本發(fā)明涉及自動控制技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種異常處理方法及模塊。

背景技術(shù)：

隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，人們對電子產(chǎn)品的可靠性要求越來越高。高可靠性的電子產(chǎn)品通常具有長的使用壽命，能夠給使用者提供高的性價比。在半導(dǎo)體行業(yè)中，完成半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)之后，通常會對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行許多功能測試，以識別并挑選出壞片，只有通過測試的合格芯片才可以銷售使用。芯片測試系統(tǒng)在對芯片進(jìn)行測試時，常采用測試箱進(jìn)行測試，一個測試箱對應(yīng)一個測試功能，測試完成后，各測試箱會將測試結(jié)果進(jìn)行反饋。

然而，在對芯片進(jìn)行測試時，很可能出現(xiàn)一個測試箱異常，導(dǎo)致芯片測試系統(tǒng)無法對芯片完成全項功能測試的情況，此時則需要技術(shù)人員人工對該測試系統(tǒng)中的多個測試箱重新調(diào)整，較為費事費力，且降低了芯片測試效率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種異常處理方法及模塊，當(dāng)有操作箱發(fā)生異常時，工件操作系統(tǒng)能夠自動地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統(tǒng)能夠完成全項功能操作。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實施方式提供了一種異常處理方法，應(yīng)用于包含多個功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對應(yīng)于一種功能項操作且各功能操作組包含至少一操作箱，異常處理方法包含以下步驟：當(dāng)一個操作箱發(fā)生異常時，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操 作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個操作箱；若存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱，其中，所述選擇的操作箱的數(shù)目小于所述功能操作組中包含的操作箱的數(shù)目；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發(fā)明的實施方式還提供了一種異常處理模塊，包含：應(yīng)用于包含多個功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對應(yīng)于一種功能項操作，異常處理模塊包含：數(shù)目判斷單元、操作箱選擇單元以及組別劃分單元；當(dāng)一個操作箱發(fā)生異常時，數(shù)目判斷單元用于判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若是，數(shù)目判斷單元還用于判斷是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個操作箱；操作箱選擇單元用于從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱，其中，選擇的操作箱的數(shù)目小于功能操作組中包含的操作箱的數(shù)目；組別劃分單元用于將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發(fā)明實施方式相對于現(xiàn)有技術(shù)而言，當(dāng)一個操作箱發(fā)生異常時，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組；預(yù)設(shè)條件為功能操作組包含多個操作箱；若存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。通過這種方式，當(dāng)有一個功能操作組的操作箱出現(xiàn)異常，而使得工件操作系統(tǒng)無法完成全項功能操作時，工件操作系統(tǒng)的異常處理模塊會自動對該情況進(jìn)行處理，及時的利用其它功能操作組中的正常操作箱頂替該異常操作箱。即，工件操作系統(tǒng)具有自我調(diào)節(jié)、修復(fù)的功能，能夠自動地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統(tǒng)能夠完成全項功能操作。

另外，當(dāng)滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組數(shù)目為多個時，則比較各功能操作組對應(yīng)的功能項操作時長，并獲取功能項操作時長較短的功能操作組；然后進(jìn)入從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱的步驟。其中，各功能操作組對應(yīng)的功能項操作時長為各功能操作組中的各操作箱進(jìn)行一次功能項操作所需時間，從而盡量的平衡各功能操作組的操作效率，使得各功能操作組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高工件操作系統(tǒng)的整體效率。

另外，當(dāng)滿足預(yù)設(shè)條件的功能操作組數(shù)目為多個時，則根據(jù)各功能操作組對應(yīng)的功能項操作時長與各功能操作組包含的操作箱數(shù)目，計算各功能操作組在其對應(yīng)的功能項操作時長中的工件操作數(shù)目；比較各功能操作組在其對應(yīng)的功能項操作時長中的工件操作數(shù)目，并獲取工件操作數(shù)目較多的功能操作組；進(jìn)入從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱的步驟，從而盡量的平衡各功能操作組的操作效率，使得各功能操作組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高工件操作系統(tǒng)的整體效率。

