一種三維測(cè)量系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種三維測(cè)量系統(tǒng)及方法，其中的一種三維測(cè)量系統(tǒng)，包括：雙目相機(jī)：其功能為采用二維標(biāo)定靶對(duì)其進(jìn)行標(biāo)定，得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；光柵干涉投影裝置：用以將光影投射到光柵上產(chǎn)生干涉條紋后投射于被測(cè)物。本發(fā)明采用了激光作為光源，通過(guò)光學(xué)光柵完成周期性干涉條紋的產(chǎn)生，相對(duì)于以往的方法，其擁有更高的光學(xué)細(xì)分，因此具有可達(dá)到更高的測(cè)量精度，同時(shí)也為該周期性條紋研究了相應(yīng)的相位解包裹算法和無(wú)特征點(diǎn)的三維拼接算法，從而使得該測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量精度更高，同時(shí)使用更加方便。
【專利說(shuō)明】一種三維測(cè)量系統(tǒng)及方法【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及三維測(cè)量技術(shù)，具體涉及一種三維測(cè)量系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著現(xiàn)代軍事科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，武器裝備向精密化、精確化、智能化方向發(fā)展。武器部件更加精密且結(jié)構(gòu)復(fù)雜，傳統(tǒng)的測(cè)量方法已逐漸難以滿足發(fā)展的需要，以光電技術(shù)為基礎(chǔ)的視覺(jué)測(cè)量方法已被應(yīng)用于實(shí)際的科研工作中。
[0003]視覺(jué)測(cè)量系統(tǒng)最先來(lái)源于攝影測(cè)量和立體視覺(jué)技術(shù)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，攝影測(cè)量技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合產(chǎn)生了視覺(jué)測(cè)量技術(shù)。立體圖像法或立體視覺(jué)測(cè)量法，七十年代末Marr創(chuàng)立的視覺(jué)計(jì)算機(jī)理論對(duì)立體視覺(jué)技術(shù)的發(fā)展產(chǎn)生了巨大的影響，隨后，立體視覺(jué)技術(shù)得到了迅速發(fā)展并在軍事裝備研制領(lǐng)域中得到了應(yīng)用。
[0004]當(dāng)前密集點(diǎn)視覺(jué)測(cè)量方法中通?；谙辔惠喞g(shù)原理，現(xiàn)有的系統(tǒng)采用數(shù)字光柵投影系統(tǒng)產(chǎn)生條 紋，其條紋的精密度有些低，從而限制了其測(cè)量精度的進(jìn)一步的提高，對(duì)測(cè)量物表面材料敏感，同時(shí)需要人工布置標(biāo)志點(diǎn)從而完成三維圖像的拼接。
[0005]根據(jù)測(cè)量原理，只要承載高度信息的光柵條紋的精密度高于所需的測(cè)量精度，其才可能實(shí)現(xiàn)達(dá)標(biāo)的測(cè)量精度。
[0006]目前已經(jīng)被軍事科研實(shí)際應(yīng)用的三維測(cè)量技術(shù)分為兩類:接觸式測(cè)量與非接觸式測(cè)量。接觸式一般采用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，目前仍是典型的標(biāo)準(zhǔn)三維測(cè)量設(shè)備，但價(jià)格昂貴、速度慢、特別是物體形狀復(fù)雜時(shí)，測(cè)頭路徑規(guī)劃不易實(shí)現(xiàn)。由于計(jì)算機(jī)視覺(jué)與圖像檢測(cè)這一新興學(xué)科的興起和發(fā)展，對(duì)物體面形的三維檢測(cè)技術(shù)的研究近年來(lái)集中于非接觸的光學(xué)三維測(cè)量方面，常用的簡(jiǎn)述如下:
[0007]基于結(jié)構(gòu)光的三維視覺(jué)測(cè)量技術(shù)是非接觸式三維測(cè)量技術(shù)中最常用的。它是一種依據(jù)攝影測(cè)量和三角法測(cè)量原理為基礎(chǔ)，既利用圖像作為信息載體又利用可控光源的測(cè)量技術(shù)。
