一種自動化偵測pcie設(shè)備功耗的測試設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，包括系統(tǒng)供電模塊、功耗偵測模塊、單片機(jī)處理模塊以及顯示模塊，所述系統(tǒng)供電模塊分別為功耗偵測模塊、單片機(jī)處理模塊以及顯示模塊提供電源；所述功耗偵測模塊的信號輸入端連接主板PCIE接口，所述功耗偵測模塊的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊的信號輸出端與顯示模塊的信號輸入端連接。不僅能準(zhǔn)確地、有效地測試PCIE設(shè)備的功耗，偵測效率更高，而且大大簡化了設(shè)計(jì)，降低了驗(yàn)證成本。
【專利說明】一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]由于X86主板日新月異的發(fā)展，產(chǎn)品的物理形態(tài)也發(fā)生了根本的變化。小型化、迷你化已經(jīng)成為行業(yè)發(fā)展的趨勢。隨著X86產(chǎn)品形態(tài)的變化，其主要外圍設(shè)備也隨之發(fā)生了功能上、形態(tài)上的變化，從以前單一化的大功率顯卡，到涉及各個行業(yè)的監(jiān)控設(shè)備、數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備等。由于其本質(zhì)的物理形態(tài)上是一樣的，為了符合PCIE界面的規(guī)范，各個PCIE設(shè)備廠商對其設(shè)備的電源供應(yīng)只是需求的功耗不一致。這對于X86主板設(shè)計(jì)廠商帶來說是一個新的挑戰(zhàn)，即要滿足客戶定制化的要求，版型會越來越小，又要滿足電源的供電要求。傳統(tǒng)的PCIE功耗測試方法已經(jīng)很難滿足精細(xì)化的設(shè)計(jì)要求，由于傳統(tǒng)的方法耗時，并且得到的數(shù)據(jù)誤差比較大，不能作為現(xiàn)在PCIE電源設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用電流探頭的方式來測量PCIE設(shè)備的功耗，首先割斷PCB，然后串聯(lián)一個低阻抗銅線的方式測量流過銅線的電流值，再通過萬用表測試設(shè)備的供電電壓，再做以簡單的數(shù)學(xué)乘法，得出功耗，采用這種測試手法，需要高精度示波器，高精度電流探頭，需要很大的費(fèi)用投入，而且由于線材的損耗、萬用表的誤差，最后得出的數(shù)據(jù)誤差在
0.01%以上，精度不高；而且由于PCIE界面上有3.3V和12V兩種電壓，需重復(fù)計(jì)算兩次步驟，影響工作效率。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題在于:提供一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，不僅能準(zhǔn)確地、有效地測試PCIE設(shè)備的功耗，偵測效率更高，而且大大簡化了設(shè)計(jì)，降低了驗(yàn)證成本。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提出了一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，包括系統(tǒng)供電模塊、功耗偵測模塊、單片機(jī)處理模塊以及顯示模塊，所述系統(tǒng)供電模塊分別為功耗偵測模塊、單片機(jī)處理模塊以及顯示模塊提供電源；所述功耗偵測模塊的信號輸入端連接主板PCIE接口，所述功耗偵測模塊的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊的信號輸出端與顯示模塊的信號輸入端連接。
[0006]所述功耗偵測模塊包括第一功耗偵測模塊和第二功耗偵測模塊，所述第一功耗偵測模塊和第二功耗偵測模塊中均設(shè)有通信模塊，其中，
[0007]所述第一功耗偵測模塊包括第一處理單元IU1、濾波電阻IR5、濾波電阻IR6、濾波電容IC17、濾波電容IC15、精密功率電阻IRS1、電源測試端ITPl以及電源測試端ITP2，所述濾波電阻IR5的一端連接電源測試端ITP1，濾波電阻IR5的另一端連接第一處理單元IUl的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IR6的一端連接電源測試端ITP2，濾波電阻IR6的另一端連接第一處理單元IUl的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC17的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC17的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRSl的一端連接電源測試端ITP1，精密功率電阻IRSl的另一端連接電源測試端ITP2 ;所述第一處理單元IUl通過濾波電容IC15接地；
