角度測量器的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種角度測量器，其包括內(nèi)部開有活動孔的測試底座、活動在活動孔內(nèi)的活動塊，所述活動塊與活動孔之間形成便于活動孔活動的間隙，所述活動塊上端的測試底座內(nèi)設(shè)有至少一個被測磁片或標(biāo)準(zhǔn)磁片放置的凹槽，所述測試底座上設(shè)有測量活動塊活動的測量裝置，所述測試底座上設(shè)有至少兩組便于調(diào)節(jié)活動塊活動的調(diào)節(jié)裝置；本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)：先將標(biāo)準(zhǔn)磁片放置在凹槽內(nèi)并調(diào)整測量裝置的刻度，然后將被測磁片放置在測試底座內(nèi)的凹槽內(nèi)，確認(rèn)百分表刻度變化，換算角度值即可，提高了測量速度，由原來的3分鐘每片提升到20秒每片，降低了工作量。
【專利說明】角度測量器

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及角度測量器。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，磁片作為電機(jī)中的一個重要組成部件，而磁片生產(chǎn)后，因?yàn)榇牌嵌裙芾淼闹匾?，現(xiàn)有不同型號的磁片生產(chǎn)后均需要抽檢100片進(jìn)行檢驗(yàn)，從而確認(rèn)是否符合圖紙要求，現(xiàn)有的方法是利用投影儀等工具進(jìn)行測量，測量速度為3分鐘每片，工作量大，使用效果差，檢測存在誤差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有磁片測量時存在測量速度慢，工作量大，從而提供角度測量器。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:一種角度測量器，包括內(nèi)部開有活動孔的測試底座、活動在活動孔內(nèi)的活動塊，所述活動塊與活動孔之間形成便于活動孔活動的間隙，所述活動塊上端的測試底座內(nèi)設(shè)有至少一個被測磁片或標(biāo)準(zhǔn)磁片放置的凹槽，所述測試底座上設(shè)有測量活動塊活動的測量裝置，所述測試底座上設(shè)有至少兩組便于調(diào)節(jié)活動塊活動的調(diào)節(jié)裝置。
[0005]作為優(yōu)選，所述活動塊在活動孔內(nèi)沿半徑為57.2958mm的圓弧轉(zhuǎn)動，實(shí)現(xiàn)了百分表移動一小格等于被測部件差異0.01度，測量誤差小，便于計算。
[0006]作為優(yōu)選，所述測量裝置為百分表，所述百分表的側(cè)量頭穿設(shè)在測試底座后與活動塊接觸，所述測試底座上還設(shè)有將百分表固定在測試底座上的固定裝置，百分表便于讀數(shù)，可靠性好。
[0007]作為優(yōu)選，所述間隙所對應(yīng)的中心角為3度，使用效果好，可靠性強(qiáng)。
[0008]作為優(yōu)選，所述調(diào)節(jié)裝置為彈簧柱塞，彈簧柱塞調(diào)節(jié)效果好，調(diào)節(jié)方便，可靠性能好。
[0009]作為優(yōu)選，所述固定裝置為螺釘，所述螺釘?shù)那岸舜┰O(shè)在測試底座后與百分表接觸，螺釘連接可靠，安裝拆卸方便。
[0010]作為優(yōu)選，所述活動塊的一端的橫截面為尖形，所述尖形的頂端設(shè)有圓弧部，所述圓弧部的直徑為2mm，便于活動塊與測試底座內(nèi)的活動孔緊密貼合，使用效果好，便于測量。
[0011]綜上所述，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn):先將標(biāo)準(zhǔn)磁片放置在凹槽內(nèi)并調(diào)整測量裝置的刻度，然后將被測磁片放置在測試底座內(nèi)的凹槽內(nèi)，確認(rèn)百分表刻度變化，換算角度值即可，提高了測量速度，由原來的3分鐘每片提升到20秒每片，降低了工作量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明:
[0013]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖中的編碼分別為:1為測試底座，2為活動塊，3為被測磁片，4為測量裝置，5為調(diào)節(jié)裝置，6為固定裝置，11為活動孔，12為凹槽。

【具體實(shí)施方式】
