智能按鍵檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種用于按鍵檢測系統(tǒng)的支架，包括底座，所述底座上安裝有個連桿機(jī)構(gòu)，所述兩個連桿機(jī)構(gòu)上安裝有探針板，所述探針板上安裝有金屬探針；所述底座上開設(shè)有遙控板安裝槽。本實(shí)用新型其結(jié)構(gòu)簡單、制造方便，具有方便遙控板定位、高工作效率，方便操作的特點(diǎn)。
【專利說明】 智能按鍵檢測系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測系統(tǒng)領(lǐng)域，尤其涉及智能按鍵檢測系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]目前市面上，用于遙控板上的按鍵檢測的方法都為人工一個個按鍵檢測過去；遙控板上的按鍵很多，這樣的工作方式效率太低，影響到產(chǎn)量及人力成本；且手工在測按鍵時會出現(xiàn)人為誤差，影響檢測結(jié)果。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供智能按鍵檢測系統(tǒng)，其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點(diǎn)位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節(jié)省了人力物力的成本。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是:
[0005]智能按鍵檢測系統(tǒng)，包括主MCU和從MCU，所述主MCU的I/O 口和從MCU的I/O 口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴(kuò)展IC端口通過線路連接，所述I/O擴(kuò)展IC端口與模擬開關(guān)IC通過線路連接，所述模擬開關(guān)IC與測試夾具通過線路連接，所述測試夾具與主MCU通過線路連接。
[0006]所述測試夾具包括支架，所述支架與氣缸相連，所述支架上安裝有金屬探針，所述金屬探針分別與限位傳感器、模擬開關(guān)IC相連，所述限位傳感器、氣缸均與主MCU相連。
[0007]智能按鍵檢測系統(tǒng)的使用方法，包括如下步驟:1)在主MIC設(shè)置待檢測按鍵的數(shù)量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間并將信號發(fā)送給從MCU ；2)從MCU接收由主MCU發(fā)送的待檢測按鍵的數(shù)量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間信號，控制I/O擴(kuò)展IC以一個I/O 口控制多個模擬開關(guān)IC (4);同時，主MCU控制氣缸，使夾具上的金屬探針去接觸待測按鍵；3)模擬開關(guān)IC的輸出端控制金屬探針的通電開關(guān)，金屬探針接觸被檢測按鍵的按鍵點(diǎn)位，通過限位傳感器觸發(fā)主MCU，進(jìn)行檢測，當(dāng)主MCU上的綠燈亮?xí)r，按鍵點(diǎn)位無故障；當(dāng)紅燈亮?xí)r按鍵點(diǎn)位存在故障。
[0008]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點(diǎn)位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節(jié)省了人力物力的成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0010]實(shí)施例1
[0011]如圖1所示的智能按鍵檢測系統(tǒng)，包括主MCUl和從MCU2，所述主MCUl的I/O 口和從MCU2的I/O 口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴(kuò)展IC端口 3通過線路連接，所述I/O擴(kuò)展IC端口 3與模擬開關(guān)IC4通過線路連接，所述模擬開關(guān)IC4與測試夾具5通過線路連接，所述測試夾具5與主M⑶I通過線路連接；所述測試夾具包括支架6，所述支架6與氣缸7相連，所述支架6上安裝有金屬探針8，所述金屬探針8分別與限位傳感器9、模擬開關(guān)IC4相連，所述限位傳感器8、氣缸7均與主MCUl相連。
[0012]智能按鍵檢測系統(tǒng)的使用方法，包括如下步驟:1)在主MICl設(shè)置待檢測按鍵10的數(shù)量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間并將信號發(fā)送給從MCU2 ；2)從MCU2接收由主MCUl發(fā)送的待檢測按鍵10的數(shù)量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間信號，控制I/O擴(kuò)展IC以一個I/O 口控制多個模擬開關(guān)IC4 ;同時，主MCUl控制氣缸7，使夾具5上的金屬探針8去接觸待測按鍵10 ;3)模擬開關(guān)IC4的輸出端控制金屬探針8的通電開關(guān)，金屬探針8接觸被檢測按鍵10的按鍵點(diǎn)位，通過限位傳感器9觸發(fā)主MCUl，進(jìn)行檢測，當(dāng)主MCUl上的綠燈亮?xí)r，按鍵點(diǎn)位無故障；當(dāng)紅燈亮?xí)r按鍵點(diǎn)位存在故障。
[0013]本實(shí)施例的智能按鍵檢測系統(tǒng)，其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點(diǎn)位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節(jié)省了人力物力的成本。
【權(quán)利要求】
1.智能按鍵檢測系統(tǒng)，其特征在于:包括主MCU (I)和從MCU (2)，所述主MCU (I)的I/O 口和從MCU (2)的I/O 口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴(kuò)展IC端口(3)通過線路連接，所述I/O擴(kuò)展IC端口(3)與模擬開關(guān)IC (4)通過線路連接，所述模擬開關(guān)IC (4)與測試夾具(5)通過線路連接，所述測試夾具(5)與主MCU (I)通過線路連接；所述測試夾具(5 )包括支架(6 )，所述支架(6 )與氣缸(7 )相連，所述支架(6 )上安裝有金屬探針(8 )，所述金屬探針(8)分別與限位傳感器(9)、模擬開關(guān)IC (4)相連，所述限位傳感器(9)、氣缸(7)均與主MCU (I)相連。
【文檔編號】G01R31/327GK204256125SQ201420656843
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年11月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月5日
【發(fā)明者】胡克飛 申請人:浙江杭一電器有限公司