樣品分子特性譜線分析儀的制作方法
【專利摘要】樣品分子特性譜線分析儀，其特征在于，主要包括：進(jìn)樣裝置，樣品導(dǎo)入裝置，樣品預(yù)處理裝置，樣品微粒化裝置，流體控制裝置，樣品熱處理裝置，特征譜線分析裝置，信號(hào)放大裝置，信號(hào)顯示與記錄裝置，其中，樣品導(dǎo)入裝置含有樣品導(dǎo)流管，該導(dǎo)流管材料為偏鉻酸氧化釤鎘合金，樣品微?；b置含有顆粒降解電極，該電極材料為氧化鈮钷合金，流體控制裝置含有流體離子篩選板，該篩選板材料為六硅烷溴化鐠鐒納米復(fù)合材料，特征譜線分析裝置含有九棱柱型偏振特征譜線分析透鏡，該透鏡表面鍍有厚度為30μm的偏硅酸氟化鏷納米復(fù)合透光膜。
【專利說明】樣品分子特性譜線分析儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及特性譜線分析領(lǐng)域，尤其涉及樣品分子特性譜線分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]分子特性譜線分析，主要通過分子的內(nèi)部運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化所產(chǎn)生的吸收或發(fā)射光譜，從紫外到遠(yuǎn)紅外直至微波譜，包括整個(gè)分子的轉(zhuǎn)動(dòng)，分子中原子在平衡位置的振動(dòng)以及分子內(nèi)電子的運(yùn)動(dòng)，包括轉(zhuǎn)動(dòng)光譜、振動(dòng)光譜和電子光譜。分子中的電子在不同能級(jí)上的躍遷產(chǎn)生電子光譜，由于它們處在紫外與可見區(qū)，為紫外可見光譜，電子躍遷常伴隨能量較小的振轉(zhuǎn)躍遷帶狀光譜。與同一電子能態(tài)的不同振動(dòng)能級(jí)躍遷對(duì)應(yīng)振動(dòng)光譜，這部分光譜處在紅外區(qū)。振動(dòng)伴隨著轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷，光譜有較多較密譜線，由分子轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)間的躍遷產(chǎn)生轉(zhuǎn)動(dòng)光譜，這部分光譜位于波長較長的遠(yuǎn)紅外區(qū)和微波區(qū)。但是現(xiàn)有分析技術(shù)，對(duì)于分子光譜與分子的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量、分子的鍵長和鍵強(qiáng)度以及分子離解能、分子的結(jié)構(gòu)的分析準(zhǔn)確度還不夠高，因此，需要對(duì)現(xiàn)有技術(shù)加以改進(jìn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服現(xiàn)有裝置的不足之處，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0004]樣品分子特性譜線分析儀，其特征在于，主要包括:
[0005]1-進(jìn)樣裝置，2—樣品導(dǎo)入裝置，3—樣品預(yù)處理裝置，4一樣品微?；b置，5-流體控制裝置，6—樣品熱處理裝置，7-特征譜線分析裝置，8—信號(hào)放大裝置，9一信號(hào)顯示與記錄裝置，
[0006]其中，
[0007]樣品導(dǎo)入裝置(2)含有樣品導(dǎo)流管，該導(dǎo)流管材料為偏鉻酸氧化釤鎘合金，
[0008]樣品微?；b置(4)含有顆粒降解電極，該電極材料為氧化鈮钷合金，
[0009]流體控制裝置(5)含有流體離子篩選板,該篩選板材料為六娃燒溴化鐠鎊納米復(fù)合材料，
[0010]特征譜線分析裝置(7)含有九棱柱型偏振特征譜線分析透鏡，該透鏡表面鍍有厚度為30um的偏硅酸氟化鏷納米復(fù)合透光膜。
[0011]進(jìn)樣裝置(I)主要用于樣品的進(jìn)樣篩選，使符合規(guī)格顆粒要求的樣品能夠進(jìn)入，樣品導(dǎo)入裝置(2)主要用于樣品的導(dǎo)流傳輸，保證檢測分析的連續(xù)進(jìn)行，樣品預(yù)處理裝置