[0015]如圖1所示，本角度測量器，包括內(nèi)部開有活動孔11的測試底座1、活動在活動孔11內(nèi)的活動塊2,所述活動塊2與活動孔11之間形成便于活動孔11活動的間隙，所述活動塊2上端的測試底座1內(nèi)設(shè)有至少一個被測磁片3或標(biāo)準(zhǔn)磁片放置的凹槽12，所述測試底座1上設(shè)有測量活動塊2活動的測量裝置4，所述測試底座1上設(shè)有至少兩組便于調(diào)節(jié)活動塊2活動的調(diào)節(jié)裝置5，所述活動塊2在活動孔11內(nèi)沿半徑為57.2958mm的圓弧轉(zhuǎn)動，實(shí)現(xiàn)了百分表移動一小格等于被測部件差異0.01度，測量誤差小，便于計算，所述測量裝置4為百分表，所述百分表的側(cè)量頭穿設(shè)在測試底座1后與活動塊2接觸，所述測試底座1上還設(shè)有將百分表固定在測試底座1上的固定裝置6，百分表便于讀數(shù)，可靠性好，所述間隙所對應(yīng)的中心角為3度，使用效果好，可靠性強(qiáng)，所述調(diào)節(jié)裝置5為彈簧柱塞，彈簧柱塞調(diào)節(jié)效果好，調(diào)節(jié)方便，可靠性能好，所述固定裝置6為螺釘，所述螺釘?shù)那岸舜┰O(shè)在測試底座1后與百分表接觸，螺釘連接可靠，安裝拆卸方便，所述活動塊2的一端的橫截面為尖形，所述尖形的頂端設(shè)有圓弧部，所述圓弧部的直徑為2mm，便于活動塊2與測試底座1內(nèi)的活動孔11緊密貼合，使用效果好，便于測量。
[0016]將活動塊2放置在測試底座1上設(shè)有的活動孔11內(nèi)，并通過彈簧柱塞調(diào)整活動塊2—端設(shè)有的圓弧與測試臺緊密配合，然后將標(biāo)準(zhǔn)磁片放置在測試底座1的凹槽12內(nèi)，調(diào)整百分表位置到目標(biāo)刻度，用被測磁片3塞入凹槽12替換標(biāo)準(zhǔn)磁片，確認(rèn)百分表刻度變化，換算角度值即可，百分表移動一小格等于被測部件差異0.01度。
[0017]先將標(biāo)準(zhǔn)磁片放置在凹槽內(nèi)并調(diào)整測量裝置的刻度，然后將被測磁片放置在測試底座內(nèi)的凹槽內(nèi)，確認(rèn)百分表刻度變化，換算角度值即可，提高了測量速度，由原來的3分鐘每片提升到20秒每片，降低了工作量。
【權(quán)利要求】
1.一種角度測量器，其特征在于:包括內(nèi)部開有活動孔(11)的測試底座(I)、活動在活動孔(11)內(nèi)的活動塊(2),所述活動塊(2)與活動孔(11)之間形成便于活動孔(11)活動的間隙，所述活動塊(2)上端的測試底座(I)內(nèi)設(shè)有至少一個被測磁片(3)或標(biāo)準(zhǔn)磁片放置的凹槽(12)，所述測試底座(I)上設(shè)有測量活動塊(2)活動的測量裝置(4)，所述測試底座(I)上設(shè)有至少兩組便于調(diào)節(jié)活動塊(2)活動的調(diào)節(jié)裝置(5)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的角度測量器，其特征在于:所述活動塊(2)在活動孔(11)內(nèi)沿半徑為57.2958mm的圓弧轉(zhuǎn)動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的角度測量器，其特征在于:所述測量裝置(4)為百分表，所述百分表的側(cè)量頭穿設(shè)在測試底座(I)后與活動塊(2)接觸，所述測試底座(I)上還設(shè)有將百分表固定在測試底座(I)上的固定裝置(6)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的角度測量器，其特征在于:所述間隙所對應(yīng)的中心角為3度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的角度測量器，其特征在于:所述調(diào)節(jié)裝置(5)為彈簧柱塞。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的角度測量器，其特征在于:所述固定裝置(6)為螺釘，所述螺釘?shù)那岸舜┰O(shè)在測試底座(I)后與百分表接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的角度測量器，其特征在于:所述活動塊(2)的一端的橫截面為尖形，所述尖形的頂端設(shè)有圓弧部，所述圓弧部的直徑為2mm。
【文檔編號】G01B5/24GK204043592SQ201420361847
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年6月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月28日
【發(fā)明者】施偉杰 申請人:施偉杰