本發(fā)明涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種射頻電子產(chǎn)品自動測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

射頻模塊產(chǎn)品存在生命周期短、測試復(fù)雜程度高、測試項目繁多、不同產(chǎn)品的測試指標(biāo)和測試方法存在差異等特點。

目前，射頻電子產(chǎn)品在交付使用之前均需對其進行檢測，傳統(tǒng)的射頻模塊測試往往依賴手動設(shè)置儀器和手動連接切換射頻通路，針對各個測試項目需要分別使用相應(yīng)的儀器與被測設(shè)備連接，然后通過操作面板按鍵，進行測試，并人工讀取測試結(jié)果，做出相應(yīng)的結(jié)論。這種方式的缺點是：測試效率低；容易誤操作，測試一致性不好；對測試人員的要求較高，不適合大規(guī)模生產(chǎn)應(yīng)用。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于：針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，提供一種射頻電子產(chǎn)品自動測試設(shè)備。

本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

一種射頻電子產(chǎn)品自動測試設(shè)備，包括中央處理器、上位機和待測電子產(chǎn)品，所述中央處理器連接有通訊接口管理、測試項目管理、儀器接口適配器、信息采集模塊和電源模塊，所述上位機與所述中央處理器的外部輸入/輸出接口通過串口連接。

作為優(yōu)選，所述信息采集模塊包括條碼掃描儀、紅外掃描儀和讀卡器。

作為優(yōu)選，所述儀器接口適配器包括單刀雙擲射頻開關(guān)、控制驅(qū)動模塊、射頻端口、音頻端口和電源接口，所述單刀雙擲射頻開關(guān)的觸頭分別連接測試 儀器，所述單刀雙擲射頻開關(guān)的擲刀連接所述射頻端口的一端；所述控制驅(qū)動模塊的輸入端連接測試儀器，所述控制驅(qū)動模塊輸出端連接所述單刀雙擲射頻開關(guān)的控制端和音頻端口，所述音頻端口的另一端連接被測設(shè)備；所述電源接口用于連接所述電源模塊進行供電。

綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明極大的提高了射頻電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程需要復(fù)雜的測試效率，采用構(gòu)建化和通用化思想，使用靈活簡單方便，另外，本發(fā)明設(shè)置有外部輸入/輸出接口，且通過串口連接上位機，通過上位機編程將測試命令發(fā)給中央處理器，進而實現(xiàn)自動化測試，降低了人工成本和測試成本。

附圖說明

本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中：

圖1是本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明的被測射頻電子產(chǎn)品與適配器連接結(jié)構(gòu)圖。

具體實施方式

本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。

本說明書(包括任何附加權(quán)利要求、摘要和附圖)中公開的任一特征，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即，除非特別敘述，每個特征只是一系列等效或類似特征中的一個例子而已。

如圖1和圖2所示，一種射頻電子產(chǎn)品自動測試設(shè)備，包括中央處理器、上位機和待測電子產(chǎn)品，所述中央處理器連接有通訊接口管理、測試項目管理、儀器接口適配器、信息采集模塊和電源模塊，所述上位機與所述中央處理器的外部輸入/輸出接口通過串口連接，所述信息采集模塊包括條碼掃描儀、紅外 掃描儀和讀卡器。

所述儀器接口適配器包括單刀雙擲射頻開關(guān)、控制驅(qū)動模塊、射頻端口、音頻端口和電源接口，所述單刀雙擲射頻開關(guān)的觸頭分別連接測試儀器，所述單刀雙擲射頻開關(guān)的擲刀連接所述射頻端口的一端；所述控制驅(qū)動模塊的輸入端連接測試儀器，所述控制驅(qū)動模塊輸出端連接所述單刀雙擲射頻開關(guān)的控制端和音頻端口，所述音頻端口的另一端連接被測設(shè)備；所述電源接口用于連接所述電源模塊進行供電。

以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限制本發(fā)明。本發(fā)明擴展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。