對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型提供了一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置。包括：被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過(guò)所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過(guò)所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號(hào)，該射頻信號(hào)通過(guò)所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過(guò)所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號(hào)。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了對(duì)ETC路側(cè)單元的發(fā)射和接收鏈路的同時(shí)老化，傳輸方式由輻射改成了同軸電纜傳輸，排除微波輻射帶來(lái)的不可控性，還可以篩查出發(fā)射功率和接收靈敏度不合格的產(chǎn)品。
【專(zhuān)利說(shuō)明】對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于老化檢測(cè)裝置領(lǐng)域，特別是應(yīng)用于智能交通不停車(chē)收費(fèi)系統(tǒng)的路側(cè)單元生產(chǎn)過(guò)程中的一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，我國(guó)很多省市都建設(shè)了高速公路電子不停車(chē)收費(fèi)系統(tǒng)ETC(Electr0niCToll Collection)。ETC 系統(tǒng)是由 RSU (路側(cè)單元，Roadside Unit)和 0BU (車(chē)載單元，On-Board Unit)通過(guò)無(wú)線通信的方式實(shí)現(xiàn)計(jì)費(fèi)交易的，通信協(xié)議采用專(zhuān)用短程通信DSRC(Dedicated Short Range Communication,)協(xié)議。ETC系統(tǒng)是適用于高速公路以及交通繁忙的橋梁隧道環(huán)境下的車(chē)輛收費(fèi)解決方案。0BU (On-Board Unit,車(chē)載單元)是ETC系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配件，用于安裝在車(chē)輛的前擋風(fēng)玻璃上，路側(cè)單元(RSU，R0adside Unit)安置在收費(fèi)車(chē)道上，當(dāng)車(chē)輛通過(guò)ETC車(chē)道時(shí)，0BU與路側(cè)單元(RSU，Roadside Unit)等設(shè)備通訊，不需停車(chē)即可完成ETC收費(fèi)，從而提高汽車(chē)通行速度，有效解決交通堵塞問(wèn)題。
[0003]老化檢測(cè)是針對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，檢測(cè)產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性等，讓設(shè)備在出廠前進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，可檢查出不良品或殘缺件，避免設(shè)備在使用早期發(fā)生故障，剔除早期失效和穩(wěn)定性差的產(chǎn)品，為客戶(hù)提供合格的產(chǎn)品，從而保證產(chǎn)品使用的可靠性。老化檢測(cè)是各個(gè)生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量，樹(shù)立企業(yè)形象、提高企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力的重要途徑之一，老化檢測(cè)試驗(yàn)裝置為迅速找出問(wèn)題并解決問(wèn)題提供了有效的技術(shù)手段，充分提高了產(chǎn)品質(zhì)量，資源利用效率及產(chǎn)品的品質(zhì)。對(duì)于RSU設(shè)備而言其工作環(huán)境相當(dāng)惡略，因此需要對(duì)其應(yīng)用過(guò)程中各個(gè)環(huán)節(jié)都要測(cè)試到，包括發(fā)射鏈路、接收鏈路、混頻器、頻率源等?，F(xiàn)有技術(shù)中的一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化的方法為:將被老化設(shè)備置于高溫實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)來(lái)模擬真實(shí)環(huán)境，并以微波輻射的方式對(duì)被老化設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)。
[0004]上述現(xiàn)有技術(shù)中的老化檢測(cè)缺點(diǎn)為:該方法是通過(guò)模擬真實(shí)環(huán)境進(jìn)行檢測(cè)，并沒(méi)有讓被老化設(shè)備進(jìn)行信號(hào)發(fā)射和接收測(cè)試，只通過(guò)對(duì)被老化設(shè)備的工件環(huán)境進(jìn)行模擬測(cè)試這樣的測(cè)試是不精確的，存在著很大的不可控性，而且不能驗(yàn)證RSU的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點(diǎn)切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標(biāo)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的主要目的是提供了一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置，以實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備進(jìn)行有效的老化檢測(cè)。
[0006]為了達(dá)到上述的目的，本實(shí)用新型提供了一種老化檢測(cè)設(shè)備，包括:被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過(guò)所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過(guò)所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號(hào)，該射頻信號(hào)通過(guò)所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過(guò)所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號(hào)。
[0007]所述數(shù)據(jù)處理單元包括微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻插接頭和電源，該RF接收電路的一端通過(guò)線路和微處理器連接，另一端通過(guò)線路和射頻插接頭連接,該RF發(fā)射電路的一端通過(guò)線路和微處理器連接，另一端通過(guò)同通過(guò)線路和射頻插接頭連接，所述電源分別對(duì)所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進(jìn)行供電。
[0008]所述微處理器包含解碼器和信號(hào)處理器，所述解碼器和信號(hào)處理器互相連接，所述解碼器對(duì)接收到的進(jìn)行解碼，信號(hào)處理器根據(jù)解碼后的信號(hào)進(jìn)行編碼封裝再發(fā)送給RF發(fā)射電路。