[0008]所述第二功耗偵測模塊包括第二處理單元IU2、濾波電阻IR9、濾波電阻IR10、濾波電容IC21、濾波電容IC20、精密功率電阻IRS2、電源測試端ITP3以及電源測試端ITP4，所述濾波電阻IR9的一端連接電源測試端ITP3，濾波電阻IR9的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IRlO的一端連接電源測試端ITP4，濾波電阻IRlO的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC21的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC21的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRS2的一端連接電源測試端ITP3，精密功率電阻IRS2的另一端連接電源測試端ITP4 ;所述第二處理單元IU2通過濾波電容IC20接地。
[0009]進(jìn)一步地，所述單片機(jī)處理模塊(3)的型號為CY7C64355。
[0010]進(jìn)一步地，所述顯示模塊(4)采用紅色4位一體共陽極8段LED數(shù)碼管顯示功耗數(shù)據(jù)，其包括用于顯示功耗數(shù)據(jù)的第一顯示模塊和第二顯示模塊。
[0011]上述技術(shù)方案至少具有如下有益效果:本實(shí)用新型通過系統(tǒng)供電模塊分別為功耗偵測模塊、單片機(jī)處理模塊以及顯示模塊提供電源；功耗偵測模塊的信號輸入端連接主板PCIE接口，功耗偵測模塊的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊的信號輸出端與顯示模塊的信號輸入端連接。不僅能準(zhǔn)確地、有效地測試PCIE設(shè)備的功耗，偵測效率更高，而且大大簡化了設(shè)計(jì)，降低了驗(yàn)證成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是本實(shí)用新型自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備的原理框圖。
[0013]圖2是本實(shí)用新型自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備中功耗偵測模塊的電路原理圖。
[0014]圖3是本實(shí)用新型自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備中單片機(jī)處理模塊的電路原理圖。
[0015]圖4是本實(shí)用新型自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備中顯示模塊的電路原理圖。
[0016]圖5是本實(shí)用新型自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備中系統(tǒng)供電模塊的電路
原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型做進(jìn)一步描述。
[0018]如圖1所示，本實(shí)用新型實(shí)施例的自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備包括系統(tǒng)供電模塊1、功耗偵測模塊2、單片機(jī)處理模塊3以及顯示模塊4，系統(tǒng)供電模塊I分別為功耗偵測模塊2、單片機(jī)處理模塊3以及顯示模塊4提供電源；功耗偵測模塊2的信號輸入端連接主板PCIE接口，功耗偵測模塊2的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊3的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊3的信號輸出端與顯示模塊4的信號輸入端連接。[0019]功耗偵測模塊2包括用于偵測PCIE界面上3.3V電壓的第一功耗偵測模塊和用于偵測PCIE界面上12V電壓的第二功耗偵測模塊，所述第一功耗偵測模塊和第二功耗偵測模塊中均設(shè)有通信模塊，比如采用I2C通信模塊，其中，
