技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種測(cè)斜儀的綜合誤差技術(shù)指標(biāo)測(cè)試裝置及測(cè)試方法。測(cè)量原理為將測(cè)斜儀測(cè)頭放入導(dǎo)槽內(nèi)，通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)將測(cè)頭沿導(dǎo)槽提升一段距離，通過(guò)球柵尺實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)頭滑動(dòng)距離的精確測(cè)量，利用電子自準(zhǔn)直儀發(fā)出的光經(jīng)過(guò)五棱鏡折轉(zhuǎn)到固定在測(cè)斜儀測(cè)頭的反光鏡上，反射光經(jīng)過(guò)五棱鏡再折轉(zhuǎn)至電子自準(zhǔn)直儀上，得到測(cè)斜儀測(cè)頭的精確角度偏移，通過(guò)自準(zhǔn)直儀和測(cè)斜儀連續(xù)測(cè)量的間距得到實(shí)際的精確相對(duì)位移，測(cè)斜儀測(cè)量的位移與該值比較，得出綜合誤差；本發(fā)明填補(bǔ)了實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)測(cè)斜儀綜合誤差的空白，并且設(shè)備簡(jiǎn)單，操作方便，檢測(cè)準(zhǔn)確。

技術(shù)研發(fā)人員：萬(wàn)順平;顏芳;朱雪萍;楊卓;徐銳;孫芳;陳俊;張文鵬;劉宇薇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：航天科工慣性技術(shù)有限公司
文檔號(hào)碼：201510946580
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.16
技術(shù)公布日：2017.06.23