另外，將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組的步驟，包含以下子步驟：將異常操作箱對應(yīng)的功能項操作的操作程序下載至選擇的操作箱；控制選擇的操作箱安裝操作程序。即，對從其它功能操作組中所選擇出的正常操作箱重新分配功能，從而確保了工件操作系統(tǒng)能夠完成全項功能操作。

另外，從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱的步驟，包含以下子步驟：計算功能操作組包含的各操作箱與異常操作箱之間的機(jī)械手移動路徑；選擇與異常操作箱之間的機(jī)械手移動路徑較短的操作箱。通過這種方式，盡可能的縮短了機(jī)械手從上一個操作箱抓取待測物件至所選擇的操作箱時的移動路徑，從而盡可能的減小了對操作效率的影響。

附圖說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明第二實施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明第三實施方式中的一種異常處理方法的流程圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明第四實施方式中的一種異常處理模塊的方框圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明第五實施方式中的一種異常處理模塊的方框圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明第六實施方式中的一種異常處理模塊的方框圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的各實施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本發(fā)明各實施方式中，為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實施方式的種種變化和修改，也可以實現(xiàn)本申請各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。

本發(fā)明的第一實施方式涉及一種異常處理方法，應(yīng)用于包含多個功能操作組的工件操作系統(tǒng)，各功能操作組對應(yīng)于一種功能項操作且各功能操作組包含至少一操作站其其中，本實施方式對應(yīng)用的具體場景不作任何限制，即該工件操作系統(tǒng)可以為測試系統(tǒng)(例如測試電子元件或電子設(shè)備)、鎖附系統(tǒng)(例如自動鎖螺絲)、碼垛系統(tǒng)等等可以適用的任意場景。

本實施方式以工件測試為例進(jìn)行說明；即，本實施方式中的工件操作系統(tǒng)為工件的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包含多個功能測試組(相當(dāng)于多個功能操作組)，各功能測試組對應(yīng)于一種功能項測試且各功能測試組包含至少一測試箱(相當(dāng)于多個功能操作站)。測試系統(tǒng)還可以包含主控設(shè)備及機(jī)械手，主控設(shè)備連接于各功能測試組及機(jī)械手。其中，工件例如為手機(jī)芯片，然并 不限于此。。

本實施方式的異常處理方法的具體流程如圖1所示。

步驟101，檢測到一個測試箱發(fā)生異常。

具體的說，各測試箱與主控設(shè)備建立通信連接，各測試箱將其當(dāng)前的工作狀態(tài)發(fā)送至主控設(shè)備，主控設(shè)備對接收到的各工作狀態(tài)進(jìn)行檢測，判斷是否檢測到某個測試箱所發(fā)送的工作狀態(tài)異常。若是，則判定該測試箱異常；否則，判定測試系統(tǒng)中無設(shè)備異常。

步驟102，判斷異常測試箱所在的功能測試組是否僅包含異常測試箱。若是，則執(zhí)行步驟103，否則結(jié)束。

具體的說，主控設(shè)備中預(yù)先存有各功能測試組與測試箱的對應(yīng)關(guān)系，該對應(yīng)關(guān)系可以以表格的形式存在，如“功能測試組—測試箱對照表”。主控設(shè)備通過查表的方式，獲得異常測試箱所在的功能測試組，并根據(jù)查詢到的功能測試組獲取該功能測試組中的正常的測試箱的數(shù)目，通過判斷該功能測試組中的正常的測試箱的數(shù)目是否為0的方式，判斷異常測試箱所在的功能測試組是否僅包含異常測試箱。若是，判定結(jié)果為是；否則，判定結(jié)果為否。

步驟103，判斷測試系統(tǒng)中是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組。若是，則執(zhí)行步驟104，否則結(jié)束。

