反射拋物面的對稱法測量裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種反射拋物面的對稱法測量裝置，包括測試搭載部和檢測部，其中，測試搭載部包括反射鏡單元，檢測部包括能夠移動定位的線平行光源和若干條形光傳感單元，線平行光源、條形光傳感單元分別設置在反射鏡單元的中心對稱面的兩側(cè)，中心對稱面一側(cè)的線平行光源向反射鏡單元發(fā)射光束，經(jīng)反射鏡單元反射后射向中心對稱面另一側(cè)的條形光傳感單元，條形光傳感單元檢測反射信號來檢測反射鏡單元的實際曲率精度誤差。本實用新型測量裝置根據(jù)光源和其反射投射的光斑形狀和走向等空間三維分布的對稱性來判斷待測反射鏡單元逐段曲面與標準的差異，以達到通過對稱反射逐段檢測曲面誤差的目的，具有檢測方便、準確性高等優(yōu)點。
【專利說明】反射拋物面的對稱法測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種反射鏡曲面測量裝置，尤其是一種反射拋物面的對稱法測量
>J-U ρ?α裝直。
【背景技術】
[0002]作為新能源行業(yè)的重要組成部分的太陽能發(fā)電產(chǎn)業(yè)，聚光熱發(fā)電是具有很大潛力和經(jīng)濟技術競爭優(yōu)勢的項目，未來的發(fā)展前途廣闊。其裝置的聚光反射鏡組件在建設發(fā)電站所需設備中使用量最大，在大規(guī)模的反射鏡組件生產(chǎn)過程中，如何使在線檢測的速度與生產(chǎn)成品的速度相匹配，即在不影響生產(chǎn)產(chǎn)量的同時有效提高整個系統(tǒng)的合格品分揀率，成為了問題的關鍵。一般的曲面檢查通常是整個曲面的普查即逐點逐面的掃描檢測，雖然每一面所用時不一定很長但累計相加起來就是時間上的浪費。
實用新型內(nèi)容
[0003]針對現(xiàn)有技術存在的問題，本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、可利用反射鏡單元對稱性對單元逐段曲面進行制造精度測量的反射拋物面的對稱法測量裝置。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型反射拋物面的對稱法測量裝置，包括測試搭載部和檢測部，其中，測試搭載部包括反射鏡單元，檢測部包括能夠移動定位的線平行光源和若干條形光傳感單元，線平行光源、條形光傳感單元分別設置在反射鏡單元的中心對稱面的兩偵牝中心對稱面一側(cè)的線平行光源向反射鏡單元發(fā)射光束，經(jīng)反射鏡單元反射后射向中心對稱面另 一側(cè)的條形光傳感單元，條形光傳感單元檢測反射信號來檢測反射鏡單元的實際曲率精度誤差。
[0005]進一步，所述反射鏡單元包括兩個對稱排布的第一反射瓣和第二反射瓣。
[0006]進一步，所述反射鏡單元安裝在承載裝置鏡支架上。
[0007]進一步，所述檢測部還包括光源屏及屏支架，所述線平行光源、條形光傳感單元均設置在光源屏上，光源屏與所述中心對稱面的交接處設置有中心反光鏡。
[0008]進一步，所述線平行光源向所述反射鏡單元正對方向發(fā)射光束，并在所述第一反射瓣上發(fā)生一次反射，一次反射光經(jīng)所述中心反光鏡的二次反射，又投射到所述第二反射瓣上進行第三次反射，三次反射光射向所述條形光傳感單元并被檢測。
[0009]進一步，所述線平行光源發(fā)射后所產(chǎn)生三次反射的反射光路設置以所述中心對稱面為對稱。
[0010]進一步，所述線平行光源、所述中心反光鏡和若干所述條形光傳感單元相互平行設置，所述線平行光源的定位位置與若干所述條形光傳感單元的分布一一對應，且以所述中心對稱面為對稱。
[0011]進一步，所述中心對稱面為所述第一反射瓣和所述第二反射瓣的對稱面。
[0012]進一步，所述線平行光源形狀與所述中心反光鏡及所述條形光傳感單元相匹配。
[0013]進一步，所述屏支架設置有三維調(diào)整并定位結(jié)構(gòu)。[0014]本實用新型測量裝置根據(jù)光源和其反射投射的光斑形狀和走向等空間三維分布的對稱性來判斷待測反射鏡單元逐段曲面與標準的差異，以達到通過對稱反射逐段檢測曲面誤差的目的，具有檢測方便、準確性高等優(yōu)點。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本實用新型剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0016]下面，參考附圖，對本實用新型進行更全面的說明，附圖中示出了本實用新型的示例性實施例。然而，本實用新型可以體現(xiàn)為多種不同形式，并不應理解為局限于這里敘述的示例性實施例。而是，提供這些實施例，從而使本實用新型全面和完整，并將本實用新型的范圍完全地傳達給本領域的普通技術人員。
[0017]為了易于說明，在這里可以使用諸如“上”、“下” “左” “右”等空間相對術語，用于說明圖中示出的一個元件或特征相對于另一個元件或特征的關系。應該理解的是，除了圖中示出的方位之外，空間術語意在于包括裝置在使用或操作中的不同方位。例如，如果圖中的裝置被倒置，被敘述為位于其他元件或特征“下”的元件將定位在其他元件或特征“上”。因此，示例性術語“下”可以包含上和下方位兩者。裝置可以以其他方式定位(旋轉(zhuǎn)90度或位于其他方位)，這里所用的空間相對說明可相應地解釋。
[0018]如圖1所示，本實用新型反射拋物面的對稱法測量裝置，包括測試搭載部和檢測部。