[0008]隨著科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，為了滿足新的需要，發(fā)達(dá)國(guó)家的軍用裝備研究單位已將視覺(jué)測(cè)量技術(shù)運(yùn)用于實(shí)際的研發(fā)工作中，并取得了較好的效果。國(guó)內(nèi)一些科研單位及公司也進(jìn)行了相關(guān)方面的研究，并開(kāi)發(fā)了自己的產(chǎn)品，但在測(cè)量精度、抗干擾性及圖像拼接方面尚存在一定的差距。目前其進(jìn)一步發(fā)展的主要障礙在于投射的光柵條紋的精細(xì)度，相位解算方法的準(zhǔn)確性以及其抗干擾能力等方面。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題，提供一種三維測(cè)量系統(tǒng)及方法。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種三維測(cè)量系統(tǒng)，包括:
[0011]雙目相機(jī):其功能為采用二維標(biāo)定靶對(duì)其進(jìn)行標(biāo)定，得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；
[0012]光柵干涉投影裝置:用以將光影投射到光柵上產(chǎn)生干涉條紋后投射于被測(cè)物；[0013]所述光柵干涉投影裝置包括激光器、第一分光鏡、第二分光鏡、光柵、兩個(gè)透鏡組成的透鏡組、第一棱鏡、第二棱鏡、第一反射鏡及第二反射鏡；激光器通過(guò)分光鏡被分為兩路，經(jīng)過(guò)光柵后分別經(jīng)過(guò)兩個(gè)透鏡投射于第一棱鏡、第二棱鏡后相干涉形成干涉條紋，然后投射到第一反射鏡后，經(jīng)過(guò)反射后再投射到第二反射鏡，再次反射后投射到被測(cè)的部件上。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提供了一種三維測(cè)量方法，包括以下步驟:
[0015]SI，采用二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定；
[0016]S2，光柵干涉投影裝置的使用；
[0017]S3，非簡(jiǎn)單正弦周期條紋相位解包裹算法的處理；
[0018]S4，建立立體視覺(jué)共線方程，解算三維坐標(biāo)值；
[0019]S5，無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接處理。
[0020]進(jìn)一步地，所述步驟SI具體為:采用經(jīng)典的基于平面靶標(biāo)的二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定，采用圓點(diǎn)形替代傳統(tǒng)的角點(diǎn)形標(biāo)定板以提高標(biāo)定精度，通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)給出統(tǒng)計(jì)的標(biāo)定參數(shù)；得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；雙目相機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用可調(diào)節(jié)視場(chǎng)大小的機(jī)械結(jié)構(gòu)，從而使得雙目相機(jī)達(dá)到最佳的視場(chǎng)重合。
[0021]更進(jìn)一步地，所述步驟S2具體為:所述光柵干涉投影裝置將激光器產(chǎn)生的光束經(jīng)分光鏡后分成了同頻的光波，然后分別經(jīng)過(guò)起偏器后投射到光柵上產(chǎn)生高精度的光學(xué)細(xì)分；所述光柵干涉投影裝置投射一定光柵圖像到被測(cè)部件表面上，光柵將被測(cè)部件的外形調(diào)制而得到相位移動(dòng)的光柵圖像；為了克服這兩路信號(hào)中普遍存在的非正交誤差、不等幅誤差和直流電平漂移誤差影響測(cè)量結(jié)果的精度的問(wèn)題，以Heydemann模型為基礎(chǔ)做誤差修正，設(shè)計(jì)核心的電路補(bǔ)償模塊，對(duì)此三種誤差進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)高精度微米級(jí)干涉波，產(chǎn)生納米級(jí)光學(xué)細(xì)分。
[0022]更進(jìn)一步地，所述步驟S3具體為:為了達(dá)到更高的測(cè)量精度及實(shí)現(xiàn)高抗噪性，采用光柵干涉投影裝置產(chǎn)生條紋，該條紋不具備簡(jiǎn)單正弦波的特性，因此為了實(shí)現(xiàn)相位解包裹功能，采用基于傅立葉公式的多級(jí)任意周期波解包裹算法，解決當(dāng)前受正弦波限制的問(wèn)題，從而解算圖像的相位，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)圖像間的匹配。