[0009]所述RF接收電路包含RF信號(hào)接收單元、混頻器、中頻濾波器和對(duì)數(shù)檢波器，所述RF信號(hào)接收單元和混頻器、中頻濾波器和對(duì)數(shù)檢波器互相連接。
[0010]所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號(hào)放大電器，所述頻率源與RF信號(hào)放大電器互相連接。
[0011]所述微處理器為精簡(jiǎn)指令集處理器。
[0012]所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中。
[0013]所述被老化設(shè)備還通過(guò)串口連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備安裝最大功率發(fā)射所述射頻信號(hào)。
[0014]所述設(shè)備應(yīng)用于ETC路側(cè)單元。
[0015]所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上。
[0016]由上述本實(shí)用新型的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以看出，本實(shí)用新型實(shí)施例真實(shí)進(jìn)行了 RSU在實(shí)際使用過(guò)程中的全部功能，實(shí)現(xiàn)了接收鏈路和發(fā)射鏈路的同時(shí)老化，而且將通信過(guò)程中微波輻射通信改變成了同軸電纜傳導(dǎo)通訊，通過(guò)衰減器進(jìn)行功率匹配，可以將被老化設(shè)備置于老化試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行老化并且老化過(guò)程中可以模擬與0BU交易的過(guò)程。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置的結(jié)構(gòu)框圖，圖中，數(shù)據(jù)處理單元110，衰減器120，被老化設(shè)備130，同軸電纜140和控制器150 ；
[0018]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元結(jié)構(gòu)圖示意圖，圖中，射頻接插頭111，RF接收電路112，微處理器113，RF發(fā)射電路114 ；
[0019]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，RF信號(hào)接收單元1120、混頻器1121、中頻濾波器1122和對(duì)數(shù)檢波器1123 ;
[0020]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的微處理器結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，接收單元1130，解碼器1131，信號(hào)處理器1132和發(fā)送處理單元1133 ；
[0021]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，頻率源1140、RF信號(hào)放大電器1141。
【具體實(shí)施方式】
[0022]為便于對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例的理解，下面將結(jié)合附圖以幾個(gè)具體實(shí)施例為例做進(jìn)一步的解釋說(shuō)明，且各個(gè)實(shí)施例并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例的限定。
[0023]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，所述裝置包括微處理器、數(shù)據(jù)處理單元、衰減器、同軸電纜、被老化設(shè)備、控制器。所述數(shù)據(jù)處理單元通過(guò)所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過(guò)所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中，所述被老化設(shè)備還通過(guò)所述同軸電纜連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備按照最大功率發(fā)送射頻信號(hào)。通過(guò)控制器向老化箱內(nèi)的被老化設(shè)備發(fā)送指令，所述被老化設(shè)備不間斷的向所述衰減器依照順序發(fā)送幀號(hào)為1至100的長(zhǎng)幀數(shù)據(jù)的射頻信號(hào)，經(jīng)過(guò)衰減器后，該射頻信號(hào)通過(guò)所述數(shù)據(jù)處理單元進(jìn)行數(shù)據(jù)處理后向所述衰減器返回射頻信號(hào)，并在相同路徑上以最大功率發(fā)射至被老化測(cè)試設(shè)備，所述被老化設(shè)備在靈敏度邊界接收并且判斷幀號(hào)，發(fā)射和接收的過(guò)程中，頻率源5830頻點(diǎn)始終切換。所述裝置應(yīng)用于電子不停車(chē)收費(fèi)ETC路側(cè)單元。
[0024]這項(xiàng)測(cè)試驗(yàn)證了被老化設(shè)備的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點(diǎn)切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標(biāo)，真實(shí)進(jìn)行了被老化設(shè)備在實(shí)際使用過(guò)程中的全部功能，通過(guò)控制器端軟件統(tǒng)計(jì)通信的成功率。所有的測(cè)試項(xiàng)都在高溫條件下進(jìn)行，測(cè)試過(guò)程完全可控，提高了老化測(cè)試的，提高了測(cè)試效率，保證了在高溫時(shí)射頻模塊通信性能穩(wěn)定可靠。
[0025]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元的結(jié)構(gòu)示意圖，所述數(shù)據(jù)處理單元包含微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻接插頭和電源，所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上，所述微處理器通過(guò)PCB板上的線路和RF接收電路、RF發(fā)射電路相互連接，所述RF接收電路和RF發(fā)射電路分別通過(guò)PCB板上的線路和射頻接插頭連收，所述電源分別對(duì)所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進(jìn)行供電，所述數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路和所述被老化設(shè)備中的發(fā)射鏈路相同、數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路和所述被老化設(shè)備中的接收鏈路相同。
[0026]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路結(jié)構(gòu)示意圖，所述RF接收電路包含RF信號(hào)接收單元、混頻器、中頻濾波器，所述混頻器和RF信號(hào)接收單元、中頻濾波器互相連接，所述RF信號(hào)接收單元通過(guò)射頻插接頭接收射頻信號(hào)，射頻信號(hào)通過(guò)混頻器后成為中頻信號(hào)，再通過(guò)中頻濾波器對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波，然后送入對(duì)數(shù)檢波器還原成數(shù)字信號(hào)。