[0020]如圖2所示，所述第一功耗偵測模塊包括第一處理單元IU1、濾波電阻IR5、濾波電阻IR6、濾波電容IC17、濾波電容IC15、精密功率電阻IRS1、電源測試端ITPl以及電源測試端ITP2，所述濾波電阻IR5的一端連接電源測試端ITP1，濾波電阻IR5的另一端連接第一處理單元IUl的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IR6的一端連接電源測試端ITP2，濾波電阻IR6的另一端連接第一處理單元IUl的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC17的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC17的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRSl的一端連接電源測試端ITPl，精密功率電阻IRSl的另一端連接電源測試端ITP2 ;所述第一處理單元IUl通過濾波電容IC15接地；
[0021]所述第二功耗偵測模塊包括第二處理單元IU2、濾波電阻IR9、濾波電阻IR10、濾波電容IC21、濾波電容IC20、精密功率電阻IRS2、電源測試端ITP3以及電源測試端ITP4，所述濾波電阻IR9的一端連接電源測試端ITP3，濾波電阻IR9的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IRlO的一端連接電源測試端ITP4，濾波電阻IRlO的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC21的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC21的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRS2的一端連接電源測試端ITP3，精密功率電阻IRS2的另一端連接電源測試端ITP4 ;所述第二處理單元IU2通過濾波電容IC20接地。
[0022]如圖3所示，單片機(jī)處理模塊3的型號為CY7C64355，單片機(jī)CY7C64355通過圖2的I2C(IU1和IU2)通信接口讀取功耗數(shù)據(jù)，經(jīng)過內(nèi)部程序處理輸出給顯示模塊4。圖2中，UJ2為單片機(jī)DEBUG接口，用于單片機(jī)內(nèi)部程序調(diào)試，P2.x和P3.X分別輸出+3.3V_F_I和+12V_F_I的顯示數(shù)據(jù)到顯示模塊4，P0.X為顯示模塊4的位選信號。
[0023]Ir29, Ir30, Ic26，IR35，IR27，Ic24，Ic, Ic23，為單片機(jī)的外圍驅(qū)動或?yàn)V波元件，UJ2及其周邊零件模塊為調(diào)試模塊，方便后續(xù)產(chǎn)品維護(hù)調(diào)試。
[0024]如圖4所示，顯示模塊4采用紅色4位一體共陽極8段LED數(shù)碼管顯示功耗數(shù)據(jù)，其包括用于顯示+3.3V_F_I的功耗數(shù)據(jù)的第一顯示模塊和顯示+12V_F_I功耗數(shù)據(jù)的第二顯示模塊，具體地，第一顯示模塊采用數(shù)碼管LED0，第二顯示模塊采用數(shù)碼管LED1，數(shù)碼管LEDO和LEDl均使用3.3V做驅(qū)動電源。
[0025]IQ2, IQ3, IQ6, IQ7, IQ8, IQ9, IQ10, IQ11, IQ4, IQ5, IQ12, IQ13 為數(shù)碼管 LEDO 和LEDl驅(qū)動MOS管。
[0026]IR11, IR18, IR19, IR20, IR, IR12, IR13, IR, IR14, IR23, IR15, IR24, IR16, IR25,IR17，IR26為數(shù)碼管LEDO和LEDl的亮度調(diào)節(jié)電阻。
[0027]IR34, IR38, IR33, IR37, IR32, IR36, IR31, IR39, IR43, IR47, IR, IR44, IR, IR45,IR40, IR48, IR52, IR51, IR53, IR54, IR56, IR55, IR57, IR58 為 IU5 驅(qū)動部分與數(shù)碼管 LEDO和LEDl的驅(qū)動匹配電阻。
[0028]如圖5所示，該系統(tǒng)IUl，IU2，IU5，LEDO, LEDl均使用3.3V電源，采用5V適配器輸入，通過模擬轉(zhuǎn)換線路，轉(zhuǎn)換成IUl，IU2，IU5，LEDO, LEDl功能單元的電源供應(yīng)。
[0029]IJl外部電源供應(yīng)器接口，IC9，IC10, IR4，ICll為高頻濾波線路，除去高頻部分；IFUSE為保險絲，保證系統(tǒng)安全性；IC12，IC13，IC13，IC14為濾波電容，可保證IU1，IU2，IU5, LEDO, LEDl 穩(wěn)定工作。
[0030]IU3, IC18, IR7, IR8, IC19, PC13 單元為 IUl, IU2，供電模塊。
