輪廓度檢測治具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了輪廓度檢測治具，用于檢測零件的輪廓度，包括治具底板、定位機構(gòu)、支撐單元以及檢測機構(gòu)，所述定位機構(gòu)對稱設(shè)置于所述治具底板的兩側(cè)，兩側(cè)所述定位機構(gòu)之間的區(qū)域為零件的定位區(qū)域，所述定位機構(gòu)包括安裝座和定位塊，所述定位塊沿零件的定位方向移動連接所述安裝座；所述檢測機構(gòu)位于所述定位區(qū)域內(nèi)，所述檢測機構(gòu)包括活動檢測塊，所述活動檢測塊移動連接所述治具底板；采用本發(fā)明所提供的輪廓度檢測治具，在滿足產(chǎn)線全檢的要求下，能夠快速對零件的表面輪廓度進行檢測，提高了檢測效率，且降低了檢測成本。
【專利說明】輪廓度檢測治具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測治具，具體的說，是涉及一種用于檢測零件表面輪廓度的檢測治具。

【背景技術(shù)】
[0002]打印機通紙部件，在加工完畢后，由于零件上鉚接有軸類等零件，加工時，要求對零件的輪廓度進行嚴格管控，使得零件的安裝點和鉚接軸的位置滿足加工要求，傳統(tǒng)的檢測方法是使用三次元進行測量。三次元，又叫三次元測量儀，主要是指通過三維取點來進行測量的一種儀器，市場上也有叫三坐標(biāo)、三坐標(biāo)測量機或三維坐標(biāo)測量儀。其主要原理是:將被測物體置于三次元測量空間，可獲得被測物體上各測點的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計算求出被測物體的幾何尺寸，形狀和位置。
[0003]由于零件結(jié)構(gòu)的特殊性，使用三次元進行測量需要進行多次測量，檢測費用高，且檢測效率低，根本無法滿足產(chǎn)線的全檢要求。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠快速對零件的表面輪廓度進行檢測，提高了檢測效率，且降低了檢測成本的輪廓度檢測治具。
[0005]為達到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:輪廓度檢測治具，用于檢測零件的輪廓度，包括治具底板、定位機構(gòu)、支撐單元以及檢測機構(gòu)，所述定位機構(gòu)對稱設(shè)置于所述治具底板的兩側(cè)，兩側(cè)所述定位機構(gòu)之間的區(qū)域為零件的定位區(qū)域，所述定位機構(gòu)包括安裝座和定位塊，所述定位塊沿零件的定位方向移動連接所述安裝座；所述檢測機構(gòu)位于所述定位區(qū)域內(nèi)，所述檢測機構(gòu)包括活動檢測塊，所述活動檢測塊移動連接所述治具底板。
[0006]采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明技術(shù)方案的有益效果是:檢測零件輪廓度時，只需要將零件放置于支撐單元，并且通過定位機構(gòu)進行定位，之后使用檢測機構(gòu)中的活動檢測塊進行檢測即可，由于活動檢測塊移動連接治具底板，因此將活動檢測塊來回移動即可檢測零件的輪廓度，若在移動過程中，活動檢測塊被卡住或者移動受阻，則證明該零件的輪廓度已超出加工標(biāo)準(zhǔn)，零件不合格；若在移動過程中，活動檢測塊很順利，無任何阻力或干擾出現(xiàn)，則證明該零件的輪廓度符合加工標(biāo)準(zhǔn)，零件合格；使用該輪廓度檢測治具，使得能夠在滿足產(chǎn)線全檢的要求下，能夠快速對零件的表面輪廓度進行檢測，提高了檢測效率，且降低了檢測成本。
[0007]在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本發(fā)明還可作如下改進:
[0008]作為優(yōu)選的方案，所述檢測機構(gòu)還包括橫移組件，所述橫移組件包括底座、導(dǎo)向軸以及導(dǎo)套，所述底座設(shè)置于所述導(dǎo)向軸的兩端，所述導(dǎo)套套設(shè)于所述導(dǎo)向軸上，且所述導(dǎo)套固定連接所述活動檢測塊。
[0009]采用上述優(yōu)選的方案，橫移組件的設(shè)置，使得活動檢測塊能夠方便地實現(xiàn)在治具底板上的移動，且通過導(dǎo)向軸和導(dǎo)套的導(dǎo)向作用，活動檢測塊在移動的過程中，不會發(fā)生任何的位置偏移，定位精度到，檢測結(jié)果更佳。
[0010]作為優(yōu)選的方案，所述活動檢測塊的個數(shù)為兩個，分別為上檢測塊和活動連接所述上檢測塊的下檢測塊；所述上檢測塊的檢測面為下表面，其與零件的上表面形狀相匹配；所述下檢測塊的檢測面為上表面，其與零件的下表面形狀相匹配。
[0011]采用上述優(yōu)選的方案，上檢測塊和下檢測塊的設(shè)置，能夠同時對零件的上表面輪廓度和下表面的輪廓度同時進行檢測，一次完成檢測工作，滿足全檢的要求，且提高檢測效率。