[0023]更進(jìn)一步地，所述步驟S5具體為:針對(duì)現(xiàn)有的三維圖像拼接方法存在的借助人工標(biāo)志點(diǎn)及運(yùn)算量大的問(wèn)題，采用新的三維圖形拼接算法，該算法以虛擬標(biāo)志點(diǎn)為原始點(diǎn)，以方向矢量為搜索要素，不需要傳統(tǒng)的人工貼點(diǎn)，利用三維圖像自身的圖像特征，實(shí)現(xiàn)非接觸的無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接，形成完成的三維圖，實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)，提高搜索的速度與準(zhǔn)確性。
[0024]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):
[0025]1、為了達(dá)到高精度的光學(xué)細(xì)分，設(shè)計(jì)了新的光柵干涉系統(tǒng)。該系統(tǒng)將激光器產(chǎn)生的光束經(jīng)分光鏡后分成了同頻的光波，然后分別經(jīng)過(guò)了起偏器后投射到光柵上產(chǎn)生高精度的光學(xué)細(xì)分。這兩路信號(hào)中普遍存在著非正交誤差、不等幅誤差和直流電平漂移誤差，這些誤差的存在嚴(yán)重地影響了測(cè)量結(jié)果的精度。為了克服這些誤差，產(chǎn)生穩(wěn)定的干涉，提出了以Heydemann模型為基礎(chǔ)的誤差修正方法，設(shè)計(jì)了核心的電路補(bǔ)償模塊，對(duì)此三種誤差進(jìn)行了動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了高精度微米級(jí)干涉波，甚至可以產(chǎn)生納米級(jí)光學(xué)細(xì)分。
[0026]2、針對(duì)偏振激光干涉系統(tǒng)產(chǎn)生的周期條紋，提出了新的任意周期波解包裹算法。偏振激光干涉系統(tǒng)產(chǎn)出的微米條紋存在周期性，但已經(jīng)完全不同于傳統(tǒng)的簡(jiǎn)單正弦波，目前的相位輪廓術(shù)中的解包裹算法都是基于簡(jiǎn)單正弦波，通過(guò)多頻外差的算法得到相位值。然而為了達(dá)到更高的測(cè)量精度及實(shí)現(xiàn)高抗噪性，采用偏振激光干涉系統(tǒng)產(chǎn)生條紋，該條紋不具備簡(jiǎn)單正弦波的特性，因此為了實(shí)現(xiàn)同樣的相位解包裹功能，提出了基于傅立葉公式的多級(jí)任意周期波解包裹算法，解決了當(dāng)前受正弦波限制的問(wèn)題，同時(shí)該算法具有廣闊的適用性。
[0027]3、針對(duì)現(xiàn)有的三維圖像拼接方法存在的借助人工標(biāo)志點(diǎn)及運(yùn)算量大的問(wèn)題，提出了新的三維圖形拼接算法，該算法以虛擬標(biāo)志點(diǎn)為原始點(diǎn)，以方向矢量為搜索要素，有效地提高了搜索的速度與準(zhǔn)確性。該算法不需要傳統(tǒng)的人工貼點(diǎn)，可以實(shí)現(xiàn)非接觸的三維圖像拼接。
[0028]除了上面所描述的目的、特征和優(yōu)點(diǎn)之外，本發(fā)明還有其它的目的、特征和優(yōu)點(diǎn)。下面將參照?qǐng)D，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0029]構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。
[0030]圖1是本發(fā)明的一種三維測(cè)量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖2是本發(fā)明的光柵干涉投影裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖3是本發(fā)明的一種三維測(cè)量方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0033]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0034]實(shí)施例1:
[0035]參考圖1,如圖1所示的一種三維測(cè)量系統(tǒng)，包括:
[0036]雙目相機(jī):其功能為采用二維標(biāo)定靶對(duì)其進(jìn)行標(biāo)定，得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；
[0037]光柵干涉投影裝置:用以將光影投射到光柵上產(chǎn)生干涉條紋后投射于被測(cè)物；
[0038]所述光柵干涉投影裝置包括激光器、第一分光鏡、第二分光鏡、光柵、兩個(gè)透鏡組成的透鏡組、第一棱鏡、第二棱鏡、第一反射鏡及第二反射鏡；激光器通過(guò)分光鏡被分為兩路，經(jīng)過(guò)光柵后分別經(jīng)過(guò)兩個(gè)透鏡投射于第一棱鏡、第二棱鏡后相干涉形成干涉條紋，然后投射到第一反射鏡后，經(jīng)過(guò)反射后再投射到第二反射鏡，再次反射后投射到被測(cè)的部件上。
[0039]實(shí)施例2:
[0040]參考圖2，如圖2所示的一種三維測(cè)量方法，包括以下步驟:
[0041]SI，采用二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定；
