一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置包括測(cè)試箱，測(cè)試箱下底面設(shè)有調(diào)平板，測(cè)試箱側(cè)壁上設(shè)有放置孔，電磁塊從放置孔放入測(cè)試箱的調(diào)平板上，在測(cè)試箱上端面設(shè)有多個(gè)測(cè)距探頭，測(cè)距探頭與顯示屏電性連接。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于，能精確、快速測(cè)定電磁塊平面度。
【專利說(shuō)明】一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用涉及一種電磁塊生產(chǎn)的輔助生產(chǎn)工具，特別涉及一種電磁塊生產(chǎn)的平面度檢測(cè)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前電磁塊平面度的檢測(cè)一般需要人工用水平儀進(jìn)行檢測(cè)，人工檢測(cè)過(guò)程中，先需要檢測(cè)縱向平面度、再檢測(cè)橫向平面度，最后檢測(cè)斜邊平面度，然后再計(jì)算縱向、橫向、斜邊平面度的平均值，然后再判定八面體電磁塊平面度是否合格，整個(gè)過(guò)程較為復(fù)雜、精確度不聞。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用為了解決以上技術(shù)問(wèn)題，提供一種能精確、快速測(cè)定電磁塊平面度的電磁塊平面度檢測(cè)裝置。
[0004]解決技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案是，一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置包括測(cè)試箱，測(cè)試箱下底面設(shè)有調(diào)平板，測(cè)試箱側(cè)壁上設(shè)有放置孔，電磁塊從放置孔放入測(cè)試箱的調(diào)平板上，在測(cè)試箱上端面設(shè)有多個(gè)測(cè)距探頭，測(cè)距探頭與顯示屏電性連接。
[0005]進(jìn)一步講，調(diào)平板通過(guò)調(diào)節(jié)螺母安裝在測(cè)試箱底板上。
[0006]還可以，調(diào)平板上設(shè)有水平氣泡。
[0007]進(jìn)一步講，測(cè)試箱上設(shè)有旋轉(zhuǎn)盤(pán)，測(cè)距探頭安裝在旋轉(zhuǎn)盤(pán)上，旋轉(zhuǎn)盤(pán)與電機(jī)驅(qū)動(dòng)軸機(jī)械連接，電機(jī)通過(guò)驅(qū)動(dòng)軸驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)盤(pán)旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)測(cè)距探頭旋轉(zhuǎn)。
[0008]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于，將待測(cè)的電磁塊通過(guò)放置孔放入調(diào)平板后，啟動(dòng)測(cè)試箱上端的多個(gè)測(cè)距探頭，對(duì)電磁塊的多個(gè)點(diǎn)與測(cè)距探頭之間距離進(jìn)行測(cè)定，并將測(cè)試的數(shù)據(jù)顯示在顯示屏上，如果電磁塊平面度合格，測(cè)試的數(shù)據(jù)相差值小于某一個(gè)固定值，如果電磁塊平面度不合格，測(cè)試的數(shù)據(jù)相差值大于某個(gè)固定值，，操作人員能很快的判斷出電磁塊的平面度是否合格。
[0009]通過(guò)旋轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)測(cè)距探頭旋轉(zhuǎn)，能測(cè)定同一個(gè)測(cè)距探頭與電磁塊不同位置之間的間距，可以更精確的判定電磁塊的平面度。
[0010]【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】:
[0011]圖1是本實(shí)用新型的一種實(shí)施例。
[0012]圖2是圖1的A-A斷面示圖。
[0013]圖3是本實(shí)用新型的一種優(yōu)選實(shí)施例。
[0014]圖4是圖3的B-B斷面7]^圖。
[0015]如圖中，測(cè)試箱1、調(diào)平板2、放置孔3、測(cè)距探頭4、旋轉(zhuǎn)盤(pán)5、電機(jī)6。

【具體實(shí)施方式】
:
[0016]如圖1、2中，一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置包括測(cè)試箱I，測(cè)試箱I下底面設(shè)有調(diào)平板2，調(diào)平板2通過(guò)調(diào)節(jié)螺母安裝在測(cè)試箱I底板上，通過(guò)調(diào)節(jié)螺母使調(diào)平板2水平的放置在測(cè)試箱子中，測(cè)試箱I側(cè)壁上設(shè)有放置孔3，電磁塊從放置孔3放入測(cè)試箱I的調(diào)平板2上，在測(cè)試箱I上端面設(shè)有多個(gè)測(cè)距探頭4，測(cè)距探頭4優(yōu)選紅外線測(cè)距儀，測(cè)距探頭與顯示屏電性連接。工作時(shí)，將待測(cè)電磁塊從放置孔3中放在調(diào)平板2上，啟動(dòng)測(cè)距探頭4工作，測(cè)距探頭4將測(cè)得的其與電磁塊某個(gè)點(diǎn)之間的間距、并顯于在顯示屏上，多個(gè)測(cè)距探頭4發(fā)會(huì)測(cè)定電磁塊不同位上的點(diǎn)與測(cè)距探頭之間的間距，操作人員通過(guò)判定間距之是的差值是否小于或大于某個(gè)數(shù)值，來(lái)判斷電磁塊的平面度是否滿足要求。
