一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及巖礦石測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，具體的講是一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法及裝置。將測(cè)試裝置夾持巖礦石標(biāo)本兩端的測(cè)試電極盒對(duì)接測(cè)試，得出該測(cè)試裝置的本底極化率ηb和本底電阻率ρb；測(cè)試待測(cè)巖礦石標(biāo)本，得到所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視極化率ηs和所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視電阻率ρs；根據(jù)上述得到的測(cè)試參數(shù)，通過(guò)本發(fā)明特定公式來(lái)計(jì)算所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的真極化率η0和真電阻率ρ0。通過(guò)上述實(shí)施例的方法和裝置，可以大幅度提高了巖礦石電參數(shù)測(cè)試精度，對(duì)電（磁）法金屬礦找礦提供了基礎(chǔ)電性信息。
【專利說(shuō)明】一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及巖礦石測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，具體的講是一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)試巖礦石標(biāo)本的電參數(shù)。了解礦體與圍巖電性的差異，是決定電(磁)法能否有效找礦的物性前提。也是正演計(jì)算與反演解釋的客觀依據(jù)。對(duì)地球物理找礦來(lái)說(shuō)，具有基礎(chǔ)性的重要意義。
[0003]現(xiàn)有國(guó)內(nèi)外巖礦石標(biāo)本電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)種類繁多，國(guó)內(nèi)“激電規(guī)范”推薦有蠟封法、物性架、面團(tuán)法等，國(guó)外有俄(BMTP)、美(Zonge)、加(⑶D)等國(guó)的產(chǎn)品。
[0004]巖礦石標(biāo)本電參數(shù)的測(cè)試，一般都是仿效野外找礦測(cè)試裝置與方法。測(cè)試系統(tǒng)由測(cè)試標(biāo)本架、小功率發(fā)送機(jī)與接收機(jī)(或借用找礦接收機(jī))等組成。加拿大GDD公司SCIP測(cè)試系統(tǒng)采用了 二極裝置(已有文獻(xiàn)指出其測(cè)試原理有誤)。
[0005]測(cè)試巖礦石標(biāo)本的電參數(shù)，應(yīng)該是標(biāo)本的真電參數(shù)，但現(xiàn)有的國(guó)內(nèi)外巖礦石標(biāo)本電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，所測(cè)的電參數(shù)不是真電參數(shù)，而是一種錯(cuò)誤很大的視電參數(shù)。
[0006]造成錯(cuò)誤原因是，標(biāo)本的測(cè)試條件與技術(shù)要求，都缺乏原位的規(guī)范化，以及測(cè)試系統(tǒng)存在本底電參數(shù)的干擾。主要有:
[0007]①為了提高測(cè)試精度，通常在測(cè)試中加大電流密度，該電流密度大大超過(guò)電(磁)法勘查時(shí)巖礦石經(jīng)受的電流密度，對(duì)于良導(dǎo)礦石受電流非線性干擾，使所測(cè)標(biāo)本電參數(shù)不是原位電參數(shù)。
[0008]②在標(biāo)本電參數(shù)測(cè)試中，供電源都采用電壓源，導(dǎo)致所測(cè)電參數(shù)受電流電極的極化干擾。所測(cè)參數(shù)不是標(biāo)本真實(shí)的參數(shù)。
[0009]③測(cè)試標(biāo)本的所用接收機(jī)，不同時(shí)具備高精度與高輸入阻抗的技術(shù)要求，導(dǎo)致低阻標(biāo)本電位測(cè)試精度不夠，高阻標(biāo)本分流MN回路導(dǎo)致不極化電極產(chǎn)生極化，所測(cè)電參數(shù)受到雙重干擾。
[0010]④測(cè)試中未能消除測(cè)試系統(tǒng)存在的本底電參數(shù)干擾，導(dǎo)致所測(cè)良導(dǎo)礦石的電參數(shù)，與其真值有數(shù)量級(jí)的差別。不少找礦資料中還把所測(cè)錯(cuò)誤參數(shù)當(dāng)作真電參數(shù)在應(yīng)用。
[0011]造成電參數(shù)測(cè)試錯(cuò)誤的原因，主要是對(duì)電參數(shù)的測(cè)試條件與技術(shù)要求認(rèn)識(shí)不足。缺乏對(duì)測(cè)試巖礦標(biāo)本真電參數(shù)的研究。另一個(gè)重要原因是“激電法技術(shù)規(guī)定”中對(duì)測(cè)試精度要求以重復(fù)相對(duì)誤差來(lái)衡量。相對(duì)誤差反映的是測(cè)試中的偶然誤差，而精度是指測(cè)試值與真值接近的程度，精度誤差不僅反映偶然誤差，同時(shí)反映系統(tǒng)誤差。在巖礦石標(biāo)本電參數(shù)測(cè)試中，兩種誤差都存在。但是如果只注意重復(fù)相對(duì)誤差，忽略系統(tǒng)誤差，對(duì)于良導(dǎo)塊狀礦石所測(cè)電參數(shù)將出現(xiàn)重大錯(cuò)誤。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012]本發(fā)明的目的在于正確測(cè)試巖礦石標(biāo)本的真電參數(shù)，本發(fā)明規(guī)范了測(cè)試條件與技術(shù)要求，并在測(cè)試中消除由本發(fā)明發(fā)現(xiàn)的測(cè)試系統(tǒng)存在的本底電參數(shù)干擾，據(jù)此本發(fā)明實(shí)施例提供了一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)的測(cè)試方法，包括，