[0042]S2，光柵干涉投影裝置的使用；
[0043]S3，非簡(jiǎn)單正弦周期條紋相位解包裹算法的處理；
[0044]S4，建立立體視覺(jué)共線方程，解算三維坐標(biāo)值；[0045]S5，無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接處理。
[0046]所述步驟SI具體為:采用經(jīng)典的基于平面靶標(biāo)的二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定，采用圓點(diǎn)形替代傳統(tǒng)的角點(diǎn)形標(biāo)定板以提高標(biāo)定精度，通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)給出統(tǒng)計(jì)的標(biāo)定參數(shù)；得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；雙目相機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用可調(diào)節(jié)視場(chǎng)大小的機(jī)械結(jié)構(gòu)，從而使得雙目相機(jī)達(dá)到最佳的視場(chǎng)重合。
[0047]所述步驟S2具體為:所述光柵干涉投影裝置將激光器產(chǎn)生的光束經(jīng)分光鏡后分成了同頻的光波，然后分別經(jīng)過(guò)起偏器后投射到光柵上產(chǎn)生高精度的光學(xué)細(xì)分；所述光柵干涉投影裝置投射一定光柵圖像到被測(cè)部件表面上，光柵將被測(cè)部件的外形調(diào)制而得到相位移動(dòng)的光柵圖像；為了克服這兩路信號(hào)中普遍存在的非正交誤差、不等幅誤差和直流電平漂移誤差影響測(cè)量結(jié)果的精度的問(wèn)題，以Heydemann模型為基礎(chǔ)做誤差修正，設(shè)計(jì)核心的電路補(bǔ)償模塊，對(duì)此三種誤差進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)高精度微米級(jí)干涉波，產(chǎn)生納米級(jí)光學(xué)細(xì)分。
[0048]所述步驟S3具體為:為了達(dá)到更高的測(cè)量精度及實(shí)現(xiàn)高抗噪性，采用光柵干涉投影裝置產(chǎn)生條紋，該條紋不具備簡(jiǎn)單正弦波的特性，因此為了實(shí)現(xiàn)相位解包裹功能，采用基于傅立葉公式的多級(jí)任意周期波解包裹算法，解決當(dāng)前受正弦波限制的問(wèn)題，從而解算圖像的相位，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)圖像間的匹配。
[0049]在實(shí)際應(yīng)用中，一些部件不允許布置人工標(biāo)志點(diǎn)，因此需要研究無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接問(wèn)題，現(xiàn)有的方法通常基于ICP算法，該方法存在搜索速度慢，容易陷入局部最小點(diǎn)等問(wèn)題，需采用新的三維圖形拼接算法。
[0050]所述步驟S5具體為:針對(duì)現(xiàn)有的三維圖像拼接方法存在的借助人工標(biāo)志點(diǎn)及運(yùn)算量大的問(wèn)題，采用新的三維圖形拼接算法，該算法以虛擬標(biāo)志點(diǎn)為原始點(diǎn)，以方向矢量為搜索要素，不需要傳統(tǒng)的人工貼點(diǎn)，利用三維圖像自身的圖像特征，實(shí)現(xiàn)非接觸的無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接，形成完成的三維圖，實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)，提高搜索的速度與準(zhǔn)確性。
[0051]本發(fā)明采用了激光作為光源，通過(guò)光學(xué)光柵完成周期性干涉條紋的產(chǎn)生，相對(duì)于以往的方法，其擁有更高的光學(xué)細(xì)分，因此具有可達(dá)到更高的測(cè)量精度，同時(shí)也為該周期性條紋研究了相應(yīng)的相位解包裹算法和無(wú)特征點(diǎn)的三維拼接算法，從而使得該測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量精度更高，同時(shí)使用更加方便。
