一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，包括確定合格值及其范圍、建立直角坐標(biāo)系、確定圓心、測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值及是否合格判定步驟。本發(fā)明是采用在圓弧面（1）上的各測(cè)量點(diǎn)與圓弧面（1）的圓心（O）之間的半徑（R1）來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面（1）的半徑（R1）是否合格，即采用直線距離來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面（1）的半徑（R1）是否合格，從而判定短圓弧半徑樣板是否合格。因而，本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)采用在圓弧面（1）上選擇若干個(gè)微小段圓弧面進(jìn)行測(cè)量并耦合計(jì)算判定短圓弧半徑樣板的圓弧面（1）的半徑（R1）是否合格，就準(zhǔn)確、可靠得多，且效率也較高。
【專利說明】一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及樣板的測(cè)量方法，具體涉及一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法。

【背景技術(shù)】
[0002]在一些機(jī)械設(shè)備中，具有凹圓弧的零件。為了確定該零件的凹圓弧是否合格，需要采用一種其圓弧面與該零件的凹圓弧半徑相同、形狀相反的短圓弧半徑樣板進(jìn)行比較測(cè)量。參見圖1，該圖1顯示了測(cè)量形狀為凹圓弧的零件所采用的短圓弧半徑樣板。該短圓弧半徑樣板，包括外凸的圓弧面1，由該圓弧面I上、下端分別向右側(cè)平行向外延伸的上平面2和下平面3，以及與該上平面2和下平面3垂直且上下端分別與該上平面2和下平面3外端相連的垂直平面4。該短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑Rl及其圓弧角A是否合格，直接影響被測(cè)量零件的凹圓弧半徑的測(cè)量準(zhǔn)確性。因此，必須保證該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl及其圓弧角A的精度達(dá)到規(guī)定的要求。通常，采用校對(duì)樣板通過比較測(cè)量，和采用萬能光學(xué)顯微鏡或三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，通過采點(diǎn)測(cè)量并計(jì)算若干圓弧面I上的每一微小段圓弧的坐標(biāo)值，擬合成圓弧面來確定該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl及其圓弧角A的精度是否達(dá)到規(guī)定的要求。當(dāng)該短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑Rl所對(duì)應(yīng)的圓弧角A大于180°或接近180°時(shí)，這種運(yùn)用萬能光學(xué)顯微鏡或三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量方法比較可靠，也比較準(zhǔn)確。而當(dāng)該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl所對(duì)應(yīng)的圓弧角A小于60°時(shí)，由于圓弧面I的圓弧面較短，以及萬能光學(xué)顯微鏡或者三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量微小段圓弧的誤差較大，將使采用每一微小段圓弧的坐標(biāo)值擬合而成的圓弧面I的數(shù)值與圓弧面I的實(shí)際數(shù)值存在較大誤差，因而難以判定該短圓弧半徑樣板的半徑Rl是否合格、是否達(dá)到規(guī)定的要求，使得測(cè)量不夠準(zhǔn)確、不夠可靠且測(cè)量效率較低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種測(cè)量準(zhǔn)確度、效率較高的短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采取如下技術(shù)方案；
一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，包括確定合格值及其范圍、建立直角坐標(biāo)系、確定圓心、測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值及是否合格判定步驟，其特征是:
第一步，確定合格值及其范圍，確定所述短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑的合格值及其范圍；
第二步，建立直角坐標(biāo)系，將短圓弧半徑樣板放置于測(cè)量?jī)x器上，以所述短圓弧半徑樣板的圓弧面的下平面的右端與垂直平面的下端的交點(diǎn)為坐標(biāo)基準(zhǔn)點(diǎn)，以短圓弧半徑樣板的下平面為X軸、垂直平面為Y軸；
第三步，確定圓心，首先，選擇第一上測(cè)量點(diǎn)并測(cè)量該第一上測(cè)量點(diǎn)的第一上坐標(biāo)值，該第一上測(cè)量點(diǎn)位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面上并在該圓弧面與上平面的交點(diǎn)的附近; 接著，選擇第一下測(cè)量點(diǎn)并測(cè)量該第一下測(cè)量點(diǎn)的第一下坐標(biāo)值，該第一下測(cè)量點(diǎn)位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面上并在該圓弧面與下平面的交點(diǎn)的附近；
之后，根據(jù)第一上測(cè)量點(diǎn)和第一下測(cè)量點(diǎn)的坐標(biāo)值，并結(jié)合短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑的合格值，計(jì)算并確定短圓弧半徑樣板的圓弧面在坐標(biāo)系中的圓心的坐標(biāo)值及具體位置；