[0031]本實(shí)用新型通過系統(tǒng)供電模塊I分別為功耗偵測模塊2、單片機(jī)處理模塊3以及顯示模塊4提供電源；功耗偵測模塊2的信號輸入端連接主板PCIE接口，功耗偵測模塊2的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊3的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊3的信號輸出端與顯示模塊4的信號輸入端連接。不僅能準(zhǔn)確地、有效地測試PCIE設(shè)備的功耗，偵測精度更高，此PCIE設(shè)備的偵測數(shù)據(jù)精度可達(dá)到0.01%，而且大大簡化了設(shè)計(jì)，方便使用，提升測試，驗(yàn)證效率，同時，可廣泛應(yīng)用于X86主板設(shè)計(jì)，提升電源設(shè)計(jì)品質(zhì)，保證設(shè)計(jì)冗余，降低了驗(yàn)證成本。
[0032]以上所述是本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】，應(yīng)當(dāng)指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，其特征在于，包括系統(tǒng)供電模塊(I)、功耗偵測模塊(2)、單片機(jī)處理模塊(3)以及顯示模塊(4)，所述系統(tǒng)供電模塊(I)分別為功耗偵測模塊(2)、單片機(jī)處理模塊(3)以及顯示模塊(4)提供電源；所述功耗偵測模塊(2)的信號輸入端連接主板PCIE接口，所述功耗偵測模塊(2)的信號輸出端與單片機(jī)處理模塊(3)的信號輸入端連接，單片機(jī)處理模塊(3)的信號輸出端與顯示模塊(4)的信號輸入端連接; 所述功耗偵測模塊(2)包括第一功耗偵測模塊和第二功耗偵測模塊，所述第一功耗偵測模塊和第二功耗偵測模塊中均設(shè)有通信模塊，其中， 所述第一功耗偵測模塊包括第一處理單兀IU1、濾波電阻IR5、濾波電阻IR6、濾波電容IC17、濾波電容IC15、精密功率電阻IRSl、電源測試端ITPl以及電源測試端ITP2，所述濾波電阻IR5的一端連接電源測試端ITP1，濾波電阻IR5的另一端連接第一處理單元IUl的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IR6的一端連接電源測試端ITP2，濾波電阻IR6的另一端連接第一處理單兀IUl的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC17的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC17的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRSl的一端連接電源測試端ITP1，精密功率電阻IRSl的另一端連接電源測試端ITP2 ;所述第一處理單元IUl通過濾波電容IC15接地； 所述第二功耗偵測模塊包括第二處理單元IU2、濾波電阻IR9、濾波電阻IR10、濾波電容IC21、濾波電容IC20、精密功率電阻IRS2、電源測試端ITP3以及電源測試端ITP4，所述濾波電阻IR9的一端連接電源測試端ITP3，濾波電阻IR9的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINPl ;所述濾波電阻IRlO的一端連接電源測試端ITP4，濾波電阻IRlO的另一端連接第二處理單元IU2的模擬信號輸入端VINN2 ;所述濾波電容IC21的一端與模擬信號輸入端VINPl連接，濾波電容IC21的另一端與模擬信號輸入端VINN2連接；所述精密功率電阻IRS2的一端連接電源測試端ITP3，精密功率電阻IRS2的另一端連接電源測試端ITP4 ;所述第二處理單元IU2通過濾波電容IC20接地。
2.如權(quán)利要求1所述的自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，其特征在于，所述單片機(jī)處理模塊(3)的型號為CY7C64355。
3.如權(quán)利要求1所述的自動化偵測PCIE設(shè)備功耗的測試設(shè)備，其特征在于，所述顯示模塊(4)采用紅色4位一體共陽極8段LED數(shù)碼管顯示功耗數(shù)據(jù)，其包括用于顯示功耗數(shù)據(jù)的第一顯不模塊和第二顯不模塊。
【文檔編號】G01R21/00GK203535111SQ201320668554
【公開日】2014年4月9日 申請日期:2013年10月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月28日
【發(fā)明者】林坤杰 申請人:深圳市杰和科技發(fā)展有限公司