[0052]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種三維測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，包括: 雙目相機(jī):其功能為采用二維標(biāo)定靶對(duì)其進(jìn)行標(biāo)定，得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)； 光柵干涉投影裝置:用以將光影投射到光柵上產(chǎn)生干涉條紋后投射于被測(cè)物； 所述光柵干涉投影裝置包括激光器、第一分光鏡、第二分光鏡、光柵、兩個(gè)透鏡組成的透鏡組、第一棱鏡、第二棱鏡、第一反射鏡及第二反射鏡；激光器通過(guò)分光鏡被分為兩路，經(jīng)過(guò)光柵后分別經(jīng)過(guò)兩個(gè)透鏡投射于第一棱鏡、第二棱鏡后相干涉形成干涉條紋，然后投射到第一反射鏡后，經(jīng)過(guò)反射后再投射到第二反射鏡，再次反射后投射到被測(cè)的部件上。
2.—種三維測(cè)量方法，其特征在于，包括以下步驟: SI，采用二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定； S2，光柵干涉投影裝置的使用； S3，非簡(jiǎn)單正弦周期條紋相位解包裹算法的處理； S4，建立立體視覺(jué)共線方程，解算三維坐標(biāo)值； S5，無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟SI具體為:采用經(jīng)典的基于平面靶標(biāo)的二維標(biāo)定靶標(biāo)定方法對(duì)雙目相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定，采用圓點(diǎn)形替代傳統(tǒng)的角點(diǎn)形標(biāo)定板以提高標(biāo)定精度，通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)給出統(tǒng)計(jì)的標(biāo)定參數(shù)；得到相機(jī)之間的空間外參數(shù)及兩個(gè)相機(jī)各自的內(nèi)參數(shù)，從而為三維重構(gòu)提供必要的參數(shù)；雙目相機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用可調(diào)節(jié)視場(chǎng)大小的機(jī)械結(jié)構(gòu)，從而使得雙目相機(jī)達(dá)到最佳的視場(chǎng)重合。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟S2具體為:所述光柵干涉投影裝置將激光器產(chǎn)生的光束經(jīng)分光鏡后分成了同頻的光波，然后分別經(jīng)過(guò)起偏器后投射到光柵上產(chǎn)生高精度的光學(xué)細(xì)分；所述光柵干涉投影裝置投射一定光柵圖像到被測(cè)部件表面上，光柵將被測(cè)部件的外形調(diào)制而得到相位移動(dòng)的光柵圖像；為了克服這兩路信號(hào)中普遍存在的非正交誤差、不等幅誤差和直流電平漂移誤差影響測(cè)量結(jié)果的精度的問(wèn)題，以Heydemann模型為基礎(chǔ)做誤差修正，設(shè)計(jì)核心的電路補(bǔ)償模塊，對(duì)此三種誤差進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)高精度微米級(jí)干涉波，產(chǎn)生納米級(jí)光學(xué)細(xì)分。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟S3具體為:為了達(dá)到更高的測(cè)量精度及實(shí)現(xiàn)高抗噪性，采用光柵干涉投影裝置產(chǎn)生條紋，該條紋不具備簡(jiǎn)單正弦波的特性，因此為了實(shí)現(xiàn)相位解包裹功能，采用基于傅立葉公式的多級(jí)任意周期波解包裹算法，解決當(dāng)前受正弦波限制的問(wèn)題，從而解算圖像的相位，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)圖像間的匹配。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測(cè)量方法，其特征在于，所述步驟S5具體為:針對(duì)現(xiàn)有的三維圖像拼接方法存在的借助人工標(biāo)志點(diǎn)及運(yùn)算量大的問(wèn)題，采用新的三維圖形拼接算法，該算法以虛擬標(biāo)志點(diǎn)為原始點(diǎn)，以方向矢量為搜索要素，不需要傳統(tǒng)的人工貼點(diǎn)，利用三維圖像自身的圖像特征，實(shí)現(xiàn)非接觸的無(wú)特征點(diǎn)的三維圖像拼接，形成完成的三維圖，實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)，提高搜索的速度與準(zhǔn)確性。
【文檔編號(hào)】G01B11/25GK103954239SQ201410201655
【公開(kāi)日】2014年7月30日 申請(qǐng)日期:2014年5月8日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月8日
【發(fā)明者】秦品樂(lè), 王運(yùn)龍, 孟賢玉 申請(qǐng)人:青島三友智控科技有限公司