[0027]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的微處理器結(jié)構(gòu)示意圖，所述微處理器包含信號(hào)接收單元、解碼器、信號(hào)處理器和發(fā)送處理單元，所述解碼器和信號(hào)處理器互相連接，所述信號(hào)接收單元接收RF接收電路內(nèi)的數(shù)字信號(hào)，所述解碼器對(duì)信號(hào)接收單元接收到的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行解碼，信號(hào)處理器對(duì)解碼器解碼后的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行編碼封裝，再通過(guò)所述發(fā)送處理單元將數(shù)字信號(hào)發(fā)送給RF發(fā)射電路，所述微處理器為精簡(jiǎn)指令集處理器，所述精簡(jiǎn)指令集處理器為ARM7X256處理器。
[0028]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)能理解上述精簡(jiǎn)指令集處理器的應(yīng)用類(lèi)型僅為舉例，其他現(xiàn)有的或今后可能出現(xiàn)的微處理器應(yīng)用類(lèi)型如可適用于本實(shí)用新型實(shí)施例，也應(yīng)包含在本實(shí)用新型保護(hù)范圍以?xún)?nèi)，并在此以引用方式包含于此。
[0029]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路結(jié)構(gòu)示意圖，所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號(hào)放大器，所述頻率源將微處理器發(fā)送過(guò)來(lái)的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行混頻，將數(shù)字信號(hào)頻率搬移到5.8G射頻信號(hào)，然后通過(guò)RF信號(hào)放大電器將信號(hào)功率放大，再將射頻信號(hào)發(fā)出。
[0030]綜上所述，本實(shí)用新型實(shí)施例通過(guò)讓被老化設(shè)備進(jìn)行真實(shí)的信號(hào)發(fā)射和信號(hào)接收，實(shí)現(xiàn)了被老化設(shè)備的接收鏈路和發(fā)射鏈路的同時(shí)老化測(cè)試，而且將通信過(guò)程中微波輻射通信改變成了同軸電纜傳導(dǎo)通訊，通過(guò)衰減器進(jìn)行功率匹配，測(cè)試過(guò)程完全可控，提高了老化測(cè)試的，提高了測(cè)試效率。
[0031]本實(shí)用新型實(shí)施例通過(guò)將被老化設(shè)備置于老化試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行老化并且老化過(guò)程中可以模擬與0BU交易的過(guò)程，能驗(yàn)證RSU的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點(diǎn)切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標(biāo)。
[0032]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:附圖只是一個(gè)實(shí)施例的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實(shí)施本實(shí)用新型所必須的。
[0033]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)施例中的裝置中的部件可以按照實(shí)施例描述分布于實(shí)施例的裝置中，也可以進(jìn)行相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施例的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施例的部件可以合并為一個(gè)部件，也可以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子部件。
[0034]以上所述，僅為本實(shí)用新型較佳的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種對(duì)設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)的裝置，其特征在于，包括:被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過(guò)所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過(guò)所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號(hào)，該射頻信號(hào)通過(guò)所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過(guò)所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于:所述數(shù)據(jù)處理單元包括微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻插接頭和電源，該RF接收電路的一端通過(guò)線路和微處理器連接，另一端通過(guò)線路和射頻插接頭連接，該RF發(fā)射電路的一端通過(guò)線路和微處理器連接，另一端通過(guò)同通過(guò)線路和射頻插接頭連接，所述電源分別對(duì)所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進(jìn)行供電。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于:所述微處理器包含解碼器和信號(hào)處理器，所述解碼器和信號(hào)處理器互相連接，所述解碼器對(duì)接收到的進(jìn)行解碼，信號(hào)處理器根據(jù)解碼后的信號(hào)進(jìn)行編碼封裝再發(fā)送給RF發(fā)射電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述RF接收電路包含RF信號(hào)接收單元、混頻器、中頻濾波器和對(duì)數(shù)檢波器，所述RF信號(hào)接收單元和混頻器、中頻濾波器和對(duì)數(shù)檢波器互相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號(hào)放大電器，所述頻率源與RF信號(hào)放大電器互相連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述微處理器為精簡(jiǎn)指令集處理器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備還通過(guò)串口連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備安裝最大功率發(fā)射所述射頻信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備應(yīng)用于ETC路側(cè)單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203479924SQ201320444848
【公開(kāi)日】2014年3月12日 申請(qǐng)日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
【發(fā)明者】任叢林, 王波 申請(qǐng)人:航天信息股份有限公司