[0013]規(guī)范測(cè)試條件與技術(shù)要求，以及每塊待測(cè)巖礦石標(biāo)本必須經(jīng)過(guò)兩次測(cè)試結(jié)果，經(jīng)發(fā)明公式計(jì)算得到每塊巖礦石標(biāo)本的真電參數(shù)。第一次測(cè)試是測(cè)試的待測(cè)巖礦石標(biāo)本，得到所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視極化率Hs和所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視電阻率Ps，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻電位值Λ Umn⑴，所述測(cè)試電位電極之間的距離Lmn ；
[0014]第二次測(cè)試是測(cè)試系統(tǒng)存在的本底電參數(shù)干擾，即取下已測(cè)試視電參數(shù)的巖礦石標(biāo)本，將兩測(cè)試盒對(duì)接測(cè)試，得出該系統(tǒng)裝置的本底極化率Jlb和本底電阻率Pb，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻的測(cè)試本底電位值A(chǔ)Ub(T)，對(duì)接測(cè)試時(shí)所述電位電極間的距離Lb ；
[0015]根據(jù)上述得到的測(cè)得參數(shù)，通過(guò)發(fā)明的公式:
【權(quán)利要求】
1.一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于包括， 將測(cè)試裝置夾持巖礦石標(biāo)本兩端的測(cè)試電極盒對(duì)接測(cè)試，得出該測(cè)試裝置的本底極化率Hb和本底電阻率Pb，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻的測(cè)試的本底電位值A(chǔ)Ub(T),對(duì)接測(cè)試時(shí)所述測(cè)試電極兩極間的距離Lb ； 測(cè)試待測(cè)巖礦石標(biāo)本，得到所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視極化率Hs和所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視電阻率Ps，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻的測(cè)試電極間的電位值A(chǔ)Uw(T),所述測(cè)試電極之間的距離Lmn ； 根據(jù)上述得到的測(cè)試參數(shù)，通過(guò)本發(fā)明的公式:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，采用恒流源進(jìn)行供電。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，接收所述測(cè)試參數(shù)的接收機(jī)具有UV級(jí)測(cè)試精度與IO9 Ω以上的輸入阻抗。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試裝置具有4個(gè)電極，分別為2個(gè)不極化電極的電位電極和2個(gè)不極化電極的電流電極。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試方法，其特征在于，所述2個(gè)不極化電極的電位電極和2個(gè)不極化電極的電流電極均采用相同的銅一硫酸銅溶液的不極化電極，或者采用鉛-氯化鉛的不極化電極。
6.一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于包括， 本底電參數(shù)獲取單元，視電參數(shù)獲取單元，真電參數(shù)計(jì)算單元； 所述本底電參數(shù)獲取單元，用于對(duì)測(cè)試裝置夾持巖礦石標(biāo)本兩端的測(cè)試電極盒對(duì)接測(cè)試，得到測(cè)試裝置的本底極化率Ilb和本底電阻率Pb，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻的測(cè)試電極的本底電位值A(chǔ)Ub(T)，對(duì)接測(cè)試時(shí)所述測(cè)試電極兩極間的距離Lb ； 所述視電參數(shù)獲取單元，根據(jù)測(cè)試待測(cè)巖礦石標(biāo)本的結(jié)果，得到所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視極化率Hs和所述待測(cè)巖礦石標(biāo)本的視電阻率Ps，及供電電流脈沖寬度T時(shí)刻的測(cè)試電極間的電位AUmn(T)，所述測(cè)試電極之間的距離Lmn ； 所述真電參數(shù)計(jì)算單元，用于根據(jù)上述得到的測(cè)試參數(shù)，通過(guò)
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于，采用恒流源進(jìn)行供電。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于，接收所述檢測(cè)參數(shù)的接收機(jī)具有uV級(jí)測(cè)試精度與IO9 Ω以上的輸入阻抗。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于，所述檢測(cè)裝置包括4個(gè)電極，分別為2個(gè)不極化電極的電位電極和2個(gè)不極化電極的電流電極，所述2個(gè)電位電極和2個(gè)電流電極均分別位于巖礦石標(biāo)本兩端。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種巖礦石標(biāo)本真電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于，所述2個(gè)電位電極和所述2個(gè)電流電極均采用相同的銅一硫酸銅溶液的不極化電極，或者采用鉛-氯化鉛的不極化電極。
【文檔編號(hào)】G01R29/00GK103913634SQ201410133117
【公開日】2014年7月9日 申請(qǐng)日期:2014年4月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月3日
【發(fā)明者】王慶乙, 王生, 邱鋼, 代麗, 張楠 申請(qǐng)人:中色地科礦產(chǎn)勘查股份有限公司