[0012]作為優(yōu)選的方案，所述定位機構(gòu)還包括定位板，所述定位板設(shè)置于所述安裝座的內(nèi)側(cè)。
[0013]采用上述優(yōu)選的方案，定位板的設(shè)置，將待檢零件在橫移方向的自由度進行控制，零件不會沿X方向發(fā)生任何的位置偏移，提高零件的定位精度，進而使檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。
[0014]作為優(yōu)選的方案，所述定位機構(gòu)還包括壓緊元件，所述壓緊元件為快速夾。
[0015]采用上述優(yōu)選的方案，壓緊元件設(shè)置為快速夾，不僅實現(xiàn)了零件的多重定位，而且快速夾的設(shè)置，能夠快速有效地夾緊零件，提高定位效率，節(jié)省時間。
[0016]作為優(yōu)選的方案，所述支撐單元包括設(shè)置于底座和安裝座之間的支撐柱，所述支撐柱的位置對應(yīng)零件的安裝點位置。
[0017]采用上述優(yōu)選的方案，支撐柱的設(shè)置，為零件提供一支撐平臺，使得零件能夠位于上檢測塊、下檢測塊之間，順利地進行檢測工作。
[0018]作為優(yōu)選的方案，所述支撐單元位于所述定位塊的內(nèi)側(cè)，且沿垂直方向，所述定位塊和定位板的底面位于所述支撐柱的頂面之上。
[0019]采用上述優(yōu)選的方案，排除了支撐柱的干擾，可以確保定位塊和定位板都能準(zhǔn)確地對零件進行定位。
[0020]作為優(yōu)選的方案，所述定位塊的定位側(cè)設(shè)置有定位孔。
[0021]采用上述優(yōu)選的方案，定位孔的設(shè)置，可以將零件的兩端連接有鉚釘或者兩端凸起部直接進行定位，確保零件沿Y方向不會發(fā)生任何的位置偏移，提高定位精度。
[0022]作為優(yōu)選的方案，所述檢測機構(gòu)還包括用于限定所述上檢測塊位置的限位柱。
[0023]采用上述優(yōu)選的方案，限位柱能夠?qū)ι蠙z測塊和下檢測塊之間的位置進行限定，以滿足檢測要求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0025]圖1為本發(fā)明待檢測零件的結(jié)構(gòu)示意圖之一；
[0026]圖2為本發(fā)明待檢測零件的結(jié)構(gòu)示意圖之二 ；
[0027]圖3為本發(fā)明一種輪廓度檢測治具的俯視圖；
[0028]圖4為本發(fā)明一種輪廓度檢測治具的主視圖；
[0029]圖5為本發(fā)明一種輪廓度檢測治具的左視圖；
[0030]圖6為本發(fā)明一種輪廓度檢測治具的右視圖；
[0031]圖7為本發(fā)明一種輪廓度檢測治具的開模狀態(tài)圖。
[0032]其中，1、零件，11、鉚釘，2、治具底板，31、安裝座，32、定位塊，321、定位孔，33、定位板，34、快速夾，4、墊腳，5、把手，61、底座，62、導(dǎo)向軸，63、導(dǎo)套，71、上檢測塊，72、下檢測塊，73、銷軸，74、限位柱，8、支撐柱，Al、安裝點，A2、安裝點，A3、安裝點，A4、安裝點。

【具體實施方式】
[0033]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0034]為了達到本發(fā)明的目的，如圖1-4所示，在發(fā)明輪廓度檢測治具的一些實施方式中，其用于檢測零件I的輪廓度，包括治具底板2、定位機構(gòu)、支撐單元以及檢測機構(gòu)，定位機構(gòu)對稱設(shè)置于治具底板2的兩側(cè)，兩側(cè)定位機構(gòu)之間的區(qū)域為零件的定位區(qū)域，定位機構(gòu)包括安裝座31和定位塊32，定位塊32沿零件的定位方向移動連接安裝座31 ;檢測機構(gòu)位于定位區(qū)域內(nèi)，檢測機構(gòu)包括活動檢測塊，活動檢測塊移動連接治具底板2。其中，治具底板2的底部設(shè)置有四個墊腳4，以支撐整個治具，另外，治具底板2的表面還設(shè)置有把手5，方便搬運。
[0035]采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明技術(shù)方案的有益效果是:檢測零件輪廓度時，只需要將零件放置于支撐單元，并且通過定位機構(gòu)進行定位，之后使用檢測機構(gòu)中的活動檢測塊進行檢測即可，由于活動檢測塊移動連接治具底板，因此將活動檢測塊來回移動即可檢測零件的輪廓度，若在移動過程中，活動檢測塊被卡住或者移動受阻，則證明該零件的輪廓度已超出加工標(biāo)準(zhǔn)，零件不合格；若在移動過程中，活動檢測塊很順利，無任何阻力或干擾出現(xiàn)，則證明該零件的輪廓度符合加工標(biāo)準(zhǔn)，零件合格；使用該輪廓度檢測治具，使得能夠在滿足產(chǎn)線全檢的要求下，能夠快速對零件的表面輪廓度進行檢測，提高了檢測效率，且降低了檢測成本。
[0036]在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本發(fā)明還可作如下改進:
