用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器的制造方法
【專利摘要】一種用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器，包括陶瓷插芯、傳輸光纖和光電二極管，傳輸光纖套接在陶瓷插芯上的插孔內(nèi)，傳輸光纖的輸出端端面與陶瓷插芯端面齊平，傳輸光纖的輸出端與光電二極管的感光部對正設置，其改進在于：所述陶瓷插芯端面設置有選擇性透射膜層，選擇性透射膜層將傳輸光纖的輸出端端面覆蓋。本實用新型的有益技術效果是：可在傳輸光路中為相位測量實時有效地提供檢測信號，使相位測量能夠在傳輸光路的單邊進行。
【專利說明】用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種光纖檢測技術，尤其涉及一種用于光纖長度和信號相位測量 的微型光電探測器。
【背景技術】
[0002]光纖通信中，在某些高要求的應用場合，需要多個信號接收端的信號相位相一致 (一般要求相位誤差在2°以內(nèi))，這就對信號傳輸系統(tǒng)提出了較高的要求，這種高要求體現(xiàn) 在:本領域技術人員應該明白，決定光路中信號相位的因素主要有兩個，其一是光路的長 度，其二是溫度對光纖折射率的影響；為了使信號相位相一致，須先測量出各條光路的絕對 長度，通過粗調(diào)補償光纖長度保證各條光路的長度差在一個信號相位周期內(nèi)，再準確測量 各條光路的信號相位差，通過細調(diào)補償光纖長度保證各條光路的相位差在一定范圍內(nèi)；其 中難點在于:如何在通信過程中，動態(tài)、便捷地對各條光路的實際相位進行鑒相，只有在獲 取了準確、快捷的鑒相結果后，才能通過設置補償量來彌補光纜因長度不一致和溫度變化 帶來的相位誤差問題；
[0003]現(xiàn)有技術中，為了實現(xiàn)對光路相位誤差的測量，需要將光路的啟始端和終結端放 在一起，通過專用儀器獲得相位差數(shù)據(jù)，由于在實際工程應用中，光纜鋪設距離較遠，不僅 不同光路之間存在溫度差，即使同一根光纖的不同區(qū)段也存在溫度差，如果僅在鋪設之前 將啟始端和終結端放在一起來測量相位，其測試結果不能真實反應出實際環(huán)境對光纜的影 響，并且，將啟始端和終結端放在一起測量相位差的方法只能在光路鋪設之前進行，不能在 系統(tǒng)工作中實時的監(jiān)測光路相位變化，由于啟始端和終結端在工程應用中相距甚遠，系統(tǒng) 需要重新測量相位時，必須在啟始端和終結端分別設置兩套測量設備，并且需要將兩套測 量設備放在一起，其過程費時間，費人力，測量效率低下，測量精度不能滿足高要求的應用 場合的需求。
[0004]現(xiàn)有的采用DIN封裝形式的微型光電探測器一般由殼體(如圖中標記I所示)、陶 瓷插芯、傳輸光纖和光電二極管四個部件組成，陶瓷插芯和光電二極管同軸、順次設置于殼 體內(nèi)，傳輸光纖插接在陶瓷插芯上的插孔內(nèi)，傳輸光纖的輸出端與光電二極管的感光部對 正設置，由傳輸光纖導入的光照射到感光部后，由光電二極管對光信號進行光電轉(zhuǎn)換后輸 出，光電二極管一般采用T0-52封裝；這種微型光電探測器一般作為傳輸光路和信號處理 設備之間的接口器件。
實用新型內(nèi)容
[0005]針對【背景技術】中的問題，本實用新型內(nèi)容提出了一種用于光纖長度和信號相位測 量的微型光電探測器，包括陶瓷插芯、傳輸光纖和光電二極管，傳輸光纖套接在陶瓷插芯上 的插孔內(nèi)，傳輸光纖的輸出端端面與陶瓷插芯端面齊平，傳輸光纖的輸出端與光電二極管 的感光部對正設置，其改進在于:所述陶瓷插芯端面設置有選擇性透射膜層，選擇性透射膜 層將傳輸光纖的輸出端端面覆蓋。[0006]本實用新型與現(xiàn)有技術的本質(zhì)區(qū)別在于陶瓷插芯端面設置有選擇性透射膜層，該 選擇性透射膜層可以對光信號進行選擇性透射，當將其作為傳輸光路和信號接收設備之間 的接口時，會被選擇性透射膜層反射的那部分光，我們可以將其作為檢測光(會被選擇性透 射膜層透射的那部分光作為信號光)，當檢測光在光路中傳輸至微型光電探測器中后，會在 選擇性透射膜層的反射作用下反向原路傳輸，通過將反射回來的光進行光電轉(zhuǎn)換后與本地 的電信號進行鑒相處理，即可實時獲得當前光路的相位度變化，當將多條光路的實際相位 差變化進行分析后，技術人員就能制訂出相應的補償措施；鑒相操作統(tǒng)一在信號發(fā)出端進 行，保證了多條光路的實際相位延遲在時間上的匹配性，最終使得多個信號接收端的信號 相位相一致，以適應高要求的應用場合的需求。另外，前述的檢測光還可用于光纖長度測 量。
[0007]優(yōu)選地，所述選擇性透射膜層采用氧化硅和氧化氮復合材料層，其透射的光信號 波長范圍為1545nm?1565nm，其反射的光信號波長范圍為1515nm?1535nm。
[0008]本實用新型的有益技術效果是:可在傳輸光路中為相位測量實時有效地提供檢測 信號，使相位測量能夠在傳輸光路的單邊進行。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1、本實用新型的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0010]—種用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器，包括陶瓷插芯2、傳輸光纖 3和光電二極管4,傳輸光纖3套接在陶瓷插芯2上的插孔內(nèi)，傳輸光纖3的輸出端端面與 陶瓷插芯2端面齊平，傳輸光纖3的輸出端與光電二極管4的感光部對正設置,其改進在 于:所述陶瓷插芯2端面設置有選擇性透射膜層5，選擇性透射膜層5將傳輸光纖3的輸出
端端面覆蓋。
[0011]進一步地，所述選擇性透射膜層采用氧化硅和氧化氮復合材料層，其透射的光信 號波長范圍為1545nm?1565nm，其反射的光信號波長范圍為1515nm?1535nm。
【權利要求】
1.一種用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器，包括陶瓷插芯(2)、傳輸光 纖(3)和光電二極管(4)，傳輸光纖(3)套接在陶瓷插芯(2)上的插孔內(nèi)，傳輸光纖(3)的輸 出端端面與陶瓷插芯(2)端面齊平，傳輸光纖(3)的輸出端與光電二極管(4)的感光部對正 設置，其特征在于:所述陶瓷插芯(2)端面設置有選擇性透射膜層(5)，選擇性透射膜層(5) 將傳輸光纖(3)的輸出端端面覆蓋。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于光纖長度和信號相位測量的微型光電探測器，其特征在 于:所述選擇性透射膜層(5)采用氧化硅和氧化氮復合材料層，其透射的光信號波長范圍 為1545nm?1565nm,其反射的光信號波長范圍為1515nm?1535nm。
【文檔編號】G01J9/00GK203396489SQ201320525039
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年8月27日 優(yōu)先權日:2013年8月27日
【發(fā)明者】蘭才倫, 劉必晨, 周小芬, 曾依滿 申請人:中國電子科技集團公司第四十四研究所