技術(shù)特征：
1.基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是采用線(xiàn)性陣列聚焦探頭作為超聲波激勵(lì)-接收聲源，線(xiàn)性陣列換能器沿大平面板的一邊布設(shè)，按照一定的規(guī)則激勵(lì)一組超聲相控陣傳感器陣列，實(shí)現(xiàn)聲波在大平面板中任意一點(diǎn)的聚焦；對(duì)包含缺陷信息的回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間反轉(zhuǎn)處理，并將處理后的信號(hào)作為新的波源加載到模型中發(fā)射，實(shí)現(xiàn)聲波在缺陷處的二次聚焦；建立在缺陷二次聚焦時(shí)刻的幅值聚焦圖，對(duì)大平板缺陷進(jìn)行成像；缺陷成像識(shí)別的具體步驟包括：步驟1：將待掃描區(qū)域進(jìn)行離散化，通過(guò)聚焦陣列探頭分時(shí)沿不同角度發(fā)射超聲波，每個(gè)探頭發(fā)射超聲波的時(shí)刻為Am,i，其下標(biāo)代表第m個(gè)掃描區(qū)域內(nèi)的第i個(gè)探頭；步驟2：設(shè)定報(bào)警缺陷閾值，提取陣列探頭接收到缺陷反射回波的時(shí)刻Bm,i，計(jì)算反轉(zhuǎn)延遲時(shí)間ΔTm,i，截取時(shí)間窗長(zhǎng)度Lm,i；步驟3：將截取時(shí)間窗長(zhǎng)度Lm,i內(nèi)的信號(hào)進(jìn)行時(shí)間反轉(zhuǎn)得到時(shí)反信號(hào)fm,i，并重新加載至第i個(gè)探頭，則在缺陷處實(shí)現(xiàn)二次聚焦的時(shí)刻為Fm,i；步驟4：建立在二次聚焦Fm,i時(shí)刻的幅值聚焦圖K，K圖上的每一個(gè)像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)于模型上的每個(gè)結(jié)構(gòu)單元；步驟5：將掃描區(qū)域劃分為h×g的網(wǎng)格，將網(wǎng)格中心點(diǎn)回波幅值Km,p近似為整個(gè)網(wǎng)格的回波幅值，建立二維像素矩陣P，P∝(Km,p)h×g在圖像像素值最大處，為缺陷。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是步驟2中反轉(zhuǎn)延遲時(shí)間ΔTm,i的計(jì)算公式為：時(shí)間窗長(zhǎng)度Lm,i的計(jì)算公式為：Lm,i＝Bm,i+ΔTm,N-i。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是步驟3中在缺陷處實(shí)現(xiàn)二次聚焦的時(shí)刻為Fm,i的計(jì)算公式為：Fm,i＝Lm,i-(Am,i+Bm,i)/2。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是步驟4中對(duì)于每個(gè)結(jié)構(gòu)單元，任意圖像單元P(xp,yp)在Fm,i時(shí)刻的回波幅值表示為：其中，Ns為采樣信號(hào)的個(gè)數(shù)，Ai為補(bǔ)償?shù)趇個(gè)傳感器性能差異及監(jiān)測(cè)信號(hào)能量衰減的放大系數(shù)，取歸一化系數(shù)；v為聲速；xi、yi為第i個(gè)傳感器的坐標(biāo)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是超聲相控陣傳感器陣列由相對(duì)獨(dú)立的壓電晶片組成，在主動(dòng)lamb波時(shí)反成像過(guò)程中，先將一組壓電傳感器元件組成壓電陣列，在激勵(lì)時(shí)采用全發(fā)全收的激勵(lì)模式。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識(shí)別方法，其特征是傳感器的檢測(cè)探頭為壓電探頭或EMAT探頭。