[0037]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖3-4、圖6-7所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，檢測機構(gòu)還包括兩組橫移組件，橫移組件包括底座61、導(dǎo)向軸62以及導(dǎo)套63，底座61設(shè)置于導(dǎo)向軸62的兩端，導(dǎo)套63套設(shè)于導(dǎo)向軸62上，且導(dǎo)套63固定連接活動檢測塊。
[0038]采用上述優(yōu)選的方案，橫移組件的設(shè)置，使得活動檢測塊能夠方便地實現(xiàn)在治具底板2上的移動，且通過導(dǎo)向軸62和導(dǎo)套63的導(dǎo)向作用，活動檢測塊在移動的過程中，不會發(fā)生任何的位置偏移，定位精度到，檢測結(jié)果更佳。
[0039]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖3-4、圖6-7所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，活動檢測塊的個數(shù)為兩個，分別為上檢測塊71和活動連接上檢測塊71的下檢測塊72 ;上檢測塊71的檢測面為下表面，其與零件I的上表面形狀相匹配；下檢測塊72的檢測面為上表面，其與零件I的下表面形狀相匹配。零件I只是舉例中的一種零件，隨著零件的不同，上檢測塊71和下檢測塊72的表面形狀也不同，在此進行說明。當(dāng)零件不同時，只需要將上檢測塊71和下檢測塊72的表面形狀改為與零件的形狀相匹配即可。另外，形狀匹配，是指上檢測塊71的下表面和下檢測塊72的上表面符合零件的輪廓度公差范圍內(nèi)。其中，上檢測塊71和下檢測塊72之間通過銷軸73連接，上檢測塊的一側(cè)71可以與下檢測塊72實現(xiàn)活動連接，上檢測塊71可以沿著銷軸73進行翻轉(zhuǎn)，實現(xiàn)與下檢測塊72的分開和閉合。
[0040]采用上述優(yōu)選的方案，上檢測塊71和下檢測塊72的設(shè)置，能夠同時對零件的上表面輪廓度和下表面的輪廓度同時進行檢測，一次完成檢測工作，滿足全檢的要求，且提高檢測效率。
[0041]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖3所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，定位機構(gòu)還包括定位板33，定位板33設(shè)置于安裝座的內(nèi)側(cè)，并且沿著X方向設(shè)置。
[0042]采用上述優(yōu)選的方案，定位板33的設(shè)置，將待檢零件I在橫移方向的自由度進行控制，零件不會沿X方向發(fā)生任何的位置偏移，提高零件的定位精度，進而使檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。
[0043]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖3和圖5所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，定位機構(gòu)還包括壓緊元件，壓緊元件為快速夾34。其中，快速夾34可以沿著零件I的四周設(shè)置，也可以設(shè)置在零件的相對兩側(cè)，具體視情況而定。
[0044]采用上述優(yōu)選的方案，壓緊元件設(shè)置為快速夾34，不僅實現(xiàn)了零件I的多重定位，而且快速夾34的設(shè)置，能夠快速有效地夾緊零件1，提高定位效率，節(jié)省時間。
[0045]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖4-7所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，支撐單元包括設(shè)置于底座61和安裝座31之間的支撐柱8，數(shù)量為四個，支撐柱8的位置對應(yīng)零件的安裝點位置，即圖示中的A1、A2、A3以及A4處。
[0046]采用上述優(yōu)選的方案，支撐柱8的設(shè)置，為零件提供一支撐平臺，使得零件能夠位于上檢測塊71、下檢測塊72之間，順利地進行檢測工作。同時，支撐柱8的位置，也是按照檢測要求進行設(shè)置
[0047]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖4所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，支撐單元位于定位塊32的內(nèi)側(cè)，且沿垂直方向，定位塊32和定位板33的底面位于支撐柱8的頂面之上。
[0048]采用上述優(yōu)選的方案，排除了支撐柱8的干擾，可以確保定位塊32和定位板33都能準(zhǔn)確地對零件I進行定位。
