一種射頻測(cè)試治具的制作方法
【專利摘要】一種射頻測(cè)試治具，包括電控箱（1）、屏蔽箱（3）和測(cè)試箱（4），測(cè)試箱（4）可移除地放置于屏蔽箱（3）內(nèi)，并與電控箱（1）電連接，其特征在于：還包括測(cè)試模組（5），所述測(cè)試模組（5）包括底板（58）、屏蔽門（55）、載板（54）、壓板（52）和轉(zhuǎn)接針板（51），底板（58）上放置載板（54），其優(yōu)點(diǎn)是通用性強(qiáng)、體積小、使用方便、不會(huì)對(duì)待測(cè)工件造成損壞。
【專利說明】一種射頻測(cè)試治具
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本實(shí)用新型涉及測(cè)試裝置，尤指一種射頻測(cè)試治具。主要用于手機(jī)和平板電腦等電子產(chǎn)品的PCBA板的射頻測(cè)試。
【【背景技術(shù)】】
[0002]在手機(jī)和平板電腦等電子產(chǎn)品的PCBA板的射頻測(cè)試中常常要用到測(cè)試治具?，F(xiàn)有技術(shù)的射頻測(cè)試治具，都是一種治具針對(duì)一種產(chǎn)品特別定制的，測(cè)試治具的模塊性劃分不強(qiáng)，待測(cè)產(chǎn)品的小的改動(dòng)，都有可能需要重新定制測(cè)試治具，這樣造成了很大的時(shí)間和財(cái)力的浪費(fèi)，修改和更換都不方便。另外，目前的射頻測(cè)試治具，都是將待測(cè)產(chǎn)品放到載板上，然后由氣缸帶動(dòng)載板進(jìn)入治具中，然后探針壓合，開始測(cè)試。在載板進(jìn)入氣缸過程中，如果存在震動(dòng)，有可能導(dǎo)致產(chǎn)品沒放到位。在這個(gè)時(shí)候探針壓合，會(huì)損壞待測(cè)物和探針。
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【發(fā)明內(nèi)容】
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[0003]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種通用性強(qiáng)、使用方便、不會(huì)對(duì)待測(cè)工件造成損壞的射頻測(cè)試治具。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種射頻測(cè)試治具，包括電控箱、屏蔽箱和測(cè)試箱，測(cè)試箱可移除地放置于屏蔽箱內(nèi)，并與電控箱電連接，其特征在于:還包括測(cè)試模組，所述測(cè)試模組包括底板、屏蔽門、載板、壓板和轉(zhuǎn)接針板，底板上放置載板，載板上有導(dǎo)軌與測(cè)試箱上的導(dǎo)軌槽相適配，載板通過導(dǎo)軌與導(dǎo)軌槽的配合可移動(dòng)地裝于測(cè)試箱內(nèi)，待測(cè)件可移除地放置于載板上，壓板蓋于待測(cè)件上將待測(cè)件固定，屏蔽門與底板垂直；所述測(cè)試箱上有測(cè)試架，所述測(cè)試架可上下移動(dòng)地與氣缸連接，測(cè)試架上固定有射頻測(cè)試探針，射頻測(cè)試探針可于測(cè)試架下移與壓板接觸后通過壓板上的通孔與待測(cè)件電接觸，射頻測(cè)試探針與下?lián)醢錪上的轉(zhuǎn)接針電連接，所述轉(zhuǎn)接針通過信號(hào)轉(zhuǎn)接板與濾波器電連接，濾波器與電控箱電連接。
[0005]使用時(shí)先將待測(cè)件固定在測(cè)試模組的載板上，用壓板將之壓緊，再將測(cè)試模組推入測(cè)試箱內(nèi)，將測(cè)試箱推入電磁屏蔽箱即可進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試箱里可以放多個(gè)待測(cè)件。
[0006]測(cè)試模組的壓板和載板可以采用鋁銑槽制作而成，壓合后單個(gè)待測(cè)件之間一般為20dB的隔離度。
[0007]本實(shí)用新型的有益效果是:通用性強(qiáng)、體積小、使用方便、不會(huì)對(duì)待測(cè)工件造成損壞。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0008]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。