[0019]測試搭載部包括反射鏡單元及其承載裝置鏡支架2，反射鏡單元由兩個對稱排布的第一反射瓣5和第二反射瓣4組成。第一反射瓣5和第二反射瓣4以中心對稱面I為對稱面，中心對稱面I相當于槽式直紋拋物反射面的中心對稱面。
[0020]檢測部包括光源屏7、屏支架9、中心反光鏡3、線平行光源8和若干條形光傳感單元6。其中，中心反光鏡3設置在光源屏7朝向反射鏡單元的一面上并正對反射鏡單元，并且中心反光鏡3設置于光源屏7與中心對稱面I的交接處，中心對稱面I兩側(cè)的光源屏7上分別設置有可移動定位的線平行光源8和若干條形光傳感單元6。
[0021]在測量時，中心對稱面I 一側(cè)的線平行光源8向反射鏡單元正對方向發(fā)射光束，并在第一反射瓣5上發(fā)生一次反射，一次反射光經(jīng)中心反光鏡3的二次反射后又投射到第二反射瓣4上，最后經(jīng)第三次反射射向中心對稱面I另一側(cè)光源屏7上的相應條形光傳感單元6并被檢測，被檢測信號的失真情況將反映三次反射所經(jīng)曲面的實際曲率精度誤差。
[0022]本實用新型中，屏支架9設置為可三維調(diào)整并定位，線平行光源8發(fā)射后所產(chǎn)生三次反射的反射光路設置以中心對稱面I為對稱。線平行光源8的形狀與中心反光鏡3和條形光傳感單元6的形狀相匹配，并且線平行光源8、中心反光鏡3和若干條形光傳感單元6相互平行設置，線平行光源8的若干定位位置與若干條形光傳感單元6的分布一一對應，且以中心對稱面I為對稱。
[0023]本實用新型應用槽式拋物面反射鏡的對稱性和反射特點，設置逐點移動定位的線平行光源發(fā)射平行線光束分別通過反射鏡單元的第一反射瓣、第二反射瓣和中心反射鏡進行三次反射，由此形成一個以反射鏡單元對稱面和中心反射鏡為對稱的反射回路，最后投射到對稱反射的另一端即與逐點移動定位的線平行光源位置所對應的條形光傳感單元上，檢測系統(tǒng)根據(jù)光源和其反射投射的光斑形狀和走向等空間三維分布的對稱性來判斷待測反射鏡單元逐段曲面與標準的差異，以達到通過對稱反射逐段檢測曲面誤差的目的。
【權(quán)利要求】
1.反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，包括測試搭載部和檢測部，其中，測試搭載部包括反射鏡單元，檢測部包括能夠移動定位的線平行光源和若干條形光傳感單元，線平行光源、條形光傳感單元分別設置在反射鏡單元的中心對稱面的兩側(cè)，中心對稱面一側(cè)的線平行光源向反射鏡單元發(fā)射光束，經(jīng)反射鏡單元反射后射向中心對稱面另一側(cè)的條形光傳感單元，條形光傳感單元檢測反射信號來檢測反射鏡單元的實際曲率精度誤差。
2.如權(quán)利要求1所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述反射鏡單元包括兩個對稱排布的第一反射瓣和第二反射瓣。
3.如權(quán)利要求1所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述反射鏡單元安裝在承載裝置鏡支架上。
4.如權(quán)利要求1所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述檢測部還包括光源屏及屏支架，所述線平行光源、條形光傳感單元均設置在光源屏上，光源屏與所述中心對稱面的交接處設置有中心反光鏡。
5.如權(quán)利要求2所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述線平行光源向所述反射鏡單元正對方向發(fā)射光束，并在所述第一反射瓣上發(fā)生一次反射，一次反射光經(jīng)所述中心反光鏡的二次反射，又投射到所述第二反射瓣上進行第三次反射，三次反射光射向所述條形光傳感單元并被檢測。
6.如權(quán)利要求5所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述線平行光源發(fā)射后所產(chǎn)生三次反射的反射光路設置以所述中心對稱面為對稱。
7.如權(quán)利要求1所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述線平行光源、所述中心反光鏡和若干所述條形光傳感單元相互平行設置，所述線平行光源的定位位置與若干所述條形光傳感單兀的分布 對應，且以所述中心對稱面為對稱。
8.如權(quán)利要求2所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述中心對稱面為所述第一反射瓣和所述第二反射瓣的對稱面。
9.如權(quán)利要求1所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述線平行光源形狀與所述中心反光鏡及所述條形光傳感單元相匹配。
10.如權(quán)利要求4所述的反射拋物面的對稱法測量裝置，其特征在于，所述屏支架設置有三維調(diào)整并定位結(jié)構(gòu)。
【文檔編號】G01B11/24GK203595500SQ201320722736
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2013年11月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月15日
【發(fā)明者】薛黎明, 劉伯昂 申請人:中海陽能源集團股份有限公司