第四步，測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值，以第一上測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面的圓弧上向下移動(dòng)一個(gè)微小距離作為第二上測(cè)量點(diǎn)，測(cè)量該第二上測(cè)量點(diǎn)的第二上坐標(biāo)值并根據(jù)該第二上坐標(biāo)值計(jì)算出該第二上測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值；再以第一下測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面的圓弧上向上移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第二下測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量該第二下測(cè)量點(diǎn)的第二下坐標(biāo)值并根據(jù)該第二下坐標(biāo)值計(jì)算出該第二下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值；
再接著，又以第二上測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，向下再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三上測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量該第三上測(cè)量點(diǎn)的第三上坐標(biāo)值并根據(jù)該第三上坐標(biāo)值計(jì)算出該第三上測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值；又再以第二下坐標(biāo)點(diǎn)為起始點(diǎn)，向上再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三下測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量該第三下測(cè)量點(diǎn)的第三下坐標(biāo)值并根據(jù)該第三下坐標(biāo)值計(jì)算出該第三下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值；
然后，重復(fù)上述過程，選擇第四上測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四上測(cè)量點(diǎn)的第四上坐標(biāo)值并根據(jù)該第四上坐標(biāo)值計(jì)算出該第四上測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值，以及選擇第四下測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四下測(cè)量點(diǎn)的坐標(biāo)值并根據(jù)該第四下坐標(biāo)值計(jì)算出該第四下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值，直至選擇并測(cè)量出上測(cè)量點(diǎn)和下測(cè)量重合時(shí)的第m上測(cè)量點(diǎn)與第η下測(cè)量點(diǎn)的座標(biāo)值并根據(jù)該座標(biāo)值計(jì)算出第m上測(cè)量點(diǎn)與第η下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面至其圓心的半徑值；
第五步，是否合格判定；
將上述步驟中測(cè)量并計(jì)算出的第一上測(cè)量點(diǎn)、第二上測(cè)量點(diǎn)、第三上測(cè)量點(diǎn)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)、第二下測(cè)量點(diǎn)，第三下測(cè)量點(diǎn)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第n下測(cè)量點(diǎn)分別從圓弧面至其圓心的半徑值，與所述短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑在合格范圍內(nèi)的合格值一一對(duì)比；
如果第一上測(cè)量點(diǎn)、第二上測(cè)量點(diǎn)、第三上測(cè)量點(diǎn)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)、第二下測(cè)量點(diǎn)，第三下測(cè)量點(diǎn)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)分別從圓弧面至其圓心的半徑值均在短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑合格；
如果第一上測(cè)量點(diǎn)、第二上測(cè)量點(diǎn)、第三上測(cè)量點(diǎn)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)、第二下測(cè)量點(diǎn)，第三下測(cè)量點(diǎn)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)分別從圓弧面至其圓心的半徑值中有一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑的合格值范圍之內(nèi)，或者有不連續(xù)的兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑的合格值范圍之內(nèi)，也判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑合格；如果第一上測(cè)量點(diǎn)、第二上測(cè)量點(diǎn)、第三上測(cè)量點(diǎn)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)、第二下測(cè)量點(diǎn)，第三下測(cè)量點(diǎn)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)分別從圓弧面至其圓心的半徑值中有連續(xù)的兩個(gè)及兩個(gè)以上測(cè)量點(diǎn)的半徑值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面至其圓心的半徑的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑不合格。
[0005]優(yōu)選地，所述第四步中，以每一個(gè)上測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面的圓弧上向下移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm，以每一個(gè)下測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面的圓弧上向上移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm。