具體的說，預(yù)設(shè)條件為功能測試組包含多個測試箱，主控設(shè)備依照“功能測試組—測試箱對照表”中的功能測試組的排列順序，查詢各功能測試組中的測試箱的數(shù)目，判斷是否存在某個功能測試組中所包含的測試箱的數(shù)目大于或等于2，從而判斷是否有某個功能測試組包含有多個測試箱。若是，則判定測試系統(tǒng)中存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組；否則，判定測試系統(tǒng)中不存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組。其中，預(yù)設(shè)條件可以由用戶預(yù)先設(shè)置并保存在主控設(shè)備中。

步驟104，從功能測試組中包含的多個測試箱中選擇至少一個測試箱。

其中，主控設(shè)備所選擇的測試箱的數(shù)目小于功能測試組中所包含的測試箱的數(shù)目。

具體的說，主控設(shè)備選擇功能測試組的方式可以是：主控設(shè)備依照“功能測試組—測試箱對照表”中的功能測試組的排列順序進(jìn)行查詢，當(dāng)查詢到滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組時，則將該功能測試組作為待選擇的測試箱所在的測試組。

本實施方式中，主控設(shè)備選擇至少一個測試箱時，還對功能測試組包含的各測試箱與異常測試箱之間的機(jī)械手移動路徑進(jìn)行計算，選擇與異常測試箱之間的機(jī)械手移動路徑較短的測試箱，從而盡可能的縮短了機(jī)械手從上一個測試箱抓取待測物件至所選擇的測試箱時的移動路徑，從而盡可能的減小了對測試效率的影響。當(dāng)然，在實際操作時，主控設(shè)備也可以對測試箱進(jìn)行隨機(jī)選擇，僅以此舉例為限，在此不做任何限制。

步驟105，將選擇的測試箱劃分至異常測試箱所在的功能測試組。

其中，步驟105包含子步驟1051以及子步驟1052.

子步驟1051，將異常測試箱對應(yīng)的功能項測試的測試程序下載至選擇的測試箱。

具體的說，主控設(shè)備預(yù)先存有功能項測試與測試程序的對應(yīng)關(guān)系，例如以功能項測試—測試程序?qū)φ毡淼男问奖硎?。主控設(shè)備通過查詢功能測試組—測試箱對照表，獲取異常測試箱所在的功能測試組，從而根據(jù)功能測試組的功能項測試獲取異常測試箱的功能項測試，再通過查詢功能項測試—測試程序?qū)φ毡淼姆绞?，獲取功能項測試所對應(yīng)的測試程序，從而能夠?qū)惓y試箱對應(yīng)的功能項測試的測試程序發(fā)送至所選擇的測試箱。

子步驟1052，控制選擇的測試箱安裝測試程序。

具體的說，主控設(shè)備控制選擇的測試箱安裝測試程序(可以直接覆蓋原來的測試程序；或者，先將原來的測試程序卸載掉在安裝下載的測試程序)，以使得所選擇的測試箱具備異常測試箱的測試功能，從而使得所選擇的測試箱能夠代替異常測試箱進(jìn)行工作，使得測試系統(tǒng)能夠完成對芯片的全項功能測試。

不難看出，本實施方式中，當(dāng)有一個功能測試組的測試箱出現(xiàn)異常，而使得測試系統(tǒng)無法完成全項功能測試時，測試系統(tǒng)的異常處理模塊會自動對該情況進(jìn)行處理，及時的利用其它功能測試組中的正常測試箱頂替該異常測試箱。即，測試系統(tǒng)具有自我調(diào)節(jié)、修復(fù)的功能，能夠自動地重新配置各測試箱的測試功能，以確保測試系統(tǒng)能夠完成全項功能測試。

本發(fā)明的第二實施方式涉及一種異常處理方法，具體流程如圖2所示。第二實施方式在第一實施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在本發(fā)明第二實施方式的技術(shù)方案中，在滿足預(yù)設(shè)條件且功能項測試時長較短的功能測試組中進(jìn)行測試箱的選擇，從而盡量的平衡各功能測試組的測試效率，使得各功能測試組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高測試系統(tǒng)的整體效率。