[0049]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖3-4所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，定位塊32的定位側(cè)設(shè)置有定位孔321。
[0050]采用上述優(yōu)選的方案，定位孔321的設(shè)置，可以將零件I的兩端連接有鉚釘11或者兩端凸起部直接進行定位，確保零件沿Y方向不會發(fā)生任何的位置偏移，提高定位精度。
[0051]為了進一步地優(yōu)化本發(fā)明的實施效果，如圖6-7所示，在本發(fā)明輪廓度檢測治具的另外一些實施方式中，檢測機構(gòu)還包括用于限定上檢測塊位置的限位柱74。
[0052]采用上述優(yōu)選的方案，限位柱74能夠?qū)ι蠙z測塊71和下檢測塊72之間的位置進行限定，以滿足檢測要求。
[0053]下面介紹本發(fā)明的工作原理:如圖1-6所示，對產(chǎn)品A、B、C三處進行表面輪廓度檢測；一、定位零件:將零件I的四個安裝點Al、A2、A3以及A4對應(yīng)放置于支撐柱8上，之后移動零件兩側(cè)的定位塊32，將零件的鉚釘卡入定位孔321內(nèi)，同時定位板33也完成零件的定位工作，最后使用快速夾34將零件表面夾緊；二、檢測零件:將上檢測塊71旋轉(zhuǎn)閉合，使得零件I處于上檢測塊71和下檢測塊72之間，調(diào)整好檢測精度，沿導(dǎo)向軸62同時滑動上檢測塊71和下檢測塊72，檢查在滑動過程中，上檢測塊71和下檢測塊72是否被零件表面卡住，若沒有，則說明零件合格，若有，則說明零件不合格；檢測完之后，將上檢測塊71旋轉(zhuǎn)打開，如圖7所示，取出零件即可。整個輪廓度檢測治具，不僅滿足了零件的全檢要求，且合理有效地管控了產(chǎn)品的輪廓度，克服了生產(chǎn)過程中難測量、測量誤差大的缺點，不僅提高了檢測效率，還節(jié)省了人機成本。
[0054]對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1.輪廓度檢測治具，用于檢測零件的輪廓度，其特征在于，包括治具底板、定位機構(gòu)、支撐單元以及檢測機構(gòu)，所述定位機構(gòu)對稱設(shè)置于所述治具底板的兩側(cè)，兩側(cè)所述定位機構(gòu)之間的區(qū)域為零件的定位區(qū)域，所述定位機構(gòu)包括安裝座和定位塊，所述定位塊沿零件的定位方向移動連接所述安裝座；所述檢測機構(gòu)位于所述定位區(qū)域內(nèi)，所述檢測機構(gòu)包括活動檢測塊，所述活動檢測塊移動連接所述治具底板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述檢測機構(gòu)還包括橫移組件，所述橫移組件包括底座、導(dǎo)向軸以及導(dǎo)套，所述底座設(shè)置于所述導(dǎo)向軸的兩端，所述導(dǎo)套套設(shè)于所述導(dǎo)向軸上，且所述導(dǎo)套固定連接所述活動檢測塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述活動檢測塊的個數(shù)為兩個，分別為上檢測塊和活動連接所述上檢測塊的下檢測塊；所述上檢測塊的檢測面為下表面，其與零件的上表面形狀相匹配；所述下檢測塊的檢測面為上表面，其與零件的下表面形狀相匹配。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述定位機構(gòu)還包括定位板，所述定位板設(shè)置于所述安裝座的內(nèi)側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述定位機構(gòu)還包括壓緊元件，所述壓緊元件為快速夾。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述支撐單元包括設(shè)置于底座和安裝座之間的支撐柱，所述支撐柱的位置對應(yīng)零件的安裝點位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述支撐單元位于所述定位塊的內(nèi)側(cè)，且沿垂直方向，所述定位塊和定位板的底面位于所述支撐柱的頂面之上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述定位塊的定位側(cè)設(shè)置有定位孔。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的輪廓度檢測治具，其特征在于，所述檢測機構(gòu)還包括用于限定所述上檢測塊位置的限位柱。
【文檔編號】G01B5/20GK104296641SQ201410576936
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年10月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月24日
【發(fā)明者】占先輝, 熊建良 申請人:億和精密工業(yè)（蘇州）有限公司