[0006]優(yōu)選地，所述測(cè)量?jī)x器為萬能光學(xué)顯微鏡或者三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
[0007]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明包含如下有益效果:
本發(fā)明是在圓弧面上確定第一上、下測(cè)量點(diǎn)，根據(jù)第一上、下測(cè)量點(diǎn)與圓弧面的半徑的合格值確定并計(jì)算出圓弧面的圓心坐標(biāo)位置，然后再確定其它上、下測(cè)量點(diǎn)，并根據(jù)它們的坐標(biāo)值分別計(jì)算出它們與圓弧面的圓心坐標(biāo)之間的半徑值，最后，將它們與圓弧面的圓心坐標(biāo)之間的半徑值與圓弧面的合格半徑值逐一進(jìn)行對(duì)比，并判定圓弧面的半徑是否合格，從而判定短圓弧半徑樣板是否合格。由于本發(fā)明是采用在圓弧面上的各測(cè)量點(diǎn)與圓弧面的圓心之間的半徑來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑是否合格，即采用直線距離來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑是否合格，從而判定短圓弧半徑樣板是否合格。因而，本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)采用在圓弧面上選擇若干個(gè)微小段圓弧面進(jìn)行測(cè)量并耦合計(jì)算判定短圓弧半徑樣板的圓弧面的半徑是否合格，就準(zhǔn)確、可靠得多，且效率也較高。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發(fā)明所測(cè)量的短圓弧半徑樣板的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明測(cè)量過程的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0010]參見圖2，本發(fā)明的短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，包括確定合格值及其范圍、建立直角坐標(biāo)系、確定圓心、測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值及是否合格判定步驟:第一步，確定合格值及其范圍，確定所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl的合格值及其范圍；第二步，建立直角坐標(biāo)系，將短圓弧半徑樣板放置于測(cè)量?jī)x器上，以所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I的下平面3的右端與垂直平面4的下端的交點(diǎn)為坐標(biāo)基準(zhǔn)點(diǎn)，以短圓弧半徑樣板的下平面3為X軸、垂直平面4為Y軸；第三步，確定圓心，首先，選擇第一上測(cè)量點(diǎn)10并測(cè)量該第一上測(cè)量點(diǎn)10的第一上坐標(biāo)值XI，Y1，該第一上測(cè)量點(diǎn)10位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I上并在該圓弧面I與上平面2的交點(diǎn)的附近；接著，選擇第一下測(cè)量點(diǎn)20并測(cè)量該第一下測(cè)量點(diǎn)20的第一下坐標(biāo)值X2，Y2，該第一下測(cè)量點(diǎn)20位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I上并在該圓弧面I與下平面3的交點(diǎn)的附近；之后，根據(jù)第一上測(cè)量點(diǎn)10和第一下測(cè)量點(diǎn)20的坐標(biāo)值，并結(jié)合短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl的合格值，計(jì)算并確定短圓弧半徑樣板的圓弧面I在坐標(biāo)系中的圓心O的坐標(biāo)值及具體位置；第四步，測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值，即測(cè)量計(jì)算其它上、下測(cè)量點(diǎn)從短圓弧半徑樣板的圓弧面I至坐標(biāo)系中的圓心O之間的半徑Rl值，以第一上測(cè)量點(diǎn)10為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I的圓弧上向下移動(dòng)一個(gè)微小距離作為第二上測(cè)量點(diǎn)30，測(cè)量該第二上測(cè)量點(diǎn)30的第二上坐標(biāo)值X3，Y3并根據(jù)該第二上坐標(biāo)值X3，Y3計(jì)算出該第二上測(cè)量點(diǎn)30從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值；再以第一下測(cè)量點(diǎn)20為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I的圓弧上向上移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第二下測(cè)量點(diǎn)40、測(cè)量該第二下測(cè)量點(diǎn)40第二下坐標(biāo)值X4，Y4并根據(jù)該第二下坐標(biāo)值X4，Y4計(jì)算出該第二下測(cè)量點(diǎn)40從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值；再接著，又以第二上測(cè)量點(diǎn)30為起始點(diǎn)，向下再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三上測(cè)量點(diǎn)50、測(cè)量該第三上測(cè)量點(diǎn)50的第三上坐標(biāo)值X5，Y5并根據(jù)該第三上坐標(biāo)值Χ5，Υ5計(jì)算出該第三上測(cè)量點(diǎn)50從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值；又再以第二下坐標(biāo)點(diǎn)40為起始點(diǎn)，向上再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三下測(cè