本實施方式中的步驟201至步驟203與第一實施方式中的步驟101至步驟103大致相同，步驟206至步驟207與第一實施方式中的步驟104至步驟105大致相同，為避免重復(fù)，在此不再贅述。

步驟204，判斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組是否為多個。若是，則執(zhí)行步驟205，否則執(zhí)行步驟206。

具體的說，主控設(shè)備通過查詢“功能測試組—測試箱對照表”的方式，查詢各功能測試組中所包含的測試箱，并對處于同一功能測試組的測試箱的數(shù)目進(jìn)行統(tǒng)計。當(dāng)所統(tǒng)計的數(shù)目大于或等于2時，則認(rèn)為該功能測試組滿足預(yù)設(shè)條件。然后，對滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組的數(shù)目進(jìn)行統(tǒng)計，判斷滿足 預(yù)設(shè)條件的功能測試組的數(shù)目是否大于1。若是，則判定滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組為多個。

步驟205，比較各功能測試組對應(yīng)的功能測試時長，獲取功能項測試時長較短的功能測試組。

具體的說，在主控設(shè)備中預(yù)先存有功能測試時長與功能測試組的對應(yīng)關(guān)系，該對應(yīng)關(guān)系可以以表格的形式存在，如“功能測試組—功能測試時長對照表”。主控設(shè)備通過查表的方式獲取滿足預(yù)設(shè)條件的各功能測試組對應(yīng)的功能測試時長，并將獲取的各功能測試時長進(jìn)行比較，獲取功能項測試時長較短的功能測試組；即步驟205中所述的功能測試組為功能項測試時長較短的功能測試組。

不難看出，本實施方式中，主控設(shè)備選擇功能項測試時長較短的功能測試組，在該功能測試箱中選擇一個或者多個測試箱來替換異常測試箱，從而避免了由于功能測試組測試箱的缺少，所造成的該功能測試組的功能測試項時長拉長導(dǎo)致的芯片檢測的堆積的問題。

本發(fā)明的第三實施方式涉及一種異常處理方法，具體流程如圖3所示。第三實施方式與第二實施方式大致相同，主要區(qū)別之處在于：在第二實施方式的技術(shù)方案中，在滿足預(yù)設(shè)條件且功能項測試時長較短的功能測試組中進(jìn)行測試箱的選擇。而在本發(fā)明第三實施方式中，測試系統(tǒng)根據(jù)各功能測試組對應(yīng)的功能項測試時長與各功能測試組包含的測試箱數(shù)目，計算各功能測試組在其對應(yīng)的功能項測試時長中的工件測試數(shù)目，獲取工件測試數(shù)目較多的功能測試組，從而盡量的平衡各功能測試組的測試效率，使得各功能測試組之間能夠盡可能地連貫性工作，以提高測試系統(tǒng)的整體效率。

其中，本實施方式中的步驟301至步驟304與第二實施方式中的步驟201至步驟204大致相同，步驟307至步驟308與第二實施方式中的步驟206至步驟207大致相同，為避免重復(fù)，在此不再贅述。

步驟305，計算各功能測試組在其對應(yīng)的功能項測試時長中的工件測試數(shù)目。

如，當(dāng)一個功能測試組對應(yīng)的功能項測試時長為30s(即每個測試箱完成該測試項目所需要的功能測試時長為30s)，該功能測試組中包含有三個測試箱，則該功能測試組在其對應(yīng)的功能項測試時長30s中的工件測試數(shù)目為3個。

步驟306，獲取工件測試數(shù)目較多的功能測試組。

不難看出，本實施方式中，測試系統(tǒng)選擇包含測試箱最多的功能測試組，在該功能測試箱中選擇一個或者多個測試箱來替換異常測試箱，從而盡量的避免了由于使用其它功能測試組中的正常的測試箱頂替異常測試箱，所導(dǎo)致的芯片測試效率降低的情況。

