所述進(jìn)氣口15向所述折形通道13通入氮?dú)猓隹刂颇K40控制所述紅外光源20發(fā)射紅外光,與所述參考通道相鄰設(shè)置的探測器模組32探測出此時(shí)光強(qiáng)ir,與所述探測通道相鄰設(shè)置的所述探測器模組32探測出此時(shí)光強(qiáng)is,將ir/is以消除外界環(huán)境因素造成的影響,最后通過以下公式1得出零點(diǎn)濃度cr。

其中,l1為探測通道的長度,l2為參考通道的長度,ur氮?dú)馕障禂?shù)。

將所述紅外傳感系統(tǒng)100移至待測氣體的環(huán)境中,所述控制模塊40控制所述紅外光源20發(fā)射紅外光,與所述參考通道相鄰設(shè)置的探測器模 組32探測出此時(shí)光強(qiáng)ir,與所述探測通道77相鄰設(shè)置的所述探測器模組32探測出此時(shí)光強(qiáng)is,將ir/is以消除外界環(huán)境因素造成的影響,最后通過以下公式2得出待測氣體的濃度cs

其中,l1為探測通道的長度,l2為參考通道的長度,us為待測氣體的吸收系數(shù)。

(3)對(duì)比:將cs與cr進(jìn)行對(duì)比,得出最終的待測氣體濃度。

綜上所述,本發(fā)明涉及一種紅外氣體傳感系統(tǒng)100,通過在基座10內(nèi)設(shè)計(jì)一個(gè)折形通道13,在所述折形通道13的通道轉(zhuǎn)角設(shè)置半透半反射鏡141和全反射鏡142,以形成參考通道和探測通道,通過在所述參考通道的末端、探測通道的末端分別設(shè)置兩個(gè)結(jié)構(gòu)和規(guī)格相同的兩個(gè)探測器模組32,此結(jié)構(gòu)使得測出的光強(qiáng)參數(shù)因外界環(huán)境變化造成的影響呈線性關(guān)系,便于通過后期運(yùn)算進(jìn)行消除,大大提高系統(tǒng)對(duì)外界環(huán)境變化的抗干擾性,具有廣闊的應(yīng)用前景。

通過對(duì)所述探測器模組32進(jìn)行熱學(xué)優(yōu)化,使兩個(gè)探測器模組32的溫度保持一致,能夠避免因探測器模組32溫度誤差造成測量不準(zhǔn)確,減小溫度對(duì)所述探測器模組32的測量結(jié)果造成的影響。

通過在所述折形通道13內(nèi)設(shè)置反射鏡14,增加紅外光傳播的光程,能夠?qū)ξ障禂?shù)較小的氣體進(jìn)行檢測,具有檢測范圍廣的優(yōu)點(diǎn)。

應(yīng)當(dāng)理解,雖然本說明書按照實(shí)施方式加以描述,但并非每個(gè)實(shí)施方式僅包含一個(gè)獨(dú)立的技術(shù)方案,說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說明書作為一個(gè)整體,各實(shí)施方式中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合,形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實(shí)施方式。

上文所列出的一系列的詳細(xì)說明僅僅是針對(duì)本發(fā)明的可行性實(shí)施方式的 具體說明,它們并非用以限制本發(fā)明的保護(hù)范圍,凡未脫離本發(fā)明技藝精神所作的等效實(shí)施方式或變更均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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