)量點(diǎn)60、測(cè)量該第三下測(cè)量點(diǎn)60的第三下坐標(biāo)值Χ6，Υ6并根據(jù)該第三下坐標(biāo)值Χ6，Υ6計(jì)算出該第三下測(cè)量點(diǎn)60從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值；然后，重復(fù)上述過程，選擇第四上測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四上測(cè)量點(diǎn)的第四上坐標(biāo)值并根據(jù)該第四上坐標(biāo)值計(jì)算出該第四上測(cè)量點(diǎn)從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值，以及選擇第四下測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四下測(cè)量點(diǎn)的坐標(biāo)值并根據(jù)該第四下坐標(biāo)值計(jì)算出該第四下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值，直至選擇并測(cè)量出上測(cè)量點(diǎn)和下測(cè)量重合時(shí)的第m上測(cè)量點(diǎn)M與第η下測(cè)量點(diǎn)N的座標(biāo)值并根據(jù)該座標(biāo)值計(jì)算出第m上測(cè)量點(diǎn)M與第η下測(cè)量點(diǎn)N從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值；第五步，是否合格判定；將上述步驟中測(cè)量并計(jì)算出的第一上測(cè)量點(diǎn)10、第二上測(cè)量點(diǎn)30、第三上測(cè)量點(diǎn)50、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)M，以及第一下測(cè)量點(diǎn)20、第二下測(cè)量點(diǎn)40，第三下測(cè)量點(diǎn)60、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)N分別從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值，與所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl在合格范圍內(nèi)的合格值一一對(duì)比；如果第一上測(cè)量點(diǎn)10、第二上測(cè)量點(diǎn)30、第三上測(cè)量點(diǎn)50、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)M,以及第一下測(cè)量點(diǎn)20、第二下測(cè)量點(diǎn)40，第三下測(cè)量點(diǎn)60、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)N分別從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值均在短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl合格；如果第一上測(cè)量點(diǎn)10、第二上測(cè)量點(diǎn)30、第三上測(cè)量點(diǎn)50、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)M,以及第一下測(cè)量點(diǎn)20、第二下測(cè)量點(diǎn)40，第三下測(cè)量點(diǎn)60、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)N分別從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值中有一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑Rl值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl的合格值范圍之內(nèi)，或者有不連續(xù)的兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑Rl值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl的合格值范圍之內(nèi)，也判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl合格；如果第一上測(cè)量點(diǎn)10、第二上測(cè)量點(diǎn)30、第三上測(cè)量點(diǎn)50、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)M,以及第一下測(cè)量點(diǎn)20、第二下測(cè)量點(diǎn)40，第三下測(cè)量點(diǎn)60、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)N分別從圓弧面I至其圓心O的半徑Rl值中有連續(xù)的兩個(gè)及兩個(gè)以上測(cè)量點(diǎn)的半徑Rl值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面I至其圓心O的半徑Rl的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl不合格。由此可知，本發(fā)明是在圓弧面I上確定第一上測(cè)量點(diǎn)10、第一下測(cè)量點(diǎn)20，根據(jù)第一上測(cè)量點(diǎn)10、第一下測(cè)量點(diǎn)20與圓弧面I的半徑的合格值確定并計(jì)算出圓弧面I的圓心坐標(biāo)位置，然后再確定其它上、下測(cè)量點(diǎn)，并根據(jù)其它們的坐標(biāo)值分別計(jì)算出它們與圓弧面I的圓心坐標(biāo)之間的半徑值，最后，將它們與圓弧面I的圓心O坐標(biāo)之間的半徑值與圓弧面I的合格半徑值逐一進(jìn)行對(duì)比，并判定圓弧面I的半徑Rl是否合格，從而判定短圓弧半徑樣板是否合格。由于本發(fā)明是采用在圓弧面I上的各測(cè)量點(diǎn)與圓弧面I的圓心O之間的半徑Rl來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl是否合格，即采用直線距離來判定短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl是否合格，從而判定短圓弧半徑樣板是否合格。因而，本發(fā)明相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)采用在圓弧面I上選擇若干個(gè)微小段圓弧面進(jìn)行測(cè)量并耦合計(jì)算判定短圓弧半徑樣板的圓弧面I的半徑Rl是否合格，就準(zhǔn)確、可靠得多，且效率也較高。