上面各種方法的步驟劃分，只是為了描述清楚，實現(xiàn)時可以合并為一個步驟或者對某些步驟進(jìn)行拆分，分解為多個步驟，只要包含相同的邏輯關(guān)系，都在本專利的保護(hù)范圍內(nèi)；對算法中或者流程中添加無關(guān)緊要的修改或者引入無關(guān)緊要的設(shè)計，但不改變其算法和流程的核心設(shè)計都在該專利的保護(hù)范圍內(nèi)。

本發(fā)明第四實施方式涉及一種異常處理模塊，如圖4所示，應(yīng)用于包含多個功能測試組的測試系統(tǒng)，各功能測試組對應(yīng)于一種功能項測試，異常處理模塊包含：數(shù)目判斷單元、測試箱選擇單元以及組別劃分單元。

當(dāng)一個測試箱發(fā)生異常時，數(shù)目判斷單元用于判斷異常測試箱所在的功能測試組是否僅包含異常測試箱；若是，數(shù)目判斷單元還用于判斷是否存在滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組；預(yù)設(shè)條件為功能測試組包含多個測試箱；

測試箱選擇單元用于從功能測試組包含的多個測試箱中選擇至少一個測試箱；其中，選擇的測試箱的數(shù)目小于功能測試組中包含的測試箱的數(shù)目；組別劃分單元用于將選擇的測試箱劃分至異常測試箱所在的功能測試組。

其中，組別劃分單元包含下載子單元與安裝子單元。下載子單元用于將異常測試箱對應(yīng)的功能項測試的測試程序下載至選擇的測試箱；安裝子單元用于控制選擇的測試箱安裝測試程序。測試箱選擇單元包含計算子單元與選擇子單元。計算子單元用于計算功能測試組包含的各測試箱與異常測試箱之間的機(jī)械手移動路徑；選擇子單元用于選擇與異常測試箱之間的機(jī)械手移動路徑較短的測試箱。

不難發(fā)現(xiàn)，本實施方式為與第一實施方式相對應(yīng)的系統(tǒng)實施例，本實施方式可與第一實施方式互相配合實施。第一實施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實施方式中依然有效，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第一實施方式中。

值得一提的是，本實施方式中所涉及到的各模塊均為邏輯模塊，在實際應(yīng)用中，一個邏輯單元可以是一個物理單元，也可以是一個物理單元的一部分，還可以以多個物理單元的組合實現(xiàn)。此外，為了突出本發(fā)明的創(chuàng)新部分，本實施方式中并沒有將與解決本發(fā)明所提出的技術(shù)問題關(guān)系不太密切的單元引入，但這并不表明本實施方式中不存在其它的單元。

本發(fā)明第五實施方式涉及一種異常處理模塊，如圖5所示。第五實施方式在第四實施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：異常處理模塊還包含功能測試組獲取單元；數(shù)目判斷單元還用于判斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組數(shù)目是否為多個；功能測試組獲取單元用于比較各功能測試組對應(yīng)的功能項測試時長，并獲取功能項測試時長較短的功能測試組；其中，各功能測試組對應(yīng)的功能項測試時長為各功能測試組中的各測試箱進(jìn)行一次功能項測試所需時間。

本發(fā)明第六實施方式涉及一種異常處理模塊，如圖6所示。第六實施方式在第四實施方式的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：異常處理模塊還包含工件測試數(shù)目計算單元與功能測試組獲取單元；數(shù)目判斷單元還用于判 斷滿足預(yù)設(shè)條件的功能測試組數(shù)目是否為多個；工件測試數(shù)目計算單元用于根據(jù)各功能測試組對應(yīng)的功能項測試時長與各功能測試組包含的測試箱數(shù)目，計算各功能測試組在其對應(yīng)的功能項測試時長中的工件測試數(shù)目；功能測試組獲取單元用于比較各功能測試組在其對應(yīng)的功能項測試時長中的工件測試數(shù)目，并獲取工件測試數(shù)目較多的功能測試組。

本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實施方式是實現(xiàn)本發(fā)明的具體實施例，而在實際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對其作各種改變，而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。