[0017]優(yōu)選的，調(diào)平板2上設(shè)有水平氣泡，可以根據(jù)水平氣泡來(lái)判斷調(diào)平板報(bào)是否水平。
[0018]如圖3、4中，一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置包括測(cè)試箱1，測(cè)試箱I下底面設(shè)有調(diào)平板2，調(diào)平板2通過(guò)調(diào)節(jié)螺母安裝在測(cè)試箱I底板上，通過(guò)調(diào)節(jié)螺母使調(diào)平板2水平的放置在測(cè)試箱子中，測(cè)試箱I側(cè)壁上設(shè)有放置孔3，電磁塊從放置孔3放入測(cè)試箱I的調(diào)平板2上，測(cè)試箱I上設(shè)有旋轉(zhuǎn)盤(pán)5，測(cè)距探頭4安裝在旋轉(zhuǎn)盤(pán)5上，旋轉(zhuǎn)盤(pán)5與電機(jī)6驅(qū)動(dòng)軸機(jī)械連接，電機(jī)6通過(guò)驅(qū)動(dòng)軸驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)盤(pán)5旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)盤(pán)5旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)測(cè)距探頭4旋轉(zhuǎn)。工作時(shí)，將待測(cè)電磁塊從放置孔3中放在調(diào)平板2上，啟動(dòng)電機(jī)6驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)盤(pán)5旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)盤(pán)5上的測(cè)距探頭4開(kāi)始工作，旋轉(zhuǎn)盤(pán)5上的多個(gè)測(cè)距探頭4將測(cè)得的其與電磁塊不同點(diǎn)點(diǎn)之間的間距、并顯于在顯示屏上，操作人員將同一個(gè)測(cè)距探頭4與電磁塊不同位置上的間距收集起來(lái)編為一組，多個(gè)測(cè)距探頭4就有多組數(shù)據(jù)，先判定某一組內(nèi)數(shù)據(jù)的差值是否小于或大于某一數(shù)值，再求每組的平均值，然后求得每組平均值的差值，進(jìn)而判定電磁塊平面度是否滿足要求。
【權(quán)利要求】
1.一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置，其特征在于；所述檢測(cè)裝置包括測(cè)試箱(1)，測(cè)試箱(I)下底面設(shè)有調(diào)平板(2)，測(cè)試箱(I)側(cè)壁上設(shè)有放置孔(3)，電磁塊從放置孔(3)放入測(cè)試箱(I)的調(diào)平板(2)上，在測(cè)試箱(I)上端面設(shè)有多個(gè)測(cè)距探頭(4)，測(cè)距探頭與顯示屏電性連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置，其特征在于；所述調(diào)平板(2)通過(guò)調(diào)節(jié)螺母安裝在測(cè)試箱(I)底板上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述調(diào)平板(2)上設(shè)有水平氣泡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電磁塊平面度檢測(cè)裝置，其特征在于:所述測(cè)試箱(I)上設(shè)有旋轉(zhuǎn)盤(pán)(5)，測(cè)距探頭(4)安裝在旋轉(zhuǎn)盤(pán)(5)上，旋轉(zhuǎn)盤(pán)(5)與電機(jī)(6)驅(qū)動(dòng)軸機(jī)械連接，電機(jī)(6)通過(guò)驅(qū)動(dòng)軸驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)盤(pán)(5)旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)盤(pán)(5)旋轉(zhuǎn)帶動(dòng)測(cè)距探頭(4)旋轉(zhuǎn)。
【文檔編號(hào)】G01B21/30GK204177376SQ201420705676
【公開(kāi)日】2015年2月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月21日
【發(fā)明者】譚科 申請(qǐng)人:宜昌瑞英機(jī)電有限公司