[0011]優(yōu)選地，所述第四步中，以每一個(gè)上測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I的圓弧上向下移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm，以每一個(gè)下測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面I的圓弧上向上移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm。這使得各個(gè)上、下測(cè)量點(diǎn)之間的間隔距離比較合理，能夠比較方便地測(cè)量并計(jì)算出各個(gè)上、下測(cè)量點(diǎn)與圓弧面I的圓心之間的實(shí)際半徑值，為準(zhǔn)確判定實(shí)際半徑值是否在規(guī)定的合格范圍值之間，從而判定其是否合格。
[0012]優(yōu)選地，所述測(cè)量?jī)x器為萬能光學(xué)顯微鏡或者三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。這使得本方法能夠充分應(yīng)用現(xiàn)有的測(cè)量?jī)x器、不需要另外設(shè)計(jì)測(cè)量?jī)x器，因而成本較低。同時(shí)，萬能光學(xué)顯微鏡測(cè)量直線的精度比測(cè)量微小段圓弧面的精度高，因而能夠提高本方法的測(cè)量精度和效率。
【權(quán)利要求】
1.一種短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，包括確定合格值及其范圍、建立直角坐標(biāo)系、確定圓心、測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值及是否合格判定步驟，其特征是: 第一步，確定合格值及其范圍，確定所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)的合格值及其范圍； 第二步，建立直角坐標(biāo)系，將短圓弧半徑樣板放置于測(cè)量?jī)x器上，以所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的下平面(3)的右端與垂直平面(4)的下端的交點(diǎn)為坐標(biāo)基準(zhǔn)點(diǎn)，以短圓弧半徑樣板的下平面(3)為X軸、垂直平面(4)為Y軸； 第三步，確定圓心(0)，首先，選擇第一上測(cè)量點(diǎn)(10)并測(cè)量該第一上測(cè)量點(diǎn)(10)的第一上坐標(biāo)值(XI，Y1)，該第一上測(cè)量點(diǎn)(10)位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)上并在該圓弧面(I)與上平面(2)的交點(diǎn)的附近； 接著，選擇第一下測(cè)量點(diǎn)(20)并測(cè)量該第一下測(cè)量點(diǎn)(20)的第一下坐標(biāo)值(X2，Y2)，該第一下測(cè)量點(diǎn)(20)位于所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)上并在該圓弧面(I)與下平面(3)的交點(diǎn)的附近； 之后，根據(jù)第一上測(cè)量點(diǎn)(10)和第一下測(cè)量點(diǎn)(20)的坐標(biāo)值，并結(jié)合短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的半徑(Rl)的合格值，計(jì)算并確定短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)在坐標(biāo)系中的圓心(O)的坐標(biāo)值及具體位置； 第四步，測(cè)量計(jì)算實(shí)際半徑值，以第一上測(cè)量點(diǎn)(10)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的圓弧上向下移動(dòng)一個(gè)微小距離作為第二上測(cè)量點(diǎn)(30)，測(cè)量該第二上測(cè)量點(diǎn)(30)的第二上坐標(biāo)值(X3，Y3)并根據(jù)該第二上坐標(biāo)值(X3，Y3)計(jì)算出該第二上測(cè)量點(diǎn)(30)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值；再以第一下測(cè)量點(diǎn)(20)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的圓弧上向上移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第二下測(cè)量點(diǎn)(40)、測(cè)量該第二下測(cè)量點(diǎn)(40)第二下坐標(biāo)值(X4，Y4)并根據(jù)該第二下坐標(biāo)值(X4，Y4)計(jì)算出該第二下測(cè)量點(diǎn)(40)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值； 再接著，又以第二上測(cè)量點(diǎn)(30)為起始點(diǎn)，向下再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三上測(cè)量點(diǎn)(50)、測(cè)量該第三上測(cè)量點(diǎn)(50)的第三上坐標(biāo)值(X5，Y5)并根據(jù)該第三上坐標(biāo)值(X5，Y5)計(jì)算出該第三上測(cè)量點(diǎn)(50)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值；又再以第二下坐標(biāo)點(diǎn)(40)為起始點(diǎn)，向上再移動(dòng)一個(gè)微小距離，選擇第三下測(cè)量點(diǎn)(60)、測(cè)量該第三下測(cè)量點(diǎn)(60)的第三下坐標(biāo)值(X6，Y6)并根據(jù)該第三下坐標(biāo)值(X6，Y6)計(jì)算出該第三下測(cè)量點(diǎn)(60)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值； 