(3)主要用于樣品的初步顆?？刂婆c粒徑細(xì)化，提高后續(xù)分子特征譜線分析的準(zhǔn)確程度，樣品微粒化裝置(4)主要用于樣品顆粒的初步裂解，保證其粒徑降低到微米級(jí)，流體控制裝置(5)主要用于樣品離子流束體離子電荷與粒徑控制，進(jìn)一步篩選掉顆粒尺寸超標(biāo)的樣品分析粒子，樣品熱處理裝置(6)主要用于樣品分子化學(xué)鍵的斷裂以及分子主要基團(tuán)特征譜線的輻射產(chǎn)生，特征譜線分析裝置(7)主要用于分析樣品分子特征輻射譜線的分析，信號(hào)放大裝置(8)主要用于分析樣品特征譜線的信號(hào)放大與穩(wěn)定傳輸，避免信號(hào)衰減速度過快，信號(hào)顯示與記錄裝置(9)主要用于分子基團(tuán)與輻射譜線分析信號(hào)的顯示與記錄。[0012]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是:
[0013](I)通過樣品微?；b置實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的初步裂解，保證其粒徑降低到微米級(jí)；
[0014](2)通過流體控制裝置用于樣品離子流束體離子電荷與粒徑控制，進(jìn)一步篩選掉顆粒尺寸超標(biāo)的樣品分析粒子；
[0015](3)通過樣品熱處理裝置實(shí)現(xiàn)樣品分子化學(xué)鍵的斷裂以及分子主要基團(tuán)特征譜線的輻射產(chǎn)生。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是樣品分子特性譜線分析儀的示意圖
[0017]如圖1所示，本發(fā)明所述的樣品分子特性譜線分析儀，主要包括:
[0018]1-進(jìn)樣裝置，2-樣品導(dǎo)入裝置，3-樣品預(yù)處理裝置，
[0019]4-樣品微?；b置，5-流體控制裝置，6—樣品熱處理裝置，
[0020]7-特征譜線分析裝置，8—信號(hào)放大裝置，9一信號(hào)顯示與記錄裝置，
[0021]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
【具體實(shí)施方式】
[0022]首先，通過進(jìn)樣裝置(I)實(shí)現(xiàn)樣品的進(jìn)樣篩選，使符合規(guī)格顆粒要求的樣品能夠進(jìn)入，結(jié)合樣品導(dǎo)入裝置(2)進(jìn)行樣品的導(dǎo)流傳輸，保證檢測分析的連續(xù)進(jìn)行，采用樣品預(yù)處理裝置(3)實(shí)現(xiàn)樣品的初步顆粒控制與粒徑細(xì)化，提高后續(xù)分子特征譜線分析的準(zhǔn)確程度，借助于樣品微?；b置(4)進(jìn)行樣品顆粒的初步裂解，保證其粒徑降低到微米級(jí)，通過流體控制裝置(5)實(shí)現(xiàn)樣品離子流束體離子電荷與粒徑控制，進(jìn)一步篩選掉顆粒尺寸超標(biāo)的樣品分析粒子，采用樣品熱處理裝置(6)進(jìn)行樣品分子化學(xué)鍵的斷裂以及分子主要基團(tuán)特征譜線的輻射產(chǎn)生，結(jié)合特征譜線分析裝置(7)用于分析樣品分子特征輻射譜線的分析，通過信號(hào)放大裝置(8)實(shí)現(xiàn)分析樣品特征譜線的信號(hào)放大與穩(wěn)定傳輸，避免信號(hào)衰減速度過快，最后，借助于信號(hào)顯示與記錄裝置(9)進(jìn)行分子基團(tuán)與輻射譜線分析信號(hào)的顯示與記錄。
【權(quán)利要求】
1.樣品分子特性譜線分析儀，其特征在于，主要包括: 1--進(jìn)樣裝置，2-樣品導(dǎo)入裝置，3-樣品預(yù)處理裝置，4-樣品微粒化裝置，5-流體控制裝置，6—樣品熱處理裝置，7—特征譜線分析裝置，8—信號(hào)放大裝置，9一信號(hào)顯示與記錄裝置， 其中， 樣品導(dǎo)入裝置(2)含有樣品導(dǎo)流管，該導(dǎo)流管材料為偏鉻酸氧化釤鎘合金， 樣品微?；b置(4)含有顆粒降解電極，該電極材料為氧化鈮钷合金， 流體控制裝置(5)含有流體離子篩選板，該篩選板材料為六硅烷溴化鐠鎊納米復(fù)合材料， 特征譜線分析裝置(7)含有九棱柱型偏振特征譜線分析透鏡，該透鏡表面鍍有厚度為30um的偏硅酸氟化嬉鏷納米復(fù)合透光膜。
【文檔編號(hào)】G01N21/25GK104020111SQ201410232279
【公開日】2014年9月3日 申請(qǐng)日期:2014年5月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月29日
【發(fā)明者】儲(chǔ)冬紅, 彭飛, 郭睦庚 申請(qǐng)人:成都中遠(yuǎn)千葉科技有限公司