[0009]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)分解圖。
[0010]圖2是本實(shí)用新型的測(cè)試模組結(jié)構(gòu)圖。
[0011]圖3是本實(shí)用新型的測(cè)試箱結(jié)構(gòu)圖。[0012]圖中:1為電控箱、2為濾波器、3為屏蔽箱、4為測(cè)試箱、5為測(cè)試模組、6為待測(cè)件；
[0013]在屏蔽箱3中:31為上蓋、32為箱體；
[0014]在測(cè)試箱4中:41為側(cè)板、42為氣缸、43為上部射頻探針、44為下部射頻探針、45為導(dǎo)軌槽、46為下?lián)醢濉?7為DB9接頭、48為控制板、49為信號(hào)轉(zhuǎn)接板；
[0015]在測(cè)試模組5中:51為轉(zhuǎn)接針板、52為壓板、53為導(dǎo)軌、54為載板、55為屏蔽門、56為后部轉(zhuǎn)接Pad點(diǎn)、57為導(dǎo)位孔、58為底板、59為卡扣。
【【具體實(shí)施方式】】
[0016]參見附圖，本實(shí)用新型一種射頻測(cè)試治具，包括電控箱1、屏蔽箱3和測(cè)試箱4，測(cè)試箱4可移除地放置于屏蔽箱3內(nèi)，并與電控箱I電連接，其特征在于:還包括測(cè)試模組5，所述測(cè)試模組5包括底板58、屏蔽門55、載板54、壓板52和轉(zhuǎn)接針板51，底板58上放置載板54，載板54上有導(dǎo)軌53與測(cè)試箱4上的導(dǎo)軌槽45相適配，載板54通過導(dǎo)軌53與導(dǎo)軌槽45的配合可移動(dòng)地裝于測(cè)試箱4內(nèi)，待測(cè)件6可移除地放置于載板54上，壓板52蓋于待測(cè)件6上將待測(cè)件6固定，屏蔽門55與底板58垂直；所述測(cè)試箱4上有測(cè)試架，所述測(cè)試架可上下移動(dòng)地與氣缸42連接，測(cè)試架上固定有射頻測(cè)試探針43，射頻測(cè)試探針43可于測(cè)試架下移與壓板52接觸后通過壓板52上的通孔與待測(cè)件6電接觸，射頻測(cè)試探針43與下?lián)醢?6上的轉(zhuǎn)接針電連接，所述轉(zhuǎn)接針通過信號(hào)轉(zhuǎn)接板49與濾波器2電連接，濾波器2與電控箱I電連接。`
【權(quán)利要求】
1.一種射頻測(cè)試治具，包括電控箱(I)、屏蔽箱(3)和測(cè)試箱(4)，測(cè)試箱(4)可移除地放置于屏蔽箱(3)內(nèi)，并與電控箱(I)電連接，其特征在于:還包括測(cè)試模組(5)，所述測(cè)試模組(5)包括底板(58)、屏蔽門(55)、載板(54)、壓板(52)和轉(zhuǎn)接針板(51)，底板(58)上放置載板(54)，載板(54)上有導(dǎo)軌(53)與測(cè)試箱(4)上的導(dǎo)軌槽(45)相適配，載板(54)通過導(dǎo)軌(53)與導(dǎo)軌槽(45)的配合可移動(dòng)地裝于測(cè)試箱(4)內(nèi)，待測(cè)件(6)可移除地放置于載板(54)上，壓板(52)蓋于待測(cè)件(6)上將待測(cè)件(6)固定，屏蔽門(55)與底板(58)垂直；所述測(cè)試箱(4)上有測(cè)試架，所述測(cè)試架可上下移動(dòng)地與氣缸(42)連接，測(cè)試架上固定有射頻測(cè)試探針(43)，射頻測(cè)試探針(43)可于測(cè)試架下移與壓板(52)接觸后通過壓板(52)上的通孔與待測(cè)件(6)電接觸，射頻測(cè)試探針(43)與下?lián)醢?46)上的轉(zhuǎn)接針電連接，所述轉(zhuǎn)接針通過信號(hào)轉(zhuǎn)接板(49)與濾波器(2)電連接，濾波器(2)與電控箱(I)電連接。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK203643487SQ201420022324
【公開日】2014年6月11日 申請(qǐng)日期:2014年1月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月14日
【發(fā)明者】張中會(huì) 申請(qǐng)人:深圳市德富萊自動(dòng)化設(shè)備有限公司