然后，重復(fù)上述過程，選擇第四上測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四上測(cè)量點(diǎn)的第四上坐標(biāo)值并根據(jù)該第四上坐標(biāo)值計(jì)算出該第四上測(cè)量點(diǎn)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值，以及選擇第四下測(cè)量點(diǎn)、測(cè)量第四下測(cè)量點(diǎn)的坐標(biāo)值并根據(jù)該第四下坐標(biāo)值計(jì)算出該第四下測(cè)量點(diǎn)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值，直至選擇并測(cè)量出上測(cè)量點(diǎn)和下測(cè)量重合時(shí)的第m上測(cè)量點(diǎn)(M)與第η下測(cè)量點(diǎn)(N)的座標(biāo)值并根據(jù)該座標(biāo)值計(jì)算出第m上測(cè)量點(diǎn)(M)與第η下測(cè)量點(diǎn)(N)從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值； 第五步，是否合格判定； 將上述步驟中測(cè)量并計(jì)算出的第一上測(cè)量點(diǎn)(10)、第二上測(cè)量點(diǎn)(30)、第三上測(cè)量點(diǎn)(50)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)(Μ)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)(20)、第二下測(cè)量點(diǎn)(40)，第三下測(cè)量點(diǎn)(60)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)(N)分別從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值，與所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)在合格范圍內(nèi)的合格值一一對(duì)比； 如果第一上測(cè)量點(diǎn)(10)、第二上測(cè)量點(diǎn)(30)、第三上測(cè)量點(diǎn)(50)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)(M)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)(20)、第二下測(cè)量點(diǎn)(40)，第三下測(cè)量點(diǎn)(60)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)(N)分別從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值均在短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的半徑(Rl)合格； 如果第一上測(cè)量點(diǎn)(10)、第二上測(cè)量點(diǎn)(30)、第三上測(cè)量點(diǎn)(50)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)(M)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)(20)、第二下測(cè)量點(diǎn)(40)，第三下測(cè)量點(diǎn)(60)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)(N)分別從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值中有一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑(Rl)值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)的合格值范圍之內(nèi)，或者有不連續(xù)的兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)的半徑(Rl)值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)的合格值范圍之內(nèi)，也判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的半徑(Rl)合格； 如果第一上測(cè)量點(diǎn)(10)、第二上測(cè)量點(diǎn)(30)、第三上測(cè)量點(diǎn)(50)、第四上測(cè)量點(diǎn)至第m上測(cè)量點(diǎn)(M)，以及第一下測(cè)量點(diǎn)(20)、第二下測(cè)量點(diǎn)(40)，第三下測(cè)量點(diǎn)(60)、第四下測(cè)量點(diǎn)至第η下測(cè)量點(diǎn)(N)分別從圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)值中有連續(xù)的兩個(gè)及兩個(gè)以上測(cè)量點(diǎn)的半徑(Rl)值不在短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)至其圓心(O)的半徑(Rl)的合格值范圍之內(nèi)，則判定該短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的半徑(Rl)不合格。
2.根據(jù)權(quán)利權(quán)利要求1所述的短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，其特征是:所述第四步中，以每一個(gè)上測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的圓弧上向下移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm,以每一個(gè)下測(cè)量點(diǎn)為起始點(diǎn)，在所述短圓弧半徑樣板的圓弧面(I)的圓弧上向上移動(dòng)的微小距離不大于0.5mm。
3.根據(jù)權(quán)利權(quán)利要求1或2所述的短圓弧半徑樣板的測(cè)量方法，其特征是:所述測(cè)量?jī)x器為萬能光學(xué)顯微鏡或者三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
【文檔編號(hào)】G01B21/10GK104501727SQ201410780497
【公開日】2015年4月8日 申請(qǐng)日期:2014年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月17日
【發(fā)明者】黃坤河, 李琴, 陳小春 申請(qǐng)人:重慶望江工業(yè)有限公司